X线头影测量分析

X线头影测量分析

CephalometricsAnalysis

X线头影测量分析简介1934年HofrathandBroadbent提出

我国于20世纪60年代初运用于临床X线头影测量分析通过测量X线头颅定位照相所得的影像,对牙颌、颅面各标志点描绘出一定的线角进行测量分析,从而了解牙颌、颅面软硬组织的结构,使对牙颌、颅面的检查诊断由表面形态深入到内部的骨骼结构中去,它是正畸临床诊断及治疗设计的一种重要手段.

X线头影测量分析

简言之：通过对X片进行分析、测量，从而了解牙颌、颅面骨骼及软组织发育状况及相互关系

。X线头影测量分析一、主要应用研究颅面生长发育牙颌、颅面畸形的诊断分析确定错牙合畸形的矫治计划研究矫治中，矫治后的变化外科正畸的诊断和矫治设计下颌功能分析X线头影测量分析1.研究颅面生长发育

不同个体同一年龄段—横向研究颅面发育同一个体各年龄段---纵向研究颅面发育明确了颅面生长发育机制，快速生长期的年龄、及对颅面生长发育的预测。

---“颅面生长发育”章节X线头影测量分析通过X线对正常牙合人的颅面结构进行分析得出正常牙合的各项测量参考标准作为诊断分析的基础2.牙颌、颅面畸形的诊断分析

X线头影测量分析3.确定错牙合畸形的矫治计划对比分析出错牙合畸形的机制正常牙颌颅面关系个体牙颌颅面结构确定牙和颌位的理想位置，制定可行的矫治方案X线头影测量分析4.研究矫治中及矫治后牙颌、颅面的变化

治疗前正畸治疗治疗中,矫治后对比X线头影测量分析5.外科正畸的诊断和矫治设计

通过X线对颅面畸形患者进行分析得出畸形的机制确定手术部位、方法及需要移动或切除的部位X线头影测量分析局限性标记点的定位都是相对标记时存在个体差异存在种族、性别的差异X线头影测量分析1.头颅定位X线要求：头颅定位的关键在于：定位仪上左右耳塞与眶点指针，三者构成一与地面平行的恒定平面。定位X线头影测量分析2.头影图的描绘X线头影图像上，因头颅本身厚度或个体两侧结构不完全对称而出现的左右影像不完全重合按其平均中点来作描绘X线头影测量分析传统X线片数字化X线片X线头影测量分析

传统手描图

数字化描图X线头影测量分析常用头影测量标志点标志点：用来构成一些平面及测量内容的点1.解剖的，真正代表颅骨的解剖结构2.引伸的，如两测量平面相交的一个标志点定点准确才能获得相应准确的头影测量分析结果！X线头影测量分析标志点

硬组织测量标志点软组织测量标志点X线头影测量分析硬组织测量标志点颅部 蝶鞍点（S） 鼻根点（N） 机械耳点(P)上颌骨 前鼻棘(ANS)

上齿槽座点（A） 上中切牙点（U1）下颌骨 下齿槽座点（B） 下中切牙点（L1） 颏前点（Pg） 颏下点(Me)

颏顶点(Gn)

X线头影测量分析额点（G）鼻小柱点（Cm）鼻下点（Sn）上唇缘点（UL）下唇缘点（LL）软组织颏前点(Pgs)软组织颏下点(Mes)颈点（C）软组织测量标志点X线头影测量分析Landmark（定点）X线头影测量分析1.颅部标志点X线头影测量分析定点S(Sella蝶鞍中心点)X线头影测量分析定点N(Nasion鼻根点)：鼻额缝最前点X线头影测量分析定点P(Porion耳点）：机械耳点X线头影测量分析定点颅底点(Ba,basion）枕骨大孔前缘中点X线头影测量分析定点Bolton点：枕骨髁突后切迹最凹点X线头影测量分析2.上颌标志点X线头影测量分析－定点Or(orbitale眶点)X线头影测量分析翼上颌裂点（Ptm）：翼上颌裂轮廓最下点X线头影测量分析前鼻棘（ANS）：前鼻棘之尖X线头影测量分析A(Subspinale上齿槽座点)X线头影测量分析－定点UI(Upperincisor上中切牙切端)

X线头影测量分析3.下颌标志点X线头影测量分析－定点髁顶点(Co):髁突最上点X线头影测量分析－定点关节点（Ar):颅底下缘与下颌髁突颈后缘之交点X线头影测量分析－定点Go(Gonion下颌角点)：下颌支平面与下颌角平面交角之分角线与下颌角的交点X线头影测量分析B(Supramental下齿槽座点)X线头影测量分析LI(Lowerincisor下中切牙切端)

X线头影测量分析－定点Po(Pogonion颏前点)：颏部最突点X线头影测量分析－定点Me(Menton颏下点)X线头影测量分析Gn(Gnathion颏顶点)

:颏前点与颏下点之中点X线头影测量分析D点:下颌体骨性联合部之中心点X线头影测量分析第二次实验X线头影测量分析头影测量平面X线头影测量分析1.基准平面(Referenceline)：头影测量中相对稳定的平面X线头影测量分析SN平面－前颅底平面FH平面－Frankfort平面Bolton平面–Bolton点与鼻根点连线1.基准平面X线头影测量分析－基准平面SNplane前颅底平面X线头影测量分析－基准平面FHplane眶耳平面X线头影测量分析－基准平面Bolton平面X线头影测量分析

基准平面

X线头影测量分析测量平面X线头影测量分析－测量平面腭平面(ANS-PNS)X线头影测量分析－测量平面全颅底平面（Ba-N):颅底点与鼻根点连线X线头影测量分析全颅底平面X线头影测量分析－测量平面牙合平面(OP)1:第一磨牙咬合中点于上下切牙间中点连线。2:功能牙合平面：第一恒磨牙及第一乳磨牙或第一前磨牙的牙合接触点X线头影测量分析－测量平面下颌平面（MP）1:通过颏下点于下颌角下缘相切的线X线头影测量分析－测量平面下颌平面（MP）2:下颌下缘最低点的切线X线头影测量分析－测量平面下颌平面（MP）3:下颌角点与下颌颏顶点间连线X线头影测量分析－测量平面下颌支平面(RP):下颌升支及髁突后缘的切线X线头影测量分析－测量平面面平面（NP)：鼻根点与颏前点连线X线头影测量分析－测量平面Y轴：蝶鞍中心与颏顶点连线X线头影测量分析常用硬组织测量项目X线头影测量分析X线头影测量常用于临床对错牙合畸形机制进行分析明确牙齿、牙弓、颌骨、颅面间的关系不调测量上、下颌各自的形态、大小和相互间的位置关系及牙齿位置或倾斜度得出相应诊断X线头影测量分析通过X线对正常牙合人的颅面结构进行分析得出正常牙合的各项测量参考标准作为诊断分析的基础前提：正常值的确定X线头影测量分析头影测量分析目的:对比分析出错牙合畸形的机制正常牙颌颅面关系个体牙颌颅面结构确定牙和颌位的理想位置，制定可行的矫治方案X线头影测量分析每一个项目有特定意义说明相应结构的特征或生长变化趋势！必须综合的评价各项测量指标，才能明确畸形机制，作出正确诊断!颅面牙齿、牙弓颌骨

相互不调，产生牙颌畸形互相补偿产生正常颅面形态X线头影测量分析

上下颌骨的常用测量项目X线头影测量分析－测量内容SNAangle：反映上颌相对颅骨的前后位置X线头影测量分析－测量内容SNBangle：反映上颌相对颅骨的前后位置X线头影测量分析－测量内容ANBangle：反映上颌相对颅骨的前后位置X线头影测量分析－基准平面NP－FH（面角）:反映下颌的突缩程度。此角越大则下颌？相对突度越大X线头影测量分析－测量内容NA－PA(颌凸角)：反映上颌相对整个侧面的关系此角越大则上颌？相对突度越大X线头影测量分析－测量内容Y轴角:反映颏部的突缩，也代表面部生长发育方向此角越大则颏部？生长发育方向?颏部后缩垂直生长型X线头影测量分析－测量内容MP－FH下颌平面角：反映1.下颌体陡度2.下颌角大小

3.面高度：短面型/长面型X线头影测量分析

测量内容ANS-Ptm（上颌长）X线头影测量分析

测量内容S-Ptm（上颌位置）X线头影测量分析

测量内容Co-Pog（下颌长）X线头影测量分析

测量内容S-Co（下颌位置）X线头影测量分析上下前牙常用测量项目X线头影测量分析－测量内容UI－SNangleX线头影测量分析－测量内容LI－MPangle此角越大则下前牙？唇倾度大X线头影测量分析－测量内容U1－NA:上切牙对于前颅底的相对倾斜度X线头影测量分析－测量内容U1－NAdistance(U1-NA距)X线头影测量分析－测量内容L1－NBangleX线头影测量分析－测量内容L1－NBdistanceX线头影测量分析－测量内容U1－L1angle：反映上下前部牙弓的突度。X线头影测量分析－测量内容MP－SNangle：与下颌平面角类似X线头影测量分析头影测量分析方法很多针对不同种族、人群研究课题的各测量项目均依据不同的分析内容而定。X线头影测量分析华西医科大学头影测量分析法头影测量分析表头影测量项目Specificity不同个体Adults成人Female女Male男

Children儿童Female女Male男X线头影测量分析头影测量项目Specificity个体AdultsFemaleMaleSNA83

84SNB80 80ANB34MP-FH28 29PP-FH5 5Yaxis64 65Npg-FH8385U1-SN75 73L1-MP95 100U1-L1127 121Ptm-A42

44Ptm-S17

18S-Go69

71Go-Co51

52Go-Pg68

68N-ANS50

51ANS-Me57

58U1-PP26

27U6-PP19

19L1-MP38

38L6-MP30

30X线头影测量分析－测量内容SNAangle：反映上颌相对颅骨的前后位置X线头影测量分析－测量内容SNBangleX线头影测量分析－测量内容ANBangleX线头影测量分析－测量内容MP－FHangle（下颌平面角）X线头影测量分析

测量内容PP－FHX线头影测量分析－测量内容Y轴角:反映颏部的突缩，也代表面部生长发育方向X线头影测量分析

测量内容Npg-FH(面角)X线头影测量分析－测量内容U1－SNangleX线头影测量分析－测量内容L1－MPangleX线头影测量分析－测量内容U1－L1angle：反映上下前部牙弓的突度。X线头影测量分析

测量内容Ptm-A（上颌长）X线头影测量分析

测量内容Ptm-S（上颌位置）X线头影测量分析

测量内容S-Go后面高X线头影测量分析

测量内容Go-Co下颌支长X线头影测量分析

测量内容Go-Pg（下颌体长）X线头影测量分析

测量内容N-ANS上面高X线头影测量分析

测量内容ANS-Me下面高X线头影测量分析测量内容U1－PP距X线头影测量分析测量内容U6－PP距X线头影测量分析测量内容L1－MPdistanseX线头影测量分析测量内容L6－MPdistanseX线头影测量分析Wits分析法BOAOBOAOX线头影测量分析Tweed三角（FMA,IMPA,FMIA）FMAFMAFMIAFMIAIMPAFMIATweed应用此三角分析得出美国白种正常牙合儿童，FMIA均值为65º，此角是建立良好面型的良好条件。X线头影测量分析ThankYou!TheEndX线头影测量分析Landmark（定点）Referenceline（基准平面）Cephalometricmeasurement（测量内容）X线头影测量分析常用的分析方法DownsanalysisTweedanalysisSteineranalysisWylieanalysisRickettesanalysisNJMUanalysisX线头影测量分析常用平面眶耳平面（FH）前颅底平面（SN）审美平面（EP）下颌平面（MP）X线头影测量分析常用角度颅底-上齿槽座角（SNA）：

上颌对颅底位置关系

82°±1颅底-下齿槽座角（SNB）：

下颌对颅底位置关系

79°±1上下齿槽座角（ANB）：

上下颌位置关系

3°±1

……X线头影测量分析常用线距全面高（N－Me）上面高（N－ANS）下面高（ANS－Me）上面高/全面高下面高/全面高……X线头影测量分析－测量平面下颌支平面(RP):下颌升支及髁突后缘的切线X线头影测量分析ContentsClicktoaddTitle1ClicktoaddTitle2ClicktoaddTitle3ClicktoaddTitle4X线头影测量分析HotTipHowdoIincorporatemylogotoaslidethatwillapplytoalltheotherslides?Onthe[View]menu,pointto[Master],andthenclick[SlideMaster]or[NotesMaster].Changeimagestotheoneyoulike,thenitwillapplytoalltheotherslides.X线头影测量分析DiagramThemeGallery

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