谐振器品质因数的精确测试

谐振器品质因数的精确测试第一页，共十九页，编辑于2023年，星期三品质因数定义第二页，共十九页，编辑于2023年，星期三传输式品质因数测试－电路模型第三页，共十九页，编辑于2023年，星期三传输式品质因数测试－阻抗关系对于高Q谐振器，应用窄带近似得：第四页，共十九页，编辑于2023年，星期三传输式品质因数测试－QL和Q0的关系第五页，共十九页，编辑于2023年，星期三传输式品质因数测试－S21第六页，共十九页，编辑于2023年，星期三传输式品质因数测试－Q0第七页，共十九页，编辑于2023年，星期三传输式品质因数测试－Q0测试误差及措施寄生参数措施噪声曲线拟合耦合结构的损耗和电抗融入电路模型传输线和接头损耗融入电路模型输入输出的交叉干扰曲线拟合中的圆图失真/融入电路模型传输线时延校准/相位修正第八页，共十九页，编辑于2023年，星期三反射式品质因数测试－等效电路第九页，共十九页，编辑于2023年，星期三反射式品质因数测试－临界点定义第十页，共十九页，编辑于2023年，星期三反射式品质因数测试－Q圆第十一页，共十九页，编辑于2023年，星期三反射式品质因数测试－Q0计算第十二页，共十九页，编辑于2023年，星期三临界点法仿真结果示意图随着探针的长度的增加，S11的圆图轨迹半径逐渐增大第十三页，共十九页，编辑于2023年，星期三临界点法实测结果示意图当外部耦合非常弱的情况下，S11导纳圆已经分辨不出第十四页，共十九页，编辑于2023年，星期三临界点法仿真提取比较（1）腔体尺寸35×35×50，谐振杆φ11×φ8×49，螺钉φ4×6.5，DIN头，Tap高度25。

Q0

=3959.58@936.36MHzLen(mm)F1(MHz)F2(MHz)F0(MHz)Q0ΔQ0%0.5933.881933.643933.763923.120.921933.344933.106933.2253920.840.982934.521934.282934.43909.381.274934.725934.485934.613893.931.668931.84931.59931.7153726.825.88第十五页，共十九页，编辑于2023年，星期三临界点法仿真提取比较（2）腔体尺寸35×35×35，谐振杆φ10×φ8×29，螺钉φ4×1，DIN头，Tap高度17.5。Q0=5467.28@2010.8MHzLen(mm)F1(MHz)F2(MHz)F0(MHz)Q0ΔQ0%0.52002.1782001.812001.995440.130.512002.3372001.9682002.155425.810.7622001.6062001.2362001.425409.171.0641997.4181997.0441997.235340.122.3381960.0331959.6511959.845130.46.16第十六页，共十九页，编辑于2023年，星期三临界点法仿真提取比较（3）临界点法与带连接器和探针的同轴腔本征模的比较Len(mm)临界点法本征模ΔQ0%F0(MHz)Q0F0(MHz)Q00.5933.763923.12935.65939290.151933.2253920.84935.77539320.282934.43909.38935.9239280.474934.613893.93935.30938960.058931.7153726.82935.10938021.98第十七页，共十九页，编辑于2023年，星期三临界点法仿真提取比较（4）临界点法与同轴谐振器外载Q值的比较Len(mm)临界点法外载Q值ΔQ0%F0(MHz)Q0F0(MHz)QL0.5933.763923.12934.71715981933.2253920.84934.71115042934.43909.38934.44412994934.613893.93934.0329028931.7153726.82930.53322第十八页，共十九页，编辑于2023年，星期三实测谐振频率对Q0的影响F1(MHz)F2(MHz)F0(MHz)Q0F0模拟(MHz)Q0模拟Q0/

Q0模拟%1825.8861826.31826.094407.6818805304831800.3121800.731800.524304.1918105196821701.4211701.8791701.653711.51734505473