JJF 1702-2018 α、β平面源校准规范

中华人民共和国国家计量技术规范8平β 面源校准规范平βe7发布 7实施国家质量监督检验检疫总局 发布8平β 面源校准规范平rs

췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍8췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍代替2归 口 单 位:全国电离辐射计量技术委员起 草 单 位:上海市计量测试技术研究院中国计量科学研究院本规范委托全国电离辐射计量技术委员会负责解释本规范起草人:唐方东上海市计量测试技术研究院)何林锋上海市计量测试技术研究院)梁珺成中国计量科学研究院)徐一鹤上海市计量测试技术研究院)张 明中国计量科学研究院)刘皓然中国计量科学研究院)目录目引言………………………

Ⅱ)1范围……………………2引用文件………………3术语和计量单位………………………1术语…………………2计量单位……………4概述……………………5计量特性………………1表面发射率…………2表面发射率的不均匀性……………6校准条件………………1环境条件……………2测量标准……………7校准项目和校准方法…………………1表面发射率…………2表面发射率的不均匀性……………8校准结果表达…………9复校时间间隔…………附录Aβ平面源校准记录推荐格式………………

1)1)1)1)1)1)1)1)2)2)2)2)2)2)3)4)4)5)附录Bβ平面源校准证书内页内容………………

6)附录Cβ平面源表面发射率校准结果不确定度评定示例 …………

7)Ⅰ引言引本规范按照0国家计量校准规范编写规则》编写。与2相比,除编辑性修改外,本规范主要技术变化如下:由检定规程改为校准规范;名称由β标准平面源”改为β平面源校准规范;将原规程检定项目表面发射率和活度”修改为校准项目表面发射率;适用范围中增加对β粒子能量范围的限定;平面源表面发射率的计算由绝对测量的计算方式修改为适用于绝对和相对测量的计算方式;删除原规程检定项目非活性面的放射性污染;修改了标准平面源表面发射率不均匀性的测量条件要求与计算方法。本规范的历次发布情况如下:。Ⅱ范围

β平面源校准规范本规范适用于表面发射率为2)1的α平面源和表面发射率为3~)1的β平面源的校准β粒子的最大能量大于等于。引用文件本规范引用下列文件:1通用计量术语及定义0核科学技术术语 第1部分:核物理与核化学凡是注日期的引用文件仅注日期的版本适用于本规范凡是不注日期的引用文件,其最新版本包括所有的修改单适用于本规范。术语和计量单位术语0界定的及以下术语和定义适用于本规范。平面源e一种带衬底的板状放射源。源]表面发射率e单位时间内,从平面源表面π球面度)发射的特定种类、能量超过特定值的粒子数。计量单位源]表面发射率平面源π球面度上)每分钟的粒子数符号:1。概述β平面源由一定量的β放射性核素沉积或结合在确定形状和面积的金属衬底上制作而成,通常放射性核素均匀分布在一面,而衬底厚度足以防止从源的背面发射粒子。β平面源常用于放射性活度测量以及放射性污染监测仪器的刻度、校准与稳定性检验。计量特性表面发射率常用的β平面源的表面发射率范围通常为2)1β标准平面源表面发射率的不确定度优于5。1表面发射率的不均匀性β标准平面源活性区内各处表面发射率的不均匀性不超过0。校准条件环境条件1环境温度℃。相对湿度:不大于0。校准时实验室内不应有影响仪器正常工作的振动和电磁场干扰。测量标准测量标准为β粒子发射率标准装置以下简称为标准装置。测量范围α粒子2)1;β粒子3)1。扩展不确定度:不大于5 。校准项目和校准方法表面发射率b校准前开启标准装置预热至稳定状态,做本底测量,测量时间不少于0,按公式)计算标准装置的α和β本底计数率。b式中:

)Nb标准装置的本底计数率,1;b标准装置本底测量累积计数;b标准装置本底测量时间,。本底测量完成后,将α或β平面源放入测量室内,处于测量室平面居中位置,保证平面源边缘与测量室侧壁的间距超过测量室的高度。关闭测量室进行测量,测量时间应=使得标准装置的累积计数不小于,重复测量5次,按公式)计算平均计数,按公式)=式中:

nninC= 1

)C标准装置对α或β平面源的计数平均值;i标准装置α或β平面源第i次测量的计数;测量次数n取。tNt2

)式中:N标准装置对α或β平面源的平均计数率,1;标准装置对α或β平面源的单次测量时间,。由标准装置的α或β本底计数率、标准装置对α或β平面源的平均计数率以及标准装置对α或β粒子的探测效率,按公式)计算α或β平面源的表面发射率。η式中:η

πNNb

)πα或β平面源的表面发射率,1;标准装置对α或β粒子的探测效率,;标准装置探测器的死时间修正系数。标准装置探测器的死时间修正系数d按公式)计算。1

)式中:

1-τ单位时间内的死时间。当测量标准为β粒子发射率基准装置时α或β标准平面源的表面发射率按公式)计算。:

πN

Nb

)式中标准装置探测器的小能量漏计数修正系数。表面发射率的不均匀性对活性区面积不小于2的β标准平面源,需要做表面发射率的不均匀性测量。在平面源活性区范围内至少选取包括中心及其周边位置在内的5个点做表面发射率不均匀性测量,每个测量点的面积不大于2。测量时将平面源放入标准装置的测量室内,采用低原子序数的材料遮盖测量点周边源活性区。对于β平面源其衬底厚度应能够完全吸收平面源发射的β粒子。测量时间应使得标准装置的累积计数不小于,每个测量点均重复测量3次,取平均值。平面源表面发射率的不均匀性按公式)计算。N式中:N

LNxNn0 )L平面源表面发射率的不均匀性,;Nx计数率最大的测量点扣除本底后的平均计数率,1;Nn计数率最小的测量点扣除本底后的平均计数率,1;N各测量点扣除本底后计数率的平均值,1。3校准结果表达按本规范进行校准,出具校准证书,校准证书内页格式见附录校准结果应给出表面发射率测量结果的不确定度评定示例见附录。复校时间间隔建议复校时间间隔为4个月。由于复校时间间隔的长短是由平面源的使用情况、使用者、平面源本身质量等多种因素所决定,送校单位可根据实际使用情况自主确定复校时间间隔。4附录Aβ平面源校准记录推荐格式α平面源;β平面源平面源核素: ;规格: ;活性区面积: 2本底 ;= n本底计数CbCb:Nb 1表面发射率 ; 。= n= s计数CC:N: 1NNb: 1η:kd:ke:π=表面发射率的不均匀性= n测量点计数平均值计数率N1NxNn112345N= 1L=5附录B 校准证书内页内容至少应包括下列信息

β平面源校准证书内页内容:被校对象的名称、核素、规格、编号;本次校准所用测量标准的溯源性及有效性说明;本次校准时的环境条件;校准结果及其测量不确定度的说明。校准结果表面发射率π=表面发射率的不均匀性L=6附录Cβ平面源表面发射率校准结果不确定度评定示例测量条件与测量方法环境条件:实验室温度:℃,相对湿度:不超过0 。周围环境无影响测量的振动和电磁场干扰。测量标准:β粒子发射率标准装置。相对扩展不确定度5 。测量参数平面源的表面发射率。测量方法:按照本校准规范的。测量模型

( · 式中:

π=

Nη

)πα或β平面源的表面发射率,1;标准装置探测器的死时间修正系数;标准装置对α或β粒子的探测效率,。输入量的标准不确定度评定 ()输入量N的标准不确定uN 、输入量N的标准不确定度主要由复性引入,A类方法评定。

β粒子发射率标准装置对平面源计数的重βπ粒子发射率标准装置对被校平面源表面发射率的测量数据见表。β表1平面源表面发射率测量数据平面源计数率11N的实验标准差i1β9900954输入量N的标准不确定度为:Ni)则不确定度分量:

11N)输入量Nb引入的标准不确定度N)输入量Nb的标准不确定度主要由β粒子发射率标准装置本底计数率的重复性引入,采用A类方法评定。7β粒子发射率标准装置本底计数率的重复性测量数据见表。表2β粒子发射率标准装置本底计数率重复性测量数据本底计数率N1N1Nb的实验标准差b1β5723716输入量Nb的标准不确定度为:则不确定度分量:

Nb)22N)输入量η引入的标准不确定度)的评定输入量η的标准不确定度来源主要是β粒子发射率标准装置β探测效率的不确定度,以及标准装置的稳定性,采用B类方法评定。β粒子发射率标准装置β探测效率65 ,则:k=3kβ粒子发射率标准装置的年稳定性不超过1,假设为均匀分布,则:1 =7输入量η的相对标准不确定度为3则不确定度分量:

=2=233)输入量引入的标准不确定度)的评定为标准装置探测器的死时间修正系数,按公式)计算。kd=1

)式中:

1-τ单位时间内的死时间。平面源计数率测量时,死时间τ与其修正系数。表3死时间τ及修正系数d表3平面源计数率测量的死时间τ与修正系数数据计数率1死时间n修正系数kd588由于33,由输入量引入的标准不确定度)可忽略。8合成标准不确定度的评定灵敏系数近似为,其引入的标准不确定度)可忽略,故假定为常数,则:iN的灵敏系数1=π=14iηNb的灵敏系数2=π=-14Nb ηη的灵