项目2LED照明产品可靠性加速测试与分析企业项目汇报会20120511-2课件

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LED照明产品可靠性加速测试与分析半导体照明联合创新国家重点实验室（筹）2012年5月企业项目汇报会1.研究背景全球照明产业展望全球SSL产品市占率预期将在2020达到60%以上在各应用领域，预期SSL将大幅度的降价但是，SSL的产品普及除了需要价格降低外，另外需要经由质量与可靠性的验证，以建立使用者对于SSL产品的信心目前SSL产品的可靠性并未全面性的了解，并且该实验方法也没有适当的建立在美国能源部所制定的多年度SSL发展规划：在2020之前，发展出一套用於SSL系統寿命估计的软件，误差度达到10%之内，包括测试方法与模型等。本项目与美国能源部的可靠性项目同步进行限国家重点实验室企业集资共性项目使用研究背景SSL产品虽包括光源与电源，但是其可靠性却不是光源与电源的1+1=2组合，他们的相互影响是必须要考虑的。SSL产业对于产品可靠性的需求加速可靠性测试方法与标准产品可靠性预测模型与方法户内/户外半导体照明产品通常承受多种负载，包括：过高或低的环境温度湿度热或电力循环(Cycling)电流/电压变化或电力中断(停电)紫外辐射机械震动/冲击其他(包括：风、盐…等)限国家重点实验室企业集资共性项目使用24hour/7dayburninDesign/FabricationTestingRMATest/AssemblyExtendedLifeTestLeak/MoistureTest子项目一：可靠性加速试验方法研究

限国家重点实验室企业集资共性项目使用研究路线第一轮

灯具摸底实验对于国内与国外大厂的产品进行摧毁性的HammerTest要对中国SSL产品的可靠性有一个全面的认识本实验与美国DoE的实验进程是同步的为第二轮实验提供强有力的数据基础第二轮

电子驱动模块加速实验藉由多负载(温度、湿度、电压波动等)，取得模块与元件的加速测试因子未子项目2可靠性模型提供数据库为可靠性实验标准化提供基础研究限国家重点实验室企业集资共性项目使用研究内容:灯具摸底实验(1)Hammertest条件预烧70C,72hr热循环/冷热冲击：-40C-100C,100cycles,(15mins-40C,60mins100C,15minschangetime),非工作状态高温高湿：双85(RH/C)持续100hrs，工作状态从一个应力转移到另一个应力前，每个样品都进行光电测试

连续交替直到样品失效失效判定：以光通量降低到初始值的70%作为失效判据。总光通量，相关色温，和色坐标通过校准后的积分球来测试，标准测试方法IESLM-79-08限国家重点实验室企业集资共性项目使用研究内容:灯具摸底实验(3)进度：部分企业已经回报部分结果，企业的实验仍在进行中结果:部分产品在3-5个循环后已失效失效模式有：光源与光源与PCB焊接点其他材料破坏电子驱动破坏…初步数据表明部分产品失效属于质量问题。反射片变形LED烧坏正常LED限国家重点实验室企业集资共性项目使用研究内容:灯具摸底实验(4)讨论：收集各企业的测试数据所有的讯息都将反馈给国家实验室，并删去敏感讯息与公司产品讯息，并且与参与企业集资共性项目成员分享。跟实验报告将包括国内厂家产品与国外大厂同类产品的实验结果。预计本阶段工作于5月底结束。限国家重点实验室企业集资共性项目使用研究内容:电子驱动模块加速实验(1)背景：一般认为电子驱动失效是SSL灯具失效的主要原因之一。目标：以电子驱动模块为入口，设计加速实验方法，取得加速因子藉由多负载(温度、湿度、电压波动等)，除量测电子驱动模块的电学输出外，并与设计光模块相接后量测其光质量(光强、光色、光闪烁等)参数。为可靠性实验标准化提供基础研究实验执行时间：2012Q2-Q4限国家重点实验室企业集资共性项目使用研究内容:电子驱动模块加速实验(3)元件级别加速测试：实验架设：把关键元件独立出来，放到可控温、控湿的箱体，并实时量测元件温度将该元件与总体驱动电路相连接负载个体元件上施以高温高压加速总体驱动电路以电压与过高压加速量测：电参数：实时量测LED电流均值、Currentripple。非实时量测该元件之等效电压、电感与电容值的量测。热参数：实时量测元件接脚温度光参数:以特定间隔，把该驱动电路与光模块连接，量测光衰、光色、光闪烁限国家重点实验室企业集资共性项目使用研究内容:电子驱动模块加速实验(4)输入/出参数本实验有多输入与多输出，因为这些输入/输出接与元件或模块的可靠性相关。以电解电容的热输入来说：不同的电容对于相同的温度下的可靠性也不同。以驱动模块的电输出量测来说，电流均值(Meancurrent)与Currentripple与光输出相关。限国家重点实验室企业集资共性项目使用研究内容:电子驱动模块加速实验(5)项目落实选择驱动模块：没有已知设计缺陷的可靠产品:该模块可以通过HammerTest，没有显著的质量问题。具有普遍应用意义。相对应的光模块规格?落实实验方案本实验的负载相对复杂，需求大量高级人力国家实验室(包括半导体所、常州实验室)负责实验设计、实验夹具设计、实验架设；国家实验室与企业负责量测限国家重点实验室企业集资共性项目使用研究背景(1)缺乏一个系统可靠性估算方法LED灯具的寿命基于一个LED芯片在25°C的光衰系统失效≠LED’s失效每个部件都会展示各自不同的失效模式这些失效模式相互影响，加速整个系统的失效现有的系统可靠性模型没有所需的多面性来处理SSL系统的复杂性一般采用传统的试错法,这种方法明显地具有费用高、时间长，以及可靠性低等缺点美国能源部MYPP计划中也建议建立系统可靠性估算方法本项目和美国能源部MYPP计划时间表是同步的（樊学军老师是美国能源部可靠性联盟的成员之一）飞利浦照明所采用的系统可靠性评估的方法利用以下的方法来分解系统确定关键部件的失效机理使用系统条件以及在假设独立的子系统条件下，推导出各子系统的可靠性标准通过蒙特卡罗方法预测的系统故障组件失效分布

这方法有个很局限性的假设，那是子系统失效机理是相互独立的研究背景（2）快速灯具系统可靠性估算方法发展一套快速的系统可靠性估算方法与软件，在考虑众多且复杂的失效模式下，能够科学的：在灯具设计阶段即可预估灯具系统的寿命，同时指出导致灯具失效的最关键部件。本项目预估建立相关理论基础与关键部件可靠性资料库完成一套Web-based的、具良好使用者介面的可靠性估算软件。使用者1使用者2使用者3使用者4网络新的资料或算法研究路线(1)：系统可靠性预估方法云端资料库系统可靠性光源的失效驱动的失效电解电容1多个LED电解电容2LumenProbExpectedoutput目前没有这方面的数据(T,t)Lumen(??)Prob研究路线(3)：系统可靠性预估方法研究内容(1)：系统可靠性预估软件For32LEDsat100hrs系统可靠性预估软件的界面(LED1)32颗LEDs在100kHr预估流明的分布与时间的变化32颗LEDs在10kHr32颗LEDs在50kHr研究内容(2)：系统可靠性预估软件4颗LEDs32颗LEDs64颗LEDs预估拥有多个颗LED的系统可靠性研究内容(4)：系统可靠性预估软件预估多种LED的系统可靠性LEDsALEDsB研究内容(5)：系统可靠性预估软件求解反问题系统诊断功能基于最终失效模式，对其逆问题进行理论分析，以便点出导致灯具失效的最关键的几种部件研究内容(8)：求解反问题系统失效机率光源的失效LED1灾难性失效LED

1流明低于70%焊点的失效驱动的失效电解电容的失效下部分工作开发web-based的界面程序调试并且将软件更完整化通过整合课题1的数据，建立驱动部件可靠性资料库开发系统故障诊断功能子项目三：可靠性测试设备开发

限国家重点实验室企业集资共性项目使用设备研制2012.05.112012年任务内容时间节点研究内容和考核指标（红色字体已完成）任务一：提出设备指标1月1、由联合创新实验室、测试方法研究人员提出设备指标（张国旗老师已提供初步指标）2、签订设备研制协议3、制定设备研制可行方案（正在进行中）2月任务二：收集常规测试方法、规程及相关标准2月1、收集企业现有LED产品常规测试方法、测试对象包括LED器件、模组和灯具（勤上、雷曼、雷士、国星等）2、收集企业LED测试的标准（勤上、雷曼、雷士、国星等）3月任务三、收集测试数据3月1、收集企业现有LED常规测试数据2、收集企业LED可靠性加速测试数据4月任务四、购置设备材料4月购置设备所需的材料任务五：研制设备4月设计设备4月－8月加工设备9月－10月组装、装调设备11月－12月定标、调试设备设备雏形设备的外型尺寸：1750×2000×2550(mm)

内部工作室尺寸：1000×1480×1500(mm)已完成工作一、技术指标

Temperaturerange-50oCTo150oCMintemperature-50oCMaxtemperature150oCThermalramprate2oC~10oC/minaverageHumidityrange20%To95%CoolingLN2Vibrationrmsrange5-100grms(BareTable)RepetitiveRandomShockBroadband6DoF(3axis/3rotational)Currentswingrange<0.5%+5mATablecapacity150kgUVrange313,330,340,354nmSource:FluorescentlampPowerrequirements380V，400V，440V，480V350/60Hz80A(ServiceRating)IntegratedsphereDiameter:80,100,150,200mmWavelengthrange:350~2200nmWavelengthresolution:2nmFluxresolution:3%+1lmColortemperatureresolution:2KChromaticitycoordinatesresolution:0.001

已完成工作二、收集常规测试方法、规程及相关标准

目前，我们已搜集了部分企业的常规测试和加速测试方法、规程及相关标准。其中包括：勤上、雷曼、雷士、国星等LED企业。类别实验项目参考标准实验条件时间样品数判据环境实验温度循环JEITAED-4701100105-40℃→25℃→100℃→25℃

30mins,5mins,30mins,5mins循环100次220/22冷热冲击MIL-STD-202G-40℃(15min)←→100℃(15min)循环200次220/22耐湿热循环JEITAED-470120020325℃～65℃，90%RH24hrs./1cycle循环10次220/22高温储存JEITAED-4701200201Ta：100℃1000h220/22低温储存JEITAED-4701200202Ta：-40℃1000h220/22高温高湿储存JEITAED-4701100103Ta：60℃，RH：90%1000h220/22盐雾试验JESD22A107-B6.0～7.5PH值，35℃48h220/22

寿命实验常温寿命试验JESD22-A108DTa=25℃IF(单芯片):20mAIF(RGB):R=20mA,G=15mA,B=15mA1000h220/22高温寿命JESD22-A108DTa=80℃IF(单芯片):15mAIF(RGB):R=20mA,G=15mA,B=15mA1000h220/22低温寿命JESD22-A108DTa=-40℃IF(单芯片):15mAIF(RGB):R=20mA,G=15mA,B=15mA1000h220/22高温高湿寿命JEITAED-4701100102Ta：60℃，RH：90%IF(单芯片):15mAIF(RGB):R=20mA,G=15mA,B=15mA1000h220/22破坏性试验耐焊接热JEITAED-4701300301T