标准解读

《YS/T 364-2006 纯铱中杂质元素的发射光谱分析》是一项针对纯铱材料中杂质元素进行定量检测的标准。该标准规定了使用发射光谱法测定纯铱中包括但不限于铁、镍、铜、银等特定杂质元素含量的方法。适用于纯铱锭或其它形式纯铱产品的质量控制与评价。

在执行此标准时，首先需要对样品进行适当的预处理，如溶解或制成适合于光谱仪分析的形式。随后，通过激发源使样品中的原子或离子被激发至高能态，当这些粒子返回基态时会发出特征性的光辐射。不同元素由于其电子结构差异，在受到激发后释放出的光波长各不相同，利用这一点可以实现对样品内含有的各种元素种类及其浓度的准确测量。

整个过程中需严格遵守实验条件设置要求，比如光源的选择、仪器校准以及背景扣除等因素都会影响到最终结果的准确性。此外，为了保证数据可靠性，还需定期对所使用的设备进行维护保养，并采用标准物质来验证方法的有效性和精密度。

该标准详细描述了从样品制备到数据分析全过程的操作指南和技术参数，为从事相关领域工作的科研人员和企业提供了一套科学合理且易于操作的技术规范。


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  • 现行
  • 正在执行有效
  • 2006-05-25 颁布
  • 2006-12-01 实施
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文档简介

ICS77.040.30YSH15中华人民共和国有色金属行业标准YS/T364-2006代替YS/T364-1—1994纯银中杂质元素的发射光谱分析Determinationoftraceimpuritiesinpurityiridiumbyatomicemissionspectrometric2006-05-25发布2006-12-01实施中华人民共和国国家发展和改革委员会发布

YS/T364—2006前本标准是对YS/T364—1994《纯铁中杂质元素的发射光谱分析》的修订本标淮与YS/T364—1994相比,主要有如下变动:同时测定的杂质元素由11个增加到16个；调整了测定元素的含量范围。本标准自实施之日起,同时代替YS/T364—1994.本标准由全国有色金属标准化技术委员会提出并归口本标准由贵研铂业股份有限公司负责起草本标准主要起草人：文劲松、方卫、李楷中。本标准由全国有色金属标准化技术委员会负责解释。本标准所代替标准的历次版本发布情况为：YB927-78YS/T364-1994。

YS/T364-2006纯中杂质元素的发射光谱分析T范围本标准规定了纯铁中杂质元素含量的测定方法。本标准适用于99.9%～99.99%纯铁粉中杂质元素含量的测定,测定元素及含量范围见表1.元素测定范围（质量分数）%Cu、Ag、Mg、Mn0.00026~0.010Pt、RhRu、Sn.Si0.0010~0.040Fe、NiPb、Zn.Au、Pd、Al0.00051~0.0202方法提要样品转化为粉末.加石墨粉作缓冲剂,装入杯状石墨电极中.直流电弧阳极激发，摄谱测定试剂和材料3.1二次蒸富水（离子交换后蒸馆两次）3.2二氧化硅粉.光谱纯。3.3石墨粉，光谱纯。3.4盐酸(p1.17g/mL.),优级纯3.5硝酸(e1.42g/mL）优级纯3.6光谱用铁基体，3.7光谱纯氯化铵饱

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