标准解读

GB/Z 28820.2-2012《聚合物长期辐射老化 第2部分:预测低剂量率下老化的程序》是中国国家标准化管理委员会发布的一项指导性技术文件,旨在提供一种方法来预测在低剂量率辐射条件下聚合物材料的老化行为。该标准适用于需要评估材料在长时间内暴露于辐射环境下的性能变化情况的研究和应用场合。

标准首先定义了相关术语与定义,明确了“低剂量率”、“辐射老化”等关键概念的具体含义。接着,详细介绍了用于预测聚合物在低剂量率辐射条件下老化过程的方法学框架,包括但不限于实验设计、样品制备、测试条件设定等方面的要求。此外,还提出了基于加速试验结果外推至实际使用条件下的数据处理与分析方法,以及如何通过数学模型来拟合不同剂量率下的老化曲线,从而实现对材料在特定环境下使用寿命的预测。


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....

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  • 现行
  • 正在执行有效
  • 2012-11-05 颁布
  • 2013-02-01 实施
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GB/Z 28820.2-2012聚合物长期辐射老化第2部分:预测低剂量率下老化的程序_第1页
GB/Z 28820.2-2012聚合物长期辐射老化第2部分:预测低剂量率下老化的程序_第2页
GB/Z 28820.2-2012聚合物长期辐射老化第2部分:预测低剂量率下老化的程序_第3页
GB/Z 28820.2-2012聚合物长期辐射老化第2部分:预测低剂量率下老化的程序_第4页
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文档简介

ICS2903501

K15..

中华人民共和国国家标准化指导性技术文件

GB/Z288202—2012/IEC/TS61244-21996

.:

聚合物长期辐射老化

第2部分预测低剂量率下老化的程序

:

Long-termradiationageinginpolymers—

Part2Proceduresforredictinaeinatlowdoserates

:pggg

(IEC/TS61244-2:1996,IDT)

2012-11-05发布2013-02-01实施

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局发布

中国国家标准化管理委员会

GB/Z288202—2012/IEC/TS61244-21996

.:

目次

前言…………………………

引言…………………………

范围………………………

11

规范性引用文件…………………………

21

指数外推法………………

31

简介…………………

3.11

试验程序……………

3.21

评估和外推…………………………

3.32

局限性………………

3.42

示例…………………

3.52

依赖于时间的叠加数据…………………

43

简介…………………

4.13

试验程序……………

4.23

评估…………………

4.33

局限性………………

4.44

示例…………………

4.54

DED数据叠加……………

55

简介…………………

5.15

试验程序……………

5.25

评估…………………

5.35

局限性………………

5.45

示例…………………

5.56

结论………………………

66

参考文献……………………

20

GB/Z288202—2012/IEC/TS61244-21996

.:

前言

聚合物长期辐射老化由部分组成

GB/Z28820《》3:

第部分监测扩散限制氧化的技术

———1:;

第部分预测低剂量率下老化的程序

———2:;

第部分低压电缆材料在役监测程序

———3:。

本部分为的第部分

GB/Z288202。

本部分按照给出的规则起草

GB/T1.1—2009。

本部分使用翻译法等同采用聚合物长期辐射老化第部分预测低剂量

IEC/TS61244-2:1996《2:

率下老化的程序

》。

本部分由中国电器工业协会提出

本部分由全国电气绝缘材料与绝缘系统评定标准化技术委员会归口

(SAC/TC301)。

本部分起草单位机械工业北京电工技术经济研究所上海电缆研究所深圳市旭生三益科技有限

:、、

公司中国电器工业协会标准化工作委员会上海核工业研究设计院上海特缆电工科技有限公司江苏

、、、、

上上电缆集团有限公司上海电缆厂有限公司临海市亚东特种电缆料厂上海凯波特种电缆料厂有限

、、、

公司无锡江南电缆有限公司常州八益电缆股份有限公司上海至正道化高分子材料有限公司上海创

、、、、

新高温线缆厂浙江万马电缆股份有限公司深圳市沃尔核材股份有限公司北京北重汽轮机电机有限

、、、

责任公司北京新福润达绝缘材料有限责任公司

、。

本部分主要起草人刘亚丽刘淑芬孙建生卢伟居学成郭丽平顾申杰孙萍王松明王怡瑶

:、、、、、、、、、、

周才辉段春来赵文明周叙元侯海良沈彧唐松柏康树峰刘凤娟刘琦焕

、、、、、、、、、。

GB/Z288202—2012/IEC/TS61244-21996

.:

引言

聚合物在辐射条件下的行为特性受辐照环境的影响很大尤其是有氧气存在的情况下当聚合物

,。

在含氧环境中受到辐照时通常观察发现达到一定降解程度所需要的辐照剂量随剂量率变化尽管多

,。

年以前人们就已经知道聚合材料辐射老化中这种剂量率影响但对于影响过程直到近年来才有足够了

,

解并制定预测方法聚合物中剂量率影响的类型如图所示[1]其中DED等效破坏剂量定义为达

,。1,()

到特定破坏参数如断裂伸长率拉伸强度压缩形变等所需要的剂量

(、、)。

图给出了大多数但不是全部聚合物比较常见的行为特性在惰性气体环境中用曲线表示

1()。,1,

在超过大剂量率范围内聚合物的降解与剂量率无关当剂量率低至热老化影响占主导时曲线将接

。,1

近惰性条件下热老化的曲线在如图的双对数曲线图中热老化将用一条斜率等于的直线来表示

。1,1。

当有氧存在时在扩散限制氧化和依赖于时间的化学反应等多个过程中会体现出剂量率的影响

,。

在高剂量率条件下扩散限制氧化变得比较重要如图所示在该区域内DED将随剂量率的增大而

,(1);

增大应当注意到图只是一个原理图仅能用于说明可能发生的行为特性的类型尤其是扩散限制区

。1,,

域要取决于聚合物的类型和厚度氧的渗透率以及材料对表面性能的敏感性等多种因素所观察到的

,、。

降解受氧化层厚度的影响很大当剂量率足够高时氧化将发生在很浅的表层而不会影响到大多数聚

。,,

合物的总体性能在这种情况下观察到的降解和在惰性环境中观察到的降解相似且DED会接近惰性

老化线发生非均相氧化之前允许的最大剂量率可根据理论方法或使用剖面技术进行确定这些程序

。。

在本部分中有详细论述在均相氧化区域大多数聚合物的剂量率影响都不大当剂量率减小时

。,。,

DED剂量率双对数曲线的斜率通常为常数或近似为常数如图中曲线所示直到剂量率低至热

-(1Ⅱ),

老化占主导时为止对类行为特性DED剂量率图的斜率由主导化学反应的反应速率确定如果

。Ⅱ,-。

反应速率相对于初始反应速率比较高时则斜率较小并且可能接近而当反应速率较低时斜率较大

,0;,

但仍小于

1。

对于含氧环境中受到辐照的几种聚合物在均相氧化区域中观察到更加复杂的剂量率影响例如

,(

图中曲线具有类行为特性的一个很好的例子是一般认为这是由于辐照生成中间过氧

1Ⅲ)。ⅢPVC,

化氢物的裂化所致[2-4]详见

,5.5。

GB/Z288202—2012/IEC/TS61244-21996

.:

聚合物长期辐射老化

第2部分预测低剂量率下老化的程序

:

1范围

的本部分内容适用于预测低剂量率下老化的程序

GB/Z28820。

本部分给出了种根据高剂量率试验数据外推得到一般使用条件下低剂量率数据的方法这些方

3。

法均假设在试验条件下已实现均相氧化本部分适用于各种弹性体热塑性材料和部分热固性材料

。、。

各种方法本身也在不断改进与完善之中为了能够对低剂量率条件进行预测需要相当多的试验数据

。,。

指数外推法主要用于等温数据而叠加法可利用各种不同温度条件下得到的数据

,。

2规范性引用文件

下列文件对于本文件的应用是必不可少的凡是注日期的引用文件仅注日期的版本适用于本文

。,

件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改单适用于本文件

。,()。

电气绝缘材料确定电离辐射的影响第部分辐射相互作用和剂量测

GB/T26168.1—20101:

(IEC60544-1:1994,IDT)

电气绝缘材料确定电离辐射的影响第部分辐照和试验程序

GB/T26168.2—20102:

(IEC60544-2:1991,IDT)

电气绝缘材料确定电离辐射的影响第部分辐射环境下应用的分级

GB/T26168.3—20103:

体系

(IEC60544-4:2003,IDT)

聚合物长期辐射老化第部分监测扩散限制氧化的技术

GB/Z28820.1—20121:(IEC/

TS61244-1:1993,IDT)

3指数外推法

31简介

.

指数外推法是基于在空气或过氧的环境中和等温条件下对不同辐射剂量时得到的实验数据进行

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