标准解读
《GB/T 6570-1986 微波二极管测试方法》是一项国家标准，专门针对微波二极管的性能参数测试提供了规范性指导。该标准适用于各类用于微波频率范围内的二极管产品，包括但不限于点接触型、肖特基势垒型等类型。
在内容上，《GB/T 6570-1986 微波二极管测试方法》详细规定了测试前准备工作的要求，比如环境条件（温度、湿度）、设备精度及校准状态等；同时明确了不同参数如正向电压、反向饱和电流、最大额定功率等的具体测量步骤与方法。对于每项指标的测试，都给出了推荐使用的仪器及其配置要求，并且对如何处理实验数据进行了说明，确保测试结果的一致性和可比性。
此外，还特别强调了安全注意事项，在进行高压或高功率测试时需要采取适当防护措施以保证操作人员的人身安全。通过遵循本标准中所列明的各项指南和要求，可以有效地评估微波二极管的质量水平及其适用性于特定应用场景的能力。
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- 废止
- 已被废除、停止使用，并不再更新
- 1986-07-22 颁布
- 1987-07-01 实施
文档简介
UDC621.382.2.029.6：621.317.08中华人民共和国国家标准GB6570-86微波二极管测试方法Measuringmethodsformicrowavediodes1986-07-22发布1987-07-01实施家标准，国批准
目录总则<I)盛道二极管测试方法.(3)价跃二极管测试方法（17)微波混频二极管测试方法（27）变容二极管测试方法eeeeoeeee5（39)微波限幅二极管测试方法6（51)微波检波二极管测试方法（52)8PIN二极管测试方法（60)崩越二极管（Impattdiode）测试方法附录A（66)附录B耿二极管（Gunndiode）测试方法（69)微波二极管测试方法与IEC标准的对应关系附录C（74）
中华人民共和国国家标准UDC621.382.2.029.6:621_317.08GB6570-86微波二极管测试方法Measuringmethodsformicrowavediodes本标准适用于各种微波二极管的参数测试。在引用本标准时，有关的具体要求应在相应的详细规范中加以规定。总则1.1引育本标准给出的测试方法只规定了该方法的工作原理。。因此，没有必要规定这些方法在实际使用时的技术细节。在有误差（与测试条件有关）要求的地方，应应按规定把它们取为实际测量系统所允许的最大偏差（相对于电路的绝对值)。本标准中，当出现一个参数有几种测试方法的情况时，这意味着每一种方法都是适用的，尽管某些方法比另一些方法更精确，某些方法更适合于产品检验。1.2一般注意事项1.2.1对器件和测量仪表的保护1.2.1.1极限值对于所有测试的试验条件，都不应超过器件的极限值。例如，测试电路中可以包括阻断二极管或电阻以限制最大解时电压和电流。建议不要把器件接入或移出正在通电的电路。1.2.1.2电源侧试电路中的所有电源都应有钳位措施来保护被测器件,以避免在电路通断、调整和测量时，由于瞬态过电压或浪涌而可能引起的烧毁。1.2.1.3测试仪器测试仪表应有适当的保护措施，以防止由于被测器件的故障或错误的联接而引起的过负荷。为防止不需娶的半周脉冲加到示波器的放大器上，可在电路中接入二极管。1.2.2测试精度1.2.2.1热平衡条件所有电气试验都应在热平衡条件下进行，除非另有规定或在脉冲条件下完成测量。当试验条件引起被测器件特性随时间显著变化时，应给这种影响规定补偿方法，例如，应规定测量进行之前，器件维持在该试验条件下时间的长短。加果把从施加功率到进行测量之间的时间增加一倍，测量结果的变化仍在娶求的误差范围之内，则认为热平衡业已建立。1.2.2.2电源电源的波纹应不影响要求的测量精度。1.2.2.3电路条件当测量小电流时，应采取适当的预防措施以保证寄生电路电流或外部漏电流均远小于被测量的电流，还应注意保证试验电路的杂散电容和电感的数值不影响所要求的测量精度，或者在测量结果中对上述各种影响给子修正。在测试频率下
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