标准解读

GB/T 19502-2004是一项中国国家标准，全称为《表面化学分析 辉光放电发射光谱方法通则》。该标准规定了使用辉光放电发射光谱法（Glow Discharge Optical Emission Spectrometry, GD-OES）对固体材料表面及亚表层化学成分进行分析时的方法原理、仪器要求、样品制备、测量程序、数据处理以及结果报告等内容。以下是该标准的主要内容概述：

  1. 范围：明确了标准适用的范围，即使用GD-OES技术对金属及其合金、半导体材料等固体表面以及一定深度范围内的元素含量进行定性和定量分析。

  2. 术语和定义：对辉光放电、发射光谱、背景校正等关键术语给出了明确的定义，帮助用户理解标准中的专业词汇。

  3. 引用文件：列出了实施本标准时需要参考的其他相关标准和文献，确保测试方法的一致性和可比性。

  4. 原理：阐述了GD-OES的基本工作原理，即在低气压下，通过辉光放电产生的等离子体使样品表面或亚表层的原子或离子激发至高能态，当这些粒子返回到基态时会发射出特征光谱，通过对这些光谱的检测和分析来确定样品中元素的种类和含量。

  5. 仪器要求：详细描述了进行GD-OES分析所必需的仪器设备的性能指标，包括放电室、光谱仪、数据处理系统等组成部分的技术要求。

  6. 样品制备：规定了样品的选取、预处理、形状和尺寸要求，以确保分析结果的准确性和重复性。

  7. 测量程序：包括了从样品安装、放电条件设置、光谱采集到测量过程中的质量控制措施，确保测试过程标准化。

  8. 数据处理：介绍了光谱数据的基线校正、干扰校正、定量分析方法（如内标法、外标法）等处理步骤。

  9. 结果报告：规范了测试结果应包含的信息，如样品描述、测试条件、检测限、不确定度评估及最终的元素含量等，确保报告的完整性和透明度。


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  • 已被新标准代替，建议下载现行标准GB/T 19502-2023
  • 2004-04-30 颁布
  • 2004-12-01 实施
©正版授权
GB/T 19502-2004表面化学分析辉光放电发射光谱方法通则_第1页
GB/T 19502-2004表面化学分析辉光放电发射光谱方法通则_第2页
GB/T 19502-2004表面化学分析辉光放电发射光谱方法通则_第3页
GB/T 19502-2004表面化学分析辉光放电发射光谱方法通则_第4页
GB/T 19502-2004表面化学分析辉光放电发射光谱方法通则_第5页
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ICS71.040.50G04中华人民共和国国家标准GB/T19502—2004/ISO14707:2000表面化学分析辉光放电发射光谱方法通则Surfacechemicalanalysis-Glowdischargeopticalemissionspectrometry（GD-0SE)一Introductiontouse(ISO14707:2000,IDT)2004-04-30发布2004-12-01实施中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局发布中国国家标准化管理委员会

GB/T19502-2004/ISO14707:2000次前言引言1范围2规范性引用文件3术语和定义……4原理5仪器5.1辉光放电发射光源5.2光学单元··…·：：：5.3光电检测器和测量装置6，分析步骠6.1检定6.2测定附录A（规范性附录)安全

GB/T19502-2004/ISO14707:2000前本标准等同采用ISO14707:2000《表面化学分析辉光放电发射光谱方法通则》本标准在实施应用中应同时引用ISO3497:1990金属镀层镀层厚度的测定X射线光谱法》等相关的技术标准。本标准的附录A为规范性附录本标准由全国微束分析标准化技术委员会提出本标准由全国微束分析标准化技术委员会归口本标准负责起草单位：宝山钢铁股份有限公司。本标准主要起草人：张毅、陈英颖、沈电洪、张志颖。

GB/T19502-2004/IS014707:2000辉光放电发射光谱法（GD-OES)用于测定固体样品的化学成分,它既可以进行体材分析.也可以进行深度部析。体材分析时,对样品中元素含量在深度方向上的变化认为是可以忽略的；而深度部析的主要目的通常是要获得浓度随深度变化的信息。辉光放电发射光谱法深度部面的厚度范围从几个纳米到一百微米左右。与任何一种仪器分析方法一样,辉光放电发射光谱分析的质量主要取决于如何使仪器处于最佳状态和如何正确地使用仪器。为确保辉光放电发射光谱分析的质量，应遵循本标准所提供的方法通则。

GB/T19502-2004/IS014707:2000表面化学分析辉光放电发射光谱方法通则1范围本标准为采用辉光放电发射光谱法进行体材分析和深度部析提供了方法通则。这里所讨论的方法通则仅限于刚性的固体样品的分析，不包括粉末、气体或溶液的分析。结合将来其他特定的标准方法.本方法通则应能够实现仪器的规范管理和测量条件的控制。尽管在近年来有不同类型的辉光放电发射光源问世.但本通则中仍以Grimm型光源为例。这是因为考虑到目前在用的辉光放电光谱仪绝大多数采用Grimm型光源。应该明确的是,本通则包含的条款同样适用于其他类型(如Marcus型)的光源.Grimm型光源仅作为一个实例。2规范性引用文件下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括误的内容)或修订版均不适用于本标准,然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本标准。ISO3497:1990金属镀层镀层厚度的测定X射线光谱法（MetalliccoatingsMeasurementofcoatingthickness-X-rayspectrometricmethods)ISO5725-1:1994测量方法和结果的准确度(真值和精度）第一部分：基本原理和定义(Accura-cy(truenessandprecision）ofmeasurementmethodsandresults-Part1:Generalprinciplesanddefinitions）测量方法和结果的准确度(真值和精度）1SO5725-2:1994）第二部分：标准测量方法重复性和再现性测定的基本方法（Accuracy（truenessandprecision）ofmeasurementmethodsandresults-Part2:Basicmethodforthedeterminationofrepeatabilityandreproducibilityofastandardmeasurementmethod）ISO5725-3:1994测量方法和结果的准确度(真值和精度）第三部分：标准测量方法精密度的中位测量（Accuracy（truenessandprecision）ofmeasurementmethodsandresults-Part3:lntermediatemeasuresoftheprecisionofastandardmeasurementmethod)1SO5725-4:1994测量方法和结果的准确度(真值和精度）第四部分：标准测量方法真值测定的基木方法（Accuracy（truenessandprecision）ofmeasurementmethodsandresultsPart4:Basicmethodsforthedeterminationofthetruenessofastandardmeasurementmethod)1SO6955:1982分析光谱学方法火焰发射、原子吸收和原于荧光词汇（Analyticalspectro-seopiemcthods-Flameemissionsatomicabsorption.andatomicfl

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