标准解读

《GB/T 18904.5-2003 半导体器件 第12-5部分：光电子器件 纤维光学系统或子系统用带/不带尾纤的PIN光电二极管空白详细规范》这一标准主要规定了光纤系统或其子系统中使用的带尾纤和不带尾纤的PIN光电二极管的技术要求、测试方法及检验规则等，旨在确保此类光电子器件的质量与性能一致性。然而，您未提供另一个具体的标准以进行比较，因此直接对比变更内容无法完成。

若要一般性地讨论此类标准更新的常见变更点，可能包括但不限于以下方面：

  • 性能指标调整：新标准可能会根据技术进步和应用需求，对光电二极管的灵敏度、响应速度、信噪比等关键性能参数提出更严格或更适应当前技术环境的要求。
  • 测试方法优化：随着测量技术和设备的进步，新的测试方法可能被引入，以提高测试精度和效率，或者简化测试流程。
  • 机械和环境适应性要求：针对器件的机械强度、温度循环、湿度抵抗等环境适应性测试条件和标准可能有所变化，以更好地反映实际使用场景。
  • 接口与兼容性规范：对于带尾纤的产品，其尾纤类型、连接器规格等接口标准可能随行业发展趋势而更新，以促进不同厂商产品的互操作性。
  • 安全与电磁兼容性：随着对电子产品安全性和电磁兼容性(EMC)要求的提升，相关条款可能会被加强或细化。
  • 文档与标识要求：产品标签、包装、使用说明书等的标准化要求也可能得到更新，以增强用户友好性和合规性。


如需获取更多详尽信息，请直接参考下方经官方授权发布的权威标准文档。

....

查看全部

  • 现行
  • 正在执行有效
  • 2003-01-24 颁布
  • 2003-08-01 实施
©正版授权
GB/T 18904.5-2003半导体器件第12-5部分：光电子器件纤维光学系统或子系统用带/不带尾纤的pin光电二极管空白详细规范_第1页
GB/T 18904.5-2003半导体器件第12-5部分：光电子器件纤维光学系统或子系统用带/不带尾纤的pin光电二极管空白详细规范_第2页
GB/T 18904.5-2003半导体器件第12-5部分：光电子器件纤维光学系统或子系统用带/不带尾纤的pin光电二极管空白详细规范_第3页
免费预览已结束，剩余13页可下载查看

下载本文档

免费下载试读页

文档简介

ICS31.260L54中华人民共和国国家标准GB/T18904.5-2003/IEC60747-12-5：1997QC720105半导体器件第12-5部分:光电子器件纤维光学系统或子系统用带/不带尾纤的pin光电二极管空白详细规范Semiconductordeyices-Part12-5:0ptoelectronicdevices-Blankdetailspecificationforpin-photodiodeswith/withoutpigtailforfibreopticsystemsorsubsystems（IEC60747-12-5：1997.IDT)2003-01-24发布2003-08-01实施中华人民共和国发布国家质量监督检验检疫总局

GB/T18904.5-2003/IEC60747-12-5：1997GB/T18904.5是有关纤维光学系统或子系统用光电子器件的国家标准的一部分。。下面列出了这些国家标准的预计结构：-GB/T18904.1《半导体器件第12-1部分：光电子器件纤维光学系统或子系统用带/不带尾纤的光发射或红外发射二极管空白详细规范》GB/T18904.2《半导体器件第12-2部分：光电子器件纤维光学系统或子系统用带尾纤的激光二极管模块空白详细规范》GB/T18904.3《半导体器件第12-3部分：光电子器件显示用发光二极管空白详细规范GB/T18904.4《半导体器件第12-4部分：光电子器件纤维光学系统或子系统用带/不带尾纤的pin-FET模块空白详细规范》GGB/T18904.5《半导体器件第12-5部分：光电子器件纤维光学系统或子系统用带/不带尾纤的pin光电二极管空白详细规范》GB/T18904的本部分等同采用国际标准IEC60747-12-5:1997（QC720105)《纤维光学系统或子系统用带/不带尾纤的pin光电二极管空白详细规范》英文版）。本部分和IEC60747-12-5的主要区别是：第4、5章中本部分是曲线最好在本规范的第10章给出丁,IEC原文是曲线最好在IEC60747-12-4的第10章给出。-第5章表注3)本部分是".只适用于器件的光端口。不适用于器件的其他部分。否则会导致测量错误。在实际应用中，光端口·这个术语由详细规范定义，同时也适用于发射器件。"IEC原文是"只适用于器件的光端口。不适用于器件的其他部分。否则个别管壳上其他发射部分会导致测量错误，特别是当二极管有保护层或尾纤包层中不规则的电磁辐射已被用相应的方法去除的情况下。在实际应用中.光端口"这个术语由详细规范定义.同时也适用于发射器件”-C6分组“引用标准”栏本部分取消,IEC原文是",7"。第11章本部分取消，放在前言及首页中。本部分引用的国家标准及1EC标准如下：GB/T4937—1995半导体器件机械和气候试验方法（idtIEC60749:1984）5半导体器件分立器件和集成电路GB/T15651-1995第五部分：光电子器件(idtIEC60747-5:1992）-IEC60068-2-14:1984环境试验--第2部分：试验武试验N：温度变化IEC60191-2:1966半导体器件机械标准化第2部分：尺寸IEC60747-10/QC700000:1991半导体器件第10部分分立器件和集成电路总规范-IEC60747-12/QC720100:1991半导体器件第12部分光电子器件分规范本部分由中华人民共和国信息产业部提出。本部分由中国电子技术标准化研究所（CESI)归口.本部分起草单位：中国电子技术标准化研究所（CESI)本部分主要起草人:赵英。

GB/T18904.5—2003/IEC60747-12-5:1997半导体器件第12-5部分：光电子器件纤维光学系统或子系统用带/不带尾纤的pin光电二极管空白详细规范引育IEC电子元器件质量评定体系遵循IEC章程并在IEC授权下工作。该体系的目的是确定质量评定程序.以这种方式使一个参加国按有关规范要求放行的电子元器件无需进一步试验而为其他所有多加国同样接受。本空白详细规范是半导体器件的一系列空白详细规范之一,并应与下列IEC标准一起使用IEC60747-10（QC700000）：1991半导体器件第10部分分立器件和集成电路总规范IEC60747-12（QC720100）：1985半导体器件第12部分·光电子器件分规范要求的资料本页及下面方括号内的数字与下列各项要求的资料相对应.这些资料应填人相应栏中详细规范的识别「1授权发布详细规范的国家标准化机构（NAI)名称【2详细规范的IECQ编号。「37总规范、分规范的编号及版本号【47详细规范的国家编号、发布日期及国家标准体系要求的任何资料器件的识别【57主要功能和型号[6丁外形图、引线识别、标志和(或)引用有关的外形标准「7典型结构(材料、主要工艺)和封装资料。如果一种器件有几种派生产品·则应指出其差异.例

人人文库> 全部分类> 行业资料 > 各类标准

温馨提示

  • 1. 本站所提供的标准文本仅供个人学习、研究之用，未经授权，严禁复制、发行、汇编、翻译或网络传播等，侵权必究。
  • 2. 本站所提供的标准均为PDF格式电子版文本（可阅读打印），因数字商品的特殊性，一经售出，不提供退换货服务。
  • 3. 标准文档要求电子版与印刷版保持一致，所以下载的文档中可能包含空白页，非文档质量问题。

最新文档

评论

0/150

提交评论