标准解读
《GB/T 18904.4-2002 半导体器件 第12-4部分:光电子器件 纤维光学系统或子系统用带/不带尾纤的Pin-FET模块 空白详细规范》这一标准主要规定了光纤系统或其子系统中所使用的Pin-FET模块的技术要求、测试方法以及质量评定准则,这些模块既包括带有尾纤的也包括不带尾纤的类型。然而,您提供的对比标准信息不完整,无法直接进行详细的变更对比分析。
若要对比此标准与另一个特定标准的差异,通常需要明确另一个标准的编号及内容,这样才能具体指出在哪些技术参数、测试方法、性能要求或是结构设计等方面存在不同。例如,变更可能涉及Pin-FET模块的光学性能指标提升、电气特性调整、机械接口兼容性增强、环境适应性要求变动、或者是新增了关于模块可靠性和寿命测试的具体条款等。
没有具体的对比标准,我只能说明一般性的解读方向,即此类标准更新通常旨在适应技术进步、提高产品性能、统一国际标准、增强互换性或提升用户安全等方面。如果您能提供另一个具体的标准编号或名称,我将能更准确地分析两者之间的具体变更内容。
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- 现行
- 正在执行有效
- 2002-12-04 颁布
- 2003-05-01 实施



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GB/T 18904.4-2002半导体器件第12-4部分:光电子器件纤维光学系统或子系统用带/不带尾纤的Pin-FET模块空白详细规范-免费下载试读页文档简介
ICS31.260L54中华人民共和国国家标准GB/T18904.4—2002/IEC60747-12-4:19970C720104半导体器件第12-4部分:光电子器件纤维光学系统或子系统用带/不带尾纤的pin-FET模块空白详细规范SemiconductordevicesPart12-4:0ptoelectronicdevicesBlankdetailspecificationforpin-FETmoduleswith/withoutpigtailforfiberopticsystemsorsub-systems(IEC60747-12-4:1997,IDT)2002-12-04发布2003-05-01实施中华发布国家质量监督检验检疫总局
GB/T18904.4-2002/IEC60747-12-4:1997GB/T18904的本部分等同采用国际标准IEC60747-12-4:1997(QC720104半导体器件第12-4部分:光电子器件纤维光学系统或子系统用带/不带尾纤的pin-FET模块空白详细规范》英文版)本部分同IEC60747-12-4的主要区别是:-在第4章表下增加注”。只适用于带尾纤器件。";在B4分组中针对"耐焊接热"补充了试验方法"Ⅱ.2.2":取消了第11章“参考文件”本部分引用的国家标准及IEC标准如下:-GB/T4937—1995半导体器件机械和气候试验方法(idtIEC60749:1984)-B/T15651—1995半导体器件分立器件和集成电路第5部分:光电子器件(idtIEC60747-5:1992)IIEC60191-2:1966半导体器件机械标准化第2部分:尺寸IEC60747-5:1992amendment1半导体器件分立器件和集成电路第5部分:光电子器件补充件1-IEC60747-10/QC700000:1991半导体器件第10部分分立器件和集成电路总规范第12部分IIEC60747-12/QC720100:1991华导体器件光电子器件分规范GB/T18904.1是有关纤维光学系统和子系统用光电子器件的国家标准的一部分。下面列出了这些国家标准的预计结构:-GB/T18904.1《半导体器件第12-1部分:光电子器件纤维光学系统或子系统用带/不带尾纤的光发射或红外发射二极管空白详细规范》GB/T18904.2《半导体器件第12-2部分:光电子器件纤维光学系统或子系统用带尾纤的激光二极管模块空白详细规范》(B/T18904.3《半导体器件第12-3部分:光电子器件显示用发光二极管空白详细规范》-B/T18904.4半导体器件第12-4部分:光电子器件纤纤维光学系统或子系统用带/不带尾纤的pin-FET模块空白详细规范》GB/T18904.5《半导体器件第12-5部分:光电子器件纤维光学系统或子系统用带/不带尾纤的pin-光电二极管空白详细规范》本部分由中华人民共和国信息产业部提出。本部分由中国电子技术标准化研究所(CESI)归口。本部分起草单位:中国电子技术标准化研究所(CESI)本部分主要起草人:赵英。
GB/T18904.4-2002/IEC60747-12-4:1997半导体器件第12-4部分:光电子器件纤维光学系统或子系统用带/不带尾纤的pin-FET模块空白详细规范引言IEC电子元器件质量评定体系遵循IEC章程并在IEC授权下工作。该体系的目的是确定质量评定程序.以这种方式使一个参加国按有关规范要求放行的电子元器件无需进一步试验而为其他所有参加国同样接受。本空白详细规范是半导体器件的一系列空白详细规范之一.并应与下列IEC标准一起使用IEC60747-10/QC700000:1991半导体器件第10部分分立器件和集成电路总规范IEC60747-12/QC720100:1991半导体器件第12部分光电子器件分规范要求的资料本页及下面方括号内的数字与下列各项要求的资料相对应,这些资料应填入相应栏中。详细规范的识别[1授权发布详细规范的国家标准化机构(NAI)名称.L2详细规范的IECQ编号。「37总规范、分规范的编号及版本号[4详细规范的国家编号、发布日期及国家标准体系要求的任何资料器件的识别「57主要功能和型号【67外形图、引线识别、标志和(或)引用有关的外形标准「7典型结构(材料、主要工艺)和封装资料。如果一种器件有几种派生产品·则应指出其差异,例如,在对照表中列出特性差异
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