GB/T 17626.22-2017电磁兼容试验和测量技术全电波暗室中的辐射发射和抗扰度测量

ICS33100

L06.

中华人民共和国国家标准

GB/T1762622—2017/IEC61000-4-222010

.:

电磁兼容试验和测量技术

全电波暗室中的辐射发射和抗扰度测量

ElectromaneticcomatibilitEMC—Testinand

gpy()g

measurementtechniques—Radiatedemissionsandimmunity

measurementsinfullanechoicroomsFARs

y()

[IEC61000-4-22:2010,Electromagneticcompatibility(EMC)—

Part4-22:Testingandmeasurementtechniques—Radiatedemissions

andimmunitymeasurementsinfullyanechoicrooms(FARs),IDT]

2017-12-29发布2018-07-01实施

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局发布

中国国家标准化管理委员会

GB/T1762622—2017/IEC61000-4-222010

.:

目次

前言

…………………………Ⅲ

范围

1………………………1

规范性引用文件

2…………………………1

术语和定义

3………………1

应用测量的被测量

4FAR………………3

辐射抗扰度试验的被测量

4.1…………3

辐射发射测量的被测量

4.2……………3

场地确认校准程序

5FAR/………………3

概述

5.1…………………3

场地确认校准的配置

5.2FAR/………………………3

试验设备和设施的基本特性

5.3………………………7

概述

5.3.1……………7

试验空间

5.3.2………………………7

宽带天线

5.3.3………………………7

天线的连接电缆

5.3.4………………7

试验台桌

5.3.5/………………………7

转台

5.3.6……………7

天线极化自动变换器

5.3.7…………7

吸波材料布置

5.3.8…………………7

确认程序所确定的量的定义

5.4FAR…………………7

确认时的取样位置

5.5FAR……………8

确认程序

5.6FAR………………………9

概述

5.6.1……………9

配置类型的确认

5.6.21……………10

配置类型的确认

5.6.32……………10

配置类型的确认

5.6.43……………10

配置类型的确认

5.6.54……………11

所有配置类型的C和sC的计算

5.6.6dBdB,…………11

确认要求

5.7……………11

试验布置

6…………………12

附录规范性附录辐射抗扰度试验

A()…………………15

附录规范性附录辐射发射测量

B()……………………19

附录资料性附录有关系统转换系数和一次性完成的发射确认抗扰度校准方法的背景知识

C()/…22

附录资料性附录测量不确定度

D()……………………24

参考文献

……………………36

Ⅰ

GB/T1762622—2017/IEC61000-4-222010

.:

图类型的确认校准框图

11/……………4

图类型的确认校准框图

22/……………4

图类型的确认校准框图

33/……………5

图类型的确认校准框图

44/……………5

图用于确认的取样点的位置示意图

5FAR……………9

图台式设备的试验布置示例

6…………12

图台式设备的试验布置示例俯视图

7…………………13

图落地式设备的试验布置示例

8………………………13

图落地式设备的试验布置示例俯视图

9………………14

图抗扰度试验中d的定义

A.1mea………………………16

图发射测量d的定义

B.1meat……………19

图发射测量影响因素的例子

D.1………………………24

图对抗扰度试验方法有影响的因素示例

D.2…………30

表不同类型配置所必备的基本测量仪器

1………………6

表确认准则

2FAR………………………11

表中频率范围的辐射发射测量的测量设备和设施的不确定度

D.1FAR30MHz~1000MHz…25

表中频率范围的辐射发射测量的测量设备和设施的不确定度

D.2FAR1GHz~18GHz………26

表中频率范围的抗扰度试验电平设定的测量设备和设施的不

D.3FAR30MHz~1000MHz

确定度

……………………30

表中频率范围的抗扰度试验电平设定的测量设备和设施的不确定度

D.4FAR1GHz~18GHz……32

Ⅱ

GB/T1762622—2017/IEC61000-4-222010

.:

前言

电磁兼容试验和测量技术为电磁兼容系列标准目前已发布的国家标准包括

GB/T17626《》。:

电磁兼容试验和测量技术抗扰度试验总论

GB/T17626.1—2006;

电磁兼容试验和测量技术静电放电抗扰度试验

GB/T17626.2—2006;

电磁兼容试验和测量技术射频电磁场辐射抗扰度试验

GB/T17626.3—2016;

电磁兼容试验和测量技术电快速瞬变脉冲群抗扰度试验

GB/T17626.4—2008;

电磁兼容试验和测量技术浪涌冲击抗扰度试验

GB/T17626.5—2008();

电磁兼容试验和测量技术射频场感应的传导骚扰抗扰度

GB/T17626.6—2008;

电磁兼容试验和测量技术供电系统及所连设备谐波谐间波的测量和

GB/T17626.7—2017、

测量仪器导则

;

电磁兼容试验和测量技术工频磁场抗扰度试验

GB/T17626.8—2006;

电磁兼容试验和测量技术脉冲磁场抗扰度试验

GB/T17626.9—2011;

电磁兼容试验和测量技术阻尼振荡磁场抗扰度试验

GB/T17626.10—1998;

电磁兼容试验和测量技术电压暂降短时中断和电压变化的抗扰度

GB/T17626.11—2008、

试验

;

电磁兼容试验和测量技术振铃波抗扰度试验

GB/T17626.12—2013;

电磁兼容试验和测量技术交流电源端口谐波谐间波及电网信号的

GB/T17626.13—2006、

低频抗扰度试验

;

电磁兼容试验和测量技术电压波动抗扰度试验

GB/T17626.14—2005;

电磁兼容试验和测量技术闪烁仪功能和设计规范

GB/T17626.15—2011;

电磁兼容试验和测量技术共模传导骚扰抗扰度试验

GB/T17626.16—20070Hz~150kHz;

电磁兼容试验和测量技术直流电源输入端口纹波抗扰度试验

GB/T17626.17—2005;

电磁兼容试验和测量技术阻尼振荡波抗扰度试验

GB/T17626.18—2016;

电磁兼容试验和测量技术横电磁波波导中的发射和抗扰度

GB/T17626.20—2014(TEM)

试验

;

电磁兼容试验和测量技术混波室试验方法

GB/T17626.21—2014;

电磁兼容试验和测量技术全电波暗室中的辐射发射和抗扰度测量

GB/T17626.22—2017;

电磁兼容试验和测量技术传导骚扰保护装置的试验方法

GB/T17626.24—2012HEMP;

电磁兼容试验和测量技术三相电压不平衡抗扰度试验

GB/T17626.27—2006;

电磁兼容试验和测量技术工频频率变化抗扰度试验

GB/T17626.28—2006;

电磁兼容试验和测量技术直流电源输入端口电压暂降短时中断和

GB/T17626.29—2006、

电压变化的抗扰度试验

;

电磁兼容试验和测量技术电能质量测量方法

GB/T17626.30—2012;

电磁兼容试验和测量技术主电源每相电流大于的设备的电压

GB/T17626.34—201216A

暂降短时中断和电压变化抗扰度试验

、。

本部分为的第部分

GB/T1762622。

本部分按照给出的规则起草

GB/T1.1—2009。

本部分使用翻译法等同采用电磁兼容第部分试验和测量技术全

IEC61000-4-22:2010《4-22:

电波暗室中的辐射发射和抗扰度测量

(FAR)》。

Ⅲ

GB/T1762622—2017/IEC61000-4-222010

.:

本部分做了下列编辑性修改

:

为与现有标准系列一致将标准名称改为电磁兼容试验和测量技术全电波暗室中的辐射

———,《

发射和抗扰度测量

》。

本部分由全国无线电干扰标准化技术委员会提出并归口

(SAC/TC79)。

本部分起草单位工业和信息化部电子工业标准化研究院中国计量科学研究院中国电力科学研

:、、

究院上海电器科学研究院工业和信息化部电子第五研究所东南大学航天集团所国家无线电

、、、、203、

监测中心陕西海泰电子有限责任公司

、。

本部分主要起草人陈俐谢鸣崔强朱文立孟东林李妮周忠元马蔚宇叶畅郭恩全

:、、、、、、、、、、

郑军奇王文俭

、。

Ⅳ

GB/T1762622—2017/IEC61000-4-222010

.:

电磁兼容试验和测量技术

全电波暗室中的辐射发射和抗扰度测量

1范围

的本部分涉及电子和或电气设备的辐射发射和辐射抗扰度的测量规定了在全电波

GB/T17626/,

暗室内进行的辐射发射和辐射抗扰度的试验程序

(FAR)。

注依据本部分是供相关产品委员会使用的电磁兼容基础标准如导则所述产品委员

:GB/Z18509,,GB/Z18509,

会负责确定对其产品类标准的适用性及其分委员会例如

EMC,TC77/SAC/TC246、CISPR/SAC/TC79(,

已准备好与产品委员会在标准制定和修订的合作中一起来确定特定试验在具体产品中的

SAC/SC7)EMC

作用

。

本部分规定了在同一个全电波暗室进行辐射发射测量与辐射抗扰度试验时的通用确认程序受试

、

设备的试验布置要求以及全电波暗室测量方法详见附录和附录

(EUT)(AB)。

作为电磁兼容基础测量标准本部分对应用于具体装置或系统的抗扰度试验电平或发射限值不做

,

具体规定其主要目标是为国内相关产品委员会提供常规测量程序而针对产品的具体要求和试验条件

,,

由相应的产品委员会来规定

。

本部分的方法适用于