标准解读

GB/T 16597-1996 是一项中国国家标准,全称为《冶金产品分析方法 X射线荧光光谱法通则》。该标准规定了使用X射线荧光光谱法(XRF)对冶金产品进行化学成分分析的一般原则、方法、设备要求、样品制备、测量操作、数据处理以及结果报告的具体规范。

标准适用范围

本标准适用于测定冶金产品中的元素含量,包括但不限于钢铁、有色金属及其合金材料。通过X射线荧光技术,可以快速、准确地测定样品中的多种金属和非金属元素。

方法概述

X射线荧光光谱法基于当样品受到初级X射线激发时,样品中的原子会发射出特征X射线荧光,这些荧光的波长或能量与样品中元素的种类相对应。通过检测这些荧光信号,即可确定样品中各元素的存在及其含量。

设备要求

标准明确了进行XRF分析所需仪器的基本配置和技术指标,包括X射线管的类型、探测器性能、测量室条件以及相关的安全防护措施,确保分析结果的准确性和操作人员的安全。

样品制备

详细说明了样品前处理方法,如粉碎、混合、压片或熔融成玻璃态等,以适应XRF分析的要求。强调了保持样品代表性的重要性,并提供了不同材质样品的制备指南。

测量操作与校准

规定了测量过程中的参数设置,如测量时间、激发条件等,以及如何建立和使用校准曲线以确保分析结果的准确性。要求定期进行仪器校准和质量控制,以监控分析系统的稳定性和可靠性。

数据处理与结果报告

指导如何处理测量数据,包括背景扣除、基体效应校正等,确保分析结果的精确性。同时,明确了结果报告格式,要求报告中应包含样品信息、分析方法、使用的校准曲线、检测限、测量不确定度及必要的质量控制信息。

质量保证与控制

强调了实施质量管理体系的重要性,包括内部质控样、标准参考物质的使用,以及参与能力验证计划,以持续评估和改进实验室分析性能。

安全与环保

标准中还包含了操作X射线设备时必须遵守的安全措施和环境保护要求,以保障实验人员健康及环境安全。


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  • 被代替
  • 已被新标准代替,建议下载现行标准GB/T 16597-2019
  • 1996-11-04 颁布
  • 1997-04-01 实施
©正版授权
GB/T 16597-1996冶金产品分析方法X射线荧光光谱法通则_第1页
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文档简介

ICS77.040.30百10中华人民共和国国家标准CB/T16597-1996治金产品分析方法X射线荧光光谱法通则AnalyticalmethodsofmetallurgicalproductsGeneralruleforX-rayfluorescencespectrometricmethods1996-11-04发布1997-04-01实施国家技术监督局发布

CB/T16597-1996前本标准属基础标准,按有关规定,基础标准是研究生产技术、检验方法中那些最基本的、具有广泛指导意义的对象,在一定范围内作为其他标准的基础。目前,X射线荧光光谱法已成为生产控制、产品质量检验的重要手段,近年来已陆续有X射线荧光光谱法纳入国家标准,为了能对具体的X射线荧光光谱法起到指导作用,需要制定本标准。本标准在内容上主要参考了日本JISK0119—1983及荷兰非利浦公司有关资料。本标准国内首次制定,比日本标准简明易读。本标准由中国有色金属工业总公司提出。本标准由北京有色金属研究总院负责起草本标准由北京有色金属研究总院和中国有色金属工业总公司标准计量研究所共同起草,本标准主要起草人:卜赛斌、罗建平、陆少兰、刘洋、宋永清。

中华人民共和国国家标准治金产品分析方法X射线荧光光谱法通则CB/T16597-1996AnalyticalmethodsofmetallurgicalproductsGeneralruleforX-rayfluorescencespectrometricmethods1范围本标准规定了用X射线荧光光谱法进行元素定量分析的一般事项,包括所涉及的常用术语、基本原理、仪器、样品处理、定量分析等,供以X射线管作激发源的波长色散X射线荧光光谱仪使用。本标准适用于制(修)订治金产品的X射线荧光光谱法国家标准或行业标准,其他标准也可参照使2引用标准下列标准包含的条文通过在本标准中引用而构成为本标准的条文。在标准出版时,所示版本均为有放效。所有标准都会被修订,使用本标准的各方应探讨使用下列标准最新版本的可能性。GB1.4—88标准化工作导则化学分析方法标准编写规定GB2595—81泊金产品化学实验室安全技术标准GB6379—86测试方法的精密度通过实验室间试验确定标准测试方法的重复性和再现性JG810—93,中华人民共和国国家计量检定规程波长色散X射线荧光光谱仪3本标准采用下列术语3.71X射线强度X-rayintensityX射线荧光光谱分析中的强度系指单位时间内的计数,通常用7表示。3.22能最分辨率energyresolution脉冲高度分布的半高宽与平均脉冲高度之比,用百分数表示。3.33背景background叠加在分析线上的连续谱,主要来自试料对入射辐射的散射.3.4分析线analytelines需要对其强度进行测量并据此判定被分析元察含量的特征谱线。义射线荧光光谱分析中一般应选释强度大、干扰少、背景低的特征谱线作为分析线。3.55干扰线interferencelines与分析线重叠或部分重叠,从而影响对分析线强度进行准确测量的谱线。3.6检出限Iimi

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