标准解读

《GB/T 13584-1992 红外探测器参数测试方法》是中国关于红外探测器性能评估的一套国家标准,发布于1992年。该标准详细规定了对红外探测器各项关键性能指标进行测量和评估的具体方法与要求,旨在为红外探测器的生产、应用及质量控制提供统一的测试标准和依据。以下是标准内容的几个核心方面概述:

  1. 适用范围:本标准适用于各种类型红外探测器,包括但不限于热释电、热电偶、热敏电阻及量子型红外探测器等,涵盖了从短波红外到长波红外的广泛波段。

  2. 基本定义:标准首先明确了红外探测器及其相关术语的定义,如响应率、探测率、噪声等基本概念,为后续测试提供了统一的语境基础。

  3. 测试环境:详细描述了进行测试时所需的环境条件,包括温度、湿度、气压以及电磁干扰等的要求,以确保测试结果的准确性和可重复性。

  4. 测试设备与仪器:列举了实施测试所必需的仪器设备及其校准方法,如黑体辐射源、光谱仪、低温装置等,确保测试工具的精度和可靠性。

  5. 性能参数测试方法

    • 响应率测试:规定了如何测量探测器对特定波长红外辐射的响应能力。
    • 探测率测试:阐述了在一定条件下测定探测器灵敏度的方法,通常涉及噪声水平的精确测量。
    • 频率响应测试:说明了如何评估探测器对不同频率红外信号的响应特性。
    • 稳定性与可靠性测试:包括长时间工作下的性能稳定性和寿命测试方法。
    • 光谱响应测试:介绍了测量探测器在整个工作波段内响应特性的步骤。
  6. 数据处理与分析:提供了测试数据处理的基本原则和方法,包括数据修正、统计分析及误差评估等,以确保测试结果的科学性和有效性。

  7. 测试报告:规范了测试报告应包含的内容格式,如测试条件、测试结果、数据分析及结论等,便于信息交流和产品比较。


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  • 被代替
  • 已被新标准代替,建议下载现行标准GB/T 13584-2011
  • 1992-07-15 颁布
  • 1993-05-01 实施
©正版授权
GB/T 13584-1992红外探测器参数测试方法_第1页
GB/T 13584-1992红外探测器参数测试方法_第2页
GB/T 13584-1992红外探测器参数测试方法_第3页
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文档简介

DC621.384.3L52中华人民共和国国家标准CB/T13584-92红外探测器参数测试方法Measuringmethodsforparametersofinfrareddetectors1992-07-15发布1993-05-01实施国家技术监督局发布

日次1主题内容与适用范围23测试方法………………3.1方法1010:黑体响应率3.2,方法1020:噪声·00000000000003.3方方法1030:光谱响应3.4方法1040:探测率3.5方法1050:噪声等效功率3.6·方法1060:时间常数3.7,方法1070:面积123.8方法1080:阻抗附录A黑体光谱能量因子F,(21附录B参参数符号(21)

中华人民共和国国家标准GB/T13584-92红外探测器参数测试方法Measuringmethodsforparametersofinfrareddetectors主题内容与适用范围本标准规定了红外探测器(以下简称探测器)的参数测试方法及其检测设备和仪器的要求。本标准适用于各类单元红外探测器的参数测试,也适用于多元红外探测器相应的参数测试。2总则2.1概述本标准只给出了测试红外探测器参数的工作原理及方法,在引用本标准时,有关的具体娶求应在·细规范中加以说明。本标准仅规定了一套基本的测试方法,它并不意味着不能采用其他的测试方法,采用其他的测试力法时,采用者必须确保测试具有相同的精度,而且必须在检测报告中子以说明。2.2一般注意事项2.2.1对探测器和测试仪表的预防措施2.2.1.1极限值对所有的测试,测试条件都不能超过探测器的极限值,例如:不能使用最大偏置。如果要在最大偏置值附近工作,应十分小心地监视探测器的噪声,而且偏置值的增加应十分缓慢。当用激光光源照射探测器时,应将其功率衰减到小于探测器所允许的最大功率。2.2.1.2测试用仪表对以变压器为输入电路的前置放大器,应避免用万用表测量前置放大器的初级阻抗,以免损坏前置放大器,前置放大器应工作在线性范围内。2.2.2热平衡条件用于各测试系统中的电子仪器,都应预热到一定时间后,方可进行测量·预热时间对不同的测试系统应有明确的规定。2.2.3温度对对所有的测试,都应在探测器所需的工作温度下进行,探测器工作温度的波动应不影响测试精度2.2.4黑体辐射源黑体辐射源的温度为500K,若选用其他温度的黑体辐射源应在测试条件中注明在计算黑体辐射源辐射到探测器的辐射功率时,按净辐射计算。黑体辐射源至探测器的距离应远大于探测器面积的平方根,即满足微面元条件。2.2.5激光的安全防护对使用激光器的各测试系统,要备有漫反射档光板和

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