标准解读
《GB/T 10185-2012 电子设备用固定电容器 第7部分:分规范 金属箔式聚苯乙烯膜介质直流固定电容器》与之前的《GB/T 10185-1988》相比,主要在以下几个方面进行了更新和调整:
-
技术参数的修订:新标准对金属箔式聚苯乙烯膜介质直流固定电容器的关键性能指标如电容量、损耗角正切、绝缘电阻、额定电压、工作温度范围等进行了重新定义或细化,以适应近年来电子技术发展的更高要求,确保电容器在更广泛的使用条件下保持稳定可靠的性能。
-
测试方法的改进:标准更新了电容器性能测试的方法和程序,引入了更为精确和科学的测试手段,提高了测试结果的准确性和可重复性。例如,可能包括对高频特性测试方法的优化,以及对自愈性测试的新要求。
-
安全与环境要求的增强:考虑到环境保护和用户安全,新标准可能增加了对电容器材料的环保要求,如限制有害物质的使用,并对废弃处理提出指导。同时,也可能提升了电容器在异常条件下的安全性能要求,确保其在过电压、过温等非正常工作状态下的安全性。
-
分类与标识的明确:为了便于生产和使用的标准化管理,新标准可能对电容器的分类体系进行了调整,明确了不同类型电容器的标识规则,使得产品信息更加清晰易懂,有助于减少使用错误。
-
标准化语言的统一:遵循国际标准化组织(ISO)的最新标准编写规则,新标准在表述和格式上进行了规范化,提高了与其他国际标准的一致性和兼容性,有利于促进国际贸易和技术交流。
-
引用标准的更新:随着技术进步,新标准引用了最新的基础标准和测试方法标准,替代了旧标准中已过时或废止的标准,确保了整个标准体系的时效性和先进性。
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....
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- 现行
- 正在执行有效
- 2012-11-05 颁布
- 2013-02-15 实施
文档简介
ICS3106030
L11..
中华人民共和国国家标准
GB/T10185—2012
代替
GB/T10185—1988
电子设备用固定电容器
第7部分分规范金属箔式聚
:
苯乙烯膜介质直流固定电容器
Fixedcapacitorsforuseinelectronicequipment—
Part7Sectionalsecification—Fixedolstrenefilm
:ppyy
dielectricmetalfoild.c.capacitors
2012-11-05发布2013-02-15实施
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局发布
中国国家标准化管理委员会
中华人民共和国
国家标准
电子设备用固定电容器
第7部分分规范金属箔式聚
:
苯乙烯膜介质直流固定电容器
GB/T10185—2012
*
中国标准出版社出版发行
北京市朝阳区和平里西街甲号
2(100013)
北京市西城区三里河北街号
16(100045)
网址
:
服务热线
/p>
年月第一版
20134
*
书号
:155066·1-46426
版权专有侵权必究
GB/T10185—2012
目次
前言…………………………
Ⅲ
范围………………………
11
规范性引用文件…………………………
21
术语和定义………………
31
详细规范应给出的内容…………………
42
总则…………………
4.12
外形图和尺寸………………………
4.22
安装…………………
4.32
额定值和特性………………………
4.42
标志…………………
4.53
标志………………………
53
总则…………………
5.13
标志内容……………
5.23
标志要求……………
5.33
优先额定值和特性………………………
63
优先特性……………
6.13
优先额定值…………………………
6.24
质量评定程序……………
75
初始制造阶段………………………
7.15
结构类似元件………………………
7.25
放行批证明记录……………………
7.35
鉴定批准……………
7.45
质量一致性检验……………………
7.510
试验和测量方法…………………………
812
外观和尺寸检查……………………
8.112
电气试验……………
8.212
引出端强度…………………………
8.314
耐焊接热……………
8.414
可焊性………………
8.515
温度快速变化………………………
8.615
振动…………………
8.715
碰撞…………………
8.816
冲击…………………
8.916
气候顺序…………………………
8.1017
稳态湿热…………………………
8.1118
耐久性……………
8.1219
Ⅰ
GB/T10185—2012
元件耐溶剂适用时……………
8.13()19
标志耐溶剂适用时……………
8.14()19
附录资料性附录两引出端间高绝缘电阻的测量方法……………
A()20
表优先系数………………
14
表温度系数………………
24
表鉴定批准试验用抽样方案及允许不合格品数………
36
表鉴定批准试验一览表…………………
47
表评定水平…………………………
5A11
表评定水平……………
5B11
表测量点………………
612
表引出端间绝缘电阻…………………
713
表修正系数……………
814
表优先严酷等级………………………
916
表稳定性等级…………………………
1018
表绝缘电阻百分数……………………
1118
表电容量偏差…………………………
1218
表试验电压……………
1319
Ⅱ
GB/T10185—2012
前言
电子设备用固定电容器系列国家标准分为如下若干部分
《》:
第部分总规范
———1:(GB/T2693—2001,idtIEC60384-1:1999);
第部分分规范金属化聚乙烯对苯二甲酸酯膜介质直流固定电容器
———2:(GB/T7332—2011/
IEC60384-2:2005);
第部分空白详细规范金属化聚乙烯对苯二甲酸酯膜介质直流固定电容器评定水平
———2-1:
和
EEZ(GB/T7333—2012/IEC60384-2-1:2005);
第部分分规范表面安装固体电解质钽固定电容器
———3:MnO2(IEC60384-3:2007);
第部分空白详细规范表面安装固体电解质钽固定电容器评定水平
———3-1:MnO2EZ
(IEC60384-3-1:2007);
第部分分规范固体和非固体电解质铝电解电容器
———4:(GB/T5993—2003/IEC60384-4:
第号修改单
1998,1:2000);
第部分空白详细规范非固体电解质铝电容器评定水平
———4-1:EZ(GB/T5994—2003/
IEC60384-4-1:2000);
第部分空白详细规范固体电解质的铝电解固定电容器评定水平
———4-2:(MnO2)EZ
(IEC60384-4-2:2007);
第部分分规范金属化聚丙烯薄膜介质直流固定电容器
———6:(IEC60384-6:2005);
第部分空白详细规范金属化聚丙烯薄膜介质直流固定电容器
———6-1:(IEC60384-6-1:2005);
第部分分规范金属箔式聚苯乙烯膜介质直流固定电容器
———7:(GB/T10185—2012);
第部分空白详细规范金属箔式聚苯乙烯膜介质直流固定电容器评定水平
———7-1:E
(GB/T10186—2012);
第部分分规范类瓷介固定电容器
———8:1(GB/T5966—2011/IEC60384-8:2005);
第部分空白详细规范类瓷介固定电容器评定水平
———8-1:1EZ(GB/T5967—2011/
IEC60384-8-1:2005);
第部分分规范类瓷介固定电容器
———9:2(GB/T5968—2011/IEC60384-9:2005);
第部分空白详细规范类瓷介固定电容器评定水平
———9-1:2EZ(GB/T5969—2012/
IEC60384-9-1:2005);
第部分分规范金属箔式聚乙烯对苯二甲酸乙二醇酯膜介质直流固定电容器
———11:
(IEC60384-11:2008);
第部分空白详细规范金属箔式聚乙烯对苯二甲酸乙二醇酯膜介质直流固定电容器
———11-1:
(IEC60384-11-1:2008);
第部分分规范金属箔式聚碳酸酯膜介质直流固定电容器
———12:(GB/T10679—1995/
IEC60384-12:1988);
第部分空白详细规范金属箔式聚碳酸酯膜介质直流固定电容器评定水平
———12-1:E
(GB/T10680—1995/IEC60384-12-1:1988);
第部分分规范金属箔式聚丙烯膜介质直流固定电容器
———13:(IEC60384-13:2006);
第部分空白详细规范金属箔式聚丙烯膜介质直流固定电容器评定水平
———13-1:E
(IEC60384-13-1:2006);
第部分分规范抑制电源电磁干扰用固定电容器
———14:(GB/T14472—1998,idtIEC60384-14:
Ⅲ
GB/T10185—2012
第号修改单
1993,1:1995);
第部分空白详细规范抑制电源电磁干扰用固定电容器评定水平
———14-1:D(GB/T14473—
1998,idtIEC60384-14-1:1993);
第部分分规范非固体或固体电解质钽固定电容器
———15:(GB/T7213—2003,idtIEC60384-
第号修改单第号修改单
15:1982,1:1987,2:1992);
第部分空白详细规范非固体电解质箔电极钽电容器评定水平
———15:E(GB/T12794—
1991,idtIEC60384-15-1:1984);
第部分空白详细规范非固体电解质多孔阳极钽电容器评定水平
———15:E(GB/T12795—
1991,idtIEC60384-15-2:1984);
第部分空白详细规范固体电解质和多孔阳极钽电容器评定水平
———15-3:E(GB/T7214—
2003/IEC60384-15-3:1992);
第部分分规范金属化聚丙烯膜介质直流固定电容器
———16:(GB/T10190—2012/IEC60384-
16:2005);
第部分空白详细规范金属化聚丙烯膜介质直流固定电容器评定水平和
———16-1:EEZ
(GB/T10191—2011/IEC60384-16-1:2005);
第部分分规范金属化聚丙烯薄膜介质交流和脉冲固定电容器
———17:(IEC60384-17:2005);
第部分空白详细规范金属化聚丙烯薄膜介质交流和脉冲固定电容器评定水平
———17-1:EZ
(IEC60384-17-1:2005);
第部分分规范固体与非固体电解质片式铝固定电容器
———18:(MnO2)(GB/T17206—1998,
第号修改单
idtIEC60384-18:1993,1:1998);
第部分空白详细规范表面安装固体电解质铝固定电容器评定水平
———18-1:(MnO2)EZ
(GB/T17207—2012/IEC60384-18-1:2007);
第部分空白详细规范非固体电解质片式铝固定电容器评定水平
———18:E(GB/T17208—
1998,idtIEC60384-18-2:1993);
第部分分规范表面安装金属化聚乙烯对苯二甲酸酯膜介质片式直流固定电容器
———19:
(IEC60384-19:2006);
第部分空白详细规范表面安装金属化聚乙烯对苯二甲酸酯膜介质直流固定电容器
———19-1:
评定水平
E(IEC60384-19-1:2006);
第部分分规范表面安装用类多层瓷介固定电容器
———21:1(GB/T21041—2007/IEC60384-
21:2004);
第部分空白详细规范表面安装用类多层瓷介固定电容器评定水平
———21-1:1EZ
(GB/T21038—2007/IEC60384-21-1:2004);
第部分分规范表面安装用类多层瓷介固定电容器
———22:2(GB/T21042—2007/IEC60384-
22:2004);
第部分空白详细规范表面安装用类多层瓷介固定电容器评定水平
———22-1:2EZ
(GB/T21040—2007/IEC60384-22-1:2004)。
本部分为电子设备用固定电容器系列国家标准的第部分
《》7。
本部分按照给出的规则起草
GB/T1.1—2009。
本部分代替本部分与相比主要变化如下
GB/T10185—1988。GB/T10185—1988,:
增加了标志耐溶剂试验和元件耐溶剂试验
———;
增加了低气压试验持续时间
———;
依据的修改
———GB/T1.1—2009。
本部分由中华人民共和国工业和信息化部提出
。
Ⅳ
GB/T10185—2012
本部分由全国电子设备用阻容元件标准化技术委员会归口
(SAC/TC165)。
本部分起草单位鹤壁市华中科技电子有限责任公司
:。
本部分主要起草人樊金河宁小波杜宝玉孟素芬付颖颖李素兰
:、、、、、。
本部分所代替标准的历次版本发布情况为
:
———GB/T10185—1988。
Ⅴ
GB/T10185—2012
电子设备用固定电容器
第7部分分规范金属箔式聚
:
苯乙烯膜介质直流固定电容器
1范围
本部分规定了金属箔式聚苯乙烯膜介质直流固定电容器的优先额定值和特性并从
,GB/T2693—
中选择适当的质量评定程序试验和测量方法以及给出一般性能要求详细规范中引用本部分
2001、,。
的规定的试验严酷等级和要求应具有与本部分相同或更高的性能水平不允许降低性能水平
,。
本部分适用于电子设备用的以聚苯乙烯膜作为介质并以金属箔作电极的直流固定电容器
,。
本部分不包括无功功率超过的电容器
200VA。
本部分不包括抑制电源电磁干扰用固定电容器它包括在中
,GB/T14472—1998。
2规范性引用文件
下列文件对于本部分的应用是必不可少的凡是注日期的引用文件
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