8C型仪器性能的测试方法

距离幅度特性的测试方法一、70°探头距离幅度特性的测试方法1目的：掌握70°探头测试采用WGT-3试块（或DB-H2试块）测试方法和要领。2设备：GCT-8C型探伤仪、WGT-3试块（或DB-H2试块）、70°探头(带保护膜)、直钢尺、耦合剂、压块开机，连接探头到对应通道，仪器置A超显示状态，校正好零点，轨型置P60，抑制置开。将70°探头置于WGT-3试块上，探测深度为了10mm的横通孔如图所示。前后平移探头，适当调节仪器增益，找出深度10mm横通孔反射回波（应在刻度线1.2大格），调节增益使其反射回波波幅达到满刻度的80％，将此时增益的读数dB填入表内dB值相对应的深度10mm中。然后再将70°探头分别探测深度为20mm、30mm、40mm、50mm、65mm、70mm的横通孔，并将探测得到的不同深度的dB值填入相对应的深度栏内。最后找出最大读数（dB）与最小读数（dB）相减，所得的dB值即为ΔW5。制表如下图所示深度10203040506070水平位置27.55582.5110137.4165192.4出波刻度1.22.333.54.75.878.2dB值ΔW5最大读数（dB）－最小读数（dB）dB大－dB小＝dB测试结果分析：标准：ΔW5≤12dB实测：ΔW5＝dB经测试后，70°的探头距离幅度特性合格或不合格。二、37°探头距离幅度特性的测试方法1目的37°探头采用WGT-3试块（或DB-H1试块）测试方法和要领。2设备：GCT-8C型探伤仪、37°探头(带保护膜)、WGT-3试块（或DB-H1试块）、直钢尺、耦合剂、压块3开机，连接探头到对应通道，校正好零点，仪器置A超显示状态，轨型置P60，抑制置开。将37°探头置于WGT-3试块上，探测深度为20mm的横通孔如图所示。前后平移探头，适当调节增益，找出深度20mm的横通孔反射回波（应在刻度线1大格），调节增益使其反射回波波幅达到80％，将此时增益读数dB值，填入表内dB值相对应的深度20mm中。然后再将37°探头分别探测深度为40mm、65mm、70mm、90mm、150mm的横通孔，并将所探测得到的不同深度的dB值填入相对应的深度栏内。其中dB值最大的读数为WB＝dB，20mm深度的dB值为W3＝dB，150mm深度的dB值为W4＝dB。深度2040657090150水平距离1530455368113出波刻度123.23.54.57.5dB值ΔW3ΔW3＝WB－W3ΔW4ΔW4＝WB－W44.测试结果分析：标准：ΔW3≤12dB；ΔW4≤8dB实测：ΔW3＝dBΔW4＝dB经测试后，37°探头距离幅度特性合格或不合格。三.、0°探头距离幅度特性的测试方法1目的：掌握0°探头测试方法和要领。2设备：GCT-8C型探伤仪、0°探头(带保护膜)、阶梯试块、直钢尺、耦合剂、压块3开机，连接探头到对应通道，校正好零点，仪器置A超显示状态，轨型置P60，抑制置开。将0°探头置于阶梯试块的A面上，分别探测深度为20mm、30mm、40mm、50mm、60mm、80mm、100mm、150mm、的底面，适当调节增益，使不同深度的底面反射波波幅都能达到80％，记录下不同深度下增益读数（dB）填入表内。读数最大的增益读数为WA（dB），20mm深度的增益读数为W1（dB），150mm深度的增益读数为W2（dB），则ΔW1、ΔW2由下式算出：深度203040506080100150出波位置0.81.21.62.02.43.24.06dB值ΔW1（dB）＝WA（dB）－W1（dB）ΔW2（dB）＝WA（dB）－W2（dB）测试结果分析：标准：ΔW1≤12dbΔW2≤8db实测：ΔW1＝dBΔW2＝dB经测试后，0°探头距离幅度特性合格或不合格。缺陷检出能力、信噪比的测试方法一、70°探头缺陷检出能力、信噪比的测试方法1.设备：GCT-8C型探伤仪、CSK-1A试块，GTS-60试块、70°探头(带保护膜)、耦合剂、压块。3.开机，不接探头，仪器置A超显示状态，轨型置P60，增益置最大，抑制置开，调节A通道增益使电噪声电平≤10％（满刻度的），记录此时增益读数为S０＇＝dB4.将70°探头连接对应通道上，在CSK-1A试块R100校正好零点，探头置GTS-60试块上，偏斜20°角，前后移动探头，用二次波探测GTS-60试块的Φ4平底孔回波。Φ4平底孔回波应出在7.2大格上，调节增益使Φ4平底孔反射波波幅达到80％时。此时增益的读数dB并按下式（1）算出。在此基础上保持探头不动，释放增益，使Φ4平底孔反射回波前面的杂波达到80％时增益读数dB并按下式（2）算出。St＝S2－S0＇（1）St—检出能力，S2—增益读数。S0＇—电噪声电平S噪＝S3－S2（2）S3—杂波80％时增益读数。5.测试结果分析标准：缺陷检出能力≥20dB，信噪比≥10dB实测：St＝dBS噪＝dB经测试后，70°探头的缺陷检出能力及信噪比合格或不合格。二、37°探头缺陷检出能力、信噪比的测试方法1.设备：GCT-8型探伤仪、CSK-1A试块，GTS-60试块、37°探头(带保护膜)、耦合剂、压块。2.开机，仪器置A超显示状态，轨型置P60，增益置最大，抑制置开，调节H通道增益使电噪声电平≤10％（满刻度的），记录此时增益读数为S０＇。3.将37°探头连接对应通道上，在CSK-1A试块R100校正好零点，探头置GTS-60试块上，前后移动探头，探测GTS-60试块的螺孔和3mm深度的上斜裂，调节增益使两波等高，并使波幅达到80％。此时增益读dB并按下式（1）算出。在此基础上保持探头不动，释放增益，使3mm深的上斜裂反射回波前面的杂波达到80％时增益读数dB并按下式（2）算出：St＝S2－S0＇（1）S噪＝S3－S2（2）S3—杂波80％时增益读数4测试结果分析标准：缺陷检出能力≥22dB，信噪比≥8db实测：St＝dBS噪＝db经测试后37°探头的缺陷检出能力及信噪比合格或不合格。三.0°探头缺陷检出能力、信噪比的测试方法1.设备：GCT-8C型探伤仪、CSK-1A试块，GTS-60试块、0°探头(带保护膜)、耦合剂、压块。3.开机，仪器在置A超显示状态，轨型置P60，增益置最大，抑制置井，调节I通道增益使电噪声电平≤10％（满刻度的），记录此时衰减器读数为S0＇。4.将0°探头连接对应I通道上，在CSK-1A试块100高度校正好零点，探头置GTS-60试块上，探测试块底面，调节增益使底面反射波幅达到80％。此时增益读数dB并按下式（1）算出。在此基础上保持探头不动，释放衰减器，使底面反射回波前面的杂波达到80％时衰减器读数dB并按下式（2）算出：St＝S2－S0＇（1）St—检出能力，S2增益读数，S0＇—电噪声电平S噪＝S3－S2（2）S3—杂波80％时增益读数测试结果分析标准：缺陷检出能力≥24dB，信噪比≥16Db实测：St＝dBS噪＝dB经测试后0°探头的缺陷检出能力及信噪声比合格或不合格。四、GCT-8C型探伤仪阻塞范围的测试方法1.设备：GCT-8C型探伤仪、CSK-1A试块，阶梯试块、0°探头(带保护膜)、耦合剂、压块。3.开机，仪器置A超显示状态，轨型置P60，抑制置开。在CSK-1A试块100高度校正好零点，用0°探头探测阶梯试块50mm厚度处，调节增益使该处底波达到满刻度的80％，然后将灵敏度提高2dB，再探测阶梯试块20mm厚度处。此时底波超过满刻度的80％，则阻塞范围小于20mm，若低于80％，则大于20mm，若刚好80％，则阻塞范围等于20mm。4.测试结果分析标准：阻塞范围不大于20mm。实测：20mm处底波波幅为％经测试后该仪器的阻塞范围合格或不合格。五、GCT-8C型探伤仪70°探头探伤灵敏度余量的测试方法1.设备：GCT-8C型探伤仪、CSK-1A试块，WGT-3试块、70°探头(带保护膜)、耦合剂、压块。2.开机，不接探头，仪器置A超显示状态，轨型置P60，抑制置关，增益置最大，调节增益使电噪声电平≤10％（满刻度的），记录下增益读数S0＝dB。3.将70°探头对接于A插座上，在CSK-1A试块R100校正好零点，探头置WGT-3试块上，探测深65mm处Φ3横通孔，前后移动探头调节增益使深65mm处Φ3横通孔反射波幅达到满刻度的80％（出波刻度为7.6大格，水平距离178.5mm），此时增益读数S1dB并按下式算出灵敏度余量。S＝S1－S0（dB）S—探伤灵敏度余量，S1—增益读数，S0—电噪声电平4.测试结果分析标准：70°探头探伤灵敏度余量≥40dB实测：70°探头探伤灵敏度余量dB经测试后70°探头探伤灵敏度余量为dB合格或不合格。六、GCT-8C型探伤仪37°探头探伤灵敏度余量的测试方法1.设备：GCT-8C型探伤仪、CSK-1A试块，WGT-3试块、37°探头(带保护膜)、耦合剂、压块。2.开机，不接探头，仪器置A超显示状态，轨型置P60，抑制置关，增益置最大，调节增益使电噪声电平≤10％（满刻度的），记录下增益读数S0＝dB。3.将37°探头对接于H插座上，在CSK-1A试块R100校正好零点，探头置WGT-3试块上，探测深65mm处Φ3横通孔，前后移动探头调节增益使深65mm处Φ3横通孔反射波幅达到满刻度的80％（出波刻度为3.3大格，水平距离49mm），此时增益读数S1dB并按下式算出灵敏度余量。S＝S1－S0（dB）S—探伤灵敏度余量，S1—衰减器读数，S0—电噪声电平4.测试结果分析标准：37°探头探伤灵敏度余量≥40dB实测：37°探头探伤灵敏度余量dB经测试后37°探头探伤灵敏度余量为dB合格或不合格。七、GCT-8C型探伤仪0°探头探伤灵敏度余量的测试方法1.0°探头(带保护膜)、耦合剂、压块。设备：GCT-8C型探伤仪，CSK-1A试块、WGT-3试块、2.开机，不接探头，仪器置A超显示状态，轨型置P60，抑制置关，增益置最大，调节增益使电噪声电平≤10％（满刻度的），记录下衰减器读数S0＝dB。3.将0°探头对接于I插座上，在CSK-1A试块100mm高反校正好零点，探头置WGT-3试块上，探测110mm的底面第一次反射回波，调节增益使110mm底面第一次反射回波幅达到满刻度的80％（出波刻度为4.4大格），此时增益读数S1dB并按下式算出灵敏度余量。S＝S1－S0（dB）S—探伤灵敏度余量，S1—增益读数，S0—电噪声电平4.测试结果分析标准：0°探头探伤灵敏度余量≥36dB实测：0°探头探伤灵敏度余量dB经测试后0°探头探伤灵敏度余量为dB合格或不合格。八GCT-8C型探伤仪相对灵敏度的测试（一）0°探头相对灵敏度测试1设备：(通用仪)，CSK-1A试块、WGT一3试块、0°探头(带保护膜)、耦合剂、压块。2.开机，不接探头，仪器置A超显示状态，轨型置P60，抑制置关，增益置最大，调节增益使电噪声电平≤10％（满刻度的），记录下衰减器读数S0＝dB。3.将0°探头对接于I插座上，在CSK-1A试块100高度校正好零点，探头置WGT一了试块上，探测110mm的底面，调节增益使其最高回波幅达到满刻度的80％（出波刻度为8大格），此时增益读数S1dB并按下式算出相对灵敏度。S=S1-S。S—相对灵敏度，S1—增益读数，S0—电噪声电平4.测试结果分析标准：0°探头相对灵敏度≥55dB实测：0°探头探伤灵敏度余量dB经测试后0°探头相对灵敏度为dB合格或不合。（二）37°探头相对灵敏度测试1设备:通用仪)，CSK-1A试块、37°探头(带保护膜)、耦合剂、压块。2.开机，不接探头，仪器置A超显示状态，轨型置P60，抑制置关，增益置最大，调节增益使电噪声电平≤10％（满刻度的），记录下增益读数S0＝dB。3.将37°探头对接于H插座上，在CSK-1A试块测R100圆弧，调节增益使其最高回波幅达到满刻度的80％（出波刻度为4大格），此时增益读数S1dB并按下式算出相对灵敏度。S=S1-S。S—相对灵敏度，S1—增益读数，S0—电噪声电平4.测试结果分析标准：37°探头相对灵敏度≥65dB实测：37°探头探伤灵敏度余量dB经测试后37°探头相对灵敏度为dB合格或不合。（三）70°探头相对灵敏度测试1设备：(通用仪)，CSK-1A试块、70°探头(带保护膜)、耦合剂、压块。2.开机，不接探头，仪器置A超显示状态，轨型置P60，抑制置关，增益置最大，调节增益使电噪声电平≤10％（满刻度的），记录下衰减器读数S0＝dB。3.将70°探头对接于C插座上，在CSK-1A试块测R100圆弧，调节增益使其最高回波幅达到满刻度的80％（出波刻度为大格），此时增益读数S1dB并按下式算出相对灵敏度。S=S1-S。S—相对灵敏度，S1—增益读数，S0—电噪声电平4.测试结果分析标准：70°探头相对灵敏度≥65dB实测：70°探头探伤灵敏度余量dB经测试后70°探头相对灵敏度为dB合格或不合。九GCT-8C型探伤仪分辨率测试（一）0°探头分辨力测试1设备：通用仪，CSK-1A试块、、0°探头(带保护膜)、耦合剂、压块。3.抑制置0，将0°探头对接于插座上，探头置CSK-1A试块上，探测85mm,91mm两台阶，移动探头，方法一：调节增益使两反射回波等高，高度为H1（一般为满幅20%-30%）衰减器读数dB，调节增益使两反射回波波谷H2上升至H2，衰减器读数dB；H=H2-H1；方法二：调节增益使两反射回波等高达满幅100%，然后测量波谷高度h，则该探头分辨力为R=20lg(100/h),若h=0或两波能完全分开，取R>30dＢ。4.测试结果分析标准：0°探头分辨力≥１８dB实测：0°探头分辨力dB经测试后0°探头分辨力为合格或不合。（二）７0°探头分辨力测试1设备：通用仪，CSK-1A试块、、７0°探头(带保护膜)、耦合剂、压块。3.抑制置0，将７0°探头对接于插座上，探头置CSK-1A试块Ａ面上，探测ø５０mm,ø４４mm两圆弧，移动探头，方法一：调节增益使两反射回波等高，高度为H1（一般为满幅20%-30%）增益读数dB，调节增益使两反射回波波谷H2上升至H1，增益读数dB；H=H2-H1；方法二：调节增益使两反射回波等高达满幅100%，然后测量波谷高度h，则该探头分辨力为R=20lg(100/h),若h=0或两波能完全分开，取R>30dＢ。4.测试结果分析标准：７0°探头分辨力≥１４dB实测：７0°探头分辨力dB经测试后７0°探头分辨力为合格或不合。（三）３７°探头分辨力测试1设备：通用仪，CSK-1A试块、、３７°探头(带保护膜)、耦合剂、压块。3.抑制置0.，将３７°探头对接于插座上，探头置CSK-1A试块Ｂ面上，探测ø５０mm,ø４４mm两圆弧，移动探头，方法一：调节增益使两反射回波等高，高度为H1（一般为满幅20%-30%）增益读数dB，调节增益使两反射回波波谷H2上升至H1，增益读数dB；H=H2-H1；方法二：调节增益使两反射回波等高达满幅100%，然后测量波谷高度h，则该探头分辨力为R=20lg(100/h),若h=0或两波能完全分开，取R>30dＢ。4.测试结果分析标准：３７°探头分辨力≥１４dB实测：３７°探头分辨力dB经测试后３７°探头分辨力为合格或不合。十动态范围测试（一）0°探头动态范围测试1设备：GCT-8C型探伤仪，CSK-1A试块、WGT-3试块、0°探头(带保护膜)、耦合剂、压块。3.抑制置关，轨型置P60，将0°探头对接于I插座上，探头置WGT-3试块上，探测110mm的底面第一次反射回波，调节增益使110mm底面第一次反射回波幅达到满刻度的100％（出波刻度为4.4大格），此时衰减器读数S1dB。调节增益使110mm底面第一次反射回波幅刚好消失，此时增益读数S2dB。探头保持不动，抑制置开，调节增益，分别回波幅达到满刻度的100％和刚好消失，增益读数分别为S3dB和S4dB。S=S2-S1S。=S4-S3S—增益小时的读数，S0—增益大时的读数，4.测试结果分析标准：0°探头抑制关≥16dB，抑制开2dB-6dB。实测：0°探头抑制关dB，抑制开dB。经测试后0°探头动态范围合格或不合。（二）37°探头动态范围测试1设备：GCT-8C型探伤仪，CSK-1A试块、WGT-3试块、37°探头(带保护膜)、耦合剂、压块。3.抑制置关，轨型置P60，将37°探头对接于H插座上，探头置WGT-3试块上，探测ø3*65mm横通孔的反射回波，调节增益使其最大反射回波幅达到满刻度的100％（出波刻度为大3.2格），此时增益读数S1dB。探头保持不动，调节增益使反射回波幅刚好消失，此时增益读数S2dB。探头保持不动，抑制置开，调节增益，分别回波幅达到满刻度的100％和刚好消失，增益读数分别为S3dB和S4dB。S=S2-S1S。=S4-S3S—增益关时的读数，S0—增益开时的读数，4.测试结果分析标准：37°探头抑制关≥16dB，抑制开2dB-6dB。实测：37°探头抑制关dB，抑制开dB。经测试后37°探头动态范围合格或不合。（三）70°探头动态范围测试1设备：GCT-8C型探伤仪，CSK-1A试块、WGT-3试块、70°探头(带保护膜)、耦合剂、压块。3.抑制置关，轨型置P60，将70°探头对接于插座上，探头置WGT-3试块上，探测ø3*65mm横通孔，调节增益使其最大反射回波幅达到满刻度的100％（出波刻度为7.1大格），此时增益读数S1dB。探头保持不动调节增益使反射回波幅刚好消失，此时增益读数S2dB。探头保持不动，抑制置开，调节增益，分别回波幅达到满刻度的100％和刚好消失，增益读数分别为S3dB和S4dB。S=S2-S1S。=S4-S3S—增益小时的读数，S0—增益大时的读数，4.测试结果分析标准：70°探头抑制关≥16dB，抑制开2dB-6dB。实测：70°探头抑制关dB，抑制开dB。经测试后70°探头动态范围合格或不合。十一契内回波幅度测试一）0°探头契内回波幅度测试1设备：通用仪(GCT-8C型探伤仪)，阶梯试块、0°探头(带保护膜)、耦合剂、压块。２.抑制置关，轨型置P60，将0°探头对接于GCT-8C型探伤仪I插座上，探头置阶梯试块上，探测５0mm高度的底面，调节增益使其最高反射回波为满幅８０％，此时增益读数为S1ｄＢ，将探头置于空气中，擦去表面油层，调节增益使其最高反射回波为满幅８０％，此时增益读数为S２ｄＢＳ＝S2-S1３.测试结果分析标准：0°探头契内回波幅度≤－２６dB，实测：0°探头契内回波幅度dB。经测试后0°探头契内回波幅度合格或不合。二）７0°探头契内回波幅度测试1设备：通用仪(GCT-8C型探伤仪，)ＷＧＴ－３试块、７0°探头(带保护膜)、耦合剂、压块。２.抑制置关，轨型置P60，将７0°探头对接于GCT-8C型探伤仪Ｃ插座上，探头置ＷＧＴ－３试块上，探测ø３＊６５mm高度的横通孔，调节增益使其最高反射回波为满幅８０％，此时增益读数为S1ｄＢ，将探头置于空气中，擦去表面油层，调节增益使其最高反射回波为满幅８０％，此时增益读数为S２ｄＢＳ＝S2-S1３.测试结果分析标准：７0°探头契内回波幅度≤－３２dB，实测：７0°探头契内回波幅度dB。经测试后７0°探头契内回波幅度合格或不合。三）３７°探头契内回波幅度测试1设备：通用仪(GCT-8C型探伤仪，)ＷＧＴ－３试块、３７°探头(带保护膜)、耦合剂、压块。２.抑制置关，轨型置P60，将３７°探头对接于GCT-8C型探伤仪H插座上，探头置ＷＧＴ－３试块上，探测Φ３＊６５mm高度的横通孔，调节增益使其最高反射回波为满幅８０％，此时增益读数为S1ｄＢ，将探头置于空气中，擦去表面油层，调节增益使其最高反射回波为满幅８０％，此时增益读数为S２ｄＢＳ＝S2-S1３.测试结果分析标准：３７°探头契内回波幅度≤－３０dB，实测：３７°探头契内回波幅度dB。经测试后３７°探头契内回波幅度合格或不合。十二斜探头前沿长度和折射角测试（一）３７°探头前沿长度和折射角测试1设备：GCT-8C型探伤仪，CSK-1A试块、３７°探头(带保护膜)、耦合剂、压块。150直钢尺，计算器，笔。2开机，抑制置开，轨型置P60，将３７°探头连接到G通道，置CSK-1A试块A面测R100圆弧，移动探头，调节增益使其最高回波达满幅80%时，探头保持不动，用直钢尺量出探头前沿到圆弧端的距离(测三次取平均值)L1mm，即探头前沿长度L=100-L1３将探头置CSK-1A试块B面测ø50mm移动探头，调节增益使其最高回波达满幅80%时，探头保持不动，用直钢尺量出探头前沿到试块端面的距离(测三次取平均值)X1mm。B=arctanX1-L-35/70３.测试结果分析标准：３７°探头折射角误差；0≤△≤3度，实测：３７°探头折射角误差度。经测试后３７°探头折射角合格或不合。（二）70°探头前沿长度和折射角测试1设备：GCT-8C型探伤仪，CSK-1A试块、70°探头(带保护膜)、耦合剂、压块。150直钢尺，计算器，笔。2开机，抑制置开，轨型置P60，将７0°探头连接到A通道，置CSK-1A试块A面测R100圆弧，移动探头，调节增益使其最高回波达满幅80%时，探头保持不动，用直钢尺量出探头前沿到圆弧端的距离(测三次取平均值)L1mm，即探头前沿长度L=100-L1３将探头置CSK-1A试块A面测ø50mm移动探头，调节增益使其最高回波达满幅80%时，探头保持不动，用直钢尺量出探头前沿到试块端面的距离(测三次取平均值)X1mm。B=arctanX1-L-35/30３.测试结果分析，标准：70°探头折射角误差；-3度≤△≤0度，实测：70°探头折射角误差d。经测试后70°探头折射角合格或不合。十三声速宽度测试（一）0°探头声速宽度测试11设备：GCT-8C型探伤仪，WGT-3试块、0°探头(带保护膜)、耦合剂、压块。直钢尺，计算器２.抑制置开，轨型置P60，将0°探头对接于I插座上，探头置WGT-3试块上，探测Φ3*80mm高度的横通孔，调节增益使其最高反射回波为满幅８０％，探头不动，用直钢尺量出探头至试块端面的距离L=mm,提高6dB，探头分别向前，向后移动探头使其反射回波为满幅８０％，用直钢尺分别测得L1mm，L2mm，即N=（L-L1)+（L2-L）３.测试结果分析，标准：0°探头声速宽度≥25mm实测：0°探头声速宽度mm。经测试后0°探头声速宽度合格或不合。（二）37°探头声速宽度测试11设备：GCT-8C型探伤仪，WGT-3试块、37°探头(带保护膜)、耦合剂、压块。直钢尺，计算器２.抑制置开，轨型置P60，将37°探头对接于H插座上，探头置WGT-3试块上，探测ø3*65mm高度的横通孔（出波位置2.9格上，），，调节增益使其最高反射回波为满幅８０％，探头不动，用直钢尺量出探头至试块端面的距离L=mm,提高6dB，探头分别向前，向后移动探头使其反射回波为满幅８０％，用直钢尺分别测得L1mm，L2mm，即N=（L-L1)+（L2-L）３.测试结果分析，标准：37°探头声速宽度≥15mm实测：37°探头声速宽度mm。经测试后37°探头折声速宽度合格或不合。（三）70°探头声速宽度测试11设备：GCT-8C型探伤仪，WGT-3试块、70°探头(带保护膜)、耦合剂、压块。直钢尺，计算器２.抑制置开，轨型置P60，将70°探头对接于A插座上，探头置WGT-3试块上，探测ø3*65mm高度的横通孔（出波位置7.3格上，），，调节增益使其最高反射回波为满幅８０％，探头不动，用直钢尺量出探头至试块端面的距离L=mm,提高6dB，探头分别向前，向后移动探头使其反射回波为满幅８０％，用直钢尺分别测得L1mm，L2mm，即N=（L-L1)+（L2-L）３.测试结果分析，标准：70°探头声速宽度≥60mm实测：70°探头声速宽度mm。经测试后70°探头声速宽度合格或不合。十四声速偏斜角测试（一）0°探头声速偏斜角测试11设备：GCT-8C型探伤仪，WGT-3试块、0°探头(带保护膜)、耦合剂、压块。直钢尺，计算器２.抑制置开，轨型置P60，将0°探头对接于I插座上，探头置WGT-3试块上，探测ø3*80mm高度的横通孔，前后移动和左右摆动探头，调节增益使其最高反射回波为满幅８０％，然后用直钢尺量出探头晶片中心轴线与ø3*80mm横通孔中心垂直线间的距离L，横通孔深度为H，即0°探头声速偏斜角=arctanL/H３.测试结果分析，标准：0°探头声速偏斜角≤2°实测：0°探头声速偏斜角。经测试0°探头声速偏斜角合格或不合。（一）37°探头声速偏斜角测试11设备：GCT-8C型探伤仪，CSK-1A试块、37°探头(带保护膜)、耦合剂、压块，量角器，，计算器２.抑制置开，轨型置P60，将37°探头对接于H插座上，探头置CSK-1A试块上，探测25mm厚度的上端角，前后移动和左右摆动探头，调节增益使其最高反射回波为满幅８０％，，然后用量角器量出探头侧面与试块端面垂直线的夹角，即为37°探头声速偏斜角３.测试结果分析，标准：37°探头声速偏斜角≤2°实测：37°探头声速偏斜角。经测试37°探头声速偏斜角合格或不合。（三）70°探头声速偏斜角测试1设备：GCT-8C型探伤仪，CSK-1A试块、70°探头(带保护膜)、耦合剂、压块，量角器，计算器２.抑制置开，轨型置P60，将70°探头对接于D插座上，探头置CSK-1A试块上，探测25mm厚度的下端角，前后移动和左右摆动探头，调节增益使其最高反射回波为满幅８０％，然后用量角器量出探头侧面与试块端面垂直线的夹角，即为70°探头声速偏斜角3.测试结果分析，标准：70°探头声速偏斜角≤2°实测：70°探头声速偏斜角。经测试70°探头声速偏斜角合格或不合。十五保护膜衰减值的测定1设备：GCT-8C型探伤仪，CSK-1A试块、70°探头(带保护膜)、耦合剂、压块，计算器2开机，抑制置关，轨型置P60，将７0°探头连接到A通道，置CSK-1A试块A面测R100圆弧，移动探头、调节增益使其最高反射回波为满幅８０％，此时增益读数为W1dB。去掉保护膜，置CSK-1A试块A面测R100圆弧，移动探头、调节增益使其最高反射回波为满幅８０％，此时增益读数为W2dBW=W2-W1W为保护膜衰减值3.测试结果分析，标准：保护膜衰减值≤8dB实测：保护膜衰减值dB经测试37°探头声速偏斜角合格或不合。十六、钢轨探伤仪器的水平线性和垂直线性的测试仪器水平线性、垂直线性是否良好，直接关系到缺陷的定位定量。（一）水平线性的测试方法（画图）1设备：GCT-8C型探伤仪，CSK-1A试块（或WGT-3试块、阶梯试块）、0°探头(带保护膜)、耦合剂、压块，计算器2.将仪器轨型置P60、增益适当、抑制关、将0°探头对接于I插座上，将探头置于CSK-1A试块厚度为25mm中心，调节增益，使第二次底面反射回波为满刻度50％时的前沿对准刻度2，第,十次底面反射回波为满刻度50％时的前沿对准刻度10；调节增益，测出第4.6.8次底波波高为50%时的读数B4、B6、B8的前沿与刻度4、6、8之间的偏差a4、a6、a8。找出最大偏差为amax时基线全长为b，则水平线性误差ΔL用下式算出：ΔL＝amax/0.8b×100％ amax—a4、a6、a8中绝对值最大的一个3.测试结果分析，标准：水平线性的误差值≤2%实测：水平线性的误差值dB经测试0°探头水平线性的误差合格或不合。（二）垂直线性的测试方法1设备：GCT-8C型探伤仪，WGT-3试块、70°探头(带保护膜)、耦合剂、压块，计算器2.将仪器轨型置P60、增益适当、抑制关、将70°探头对接于A插座上，将探头置于WGT-3试块上测ø3*65mm高度的横通孔，调节增益使ø3*65mm横通孔最高反射回波幅度大于100％。调节增益，依次记录每衰减2dB的反射回波高度值（衰减器保留有20dB以上余量）直至16dB。将每衰减2dB后孔波高度的实测值和理论值比较，取最大正偏差d（＋）与最大负偏差（－）的绝对值之和为垂直线性误差Δd0Δd0＝［︳d（＋）︱＋︳d（－）︳］×100％衰减量（dB）0246810121416波高理论值10079.463.150.139.831.625.120.015.8（％）波高实测值（％）偏差值3.测试结果分析，标准：垂直线性的误差值Δd0≤15%实测：垂直线性的误差值Δd0dB经测试70°探头垂直线性的误差值合格或不合八、通用仪器阻塞范围的测试方法CTS-9008系列1.设备：CTS-9008探伤仪、CSK-1A试块、DB-D1(a、b)试块、2.5PD20、探头线、耦合剂、压块2.开机将仪器面板深度探测范围设置为50mm，工作方式选择置单1，增益置大，发射强度置强，抑制置零，将直探头与仪器插座对接好。将直探头置于CSK-1A试块厚25mm处，调节衰减器及零点位移，使25mm处底面两次反射回波最高为50%时前沿分别对准刻度线5和10。此时全长刻度线代表纵波50mm。4.将直探头置于DB-D1试块上厚度48mm处，使其第一次底波B1最高（出波在刻度线4.8格上），调节衰减器使此底波幅度为垂直刻度80％。在DB-D1试块上由厚至薄测量底波B1的幅度，找出此幅度保持在垂直刻度70％以上的最小板厚d1=mm定为仪器在这一探伤灵敏度下的阻塞范围，并以钢中纵波传播距离表示。3.测试结果分析，标准：0°探头阻塞范围≤10mm实测：0°探头阻塞范围为mm经测试0°探头阻塞范围合格或不合。九、斜探头的入射点和折射角的测试为确保对缺陷的准确定位，探测前必须测定斜探头的声束入射点（包括前沿长度）和折射角（K值）。入射点和前沿长度的测定方法（画图）（一）K≤1.5探头前沿长度和折射角测试1设备：CTS-9008型探伤仪，CSK-1A试块、K1探头、探头线、耦合剂、压块。150直钢尺，计算器，笔。2开机将仪器面板声程探测范围设置为200mm，工作方式选择置单1，增益置大，抑制置零，发射强度置强，将K1探头连接到仪器插座，置CSK-1A试块A面测R100圆弧，移动探头，调节增益使其最高回波达满幅50%时，探头保持不动，用直钢尺量出探头前沿到圆弧端的距离(测三次取平均值)L1mm，即探头前沿长度L=100-L1３将探头置CSK-1A试块B面测ø50mm移动探头，调节增益使其最高回波达满幅50%时，探头保持不动，用直钢尺量出探头前沿到试块端面的距离(测三次取平均值)X1mm。B=arctanX1-L-35/704.测试结果分析标准：３5°-45°探头折射角误差；≤1.5°，实测：K1探头折射角误差°。经测试后K1探头折射角合格或不合。（二）K1.5-K.25探头前沿长度和折射角测试1设备：GCT-8C型探伤仪，CSK-1A试块、K2.5探头、探头线、耦合剂、压块。150直钢尺，计算器，笔。2开机将仪器面板深度探测范围设置为100mm，工作方式选择置单1，增益置大，抑制置零，发射强度置强，将K2.5探头连接到仪器插座，置CSK-1A试块A面测R100圆弧，移动探头，调节增益使其最高回波达满幅80%时，探头保持不动，用直钢尺量出探头前沿到圆弧端的距离(测三次取平均值)L1mm，即探头前沿长度L=100-L1.3将探头置CSK-1A试块A面测ø50mm移动探头，调节增益使其最高回波达满幅80%时，探头保持不动，用直钢尺量出探头前沿到试块端面的距离(测三次取平均值)X1mm。B=arctanX1-L-35/304.测试结果分析，标准：K2.5探头折射角误差；≤2°，实测：K2.5探头折射角误差。经测试后K2.5探头折射角合格或不合。(三)K值大于2.5的斜探头前沿长度和折射角测试，1.设备：CTS-9008探伤仪、CSK-1A试块、K值斜探头，探头线、耦合剂、压块、直钢尺，计算器开机，仪器深度范围置150mm档，增益最大，工作方式选择置单1，抑制置零，发射强度置强，将探头置于CSK-1A试块R100mm圆弧面圆心上，前后平移探头调节衰减器使R100曲面反射回波最大（满刻度的50％），此时斜探头底面与试块圆心相交点即为入射点。探头保持不动，用直钢尺量出探头前沿至试块边缘的水平距离M值，则探头前沿长度L为：L＝100－M（mm）。（二）折射角的测定方法（画图）（1）.仪器深度范围置150mm档，增益最大，工作方式选择置单1，抑制置零，发射强度置强，将探头置于CSK-1A试块R100mm圆弧面圆心上，首先测量出入射点前沿长度。（2）.然后在CSK-1A试块上B面测Φ1.5横通孔，前后平移探头，调节衰减器，使最高反射回波幅度达到50％时，探头不动用直钢尺测量探头到试块边缘的距离X1＝mm加上探头前沿长度L＝mm再减去X0（Φ50圆弧面圆心到试块边缘的距离），除以h。即用下式可计算出折射角。β＝arctgX1＋L－X0∕154.测试结果分析，标准：K探头折射角误差；≤2°，实测：K探头折射角误差。经测试后K探头折射角合格或不合。十、器的水平线性和垂直线性的测试仪器水平线性、垂直线性是否良好，直接关系到缺陷的定位定量。（一）水平线性的测试方法（画图）1.设备：CTS-9008探伤仪、CSK-1A试块、2.5PD20、探头线、耦合剂、压块、计算器1.开机，仪器深度范围置125档，增益最大，工作方式选择置单1，发射强度置强，抑制置零。将直探头置于CSK-1A试块厚度为25mm中心，调节仪器衰减器和零点位移和五次底面反射回波显示清晰且第五次回波幅度不小于满刻度50％；分别调节衰减器和零点位移脉使底波B1、B5的波高最高为50%时前沿与刻度2、10对齐，读出底波B2、B3、B4的前沿与刻度4、6、8之间的偏差a4、a6、a8。找出最大偏差为amax时基线全长为b，则水平线性误差ΔL用下式算出：ΔL＝amax/0.8b×100％ amax—a4、a6、a8中绝对值最大的一个。4.测试结果分析，标准：水平线性误差；≤2%，实测：水平线性误差。经测试后水平线性误差合格或不合。（二）垂直线性的测试方法1.设备：CTS-9008探伤仪、CSK-1A试块、CS-1-5试块、2.5PD20、探头线、耦合剂、压块、计算器1.开机，仪器深度范围置250mm档，增益最大，工作方式选择置单1，发射强度置强，抑制置零。将直探头置于CSK-1A试块厚度为100mm处，调节衰减器、零点位移，使试块100mm的第一、二次底面反射回波幅度为50％时并使两次反射回波的前沿对准刻线5和10大格，此时零点校正完毕1.将直探头置于CS-1-5试块上，调节衰减器使Φ2平底孔反射回波正好满幅（衰减器保留有26dB以上余量），记录下此时衰减器读数（也可作为0dB的基准）和反射回波高度，然后逐次衰减2dB直至26dB。将每衰减2dB后孔波高度的实测值和理论值比较，取最大正偏差d（＋）与最大负偏差（－）的绝对值之和为垂直线性误差Δd0Δd0＝［︳d（＋）︱＋︳d（－）︳］×100％衰减量（dB）02468101214161820222426波高理论值10079.463.150.139.831.625.120.015.812.510.07.96.55.0（％）波高实测值（％）偏差值（％）4.测试结果分析，标准：垂直线性误差；≤4%，实测：垂直线性误差。经测试后垂直线性误差合格或不合。十一、灵敏度余量、动态范围的测试方法1.设备：CTS-9008探伤仪、CSK-1A试块、CS-1-5试块、2.5PD20、探头线、耦合剂、压块、计算器2.开机，仪器深度范围置250mm档，增益最大，工作方式选择置单1，发射强度置强，抑制置零。不接探头，衰减器置最大，调节衰减器，使杂波最高为满幅10%时，记录此时衰减器读数S0，连接探头将直探头置于CSK-1A试块厚度为100mm处，调节衰减器、零点位移，使试块100mm的第一、二次底面反射回波幅度为50％时并使两次反射回波的前沿对准刻线5和10大格，此时零点校正完毕3.将直探头置于CS-1-5试块上，调节衰减器使Φ2平底孔反射回波正好满幅50％（衰减器保留有26dB以上余量），记录下此时衰减器读数S1。探头保持不动，调节衰减器使Φ2平底孔反射回波正好满幅100％（衰减器保留有26dB以上余量），记录下此时衰减器读数S3。调节衰减器使Φ2平底孔反射回波正好消失，此时衰减器读数S4。S=S1—S0S5=S1—S0S—灵敏度余量，S1—增益读数，S0—电噪声电平，S5-动态范围。4.测试结果分析标准：0°探头灵敏度余量≥55dB，动态范围≥26dB。实测：0°探头探伤灵敏度余量dB，动态范围dB。经测试后0°探头灵敏度余量、动态范围合格或不合格。（画图）十二、相对灵敏度测定（一）直探头相对灵敏度测定1.设备：CTS-9008探伤仪、CSK-1A试块、CS-1-5试块、2.5PD20、探头线、耦合剂、压块、计算器2.开机，仪器深度范围置250mm档，增益最大，工作方式选择置单1，发射强度置强，抑制置零。不接探头，衰减器置最大，调节衰减器，使杂波最高为满幅10%时，记录此时衰减器读数S0，连接探头将直探头置于CSK-1A试块厚度为100mm处，调节衰减器、零点位移，使试块100mm的第一、二次底面反射回波幅度为50％时并使两次反射回波的前沿对准刻线4和8大格，此时零点校正完毕3.将直探头置于CS-1-5试块上，调节衰减器使Φ2平底孔最高反射回波正好满幅50％（衰减器保留有26dB以上余量），记录下此时衰减器读数S1S=S1—S0S—相对灵敏度4.测试结果分析标准：0°探头相对灵敏度≥55dB，实测：0°探头相对灵敏度dB，经测试后0°探头相对灵敏度、合格或不合格。（一）斜探头相对灵敏度测定1.设备：CTS-9008探伤仪、CSK-1A试块、K2.5探头（或K1探头）、探头线、耦合剂、压块、计算器开机，仪器深度范围置70mm档，增益最大，工作方式选择置单1，发射强度置强，抑制置零。不接探头，衰减器置最大，调节衰减器，使杂波最高为满幅10%时，记录此时衰减器读数S0，连接探头将直探头置于CSK-1A试块上测R100mm圆弧处，调节衰减器，移动探头，使R100mm圆弧面最高回波为满幅50%时，此时衰减器读数S1，则S=S1—S0S—相对灵敏度3.测试结果分析标准：2.5MHZ探头相对灵敏度≥65dB，4MHZ探头相对灵敏度≥60dB实测：K2.5探头相对灵敏度dB，经测试后K2.5探头相对灵敏度、合格或不合格。十二、分辨力的测试方法仪器和探头的组合盲区和分辨力与脉冲宽度有关，脉冲持续时间越长，在荧光屏上始波越宽，则盲区越大，同时也会使分辨力下降。分辨力的测试方法。1直探头分辨力的测试方法（1）设备：CTS-9008探伤仪、CSK-1A试块、2.5PD20、探头线、耦合剂、压块、计算器（2）开机，仪器深度范围置125mm档，增益最大，工作方式选择置单1，发射强度置强，抑制置零，将直探头置CSK-1A试块厚度为25mm处，调节衰减器及有关旋钮使厚度25mm处第一次和第五次回波最高50%的前沿对准刻度线2和10即校正和零点。方法一：然后置探头于CSK-1A试块高度为100mm处，探测声程分别为85mm和91mm两个台阶的反射面反射回波，移动探头使两波等到高为满刻度的20％～30％，记录此时衰减器读数h1，调节衰减器使波谷高度h2提升至h1，记录此时衰减器读数h2。波谷与波峰的dB差为仪器与直探头的组合分辨力，两波能完全分开，取R>30dＢ。方法二：将探头于CSK-1A试块高度为100mm处，探测声程分别为85mm和91mm两个台阶的反射面反射回波，移动探头使两波等到高为满刻度的100％，然后测量波谷高度h，则该探头分辨力为R=20lg(100/h),若h=0或两波能完全分开，取R>30dＢ。R=h2-h1R=20lg(100/h)R为分辨力4.测试结果分析标准：0°探头分辨力≥26dB实测：0°探头分辨力dB经测试后0°探头分辨力合格或不合格。斜探头分辨力的测试方法（1）设备：CTS-9008型探伤仪，CSK-1A试块、、K2.5探头（4MHz或2.5MHz）、探头线、耦合剂、压块。（2）开机，仪器深度范围置70mm档，增益最大，工作方式选择置单1，发射强度置强，抑制置零，将探头置CSK-1A试块Ａ面上，测R100圆弧测定探头前沿长度和校正零点。将探测ø５０mm,ø４４mm两圆弧，移动探头，方法一：调节增益使两反射回波等高，高度为H1（一般为满幅20%-30%）增益读数dB，调节增益使两反射回波波谷H2上升至H1，增益读数dB；R=H2-H1；方法二：调节增益使两反射回波等高达满幅100%，然后测量波谷高度h，则该探头分辨力为R=20lg(100/h),若h=0或两波能完全分开，取R>30dＢ。R=h2-h1R=20lg(100/h)R为分辨力（3）.测试结果分析标准：4MHz探头分辨力≥22dB，2.5MHz探头分辨力≥20dB实测：K2.5探头分辨力dB经测试K2.5探头分辨力为合格或不合。十三、探头声轴偏斜角、声束宽度和扩散角的测试方法（一）声轴偏斜角的测定方法1.0°探头（1）设备：CTS-9008探伤仪、CSK-1A试块、WGT-3试块、2.5PD20、探头线、耦合剂、压块、直钢尺、计算器（2）开机，仪器深度范围置150mm档，增益最大，工作方式选择置单1，发射强度置强，抑制置零，将探头置CSK-1A试块上校正好零点。将0°探头放在WGT-3试块上探测深度为80mm深的横孔，如图1，沿试块纵向前后移动探头，并注意保持与试块侧面平行，使横孔反射波最高，测量探头中心到试块端头的距离L。则声束偏斜角θ用下式计算：θ＝tg－1（︱L－120︱/80）（画图）（3）.测试结果分析标准：0°探头声轴偏斜角≤2°，实测：0°探头声轴偏斜角dB经测试0°探头声轴偏斜角为合格或不合。斜探头：(1)设备：CTS-9008探伤仪、CSK-1A试块、K1（或K2.5）探头、探头线、耦合剂、压块、量角器、计算器..开机，将仪器声程范围置200mm档，增益最大，工作方式选择置单1，发射强度置强，抑制置零，将探头置于CSK-1A试块测定探头前沿长度、零点及K值。将探头置于CSK-1A试块25mm厚的表面上，35°～45°（K1）探头探测试块侧面上棱角，（60°及以上探头K2.5探头探测试块侧面的下棱角）。如图2所示，前后移动和左右摆动探头，测试棱角反射波最高，然后用量角器测量探头中心线与试块侧面法线之间的夹角，此夹角即为声轴偏斜角θ。（画图）（3）.测试结果分析标准：探头声轴偏斜角≤2°，实测：探头声轴偏斜角经测试探头声轴偏斜角为合格或不合。（二）探头声束宽度的测定方法斜探头声束宽度的测定1.设备：：(1)设备：CTS-9008探伤仪、CSK-1A试块、WGT-3试块、K1（或K2.5）探头、探头线、耦合剂、压块、直钢尺、计算器2.测试步骤及分析1）开机，仪器深度范围置70mm档，增益最大，工作方式选择置单1，发射强度置强，抑制置零，将探头置于CSK-1A试块测定探头前沿长度、零点及K值。探头探测WGT-3试块上65mm深Φ3横孔，调节衰减器使最高孔波的幅度达到满幅度的80％，然后将灵敏度提高6dB，沿试块纵向分别前后移动探头，并注意保持探头与试块纵向平行，直至孔波幅度下降到满刻度的80％，测得两点到端面的距离L1=L2=。则探头前后移动距离即为该探头的声束宽度N（用直钢尺测量）。N=L2-L13测试结果分析：标准：K1探头：探测WGT-3试块上65mm深Φ3横孔时N≥15mm；K2.5探头：探测WGT-3试块上65mm深Φ3横孔时N≥60mm。实测K1（或K2.5）探头探测WGT-3试块时N＝mm，合格或不合格。画图二直探头声束宽度的测定1.设备：：(1)设备：CTS-9008探伤仪、CSK-1A试块、WGT-3试块、K1（或K2.5）探头、探头线、耦合剂、压块、直钢尺、计算器2.测试步骤及分析2开机，仪器深度范围置100mm档，增益最大，工作方式择置单1，发射强度置强，抑制置零，将探头置于CSK-1A试试块测定探头零点，用探头探测WGT-3试块上80mm深Φ3横孔，调节衰减器使最高孔波的幅度达到满幅度的80％然后将灵敏度提高6dB，沿试块纵向分别前后移动探头，并注意保持探头与试块纵向平行，直至孔波幅度下降到满刻度的80％，测得两点到端面的距离L1=L2=。则探头前后移动距离即为该探头的声束宽度N（用直钢尺测量）。N=L2-L13测试结果分析：标准：0°探头：探测WGT-3试块上80mm深Φ3横孔时N≥25mm；实测0°探头探测WGT-3试块时N＝mm，合格或不合格。（二）斜探头扩散角的测定方法斜探头的扩散角有纵向扩散角和横向扩散角之分。由于波型转换，声轴前方的纵向扩散角与后方的扩散角不相等。纵向扩散角的测定方法：（画图）设备：CTS-9008系列探伤仪、（GCT-8C）、CSK-1A试块、直钢尺、2.5P13×13K2.5探头、压块、耦合剂（机油）。计算器2开机，仪器深度范围置70mm档，增益最大，工作方式置单1，发射强度置强，抑制置零。将K2.5探头置于CSK-1A试块R100圆弧面圆心上，前后移动探头，调节衰减器及深度微调和脉冲位移旋钮，使R100圆弧面反射的回波幅度达到满刻度的80％及回波前沿落在刻度线8大格上；用直钢尺测量探头前沿长度为100－88＝12mm。将探头置于CSK-1A试块A面上，探测Φ50横通孔，前后移动探头并调节衰减器使Φ50横通孔反射回波幅度达到满刻度的80％。然后用直钢尺测量得X1＝mm，提高6dB，移动探头向前使反射回波幅度下降至满刻度80％时，用直钢尺量得X2＝mm，再将探头向后移动至使反射回波幅度下降至满刻度80％时，用直钢尺量得X3＝mm。则前后扩散角由下式算出：β1＝arctgX1＋L－X0/h0＝65＋12－35/15＝70.35°β2＝arctgX2＋L－X0/h0＝54＋12－35/15＝63.43°β3＝arctgX3＋L－X0/h0＝83＋12－35/15＝75.9°前扩散角Q前＝β3－β1＝75.96°－70.35°＝5.6°后扩散角Q后＝β1－β2＝70.35°－63.43°＝6.9°注意：K≤1.5时在试块B面测ø50横通孔；h0＝70.1.5<K≤2.5时在试块A面测ø50横通孔；h0＝30.K>2.5时在试块B面测ø50横通孔；h0＝15（三）组合探头相对偏差以探头外壳纵向中心线为基准线，用直尺测量两探头中心到基准线的垂直距离a1、a2。当两探头中心在基准线同侧时，a1、a2之差为组合探头的相对偏差，在异侧时，a1、a2之和为组合探头的偏差。画图十二、空载始波宽度的测定（一）直探头空载始波宽度测定1.设备：CTS-9008探伤仪、CSK-1A试块、CS-1-5试块（DB-PZ20-2试块）、2.5PD20、探头线、耦合剂、压块、2.开机，仪器深度范围置200mm档，增益最大，工作方式选择置单1，发射强度置强，抑制置零。连接探头将直探头置于CSK-1A试块厚度为100mm处，调节衰减器、零点位移，使试块100mm的第一、二次底面反射回波幅度为50％时并使两次反射回波的前沿对准刻线5和10大格，此时零点校正完毕3.将直探头置于CS-1-5试块上，调节衰减器使Φ2平底孔最高反射回波正好满幅50％（衰减器保留有26dB以上余量），将探头置于空气中，擦去探头表面油层，然后再增益12dB,并找出此时始波后沿与垂直刻度20%的交点，则水平刻度的0点至该交点的水平距离W0即为该探头的空载始波宽度。4.测试结果分析标准：0°探头空载始波宽度≤20mm，实测：0°探头空载始波宽度mm，经测试后0°探头空载始波宽度合格或不合格。（一）斜探头空载始波宽度测定1.设备：CTS-9008探伤仪、CSK-1A试块、K2.5探头(K1探头)、探头线、耦合剂、压块、2.开机，仪器声程范围置100mm档，增益最大，工作方式选择置单1，发射强度置强，抑制置零。连接探头将直探头置于CSK-1A试块测R100圆弧，调节衰减器、零点位移，使试块R50和R100圆弧的最高反射回波幅度为50％时并使两次反射回波的前沿对准刻线5和10大格，此时零点与测距校正完毕3将探头置CSK-1A试块上测R100圆弧面前后移动探头，保持声速方向与试块侧面平行，调节衰减器使R100圆弧最高回波为满幅的50%。将探头置于空气中，擦去探头表面油层，然后再增益40dB,并找出此时始波后沿与垂直刻度20%的交点，则水平刻度的0点至该交点的水平距离W0即为该探头的空载始波宽度。4.测试结果分析标准：2.5MHz探头空载始波宽度≤25mm，4MHz探头空载始波宽度≤20mm，实测：K2.5探头空载始波宽度mm，经测试后K2.5探头空载始波宽度合格或不合格。五钢轨焊缝探伤灵敏度测试（单探头）一0°探头焊缝探伤灵敏度测试1.设备：CTS-9008探伤仪（或900型仪器）、CSK-1A试块、GHT-5试块、2.5PD20探头