TOFD和PA(相控阵)理论笔试试题

tofd和pa（相控阵）理论笔试试题考试分钟：120分钟题型数量总分得分合计选择题判断题问答题计算题根据图1回答问题1到3。1.当s=40mm，t=35mm时，直通波和底面反射波之间相差多少微秒？ ()17.9213.384.442.22当PCS=50mm,楔块角度=55度时，TOFD主声束交点深度是多少？ ( )25.0mm17.5mm14.4mm11.5mm缺陷A在TOFD图像中显示的深度与其实际深度相比，其位置： ( )a)偏上b)偏下可能偏上或偏下，取决于y值的大小无法判断当平板工件厚度t为100mm，TOFD楔块角度为55度，声束聚焦到5/6t时PCS是多少?()TOC\o"1-5"\h\z66mm133mm238mm285mm对“区分两个相邻缺陷的能力”的最佳解释是什么？ ( )检测精度灵敏度分辨率d)衰减下图中描述的是什么扫描类型？()电子线性扫查电子串列扫查电子DDF扫查以上都不是TOFD扫查中，“平行扫查”(即D-扫描)是指扫查方向与以下哪个参数平行？( )扫查面超声波束焊缝中心线底面反射波选用哪种探头会得到最大的波束扩散？ ( )高频和大晶片高频和小晶片低频和大晶片低频和小晶片采用低频探头进行TOFD检测的缺点是什么？ ( )较小的穿透能量较小的波束扩散较差的分辨率以上都是从扫查面开口缺陷尖端得到的衍射信号(从上表面扫查)相位与以下哪个信号的相位相同：()a)直通波b)底面回波信号波形转换的底面回波信号以上都不是在第11题到12题的每一个TOFD成像或A-扫描中显示的信号最有可能是由哪种因素造成的？11.11.底面反射波无高度的缺陷可辨高度的缺陷c)不同深度的两个独立缺陷较大的扫查面开口缺陷12.()直通波焊缝非平行扫查成像图，扫查长度200mm(单V焊缝，25mm壁厚)底面反射波a)近表面缺陷b)探头提离壁厚变化粗糙表面相控阵单元扇形扫查的角度偏转范围是50°到70°，分辨率为1。，那么会有多少个A-扫描？()1121TOC\o"1-5"\h\z3141以下哪种TOFD楔块角度可提供最佳的深度分辨率？ ( )70deg60deg55deg45degTOFD检测的两个楔块延时共6ys,PCS是48mm,在A-扫描中信号显示在16ys的位置，请计算缺陷深度是多少？(声速为5900m/s) ( )6.6mm12.8mm16.6mmd） 17.2mmTOC\o"1-5"\h\z80%满屏高信号和10%满屏高信号之间相差多少dB? （ ）a） 12dBb） 14dBc） 16dBd） 18dB探头频率提高，则 （ ）a） 分辨率提高，信噪比提高b） 分辨率提高，信噪比降低c） 分辨率降低，信噪比提高d） 分辨率降低，信噪比降低TOFD检测时，通过减小以下哪个参数可以降低扫查表面盲区高度？ （ ）a）探头频率b） 探头中心间距c） 滤波设置d）增益在TOFD灵敏度设置时，通过： （ ）a） 设置直通波波幅高度b） 设置底面反射波波幅高度c） 设置晶粒噪声的波幅d） 以上都对相控阵检测中，以下哪些因素对栅瓣效应有影响？ （ ）a） 晶片的间隙和数量b） 频率c）损坏的晶片d） 以上所有因素都会影响栅瓣二．判断题（每题1分，共10分）TOC\o"1-5"\h\zTOFD检测波形信号包含：全部横波、全部纵波、一部分纵波和横波的混合 （ ）TOFD非平行扫查是波束方向与扫查方向平行。 （ ）TOFD数据中表面开口型缺陷没有缺陷上尖端衍射信号和直通波信号。 （ ）TOFD检测只有平行和非平行扫查2种扫查方式。 （ ）脉冲电压的宽度通常设置为晶片振动的1个周期。 （ ）相控阵常用探头的几何外形有：1D线形和环形阵列、2D矩形和扇形阵列。 （ ）相控阵的扫查方式分为：线形扫查、扇形扫查和深度聚焦3种。 （ ）扇形扫查在同一组晶片上使用不同的聚焦法则激发产生不同的角度进行检测。 （ ）相控阵能在近场区以外产生真实的聚焦。 （ ）TOFD的检波方式采用射频信号，相控阵则采用全波信号的检波方式。 （ ）三．问答题（每题15分，共30分）1.TOFD图像中，缺陷起始端往往形成由下而上的弧形，试分析其原因。（15分）15分）215分）四．计算题（20分）TOFD探头