电性量测对半导体双量子点影响

电性量测对半导体双量子点影响Outlinea.Zeno謬論：b.原子光學的量測c.半導體電性的量測1.介紹2.理論模型與計算方法b.MasterEquationa.模型(Hamiltonian)3.分析與討論4.結論025m由傳統時變薛丁格方程式可以推導，在t時刻，粒子被發現停留在初態的機率是對於t<<1/r時，泰勒級數展開為但很多實驗顯示在衰減初期並未看到線性衰減的行為，相對的，系統衰減多以時間的二次項出現；也就是說能夠利用自然對數作為低維系統的計算方法必須修正。解釋初始時間非線性的行為可由量子力學出發而對演化的因子求期望就可直接得到二次項的關係Introduction-1025m二次項的係數反應了擾動的貢獻但是在時間裡，密集的觀察演化,可得到;

當量測是連續不斷的，這時候，發現粒子的機率將為沒有衰減!1.Zeno謬論(paradox)：Introduction-1025m當時間不大時,扎眼的次數(頻率)等同對系統的刺激,間接改變

系統原有的衰減率,也就是說看著一壺水在燒比沒看還來的晚煮沸.量測行為A.GKofman,G.KurizkiNatureV405(2000)2.原子光學的量測理論Introduction-205m連續不斷projection，系統期望值為各別說明了環境對系統的擾動與量測頻率對核心函數的影響。Introduction-31m

RelationbetweenconventionalanddynamicalformalismsinthequantumZenoeffectCREST,JapanScienceandTechnologyAgency,4-1-8Honcho,Kawaguchi,Saitama332-0012,JapanandDepartmentofMaterialsEngineeringScience,OsakaUniversity,Toyonaka,Osaka560-8531,Japan(Received5January2005;published25March2005)Themeasurement-modifieddecayrateiscalculatedintwodistinctformalisms,i.e.,theconventionalformalismandthedynamicalformalism.Therelationbetweenthetwoformalismsisclarified,byrecastingthedecayratesobtainedbythetwoformalismsintoaunifiedform.Itisshownthatthedynamicalformalismreproducestheconventionalresultsonlyundertheconditionthattheapparatusdetectsthedecayedstateswithanidenticalresponsetime.KazukiKoshinoZeno-Likedevice2.ModelandMethod-105m2.Model與方法-32m2.Model與方法-21m考慮強的電子聲子交互作用,採用費曼準粒子方法將

系統重新正則化,傳輸算符重新改寫為2.Model與方法-405mMasterEquation的計算2.Model與方法-505mRule基本上,在沒有聲子的考量下,單量子點被連續量測的解為在t>>的情況下,系統表現對數的衰減

相反的,在初始態中，求得:

利用量測也說明了薛丁格方程對短時間預期結果(不存在正比t的關係)

所以世界上存在著Zeno效應,而且確實可以經由量測改變自發性衰減率2.Model與方法-61mResultandDiscussion-405mResultandDiscussion-305mResultandDiscussion-11m圖二，[左]在低溫23mK時測到的電流隨電壓差()的變化。測到的電流來源有二，一個是屬於沒有聲子擾動下的彈性電流(虛線)，另一個是聲子擾動下的非彈性電流(點實線)。紅圈點的地方說明了電流在以為橫軸的分布中，不對稱的原因(寬且震盪)源自聲子的自發性放射。[下]比較躍遷到接收端的衰減率與雙量子點耦合強度對電流的影響。Introduction-5025m量測行為是屬於一個更大系綜下的一個交互作用項,理論上,倘若量測的刺激是很非常密集的，極端如量子力學的projection，這個沒有反應時間誤差的計算將等同於動態理論wideband近似。一般，拿金屬導線(wide-band)當作量測裝置時，計算上的結果與量子力學的projection預測大致相同.

2.可證明,連續不斷的量測對系統演化的貢獻等同於一個Lorentzian性質的sincx(取樣函數)分布的擾動因子，又稱為量測因子,其量測率為傳統費米黃金率決定(常數躍遷率)3.這裡,我們的研究精神是利用一組可實現的半導體元件來類比量測因子的行為,間接建構一個-----在受到連續不斷的量測(projection)下,自發性衰減率(由電子與聲子交互作用形成)遭受改變的證明.4.一個量子點與金屬導線的組合等效於一組以同調電壓為中心位置，幅寬為量測頻率，狀態密度為Lorentz的偵測器，我們稱之為Zeno-like偵測器。所以