06版特种设备无损检测RTⅢ级人员专业理论考核试卷(闭卷)(答案)

06版特种设备无损检测RTIII级人员专业理论考核试卷（闭卷）（答案）考核号：姓名：密封线2006年度特种设备无损检测RTIII级人员专业理论考核试卷（闭卷）〔参考答案〕成绩：题号题型分值扣分阅卷人签章一是非题30二选择题30三问答题25四计算题15总计1002006年6月16日北京全国特种设备无损检测人员资格考核委员会一、是非题〔对着画“O”错者画“某”每题1.5分，共计30分〕1.原子核的总质量总是大于它的组成局部的质量和。〔某〕2.Y衰变是放射性衰变的主要模式之一。□〔O〕3.连续谱的最短波长入min,不但与靶的材料有关，而且与外加管电压有关。〔某〕4.衰变常数入反映了放射性物质的固有特性，入值越大说明该物质越不稳定，衰变得越快。〔O〕5.对窄束单色某射线，衰减系数卩是一常量，而对多色宽束某射线，衰减系数卩是一变量。□〔O〕6.放射性活度大的源其辐射的Y射线强度也必然大。□〔某〕7.阳极罩的主要作用是吸收二次电子和局部散乱射线。〔0〕8.对锥靶周向某射线管一般采用旋转阳极自然冷却方式。□〔某〕9.一般情况下，胶片感光速度越高，射线照相影像的颗粒性就越不明显。〔某〕10.定影液老化和水洗不彻底都会导致底片长期保存后出现泛黄的现象。〔O〕11.从非增感型胶片的特性曲线上可以看到曝光迟钝区、曝光缺乏区、曝光正常区，但无法看到曝光过度区。〔O〕12.胶片的感光速度与卤化银的颗粒度和射线的强度有关，与射线的能量无关。〔某〕13.当管电压较高时，增感系数随增感屏金属材料的原子序数的增大而减小。〔某〕14.当采用Ir192射线照像时，可以在工件和胶片暗盒之间加厚度为0.1mm左右的滤板，这样做的目的是过滤工件中产生的低能散射线。〔O〕15.当裂纹横向尺寸大大小于焦点尺寸时，裂纹截面的面积大小对其影像比照度有很大影响。〔O〕16.当使用某射线照相时，射线底片上各点的Ug值是不相同的。〔O〕17.几何修正系数。值越小，意味着几何条件对底片上小缺陷影像比照度的影响越大。〔O〕18.主因比照度增大并不能使胶片梯噪比提高。〔O〕19.显影液的pH值不仅影响显影的速度而且还影响影像的颗粒度。〔O〕20.辐射防护中随机性效应是指发生几率与剂量无关而严重程度与剂量有关的辐射效应。〔某〕二、选择题〔将唯一正确答案的序号填入括号内，每题2分，共计30分〕1、某射线管的阳极特性是指〔D〕A、某射线管的管电流与灯丝电流的关系B、某射线管的管电压与外接电压的关系C、某射线管的管电压与管电流的关系D、某射线管的管电流与灯丝温度的关系2、下面是关于瑞利散射的表达，正确的选项是(D)A、瑞利散射是康普顿散射在低能范围的特殊表现形式B、瑞利散射不仅改变光子的能量，也改变光子的运动方向C、瑞利散射发生的几率随原子序数的增大而减小D、瑞利散射发生的几率随光子能量的减小而急剧减小3、下面是关于宽容度的表达，错误的选项是〔D〕A、宽容度的大小与射线能量有关B、宽容度的大小与底片黑度范围有关C、宽容度的大小与胶片梯度有关D、宽容度的大小与底片信噪比有关4、胶片卤化银粒度一般不会影响〔B〕A、感光度B、比照度C、分辨率D、信噪比5、下面哪一条不是影响胶片比照度的重要因素〔C〕A、胶片的种类B、底片的黑度C、增感方式D、显影条件6、决定点状小缺陷影像比照度的最主要因素是〔C〕A、小缺陷高度B、小缺陷截面积C、小缺陷体积D、以上都是7、胶片放入显影液之前，一般应在清水中预浸一下，这样做的主要目的是〔B〕A、去除胶片外表的尘埃防止显影时划伤底片B、使胶片外表润湿，防止胶片外表有气泡造成显影不均匀C可以防止枯燥后的底片出现水迹D、以上都是8、对大厚度比试件透照时,采用的特殊技术措施一般包括(D)A、适当提高管电压技术B、双胶片技术C、补偿技术D、以上都是9、下面关于颗粒性的表达，错误的选项是〔B〕A、颗粒性随感光速度的增大而增大B、颗粒性随射线能量的增大而减小C颗粒性随曝光量的增大而减小D、颗粒性随底片黑度的增大而减小10、下面关于数字平板照相技术特点的表达，错误的选项是〔B〕A、数字平板照相所需曝光时间比胶片照相短B、数字平板照相的图象质量比胶片照相好C、数字平板照相的本钱比胶片照相高D、数字平板照相受温度影响比胶片照相大11、下面是关于安放式接管管座焊缝射线照相技术要点的表达正确的选项是(D)A、为获得最小Ug值，胶片的各个部位应尽量与焊缝紧贴B、为增大透照厚度宽容度，可采用双胶片照相技术C、可适当提高管电压，必要时从不同方向进行透照D、以上都是12、影响高能射线照相清晰度的主要因素是〔B〕A、几何不清晰度B、固有不清晰度C、散射比D、以上都是13、某组织受到某射线的照射，如在30内当量剂量的增量为0.8mSv,该组织的当量剂量率是〔C〕A、2.7mSv•—1B、0.27mSv•—1C、0.027mSv•—1D、0.0027mSv•—114、W与以下哪一因素无关？〔C〕A、缺陷到胶片距离L2B、焦点到缺陷距离L1C、缺陷宽度wD、焦点尺寸df15、为确保射线检测新技术、新工艺的可靠性，应采取的主要措施是〔C〕A、必须采用高类别的胶片B、必须采用最正确的透照布置C、必须通过必要的工艺评定和鉴定D、以上都是三、问答题〔每题5分，共计25分〕1、什么叫连续某射线的有效能量？为什么连续某射线穿透物质后有效能量会增加？答：〔1〕如果某一单能射线的吸收系数与连续某射线在特定厚度范围内平均吸收系数相等，便可用此单能射线的能量来表示连续某射线的平均能量，称作有效能量。〔2〕连续某射线包含有能量不同的光子，在穿透物质过程中，能量较低的光子较容易被物质吸收，因此，在射线透过物质后，不同能量射线所占有的强度比率发生变化，低能射线所占比率减少，从而使透过射线的平均能量或有效能量增大2、简述透照厚度对裂纹检出率的影响？答：〔1〕比照度方面：为透照厚度大的工件，就要选择更高能量的射线，同时散射比随工件厚度增加而增加，而射线能量越高，散射比越大，射线照相的比照度越低。〔2〕清晰度方面：几何不清晰度与工件厚度成正比，固有不清晰度随能量的增大而增大。3〕颗粒度方面：射线能量增大，颗粒度也要增大。〔4〕工件几何条件方面：工件越厚，工件一胶片距离L2越大，而源—工件的外表距离L1收到限制，不可能很大，这就使W，值增大，而W，值增大后，可检出的裂纹的宽度W也增大。□综上所述工件的厚度越大，裂纹的检出率越低3、就像质计金属丝的底片比照度公式讨论提高比照度的主要途径，并说明通过这些途径提高比照度可能会给检测带来什么不利影响？答：像质计金属丝的底片比照度公式； AD=-0.434uGo・d/〔l+n〕提高比照度可能会带来的缺点〔1〕增大卩值； 在保证射线能穿透工件的前提下，尽量采用较低的射线能量，但是这样会增加曝光时间。〔2〕提高G值；可选用G值高的细颗粒胶片，由于非增感型胶片的G值与黑度成正比，也可以通过提高黑度来增加G值，但高G值的细颗粒胶片感光速度较慢，也会增加曝光时间。提高黑度也要增加曝光时间，此外，黑度的提高会增大最小可见比照度ADmin,对灵敏度产生不利的影响。〔3〕提高。值； 可选用小焦点的射线源，或增大焦距，这样也会使曝光时间延长。〔4〕减小n值；要减少散射线，就要使用铅窗口与铅屏蔽，这样也会降低工作效率，使曝光时间延长。4、射线照相选择透照方式时，应考虑的主要因素有哪些？答：主要有； 〔1〕透照灵敏度； 〔2〕缺陷的检出特点； 〔3〕透照厚度差和横向裂纹检出角； 〔4〕一次透照长度； 〔5〕操作的方便性； 〔6〕试件及探伤设备具体情况。〔2〕从事放射工作的人员必须具备相应的专业及防护和健康条件、并提高相应的证明材料。〔3〕有专职、兼职放射防护管理机构或者人员以及必要的防护用品和监测仪器，并提交人员名单和设备清单。〔4〕提交严格的有关平安防护管理的文件四、计算题〔共计15分〕3.63.9lgE2.51.5Dl、用焦距600mm，管电压300KV,管电流5mA，曝光时间3min，透照某厚壁容器纵焊缝，所得底片黑度为1.5。假设使底片黑度提高到2.5，且焦距调整到700mm，在其他条件不变的情况下，曝光时间应为多少？〔所用胶片的特性曲线如下图〕〔5分〕解：〔1〕黑度变化时曝光量的变化由图可知lgE1.5=3.6lgE2.5=3.9lgE2.5-lgE1.5=3.9-3.6=0.3所以E2.5/E1.5=100.3=2〔2〕焦距变化时曝光量的变化根据平方反比定律E700/E2.5=〔F2/F1〕2=〔700/600〕21.36〔3〕总曝光量的变化E700/E1.5二〔E2.5/E1.5〕某〔E700/E2.5〕二E1.5某2某1.36=2.72〔4〕曝光时间1700=(E700/E1.5)t二2.72某3min=8.16min2、测得距源14米处的照射率为108卩Sv/h,欲使照射率减少至25卩Sv/h，问离源的距离应为多少？假设采用铅板进行屏蔽，那么铅板厚度应为多少？〔该能量射线的铅半价层T1/2=0.5cm〕〔5分〕解：〔1〕由公式D1R12二D2R22得R2=〔D1R12/D2〕1/2=〔108某142/25〕1/2=29.1〔米〕 〔2〕D1/D2=108/25=4.32令2n=4.32nlg2=lg4.32=0.635n=0.635/lg2=2.11那么d=n•T1/2=2.11某0.5=1.05(cm)3、假设某射线机、管电压、管电流、透照布置、胶片型号、增感方式、显影条件及试件厚度均不变，将像质计放在试件上用11分的曝光时间透照时，直径d1的金属丝在底片上的像质计比照度为AD1,然后用铅