SPC及CPK教程(实战篇)课件

SPC及CPK實戰篇1SPC及CPK11﹑六西格碼在控制中的應用★廣義的六西格碼是一個完善的管理工具﹐是品質管理系統的一種說法﹔★單純的六西格碼控制應用﹐是一種質量控制的目標﹐請看以下說法﹐正確與否﹕۩我公司已經實施了六西格碼管理﹔۩

我公司達到了六西格碼的要求﹔۩

通過六西格碼管理﹐公司品質上了一個台階﹔………一﹑六西格碼21﹑六西格碼在控制中的應用★廣義的六西格碼是一個完善的管理工2﹑六西格碼與不良率:±Kr百分比(%)百萬分缺點數±1r±2r±3r±4r±5r±6r68.2695.4599.7399.993799.99994399.9999998317400455002700630.570.002(規格中心不偏移)常態分配規格下限規格上限-6r-5r-4r-3r-2r-1r+6r+1r+2r+3r+4r+5rX4232﹑六西格碼與不良率:±Kr±Kr合格百分比(%)百萬分缺點數±1r±2r±3r±4r±5r±6r30.2369.1393.3299.379099.9767099.9996606977003087006681062102333.4規格中心值往左、右移動1.5r常態分配規格下限規格上限-6r-5r-4r-3r-2r-1r+6r+1r+2r+3r+4r+5rX1.5r1.5r434±Kr合格百分比(3控制方式与6控制方式的比较：53控制方式与6控制方式的比较：5???兩個影響量﹐﹑1﹑的變化﹖2﹑的變化﹖21e-222F(x)=(x-)6???兩個影響量﹐﹑21e-222F(x二﹑SPC與CPK1﹑區別與聯系CPK﹕判定短期的制程能力﹐可以用來解析目前的制程能力或用來檢驗制程能力是否在管制狀況下﹔SPK﹕長期的制程能力﹐主要用在制程管制上。兩者配合使用﹐應該做到﹕ 短期=長期7二﹑SPC與CPK1﹑區別與聯系CPK﹕判定短期的制程能力﹐2﹑影響量----標准差Sigma82﹑影響量----標准差Sigma8實例(Sigma較大﹐離散性問題)實例(Sigma較大﹐離散性問題)3﹑影響量----中心偏移量103﹑影響量----中心偏移量10CPK實例分析(離散性較小﹑中心偏移量影響)11CPK實例分析(離散性較小﹑中心偏移量影響)114﹑CPK改善的方向及目標124﹑CPK改善的方向及目標125﹑管制图的判断在計量值﹐服從常態分布的生產特性下﹐最常用的管制圖是Xbar-R管制圖。常用的控制图a、Xbar–R控制图（计量值、正态分布）b、不合格品百分率p控制图（计件值、二项分布）c、不合格品数np控制图(计件值、二项分布)d、缺陷率u控制图(计点值、泊松分布）e、缺陷数c控制图(计点值、泊松分布）f、DPMO控制图(计点值、泊松分布）135﹑管制图的判断在計量值﹐服從常態分布的生產特性下﹐最常用的1414.214.414.614.81515.215.415.615.8折線圖1!5.1﹑稳定原则----異常處理原则一:不可超出管制界限141414.214.414.614.81515.215.41514.214.414.614.81515.215.415.6折線圖15.1﹑稳定原则----預防處理原则二:不可呈现规律变动连续7点上升或下降呈现规律性波动,具有显著的波动周期1514.214.414.614.81515.215.415.614.214.414.614.81515.215.415.6東部5.1﹑稳定原则----預防處理原则二:不可呈现规律变动连续7点在管制界限一侧连续11点中,有10点在管制界限一侧(间断)1614.214.414.614.81515.215.415.65.1﹑稳定原则----預防處理原则三:不可过于集中分布显著多于2/3的点集中在CL附近:即90%的数据在1δ线以内显著少于40%的数据落在1δ线以内数据集中分布在2δ到管制线之间(超过2/3)3点中,有两点接近一侧之管制界限7点中,有3点以上接近控制界限原则四:符合过程能力要求175.1﹑稳定原则----預防處理原则三:不可过于集中分布175.2﹑长期控制符合以下条件,可将管制图用于长期控制:过程稳定符合过程能力的要求再收集15组数据,无异常情形利用已经算出之管制界限进行管制按要求收集数据,并进行管制分析/控制在下列情况下,重新计算管制界限:初次过程能力研究,异常消除时对4M1E进行重大改进时产品修正时经过长期运行后185.2﹑长期控制符合以下条件,可将管制图用于长期控制:18现象可能原因处理分布不稳定计算错误数据未层别查清原因,重新计算存在特殊原因查清原因,予以消除过程能力不足过于分散平均值偏移采用管理性/技术性措施,进行改进5.3﹑異常處理可以采取的措施有效后,标准化处理19现象可能原因处理分布计算错误查清原因,重新计算存在特殊原因查三﹑制程管制實例1﹑CPK解析目的﹕通過集中量測解析目前的制程能力﹐得出制程管控要求﹐對制程管控要求進行分析﹐解析出合理的制程管控上下限。實例分析﹕以解析錫膏厚度的管控上下限為例﹕集中量測25組錫膏厚度數據﹔每組由5個量測點的數據﹔計算CPK值﹐判定是否合理﹔計算上下管制線。20三﹑制程管制實例1﹑CPK解析目的﹕201.1﹑集中量測25組錫膏厚度數據211.1﹑集中量測25組錫膏厚度數據211.2﹑計算CPK值Sigma=(Σ(Xi-Xbar)2/(n-1))½其中i=1ton=0.00312CP=T/(6*Simga)=(0.16-0.12)/(6*0.00312)=2.13675K=|Xbar-SL|/T/2=|0.139832-0.140|/0.02=0.0084CPK=CP(1-K)=2.13675(1-0.0084)=2.1188判定﹕CPK為2.1188>1.67﹐屬于制程能力充分的狀態下﹔221.2﹑計算CPK值Sigma=(Σ(Xi-Xbar)2/1.3﹑計算管制上下限上管制界限:UCL=Xbar+3*Sigma=0.139832+3*0.00312=0.149192下管制界限:LCL=Xbar-3*Sigma=0.139832-3*0.00312=0.130472231.3﹑計算管制上下限上管制界限:UCL=Xbar+3*1.4﹑管制圖241.4﹑管制圖241.5﹑解析管制上下限上管制界限:UCL=0.149192實際管制上限=0.150在實際解析中﹐如果測量的點比較分散﹐可以適當放寬解析上限﹐再定期檢討﹑縮緊管制上限到理論值。下管制界限:LCL=0.130472實際管制下限=0.130在實際解析中﹐如果測量的點比較分散﹐可以適當放寬解析下限﹐再定期檢討﹑縮緊管制下限到理論值。251.5﹑解析管制上下限上管制界限:UCL=0.1491922﹑SPC管制▲將CPK解析的管制上下限﹐作為SPC的管制上下線﹔▲定時對生產制程進行量測﹐這個時間可以是每天或每班﹔▲檢查每次的量測結果是否在管控范圍內﹔▲量測點超出管控線﹐需要立即檢討制程﹐尋找出原因﹔▲定期(每月或每周)對近期的控制圖進行分析﹐檢查是否有不收控制的趨勢(如周期變動﹑連續7點﹑連續11點等)。262﹑SPC管制▲將CPK解析的管制上下限﹐作為SPC的管2.1﹑SPC管制圖272.1﹑SPC管制圖272.2﹑管制圖的難點▲CPK解析時﹐存在中心偏移量較大的情況﹖▲CPK解析時﹐數據離散性較大﹐Sigma較大﹖▲SPC管制時﹐管制上下限太嚴﹐導致經常跑出管制線﹖▲量測點都在管制界限內﹐是否代表制程良好﹖282.2﹑管制圖的難點▲CPK解析時﹐存在中心偏移量較大的3﹑SPC&CPK管制的步驟四個步驟﹕ 3.1﹑CPK改進﹔ 3.2﹑CPK解析﹔ 3.3﹑SPC管制及改進﹔ 3.4﹑PDCA293﹑SPC&CPK管制的步驟四個步驟﹕293.1﹑CPK改進----中心偏移量SLCLCP=2.13675K=0.5084CPK=1.05303.1﹑CPK改進----中心偏移量SLCLCP=2.1363.1﹑CPK解析----消除中心偏移量CL≌SLCP=2.13675K=0.0084CPK=2.1188313.1﹑CPK解析----消除中心偏移量CL≌SLCP=23.1﹑CPK解析----消除中心偏移量（圖）SL323.1﹑CPK解析----消除中心偏移量（圖）SL323.2﹑CPK解析---穩定性﹑離散性原則CPK解析時﹕ Sigma較大→CP<2→

CPK<1.67 制程需要分析原因﹐尋找加強制程能力的方法﹐直到滿足3.1﹐且CPK>1.67 具體解析過程可以用Xbar-R管制分析法難333.2﹑CPK解析---穩定性﹑離散性原則CPK解析時﹕難33.2﹑CPK解析---Xbar-R分析步驟﹕1﹑計算Xbar﹑R﹑Xbar.bar﹑Rbar﹔2﹑計算R的管控線﹐并判斷﹔3﹑剔除異常的點(超出規格的)﹐查找異常的原因﹔4﹑重復1﹑2﹑3步驟﹐直到全部在管控范圍內﹔5﹑計算Xbar的管控線﹐并判斷﹔6﹑剔除異常的點(超出規格的)﹐查找異常的原因﹔7﹑重復1到6步驟﹐直到全部在管控范圍內﹔8﹑落實查找出來的改善措施﹔9﹑再次復驗。343.2﹑CPK解析---Xbar-R分析步驟﹕341﹑計算Xbar﹑R﹑Xbar.bar﹑RbarR.UCL=D4*R.bar=2.12*0.0127=0.02694R.LCL=D3*R.bar=0*0.013=0351﹑計算Xbar﹑R﹑Xbar.bar﹑RbarR.UCL=2﹑計算R的管控線此時的X.bar圖異常點362﹑計算R的管控線此時的X.bar圖異常點363﹑重新計算----剔除R圖中的不合格點(第2點)剔除后﹐X.bar.bar及R.bar值均發生變化。R圖符合要求。373﹑重新計算----剔除R圖中的不合格點(第2點)剔除后﹐X4﹑計算Xbar的管控線UCL=Xbar.bar+A2*Rbar=0.14043+0.577*0.012=0.147354LCL=Xbar.bar-A2*Rbar=0.14043-0.577*0.012=0.133506384﹑計算Xbar的管控線UCL=Xbar.bar+A2*R5﹑剔除異常的點(超出規格的)﹐查找異常的原因異常點異常點395﹑剔除異常的點(超出規格的)﹐查找異常的原因異常點異常點36﹑重新計算----剔除第5﹑12點Xbar.bar﹑Rbar都需要重新計算﹐檢查R圖符合要求406﹑重新計算----剔除第5﹑12點Xbar.bar﹑Rba6﹑重新計算----檢查X.bar是否符合管制要求416﹑重新計算----檢查X.bar是否符合管制要求417﹑落實改善措施及延長管制線將第2點和第5﹑12點出現異常的原因進行分析﹐一定要追蹤落實改善﹔用以下公式得到管制用管制線﹕ UCL=Xbar+3*Sigma LCL=Xbar-3*Sigma427﹑落實改善措施及延長管制線將第2點和第5﹑3.3﹑SPC管制及改進3.1和3.2得到了管制上下限﹐在批量生產中就可以用此管控線來管制﹑檢驗制程是否處于正常狀況下﹔SPC管制一般會要求定期進行量測監控。發現異常及時處理433.3﹑SPC管制及改進3.1和3.2得到了3.4﹑PDCA443.4﹑PDCA44結束語用CPK來解析制程﹐得到制程管控的目標﹔用SPC來定期檢驗制程是否處于受控狀態﹐并改善超出管控的異常﹔再用CPK來驗証制程能力。制程沒有最好只有更好45結束語用CPK來解析制程﹐得到制程管控的目標﹔制程SPC及CPK實戰篇46SPC及CPK11﹑六西格碼在控制中的應用★廣義的六西格碼是一個完善的管理工具﹐是品質管理系統的一種說法﹔★單純的六西格碼控制應用﹐是一種質量控制的目標﹐請看以下說法﹐正確與否﹕۩我公司已經實施了六西格碼管理﹔۩

我公司達到了六西格碼的要求﹔۩

通過六西格碼管理﹐公司品質上了一個台階﹔………一﹑六西格碼471﹑六西格碼在控制中的應用★廣義的六西格碼是一個完善的管理工2﹑六西格碼與不良率:±Kr百分比(%)百萬分缺點數±1r±2r±3r±4r±5r±6r68.2695.4599.7399.993799.99994399.9999998317400455002700630.570.002(規格中心不偏移)常態分配規格下限規格上限-6r-5r-4r-3r-2r-1r+6r+1r+2r+3r+4r+5rX42482﹑六西格碼與不良率:±Kr±Kr合格百分比(%)百萬分缺點數±1r±2r±3r±4r±5r±6r30.2369.1393.3299.379099.9767099.9996606977003087006681062102333.4規格中心值往左、右移動1.5r常態分配規格下限規格上限-6r-5r-4r-3r-2r-1r+6r+1r+2r+3r+4r+5rX1.5r1.5r4349±Kr合格百分比(3控制方式与6控制方式的比较：503控制方式与6控制方式的比较：5???兩個影響量﹐﹑1﹑的變化﹖2﹑的變化﹖21e-222F(x)=(x-)51???兩個影響量﹐﹑21e-222F(x二﹑SPC與CPK1﹑區別與聯系CPK﹕判定短期的制程能力﹐可以用來解析目前的制程能力或用來檢驗制程能力是否在管制狀況下﹔SPK﹕長期的制程能力﹐主要用在制程管制上。兩者配合使用﹐應該做到﹕ 短期=長期52二﹑SPC與CPK1﹑區別與聯系CPK﹕判定短期的制程能力﹐2﹑影響量----標准差Sigma532﹑影響量----標准差Sigma8實例(Sigma較大﹐離散性問題)實例(Sigma較大﹐離散性問題)3﹑影響量----中心偏移量553﹑影響量----中心偏移量10CPK實例分析(離散性較小﹑中心偏移量影響)56CPK實例分析(離散性較小﹑中心偏移量影響)114﹑CPK改善的方向及目標574﹑CPK改善的方向及目標125﹑管制图的判断在計量值﹐服從常態分布的生產特性下﹐最常用的管制圖是Xbar-R管制圖。常用的控制图a、Xbar–R控制图（计量值、正态分布）b、不合格品百分率p控制图（计件值、二项分布）c、不合格品数np控制图(计件值、二项分布)d、缺陷率u控制图(计点值、泊松分布）e、缺陷数c控制图(计点值、泊松分布）f、DPMO控制图(计点值、泊松分布）585﹑管制图的判断在計量值﹐服從常態分布的生產特性下﹐最常用的1414.214.414.614.81515.215.415.615.8折線圖1!5.1﹑稳定原则----異常處理原则一:不可超出管制界限591414.214.414.614.81515.215.41514.214.414.614.81515.215.415.6折線圖15.1﹑稳定原则----預防處理原则二:不可呈现规律变动连续7点上升或下降呈现规律性波动,具有显著的波动周期6014.214.414.614.81515.215.415.614.214.414.614.81515.215.415.6東部5.1﹑稳定原则----預防處理原则二:不可呈现规律变动连续7点在管制界限一侧连续11点中,有10点在管制界限一侧(间断)6114.214.414.614.81515.215.415.65.1﹑稳定原则----預防處理原则三:不可过于集中分布显著多于2/3的点集中在CL附近:即90%的数据在1δ线以内显著少于40%的数据落在1δ线以内数据集中分布在2δ到管制线之间(超过2/3)3点中,有两点接近一侧之管制界限7点中,有3点以上接近控制界限原则四:符合过程能力要求625.1﹑稳定原则----預防處理原则三:不可过于集中分布175.2﹑长期控制符合以下条件,可将管制图用于长期控制:过程稳定符合过程能力的要求再收集15组数据,无异常情形利用已经算出之管制界限进行管制按要求收集数据,并进行管制分析/控制在下列情况下,重新计算管制界限:初次过程能力研究,异常消除时对4M1E进行重大改进时产品修正时经过长期运行后635.2﹑长期控制符合以下条件,可将管制图用于长期控制:18现象可能原因处理分布不稳定计算错误数据未层别查清原因,重新计算存在特殊原因查清原因,予以消除过程能力不足过于分散平均值偏移采用管理性/技术性措施,进行改进5.3﹑異常處理可以采取的措施有效后,标准化处理64现象可能原因处理分布计算错误查清原因,重新计算存在特殊原因查三﹑制程管制實例1﹑CPK解析目的﹕通過集中量測解析目前的制程能力﹐得出制程管控要求﹐對制程管控要求進行分析﹐解析出合理的制程管控上下限。實例分析﹕以解析錫膏厚度的管控上下限為例﹕集中量測25組錫膏厚度數據﹔每組由5個量測點的數據﹔計算CPK值﹐判定是否合理﹔計算上下管制線。65三﹑制程管制實例1﹑CPK解析目的﹕201.1﹑集中量測25組錫膏厚度數據661.1﹑集中量測25組錫膏厚度數據211.2﹑計算CPK值Sigma=(Σ(Xi-Xbar)2/(n-1))½其中i=1ton=0.00312CP=T/(6*Simga)=(0.16-0.12)/(6*0.00312)=2.13675K=|Xbar-SL|/T/2=|0.139832-0.140|/0.02=0.0084CPK=CP(1-K)=2.13675(1-0.0084)=2.1188判定﹕CPK為2.1188>1.67﹐屬于制程能力充分的狀態下﹔671.2﹑計算CPK值Sigma=(Σ(Xi-Xbar)2/1.3﹑計算管制上下限上管制界限:UCL=Xbar+3*Sigma=0.139832+3*0.00312=0.149192下管制界限:LCL=Xbar-3*Sigma=0.139832-3*0.00312=0.130472681.3﹑計算管制上下限上管制界限:UCL=Xbar+3*1.4﹑管制圖691.4﹑管制圖241.5﹑解析管制上下限上管制界限:UCL=0.149192實際管制上限=0.150在實際解析中﹐如果測量的點比較分散﹐可以適當放寬解析上限﹐再定期檢討﹑縮緊管制上限到理論值。下管制界限:LCL=0.130472實際管制下限=0.130在實際解析中﹐如果測量的點比較分散﹐可以適當放寬解析下限﹐再定期檢討﹑縮緊管制下限到理論值。701.5﹑解析管制上下限上管制界限:UCL=0.1491922﹑SPC管制▲將CPK解析的管制上下限﹐作為SPC的管制上下線﹔▲定時對生產制程進行量測﹐這個時間可以是每天或每班﹔▲檢查每次的量測結果是否在管控范圍內﹔▲量測點超出管控線﹐需要立即檢討制程﹐尋找出原因﹔▲定期(每月或每周)對近期的控制圖進行分析﹐檢查是否有不收控制的趨勢(如周期變動﹑連續7點﹑連續11點等)。712﹑SPC管制▲將CPK解析的管制上下限﹐作為SPC的管2.1﹑SPC管制圖722.1﹑SPC管制圖272.2﹑管制圖的難點▲CPK解析時﹐存在中心偏移量較大的情況﹖▲CPK解析時﹐數據離散性較大﹐Sigma較大﹖▲SPC管制時﹐管制上下限太嚴﹐導致經常跑出管制線﹖▲量測點都在管制界限內﹐是否代表制程良好﹖732.2﹑管制圖的難點▲CPK解析時﹐存在中心偏移量較大的3﹑SPC&CPK管制的步驟四個步驟﹕ 3.1﹑CPK改進﹔ 3.2﹑CPK解析﹔ 3.3﹑SPC管制及改進﹔ 3.4﹑PDCA743﹑SPC&CPK管制的步驟四個步驟﹕293.1﹑CPK改進----中心偏移量SLCLCP=2.13675K=0.5084CPK=1.05753.1﹑CPK改進----中心偏移量SLCLCP=2.1363.1﹑CPK解析----消除中心偏移量CL≌SLCP=2.13675K=0.0084CPK=2.1188763.1﹑CPK解析----消除中心偏移量CL≌SLCP=23.1﹑CPK解析----消除中心偏移量（圖）SL773.1﹑CPK解析----消除中心偏移量（圖）SL323.2﹑CPK解析---穩定性﹑離散性原則CPK解析時﹕ Sigma較大→CP<2→

CPK<1.67 制程需要分析原因﹐尋找加強制程能力的方法﹐直到滿足3.1﹐且CPK>1.67 具體解析過程可以用Xbar-R管制分析法難783.2﹑CPK解析---穩定性﹑離散性原則CPK解析時﹕難33.2﹑CPK解析---Xbar-R分析步驟﹕1﹑計算Xbar﹑R﹑Xbar.bar﹑Rbar﹔2﹑計算R的管控線﹐并判斷﹔3﹑剔除異常的點(超出規格的)﹐查找異常的原因﹔4﹑重復1﹑2﹑3步驟﹐直到全部在管控范圍內﹔5﹑計算Xbar的管控線﹐并判斷﹔6﹑剔除異