3070测试程式开发流程讲解

3070测试程式开发流程（SOP）一、准备收集资料，进行易测性，可行性分析，制定沥信式策略Stepl:收集资料做程式前，我们需要收集的资料有：CAD文件BOMPowerSupplySpecICDatasheets3070可用的Library沥信式文件（系统自带的或前人褊舄的3070檄台配置文件ConfigPCB雷路H1pcs光板5〜10pcs好的板子［相关名词解释］CAD文件:PCB板雷路哉言十的一丰重数披文件，由CADTools生成BOM:BillofMaterials,料罩文件，言羊名田描述了装在板子上的元件的丰重短数量,规格，根披BOM我仍可以知道元件有没有彰PowerSupplySpec:提供檄丰重上雷畤的雷鉴雷流和』惧序等信息4.ICDatasheets宿羊^描述各用重元件的数披表文件Step2:定羲沥信式需求和策略［目的］：沥信式的目檬是提高FaultCoverage，然而又受到客户的要求，沥信式成本和畤冏的制的，舄此，我仍需要制定最佳的沥信式策略［策略制定］:1、封元器件合理息帚类溟®ff®合的沥信式方法，合理分配«M»源在”boar文件里有元件测试分类标签，我们应该根据元件和板子的特性选择合适的测试分类，如图1-1一般原则：pinnum＞3的元件要放在pinlibrary里测，要写library文件resistor阻值＜6ohm的作为jumperclosed测，阻值＞10M的作为jumperopen测inductance一般可作为jumperclosed测电路图里有而Bom里没有的resistor或capacitor可作jumperopen测，预留资源；IC要做library测，时间紧的话写个setup即可，以后可以完善vector测试部分

图1-1分类标签2、其他特殊的功能沥信式，比如FlashProgramming,etc,一般用不到根据测点3、羲fixture的类页型和邀I瓦比如fixturesize的选择：Fullorbank2,根据测点数选择，可以在”board”文件里全局设置里定义，如图2.图1-2“board”全局设置4、羲其它沥信式流程需要，比如速接到MES(SFCS系统可以在testplan里添加上抛系统并定义上抛路径，如图1-3图1-3SFCS系统连接路径设置二、开发1、鞭CAD文件，得到到“board”和“board_xy''图2-1CAMCADStepl:打开CAMCAD,如图2-1,导入原始设计档，弹出如图1-4图2-2导入文件选择选择”FABMASTERFATFRead”,导入原始档FAT文件。Step2:DFT分析TestAtrributeAssignmentDFTOutlineGenerationAccessAnalysisStep3:导入用BOMEXPLORER整理好的BOM表，转出得到board和board_xy文件。2、完成封board文件信息的描述用BoardConsultant描述Step1:在BT-Basic窗口中输入"boardcons”,打开BoardConsultant，如图2-3:•17-3图脚PwquiojsXs共。1Jipa/M9IA基膜：edoisjTOjpsuoopi^og£-3图JMIAlinjMHArMAO:」&\lUCOfRIBOn融岫罪日日z.uuitia^&TAV却预0>3^-ipauWUf591由£|td>lW11-ou-duD^eqPJEOH

IIP3/WIAmo山眄4顿2!pje^Riq.日P』mgIf内』iflWn陆n(AFlfttniA图2-4View/EditTestSystemDataStep3:对系统参数进行设置1.FixtureOption的哉置，一般默认，如图2-5主要是对Fixture的类型，尺寸，绕线，探针的属性进行设置，一般FixtureType设置为Express，即使用短绕线算法;size设置为Bank2,即用到Module2andModule3,其他默认设置即可图2-5FixtureOption设置2、IPGGlobalOption的设置，如图2-6主要是对IPG程序智能算法的设置，有：ToleranceMultiplier:测量算法的精度,一般选3或5,数字越大，精度越低测Diode,Zener的安全电流设置RemoteSensing:是否使用a,b,lBus辅助测量，提高精度CapacitorCompensation:小电容是否需要补偿（on/offUpstreamDisable:是否使用Disable,保护上流ICPreconditionLevel:Safeguard级数的设置各类测量bus的固有电阻，电感大小的设置

Agilent测量技术的启用和设置:BoundScanTest、DriveThruTest、MagicTest、etc图2-6IPGGlobalOption设置3、familyoption的设置，如图2-7对电路图中用到的电平逻辑进行定义，规定drivehigh、drivelow>receivehigh、receivelow、slewrate，

负载电阻类型，默认逻辑。图2-7familyoption的设置4、GPRelay的设置，如图2-8ControlCard中有8对GPRelay资源，用来引导驱动来控制IC

动作图2-8GPRelayoption的设置5、FixedNodeOptions的设置，如图2-9电路中有些点的电平是固定的，我们要定义它们为FixedNode图2-9FixedNodeOptions的设置6、powernodeoption的设置，如图2-10在powertest时，我们需要给板子上电，所以要定义powernode，一般可以定义几组，以得到较大的驱动电流。我们用的3070系统提供4组电源，所以在定义时需说明用了第几组，在PS#里定义，这里我用了第3组图2-10Powernodeoption的设置7、LibraryOption的设置，如图2-11设置library文件的路径，一般定义custom_lib

PowerNodeOptionsForm-|n|x|Notes:ActionsHelp为用户自定义库文件目录NodeOptionsTypePowerNodeOptionsForm-|n|x|Notes:ActionsHelp为用户自定义库文件目录图2-11LibraryOption的设置8、boardLeveldisable的设置，如图2-12在上电测试中，可能需要使一些IC停止工作，我们就可以在这设置disable条件，使它们输出高阻抗，停止工作图2-12boardLeveldisable的设置Step4:合理归类元件，编写pinlibrary和digitalsetuptest1.在BT-basic中输入partforms,打开PartDescriptionEditor,如图2-13:PDE是用来对电阻、电容、电感、二极管、三级管、场效应管、跳线、开关、熔丝等测试进行描述的工具，定义时应该参照电路图，准确无误的描述各pin脚的连接，尤其是极性元器件的描述（Diode、Zener、FET、Transistor>etc在BT-basic中输入setuptesteditor，将打开SetupEditor，如图2-14:SetupEditor是用来为数字器件测试建立setuptest，描述引脚连接,类型,disable信息等等，目的是为测试预留资源.Vector测试部分可以有时间补上去.要注意的是类型定义不能有误.对模拟器件和数字器件的描述,保存为library文件于Custom_lib中.结合BOM文件，按照测试策略的分类一般原则，对"board”：件中的元件合理分类，选择测试方法，比如用library测还是用Testjet测,还是both,等等

图2-13PartDescriptionEditor的设置图2-14SetupEditorStep5:BoardOutline（如图2-15和BoardKeepOut（如图2-16的定义BoardOutline定义板子的边线,outline包含的区域里的资源我们是无法使用的。BoardKeepOut定义Testjet预留区域的大小，可以自动捕获，也可以手动定义。BoardOutlineActions480033135G(3135093751JUpdate图2-15BoardOutlineBoardOutlineActions480033135G(3135093751JUpdate图2-16BoardKeepOutStep6:编译board和board_xy文件，检查错误在BT-basic窗口里输入checkboard“board”和checkboardxy“board_xy”,没有错误，可以进行下一步在BT-basic窗口里输入com“config”,com“board”;list和com“board_xy”;list,编译，确保没有错误.如果有问题，根据buglist查找error，并解决问题如果没有问题，则board文件描述结束，可以进入下一步3、BoardPlacement&ProbeSelectionStepl:在BT-Basic里输入fixcons，打开fixtureconsultant如图

17:图2-17fixconsultantStep2:选择TasksIPlaceBoard,如图TasksS^earchOptionsView/EditFixtureOptionsView/EditFixtureElectronics纾PlaceBoardRunProbeSelectionViewNodeInformationViewProbingDetailsDesignFixture汁襄戳癸多膨逆阳愆2-18:图2-18PlaceBoard

Step3:在弹出的BoardPlacementForm里输入放板位置坐标和旋转角度，选择ShowPlacementonMainForm，完成放板。如图2-19:hl—NotescurrentOffsetfromFixtureOrigintoCenterOfBoard(TenthMils)placement15sirGraphleft-TasksPlaceBoardRunProbeSelectionhl—NotescurrentOffsetfromFixtureOrigintoCenterOfBoard(TenthMils)placement15sirGraphleft-TasksPlaceBoardRunProbeSelectionViewNodeInformationBoardPlacementFormActionsHelpPlaceBQardUuardPlacementrurniActions600^ViewProbingDetailsDesignFixture-ViewModeInformaticnHunSelectionViewProbingDetailsDesignFixtureView/EditFixtureOptionsView/EditFixtureElectronics76相匕S^earchOptionsy淞"¥"：:"杨：:W;：:W:WSS：找""::WfiftWAWAWS|View/EditFixtureOptionsView/EditFixtureElectronics图2-19BoardPlacement我们也可以用鼠标拖动MainForm里的板子，放到适合的位置。

如果问题比Step4:选择EstimateBlockedPins，察看有哪些pins资源被挡到了,较多，可以重做Step3，然后再做Step4，直到满意为止。如图2-20:如果问题比tJudrdPldcementForm□IXRotationNotes：ItisestimaTedthat102pinswillbetJudrdPldcementForm□IXRotationNotes：ItisestimaTedthat102pinswillbeblockedForthisplacennent.ShowPlacementOnMainFonnEstimateBlockedPinsCardResourceResource2081720818208232082420831ResourceKeaourceUpdateClose76491]■■■MBOffsetfromFixtureOrigintoCenterOfBoard(TenthMils]图2-20BlockedpinsStep5:Update后，选择TasksIRunProbeSelection，执行ProbeSelection，如图

2-21:图2-21Update&RunProbeSelectionStep6:确认ConfirationDialog后，程序将执行ProbeSelection,如图2-22:

ConfirmationDialogxjThefixtureobjectdoesnotexistforthisboarddirectory.(BoardPlacementhasautomaticallybeenrun,butthefixturehasnotbeensaved.)ProbeSelectionusesthefixturedatafromthecurrentboarddirectoryonthedisk,soitwillnotbeabletorununtilyousavethefixture.xjCancelConfirmationDialogThefixtureobjectdoesnotexistf(boarddirectory.(BoardPlacemerautomaticallybeenrun,butthefixhasnotbeensaved.)ProbeSeleCancelConfirmationDialogThefixtureobjectdoesnotexistf(boarddirectory.(BoardPlacemerautomaticallybeenrun,butthefixhasnotbeensaved.)ProbeSele(usesthefixturedatafromthecurrboarddirectoryonthedisk,soit'notbeabletorununtilyousavetfixture.DoyouwishtosavetothecurrendirectoryonthediskandthenrurSelection?图2-22Confirmation&ProbeSelectiondone4、跑IPGTestConsultant,生成沥信式文件和治具文件Stepl:在BT-basic窗口下按F6，打开IPGTestConsultant,如图

2-23:图2-23IPGConsultantStep2:选择ActionsIDevelopBoardTest，然后是ActionsIBeginInteractiveDevelopment,进行人机交互式开发，StepbyStep，如图ActionsEditManagemEnterBoardDataDevelopTestAddATest2-24:ActionsEditManagemiEnterBoardDataDevelopBoardTest

图2-24ActionsSelectionStep3:按照TestDevelopmentSteps流程，StepbyStep执行:如图2-25:图2-25StepbyStepStep4:IPGConsultantMessages窗口会显示当前步骤的执行结果，如果遇到错误，程序会挂起，我们需要根据错误提示，寻找问题，解决错误，然后重新执行这一步，直到所有Steps顺利完成。如图

2-26:图2-26Execution5、送Fixture文件到治具厂做治具TestConsult<NodeN208474(NodeN208493(将生成的fixture文件打包发给治具厂商制作治具6、修改Testplan添加Smartest参数添加sfcs参数4.添加gprelay开关命令，控制上雷和disable勤作7、袖充完成SetupTest文件，使其完整对照电路图和ICSpec，用VCL或PCF语言编写数字测试的Vector测试部分，使其具有测试功能.如图2-27:图2-27VCLLanugage三、Debug和优化程式，生成测试覆盖率报告FixtureCheck治具做好后，我们要对其进行检查,确保没有错误Stepl:在BT-Basic窗口中输入loadboardldebboard，打开PushbuttonDebug窗口，如图3-1Step2:将铜板放入治具，选择MacrosITestplanMacrosipins,结果为shortOK;如果有Open，应该检查Probe、治具绕线是否有open或P-pin和M-pin是否接触不良，可以重复运行fixlockIfixunlock，使治具与机台contact无误。Step3:将光板放入治具，选择MacrosITestplanMacrosishorts,结果为OpenOK,如果有short,应该检查fixturewiring是否有Short。Step4:放入一块好板，在BT-basic窗口中输入faoniverifyallmuxcards，如果没有问题，OK,否则，要检查MuxCardStep5:放一块好板，在PushbuttonDebug里选择Debug|DebugTest…弹出的对话框中输入Testjet，然后选择AutoDebugiAutoDebugTest，让VTEP自动学值，如果出现0或负值，请检查VTEP的放大器和极性Step6:祸撤检查治具的Probe是否OK、弓罩簧是否沾牢固、Tooling孔径是否适合，治具边框、密封垫圈和油压杆是否OK，等等。图3-1PushbuttonDebug2、Debug并优化程式在确保治具没有问题的前提下，我们用好的板子进行程式的Debug和优化。Stepl:DebugShortstest1、放入好板，在Debug窗口中选择MacrosITestplanMacroslshorts，遇到PhantomShorts，应该在short文件里调整相应的测试顺序和delaytime，直到没有PhantomShorts出现.2、调完shorts后，应该comment掉reportphantomsStep2:上雷碓保powerwiring是正碓的在确保没有short的情况下，选择MacrosITestplanMacrosIPowerSupplies,检查powerwiring是否正确，保^速到ARSU卡上的powerwiring是OK的，可以在Testplan里用rps命令报告供电电压和电流是否到位。Step3:DebugAnalogIncircuitTest1、DebugResistors2、DebugCapacitors3、DebugInductors调Analog时应该结合电路图和Bom，适当的加Guarding和参数选项，比如wait,ed,en等等，合理调整上下限和frequence，一个原则是:测试稳定。Step4:DebugtestjetTest用AutoDebug学习好板子的值，然后用其他好板子验证，重复直到TestjetPassStep5:DebugDigitalIncircuittests用gpconnect命令控制CPU或BUS动作，为一些数字测试提供测试条件用gpconnect命令控制Clock动作，为一些数字测试提供测试条件DebugDigtalICStep6:DebugAnalogfunctionaltestsDebug晶振元件沥信式程序Debug雷源^换IC的®S«量程序适当的用gpconnect命令控制这些IC动作，调用编写的power_check程序，检查