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1、各种仪器分析的基本原理及谱图表示方法各种仪器分析的基本原理及谱图表示方法 牛人总结，留着备用 来源： 紫外吸收光谱 红外吸收光谱法 核磁共振波谱法 电子顺磁共振波谱法 m/e分离m/e 的变化反气相色谱法 裂解气相色谱法 热重法 热差分析 示差扫描量热分析 静态热力分析 动态热力分析 tg 随温度变化曲线透射电子显微术 扫描电子显微术 X原子吸收 (Inductivecouplinghighfrequencyplasma)X-raydiffraction,x特征 X 射线两种。晶体可被用作 X 光的光栅，这些很大数目的原子或离子/分子所产生的相X 射线的强度增强或减弱。由于大量原子X 射线的衍

2、射线。应用已知波长的X 射线来测量 角，从而计算出晶面间距d，这是用于X 射线结构分析；另dX射线的波长，进而可在已有资料高效毛细管电泳（highperformancecapillaryCZEC选用的毛细管一般内径约为（。毛细管两端分别浸入两分开的缓冲液中，同时两缓冲液C（低电压或流体力学进样（压力或抽吸）其表观迁移速度是溶质迁移速度与溶液电渗流速度的矢量和。所谓电渗是指在高电压作用值等多种因素MECC扫描隧道显微镜1nm，在原子力显微镜(AtomicForceMicroscopy spectroscopy，jXX射线，也可能又使原子在释放能量时只能进行一种发射：特征 X 射线或俄歇电子。原子序数大的元素，特征 X射线的发射几率较

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