李性福-非制冷长波红外热像仪的高精度测温算法研究

1、仪测温的相关环境 ，引入参考源，改进了“S”型非线性测温算法，并建立了仪测温的相关环境 ，引入参考源，改进了“S”型非线性测温算法，并建立了：红外测温，非制冷长波红外，参考源，高IWith the development of infrared temperature measurement technology, long-waveinfrared imagingsystem havebeen widelyilitaryand civilian for its non-contact, uncooled, , accurate and safety features. However, du

2、e to With the development of infrared temperature measurement technology, long-waveinfrared imagingsystem havebeen widelyilitaryand civilian for its non-contact, uncooled, , accurate and safety features. However, due to impacts from the object emissivity, measurement environment, blind pixels hetero

3、geneityofinfrareddetector,temperaturedriftsandthenon-uniformity,itisto meet the application requirement of high temperature Therefore, ysis of how to reduce the impact of various factors on long-wave infrared imaging temperature measurement, the research of high infrared temperature measurement algo

4、rithm and establish the corresponding mto improve the accuracy of measuring temperature, have important significanceandapplicationvalueforuncooledlong-waveinfraredimagingsystem, the principles and basic laws of uncooled long-wave infrared imaging temperature measurement and the relevant instruments

5、needed are elaborated. Then, the acquisition emissivity of detected object, the detection and compensation of blind oninfraredimagingsystem,andthecauseofdetectorresponsenon-uniformity,aswellthe temperature drift characteristics of the imaging system yzed. Based on studies, two-linear temperature mea

6、surement algorithms, S type temperature measurement algorithm and S type nonlinear temperature measurement algorithm with temperature drift compensation are researched in the thesis. S type nonlinear algorithm with temperature drift compensation can achieve high accuracy temperature measurement in t

7、he calibrated laboratory environment, which is an ideal environment considering the factors influence on temperature measurement of detected object and the infrared thermal imager olny. However, in actual s, the different environment will cause significant measurement errors to thermometry system. T

8、herefore, on ysis of the related environmental impacting the infrared thermometry system, roduction of a reference improving the S type nonlinear temperature measurement algorithms, and establishment of a high-temperature corresponding algorithm ., at sametime,thecorrespondinghighpreci Inordertoelim

9、inatetheinfluenceradiationtemperatureofthetestedthermometryalgorithmischasenvironment,thisalgorithmcorrectshesamemeasurementenvironmentthe S type nonlinear temperature measuring algorithm, using the known information of the blackbody reference source. Therefore, high precimeasurement can be realized

10、 through infrared thermal imager in any Finally,theinformation of the blackbody reference source. Therefore, high precimeasurement can be realized through infrared thermal imager in any Finally,thetestplatformandblackbodycalibrationalgorithmand the principle of blind pixels detection and compensatio

11、n algorithm, as well as non-uniformity correction algorithm and temperature measurement algorithms he thesis. The results of temperature measure by the uncooled long-infrared thermal imager are given. The test results t the algorithm hethesis can achieve high temperaturemeasurements ofource,High.第一章

12、绪.第一章绪.第六章结束 的.附录B 测温算法部分代V插图2.1 红外热像仪结构原理图2.2 红外探测器插图2.1 红外热像仪结构原理图2.2 红外探测器 图5.8 温度漂移补偿图5.8 温度漂移补偿对比曲线图5.9 测温误差(室内)示意附附表2.2JQ-200MYZ2C和JQ-100MYZ3C黑体的参数列1.1 1.1.1温度测量方验以及工农业生产中有着1.1 1.1.1温度测量方验以及工农业生产中有着十分重要的作用113 分钟。非接触式测温反应相对较快，基本保持在 10 秒以内。0.751000m 之间。在常温下，物体的自发辐射主要是红外辐射，具切的关系4。红外测温法就是利用这些关系对物体

13、进行温度测量1.1.2 红外热像仪测温技术发展 时发现了红外辐射，人类便开辟了应用红外技术的广阔道路5。利用红外辐射原1的进广泛使用6 的进广泛使用6 的使用和温度的直接读出；1997 2、热点或过热区域。红外热像仪还具有以下特点：1) 响应速度快；2) 测温；3) 非接触测温；4) 可同时测量点温、线温和面温；5) 绝对温度和相对温度都可测量；6) 可对微小物体测温，直径可达几微米；7) 、热点或过热区域。红外热像仪还具有以下特点：1) 响应速度快；2) 测温；3) 非接触测温；4) 可同时测量点温、线温和面温；5) 绝对温度和相对温度都可测量；6) 可对微小物体测温，直径可达几微米；7)

14、) ) 候要) 3) ) 和) 度的方法，研究了测温时对目标发射率和环境辐射等效黑体温度修正) ) 和) 度的方法，研究了测温时对目标发射率和环境辐射等效黑体温度修正的方法891985型，得出了其测温方程11。同年他们又通过类似的方法建立了红外热像仪测量 作为保证测温精度的硬件实现方法16。同年，塞尔维亚和黑 4了红外探测器响应的漂移规律，提出了温度漂移补偿的方法18。2013 年要距离影响的测温了红外探测器响应的漂移规律，提出了温度漂移补偿的方法18。2013 年要距离影响的测温精度进行补偿191.4 2) 3) 测温算法，并建立相应的高精度测温算法模型，最终在高速数字信号微处理器(Digi

15、talSignalsor,DSP) 5第二非制冷长波红外热像仪测温原理分 高速模拟/数字转换器第二非制冷长波红外热像仪测温原理分 高速模拟/数字转换器 6大气传的 ULIS公司生产的长波红外非制冷型微测辐射热计UL03191814m长波红外的 ULIS公司生产的长波红外非制冷型微测辐射热计UL03191814m长波红外72.2.2 都为 1 的物体，只有发射率略小于但接近于 1 的人工黑体。人工黑体作为理想黑体2.2.2 都为 1 的物体，只有发射率略小于但接近于 1 的人工黑体。人工黑体作为理想黑体 8 vf 3.0108 式(2.1) 为辐射 vf 3.0108 式(2.1) 为辐射波长

16、式(2.2)中，h 为克常量，其值h(6.6261760.000036)1034(JS)。还可以用电子伏特(eV )来表示光子的能量，1eV 1.6021892 1019(J)。最为普遍存在的红外辐射20。所以，要研究红外辐射测温原理，首先必须掌握物2.3.1黑体辐射定手。首先来研究黑体模型，黑体的概念由基尔霍夫在 1860 年首次提出。黑体，简单9黑体。接下来将具体介绍与黑体有关的三个基本辐射定律： 克定律、维恩位移1900 表面积在波长为 附 ) (波：Wm 2 m 1 )，与光谱辐射的波长(：m)、黑体绝对温度T M(T)黑体。接下来将具体介绍与黑体有关的三个基本辐射定律： 克定律、维恩

17、位移1900 表面积在波长为 附 ) (波：Wm 2 m 1 )，与光谱辐射的波长(：m)、黑体绝对温度T M(T) 2hc2 1CC )21)k 1.3805410-23(J/S)C12hc2 3.74150.000310-16(Wm2C1C hc2/k1.438790.00019102(mK)，C22所 尔海姆维恩于 1893 。维恩获得了 1911 M(T)2hc2 尔海姆维恩于 1893 。维恩获得了 1911 M(T)2hc2 exp(ch kTkTexp(chkT)exp(ch kT)1 hc 501ech i令i 50，通过求解方程得到i4.96512 1 hc b 得i 的值代

18、回到式(2.4)得ki T式(2.5)中为黑体光谱辐射波长；T为黑体辐射温度；b2.897103(mK)为当物体表面温度上升到 200时，峰值辐射波长移动到 6.126m。 黑表面积的总辐射出射度 (简称全辐射出射度)随热力学温度变化的规律克辐射定律公式对波长 积分得到T克辐射定律公式对波长 积分得到T 00斯特凡-玻尔兹曼定律很好地诠释了图 2.4 中所示每条曲线与横轴所成的面积随2.3.2基尔霍夫定体 的场景中，处于热平衡状态时，实际物体吸收率与其发射率 相等。也即当处于热平衡状态下，物体吸收周围环境的辐射能量Mb 与其辐射出的能量M 是相等的： M Mb ，也即：M 与单色吸收率 式依然

19、如式(2.7)所示。灰体是其光谱吸收率 为一个不随投射辐射波长变化的物式依然如式(2.7)所示。灰体是其光谱吸收率 为一个不随投射辐射波长变化的物与吸收率 的关系式为 度M (T ) 满足：2.4 第三非制冷长波红外热像仪测温算法研3.1 第三非制冷长波红外热像仪测温算法研3.1 3.1.1 发射率的大小表征着物体表面辐射能力的强弱，物体发射率越大(趋近 1)，红外) 3) 很 3.1.2 红外探测器盲元检测 3) 很 3.1.2 红外探测器盲元检测与补国标 GB/Tl7444219982425。判断一个像元是否为盲元，需先测量红Ri, j R 。其中，像元响应率是指在一个动态范围条件下，像元

20、输出的信号电压V i, j 与像元所接收的辐照功率Pi, j 的比值。平均响应率是指红外 10 倍平均响应率的像元称为过热像元。红外值叫做盲元率 Nb 。第心取一个nn的滑动窗口，计算出窗口内所有像元的均值，并将其作为阈值与待测像0 平面阵列上每个像元在低温T1 和高温T心取一个nn的滑动窗口，计算出窗口内所有像元的均值，并将其作为阈值与待测像0 平面阵列上每个像元在低温T1 和高温T2 处的两组响应值，然后将每个像元高温与值 的计算公式如下：MNM kY ki, i1 Pi1,j Pi1,j Pi,j1 Pi,jPi, 4Pi1,j Pi1,j Pi,j1 Pi,jPi, 4, , ) 上首

21、个与该待测像元存在关联性的像元分别为P上 、P下、P左 、P右 。P(i, j) P上PP左 、PP(iajP(ibjP(i, j cP(i, jd，那么每个关联像元到待测P(ijLaLbLcLdP(i, j) 的关联度分别为上、下 、左 、右 。待像元P(ij完全由这四个关联像元P、PP、P下：LLL左 L 上1110100 L下 上下左000 LL右 右 左盲元补偿值 1空间补偿值 122NN1帧红外图像像元ijP(i, jn, 盲元补偿值 1空间补偿值 122NN1帧红外图像像元ijP(i, jn, , P(i, jr上P下P下左P右PP(i, j,n) 1( P P P P )212P

22、(i, j,n 统制造工艺和系统参数的影响26面MNMN (d (V NU Vi1 j M式(3.9)中统制造工艺和系统参数的影响26面MNMN (d (V NU Vi1 j M式(3.9)中NU 表示非均匀性计算值，VAvgV ，式(3.9)NMN (d i1 1999 民于非均匀性的定义。VAvg M 28。一般把这种现象称为红外热像仪随自身工作时间变化的输出响应漂移，具3.2 弱，环境温度稳定为 24，黑体距离红外热像仪 1.5 米，稳定理想的测量环境下(动开始，到非制冷长波红外热像仪运行 120 分钟截止，每隔 5 在 在 面阵列上136,108、160,120、182,135这三个探

23、测像元 在 在 3.3.1线性测温算情况不一样，在黑体辐射通量分别为1 和2 VVVLL00 L为整个红 Vij()Rij Vij()式(3.10)中，Vij () 是两点校正后的响应值，Vij( ) 是第i j 列个像元原始响Rij为第i j Oij 为其两点校正偏移系数。 Rij和Oij L为整个红 Vij()Rij Vij()式(3.10)中，Vij () 是两点校正后的响应值，Vij( ) 是第i j 列个像元原始响Rij为第i j Oij 为其两点校正偏移系数。 Rij和Oij可以通过求解线性方程的系数得到。 两组辐射通量分别为1和2应的像元响应值Vij 1、Vij 2 ：V1 Ri

24、jVij1 式(3.11)中的V1和V 2 jV1Vij 1/MNi0 jjV2 Vij2/M Ni0 jV1V2RV V VVVV V V 而红外热像仪收集的黑体辐射通量 面阵列的响应输出电压值V 辐射温度T 与黑体辐射通量 关系可以转化为黑体辐射温度T 与相应红外关系。通过两点法非均匀校正后，黑体辐射温度T 灰度图像灰度值H H aT TraHbTraHb和b 分 HS工作饱和截止0T HH S0T0T(1)校正(2)校正 图3.8 的图(1)中、s2 、s3 HH S0T0T(1)校正(2)校正 图3.8 的图(1)中、s2 、s3 H Td1expb c T式(3.16)aij、bij

25、、cij 和dij 是第i 行第 j 列个像元的响应参数。aij 是这个元灰度响应值的动态范围大小，dij 是这个像元灰度响应值的最小值，因此，这元的响应灰度值范围属于d a d c 是这个像元的广义增益系数。而b 伸缩控制，改变系数bij 和dij 可以实现响应曲线横轴和纵轴方向的平移控制。只要准 可以通过标定数据很容易求出。而广义偏移系数bij和广义增益系数cij求解相对复a dij Hij(Texp(b c T)H (T)dij Hij(T)ab c H (T)dij Hij(T)令中间变量ij(T)dij Hij(T)ab c H (T)dij Hij(T)令中间变量ij(T) lnH

26、ij(T)ij(T)bij 关于系数bij 和cij 的求解变成了解一元一次线性方程。因为已知系数aij 和dij 两组定标黑体辐射温度值T1 和T2 Hij(T1 ) Hij(T2，将它们代入到式(3.19)中便可求出系数bij和cij 出值HST ：iM HST HijT/M Ni0 设非线性标准曲线S 的响应输出( HS3T)H Td1expb c TSS式(3.21)中，aS 、bS 、cS 和dS 为校正系数，它们的值与求单个像元的方法一在求中间变量时，不同黑体辐射温度T1、T2Tn对应的是红外的均值HT1、HT2 HTn。面阵列上每个像元非线性响应公式的系数(即aij 、bij 、

27、cij 和dij )和标响应曲线公式的系数(即aS 、bS 、cS 和dS )都确定好之后，可以通过标准公式与每射源任意温度T 时对应的每个像元的灰度响应值Hij T 代入到式(3.16)中，计算出每标准输出H 。 H(T)T rc式(3.22)Tr 为通过“SHT a 、b 、c、d 3.3.3 漂移补偿的“S”型非线性测温算热像仪稳定后再进 量。所以必须对红外热像仪随自身工作时间变化所产生的温3.3.3 漂移补偿的“S”型非线性测温算热像仪稳定后再进 量。所以必须对红外热像仪随自身工作时间变化所产生的温 3.9 所示，横坐标为红外热像仪的测量时间t ，纵坐标为响应灰度值H tHtmtnm1

28、t0t m tt s式(3.23)中，m 和n 为温度漂移系数( m1 和n1为预热阶段温度漂移系数，m2 和 ，得到每一个时刻红外热像仪相对于标准响应值的温度漂移计算公式应值s HtHtsm1t ，得到每一个时刻红外热像仪相对于标准响应值的温度漂移计算公式应值s HtHtsm1t n10t H tHHt m tn t pss式(3.24)中， Hp t为红外热像仪的相对温度漂移响应灰度值。如果从红外热像H H(T)Hpt a1expb(TdH tH p式(3.26)表明漂移补偿型非线性响应公式是由被测物体的温度T 工作时间t adH HptblnHHptTrc3.4 。第四非制冷长波红外热像

29、仪高精度测温模型建4.1 影响，它们是不容忽视的42第四非制冷长波红外热像仪高精度测温模型建4.1 影响，它们是不容忽视的42 大气传测量距环境温 4.1.1 大气传78%)和氧气(体积比20%)90 千米的高度以内分布较 78%)和氧气(体积比20%)90 千米的高度以内分布较 为散射粒子的半径。当 0.3 1.0 r传输距离是指被测物体到红外热像仪的温度测量距离43。传输距离越近 4.1.2 背景噪是不可避免的44 4.1.2 背景噪是不可避免的44黑体温度在 30、50 跟4.2.1算法原理分 4.2.1算法原理分 Lb(TObj)(1)Lb(TSur物体表面反射率，TObj 为被测物体

30、表面温度，TSur 为环境温度。式(4.2)中第一部分d2 L 1 L T L E Atm Atm 被测物体到红外热像仪之间的测量距离，一定条件下AObjd 为一个常数。Atm 2大气的光谱透射率， Atm 为大气发射率m入射在红外热像仪上某一波长 Pi E式(4.4)E是波长 ArPt op式(4.5)中，op为光学系统的透光率。光学系统还产生杂散辐射Pc外热像仪的均温Tc PdPt12.5m814m Vd R式(4.7)中，R 为探测器的光谱响应度，对特定的红外热像仪为常值。在红外Vd 12.5m814m Vd R式(4.7)中，R 为探测器的光谱响应度，对特定的红外热像仪为常值。在红外V

31、d 测量范围和灵敏度相关，最终的信号电压为：Vs gVpa或展开为：R L T 1L L dV A Atm r gRPcd式(4.9)g为电压调节系数。令K A dr RLbTdIR(T 式(4.11)中，Vc g RPcd gV0V V 令I T rKIRTr 为红外热像仪的刻度函数，近似于在某一时线性响应函数。所以可以通过标定找出IR Tr 与黑体温度的关系，则式(4.11)I T IT 1I I Atm 0时，I T I T ，被测物体大多可以看成是灰体)，且有Atm 1Atm I T ，被测物体大多可以看成是灰体)，且有Atm 1Atm I T I 个温度漂移量只与红外热像仪的开机时间

32、t 有关，它会对刻度函数IRTr产生线性影响量It；虽距离d IRTr有一定的线性变化量Id 。因此，算上这些变化量后式(4.13)I T I It Id射量 通过“S”型非线后得到相应的辐射温度Tr 与被测物体表面真实温 到高精度的温度值TObj 。但是，如果在不同时刻，或测量距离改变，或其素变化之后，被测物体使用“S”型非线性测温算法得到的辐射温度Tr 将会与被物体表面的真实温度和被测物体发射率的乘积TObj 产生偏差，测现假设在某一时刻，一定的测量环境：大气透过率为 0 ，环境温度为TSur ，m，温度漂移量为 It0，辐射温度的测量距离偏差量为 Id0；参考的真实温度为TR ，其辐射温

33、度为TRr ，发射率为r 。将这些参数代入式(4.14)得IRTRr0rIRTR1rIRTSur 10IRmIt0Id0在同一时刻，完全相同的测量环境下，被测物体表面的真实温度为TObj 射温度为TOr ，发射率为o 。同样代入式：I T I T 1 I 1I It Id 0 00I T I T I T I T I o IR T 可以通过一个多项式来C2 I T I T I T I T I o IR T 可以通过一个多项式来C2 R 1exp 1 RT 式(4.18)C1、C2 分别为第一、第二辐射常数若红外热像仪不考虑R随波长的变化，在接近环境温度条件下，对8m 到I T 随温度变化的关系，

34、且近似满足如下关系IRTIT Lbd CT 11 1 TTTTAtm r 算都是采用Tr ： 44 4 4 40 r oo大气透过率0 1。被测物体的发射率o 可以通过查对应表得到，环境温度TSur 可以通过温度计测得，参考源的真实温度TR 已知，参考源的辐射温度TRr 和被测物体辐射温度TOr 都可以通过“S”型非线性响应特144444 Ro 考源的辐射温度TRr 以及其通过漂移补偿的“S”型非线性算法计算后 考源的辐射温度TRr 以及其通过漂移补偿的“S”型非线性算法计算后得到黑体参考源的真实温度TR TRr 代入式(4.22)，得到TObj TOr ，被测物体的真实温度与它4.2.2算法

35、实现步度，将已知参考源的真实温度TR 、辐射温度TRr 和被测物体的辐射温度TOr 同时代步骤一：确定标准“S调节黑体的温度(T1 、T2 、T3 Tn )。等黑体在各个温度值都达到稳定，且红外热各个黑体辐射温度(T1T2T3Tn)下对应的响应灰度值H1H2、H3 Hn )，并保存。分别求响应灰度值( H1、H2、H3 Hn )的平均值HT1HT2 HTn 参数a、b、c、d 和a、b、c、d ，并找到各个探测像元“S。红参数a、b、c、d 和a、b、c、d ，并找到各个探测像元“S。红外热像仪进行温度测量时的环境温度值TSur 参 环境温度为 24，被测物体为大面元黑体，距离红外热像仪 3.

36、5 米，调节其温度分别为 30、60、80、100和 120。采用中温黑体作为参考源，且将其温80，在室内和室外通过红外热像仪的测温结果如表 4.2 所示： 因此，当选取的参考源真实温度TR与被测物体的真实温度TObj和其发射率的乘积TObj越相近的时候，红外热像仪的测温精度越高。放置的位置进行温度测量，得到其辐射温度值TOr ，代入测温公式，体表面的真实温度TObj 。被测物体的辐射温度值与已知参考源辐射温度的4.3 H 后还带有漂移噪声和其他背景噪声的H 4.3 H 后还带有漂移噪声和其他背景噪声的H 一个特定的辐射温度值Tr 。红外热像仪进行“S”型非线性响应时可以通过获取 4.6 灰度

37、-温射参特预处link 温度。在使用红外热像仪对被测物体进行温度测量前 5 分钟内，把已知黑体参考源 温度计测量当时的环境温度TSur。将这些参数代入修正测温公式，便可求出被测物体表面的真实温度TObj。 从器link 温度。在使用红外热像仪对被测物体进行温度测量前 5 分钟内，把已知黑体参考源 温度计测量当时的环境温度TSur。将这些参数代入修正测温公式，便可求出被测物体表面的真实温度TObj。 从器像元坐标序列 选择坐标序列号，然后再根据其灰度值的大小调用灰度-TR 温度通过信模度物体发射 4.4 测温点，并画红色“+”标示，以标示的点为中心选取一个33 4.4 测温点，并画红色“+”标示

38、，以标示的点为中心选取一个33 开计算区域灰度查灰度-温表YN将所有参数代入(4.21)计算温度结 4.5 最终在DSP4.5 最终在DSP5.1 5.1.1 测简 。TI TMS320DM6437(上 A/D5.1 5.1 探测器将这些辐射信号转换成模拟电信号。在复杂可编程逻辑器件(Complex 拟信号有序输出，经A/D 5.1 5.1.1 测简 。TI TMS320DM6437(上 A/D5.1 5.1 探测器将这些辐射信号转换成模拟电信号。在复杂可编程逻辑器件(Complex 拟信号有序输出，经A/D 器(Double Data Rate 2, DDR2) 模键CPLD模拟 信号输出显

39、示模块显示出来45；测温部分：根据给定的探测器像元坐标序列号，从NorFlash中查找灰度-温度表得到响应的辐射温度值，通过键盘输入发射 5.1.2 模拟 信号输出显示模块显示出来45；测温部分：根据给定的探测器像元坐标序列号，从NorFlash中查找灰度-温度表得到响应的辐射温度值，通过键盘输入发射 5.1.2 标 标定环境下，将黑体温度分别调节至 30和 像，并对黑体温度为30的红外原始图像用响应特性的盲元检测法和3 标定环境下，将黑体温度分别调节至 30和 像，并对黑体温度为30的红外原始图像用响应特性的盲元检测法和3 图 255)，两种方法检测到的盲元位置基本是相同的。这说明这两种方法

40、都能有效60 (1)原始图(2)邻元255)，两种方法检测到的盲元位置基本是相同的。这说明这两种方法都能有效60 (1)原始图(2)邻元替代(3)时空相关性补偿 元能够很好补偿，对较大块盲元的补偿效果也非常理想。原始红外图像共有 320 240 257 个，盲元率为0.33% ；通过邻元替代法补偿96 个，盲元率为0.13%；通过时空相关补偿法补偿后，残余盲 为 0 时) 像的平均温度值。图 5.6 中计算原始图像的残余非均匀性为 10.81%为 78.3；两点线性非均匀校正后的残余非均匀性为 5.59%74.6；“S3.12% 关系都制成了相应的灰度-改变测量环设调节被测物体温 5.8可以看

41、出，经过“S”型非线性测温算法后，原始温漂依然存在。通境下，将被测物体放置在距离红外热像仪 3.5 米处，以 1510 5.2 5.8可以看出，经过“S”型非线性测温算法后，原始温漂依然存在。通境下，将被测物体放置在距离红外热像仪 3.5 米处，以 1510 5.2 5.2可以看出，在室内进 试，两点线性测温算法和“S”型非线性测温 从图 5.9 可以看出，两点线性测温算法和“S”型非线性测温算法不能适应温度 5.2可以看出，在室内进 试，两点线性测温算法和“S”型非线性测温 从图 5.9 可以看出，两点线性测温算法和“S”型非线性测温算法不能适应温度3.5 米处，以 15为补偿调节被测物体从

42、 30到 180 5.3 从图 5.11 中测量的结果可以知 从图 5.11 中测量的结果可以知道，本文算法的测温精度要高于漂移补偿的“S”5.4 算法和影响红外测温的相关 深入分析，引入参考源，改进了“S”型非线性测正测温算法，建立了有效、合理的高精度测温算法模型，并最终在DSP 上实现。算法和影响红外测温的相关 深入分析，引入参考源，改进了“S”型非线性测正测温算法，建立了有效、合理的高精度测温算法模型，并最终在DSP 上实现。 致生加致生加参考. 温度测量实用技术. DaiShaoSheng,YanXiaoHui,ZhangTianQi.Studyonhigh-参考. 温度测量实用技术.

43、 DaiShaoSheng,YanXiaoHui,ZhangTianQi.Studyonhigh-measurement of infrared thermal imagerJ. Infrared Physics & Technology, 53(5):396-. 张才根, 张幼文. 环境辐射对目标热辐射特性测试的影响J. 物理学报, 1981, 30(7): 953-961.张才根. 常温物体表面真实温度的亮度法测量J. 物理学报, 1982, 10Uirickson M. Surface themographyJ. American Vacuum Society, 1986, 11Inag

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