相识时尚店-测头步骤

1、学习前必须掌握的内容：1、计算机基本操作Windows 的操作，鼠标的使用。应用程序的开启，按钮、菜单、2、三坐标工作原理框的应用。三坐标三轴的计数原理，读数头计数原理，读数头与测针的同步移动。3、矢量方向使用 i j k 三个数值即可表示空间的一个矢量，i j k 来源于此矢量与三个坐标轴的夹角的余弦值。矢量方向的几何状态。4、简单的坐标系概念三轴相互垂直坐标系，坐标点。5、简单的识图能力物体的不同视角能看出不同的图形。第二章测针校验上图是各式各样的测针，适用于各种零件，小测针可以测量较小的缝隙、小孔等零件，碳的测针可以做到很长很轻，适合测很深的孔。等等，不同样式的测针应用于不同场合，一般人

2、造红宝石球形测针应用最为广泛。测量零件时可能会使用多个方向的测针去测量多个侧面的孔。大测针又粗又大刚性好，可以很长，适合测深孔小测针又小又细刚性差，不能太长，但能测小缝隙在的日常工作中，使用三坐标测量一个工件，测量完成后得到了测量，此时能否负责的说这份的结果是准确的？围绕准确性这个问题，来看看影响测量准确性的几个环节是否严格控制了。1、测量的整个过程中，只有测针与工件接触，测针的准确性将影响测量结果。2、环境温度，环境温度会造成零件的变形与收缩。3、测量机三轴的直线性与垂直，通常这些三坐标本身的误差叫做 21 项误差。不干净有杂物等。4、人为，比如工件装夹不稳固，工件在这里，不研究其他的误差，

3、单独看看如何保证测针的准确性，象校对卡尺、千分表一样，测针的精度也需要校验。2.1 为何会引起测头的偏差看两个测量任务：测量任务一： 从左右两边测量一张厚度为 0 的纸上的同一个点 A（B），从左面看为 A，从右面看为 B，其实是同一点。用三坐标测量，从左边测量得到点 A，从右边测量得到点 B，此时点 A的坐标与点 B 的坐标一样吗？任务一的有两种：1、从零件角度讲，测量的是同一点，所以 A、B 两点的坐标是一样的；2、从测量机角度讲，测量 A、B 两点时测量机位置发生了变化，所以 A、B 两点的坐标是不一样的，造成两点坐标的不同的原因是由于测球半径引起的。如果能有一个半径为 0 的测针的话，

4、就不存在这个问题了，但是现实中是不存在的。测量任务二： 使用不同的角度来测量一个理论锥点M，当测头角度旋转后，所测量的到的点M1#、M2#、M3#、的坐标一样吗？任务二的也有两种：1、从零件角度讲，测量的是同一点，所以 M（1#）、M（2#）两点的坐标是一样的；2、从测量机角度讲，使用 1#测针测量时，机器处于(X1,Y1)位置，而使用 2#测针时机器处于(X2,Y2)位置，因此得到的点坐标也不一样，造成 M（1#）、M（2#）两点坐标的不同。原因是由于测针旋转后测针位置发生变化引起的。任务一的解答告诉位置误差。，测针半径会带来半径误差。任务二的解答告诉，测针位置会带来从上面可以看出，思考角度

5、不同，会得到不同的结果。对于操作者，希望能从零件的角度讲，测量中能给出一致的结果来，所以就需要能够处理这些误差，如果能自动修正这些误差，就能得到想要的结果。2.2 测头校验的原理及必要性测头校正正是为了解决这两个问题而设立的，由于有上述的两个必须通过校正来消除这种误差。校验原理就是反推法：会带来测针的误差，所以通过测量一个已知直径的球（标准球），由于标准球的直径是已知的，就能反推出测针的直径；通过测量一个固定的球（标准球），由于标准球的位置是固定的，所以就能反推每个测针的准确位置。2.3 测针校验的步骤点击快速启动中的校验测头按钮，或在菜单栏中操作“硬件定义”，出现测针校验框。2.3.1、定义

6、测头文件名输入测头文件的名字，以方便以后使用。一般取一个有意义的名字，命名法则（规则：测头名_直径 X 长度），例如：TSP_3X50MM 代表使用 TESASTAR-P 的测头，加直径为 3 长度为 50 的测针。小数点用小写的字母d 代替。2.3.2、定义各个组件组件 1（测座）：TESASTAR-M，将光标点击未定义测头的提示语句，在测头说明的下拉菜单中选择使用的测头座型号，在右侧窗口中会出现该型号的测座图形。组件 2（转接）：TESA_TMA组件 3（测头）：TESASTAR-P组件 4（测针）：TIP3BY50MM测针定义后，测头角度窗口中自动显示A0B0 角度常用配置如下：TESA

7、STAR-M TESA_TMA TESASTAR-P EXTEN20MMTIP2BY20MM测头座30mm 长度测头转接块测头20mm 长度测针加长杆20mm 长度测针定义测针提示：配置测针和加长杆，要根据测头的承载能力。如果测针和加长杆的重量超出测头承载能力，会造成误触发或缩短测头及精度。2.3.3、添加测头角度有些零件在测量时，不仅仅要测量工件顶面的尺寸，有时还需要测量在四周侧面上的尺寸，这样的话就需要将测针旋转一定的角度来测量，如下图所示。如需要添加测头角度，在测头功能窗口中点击“添加角度”的按键， 即出现添加新角的窗口。PC-DMIS 提供有三种添加角度的方法：1、单个加入：在A 区中

8、“各个角的数据”框中直接输入A、B 角度。2、批量加入：在B 区中分别输入A、B 的起始、终止、角度增量，会生成批量角度。3、图示加入：在C 区的矩阵表中点击小方格，每个小方格代表一个角度。2.3.4、设置校验参数添加好角度后，选择所有的测针，点击测量，进入测针校验，填写相应的参数。测点数：近/回退距离：移动速度：接触速度：控制方式：操作类型：校验模式：可用工具列表：5 点以上，2203020025自动校验测尖12 点 5mm100mm/s（注意这里使用的是绝对速度，是mm/s）3mm/s（“F5-坐标测量机-显示绝对速度”可以设置为绝对速度）用户定义（层数：3；起始角：0；终止角：90；）选

9、择你的标准球，如果没有的话请参看下面的方法配置标准球。其他参数按默认即可。控制方式：1、自动适用于测头安装偏差小，测针长度短的情况。 2、DCC+DCC 适用于测头安装偏差较小，测针长度适中的情况。3、Man+DCC 适用于测头安装偏差较大，测针长度很长的情况。4、Man 适用于安装偏差较大，测针长度很长，以及各种无法自动校验的特殊测针的情况。没有选择任何测尖时默认选择：1、所有测尖，将校验所有测尖2、中止执行，停下来3、程序中使用的测尖，当前测量程序中所用到的所有测尖2.3.5、可用工具列表是校验测头时使用的校验用工具的定义。点击添加工具，弹出添加工具窗口。1、工具标识：给标准球起一个名字，

10、方便以后使用。2、工具类型：球体3、支撑矢量 I、支撑矢量 J、支撑矢量 K：输入标准球的支撑矢量（指向标准球，如：0，0，1）4、搜索替代矢量 I、搜索替代矢量 J、搜索替代矢量 K：校验时，测针的排序以最接近此矢量为优先。5、直径/长度：输入标准球的实际直径值，检定真实值。6、确定上的2.3.6、开始校验在校验测头窗口设置完成后，按下测量键。出现提示如下：询问是否要在标准球上手动采一点，以便让三坐标机知道标准球的位置，从而进行校验，一般都选择“是-手动采点定位工具(M)”，再出现提示“测头将要旋转”，使用盒将测针移动到安全位置，点击确定。测头旋转好角度后，再使用盒手动在标准球上采一点，按“

11、DONE”开始校正。出现询问时如果选“否”，则机器认为标准球没有被移动。PC-DMIS 会根据上次的位置去校验。2.3.7 查验校验结果测头校验后，点击测头工具框中的”结果”按钮，会弹出校验结果窗口。在校验结果窗口中，用户需要查看D 和StdDev 两项的值是否超差，以确定本次校验是否可用。“D”是测针校验后的实测直径，略小于理论值。“StdDev” 是形状误差，越小越好。根据经验 D 与理论值的偏差不大于 0.01mm，StdDev 不大于 0.005mm。太大则认为校验过程有问题，比如：组件是否装配错误；测针连接是否松动；标准球是否有灰尘；测针是否破碎等等。当D 相差小于 0.01mm 并

12、且StdDev 小于 0.005mm 时，测针可用。检验注意事项：1、校验时测针和标准球要保持清洁。测针、测头、测座等包括标准球都要固定牢固，不能有丝毫间隙。2、测头校验的速度要与测量时的速度保持一致。校验条件：1、新定义的测针在使用前需要校验。2、测头发生较为剧烈的碰撞后，需要重新校验。3、每次对测座、测头、测针的拆卸操作后都要重新对使用的所有测头位置校验。4、平时使用过程中为减少环境变化对测头的影响，要定期进行校验。根据使用频繁程度确定校验周期。8 小时X 5 工作日校验一次。随着被测工件的变化，测量工具也需要相应的变化。比如测量一个很小的孔，就要求测针也变得很小，否则就无法放置进去；再比

13、如零件变得很大，也需要测针变大一些，否则可能刚性；零件变得很薄，就需要测针变得很长，否则就接触不到零件了。下面列举了测针向极大、极小、极长的三个趋势的发展演化过程。各种测针的演变过程：以球形测针为基准测针，会向变大和变小两个方向发展。直径不断增大会变成星型测针；减小会变成锥型测针；增长会变成柱型测针。分别应用于不同零件。星型测针盘型测针球冠测针球测针球测针柱型测针锥型测针带凹陷槽的大圆环测量深孔测量常规测量薄板测量刻线测量2.3.8 其他类型测针的校验 柱型测针校验：定义测针时需要选择柱型测针，其他步骤同球形测针。可参看PPT。 星型测针校验：定义测针时需要选择星型测针，其他步骤同球形测针。可

14、参看PPT。 盘型测针校验：定义测针时需要选择盘型测针，起始角、终止角设置为 10，-10 度。可参看 PPT。2.3.9 其他类型测头的校验扫描测头的结构和工作原理与触发式测头不一样，所以校验的方式也不同，但测头定义的方法和校验的步骤及菜单的方式都基本一致。可以参照以上步骤进行。定义时只需选择相应的扫描测头型号即可。光学测头和激光测头的校验方法，请参考有关测头的说明书或经服务工程师的相关培训后进行。2.4 其他未涉及的高级功能2.4.1 编辑可以对测头的参数进行修改，对于特殊测针使用的特殊校验时，很有用处。2.4.2 公差2.4.3 设置在这个窗口中的项目，可以对操作者进行有益的提示。2.4

15、.4 打印列表将测针配置及所有角度以列表的形式打印出来，方便操作者查看。2.4.5 程序使用测尖用于搜索当前活动的零件程序中使用的测尖。 然后，它将找到的测尖添加到活动测尖列表，并为其添加校验标记。2.4.6 全局所用测尖用于搜索当前活动测头文件在其他零件程序中使用的测尖。 然后，它将找到的测尖添加到活动测尖列表，并为其添加校验标记。2.4.7 文件格式可以指定测针文件的版本，以兼容 PC 以前版本下的测针配置。2.4.8 重置测尖测量操作类型 1.校验测尖 2.校验设备 3.标定检验2.4.3 打印列表将测针配置及所有角度以列表的形式打印出来，方便操作者查看。2.5 本章思考题1.2.3.4

16、.5.叙述为什么要在测量前校验测头。总结一下测头校验的步骤。如何观查、检查测头校验的效果？ 有哪些操作会造成测头校验的误差？分析测头校验的误差会影响哪些测量准确性。日常答疑Q: 由于误操作，在进头定义时，提示没有测头组件，如何解决？A:从安装盘中拷贝PROBE.DAT 文件到pcdmis 安装路径下即可。Q:配置测头文件时，选择加长杆时若没有所需的长度选项，如：exten 50、exten 70，该如何处理？A:若程序选项中没有要使用的加长杆长度，可采用叠加长度的方法。如：exten 50、exten 70，可采用 “exten 30”+“exten 20”和“exten 30”+“exten 40”解决。只要总长度一致就可以。Q:请详细介绍三种测头功能？A:针对贵公司的测量需要，现将我公司的三种测头功能介绍如下：1. 激光扫描测头：（非接触式）主要应用于逆向工程中，可以实现大量点，在完后可以送到造型中进行造型。该测头速度较快，精度比触发测头低。SP600/SP25 连续扫描测头：（接触式连续）该测头可以实现贴着工件表面的连续扫描，主要用于曲线曲面零件的检测，精度高，速度快。触发测头：（接触式）该测头采用的是单点触发式测量，主要用于零件的常规检测，该测头用于扫描时，并非始终贴着工件表面，而是单点的方式。若要实现对叶片的扫描，建议使用SP600/ SP25 扫描测头，既提高检测