SPC运用实战ppt课件

1、内部培训资料-A-005S P C 运 用 实 战 KONICA MINOLTA柯尼卡美能达商用科技制造(香港) 第一质量管理部门 唐建军 07/24-04.第二篇 技 术 篇第五章 数据的搜集第六章 各项质量目的第七章 图形制造与阐明第八章 图形综合运用第九章 企业SPC系统规划.第七章 图形制造与阐明第一节 P-Chart 不良率控制图一、 P-CHART之意义： P-CHART的中文概念就是指不良率控制图，它是利用控制图的原理，对在制程中产品不良率进展控制。是SPC中计数值最常用和最主要的分析图形之一，也是质量管理中最根本的工具，它具有以下特点与功能：. 掌握某产品或类别或消费线等取样母

2、体的不良率情况我，了解本系统在正常情况下的不良情况，有助于做本钱分析。 对于突发事件(特殊缘由)影响程度及时了解。 便于预测下一阶段的不良率。. 为了使上述功能充分发扬，它应详细分板以下几种质量情况： 单个产品在某一工序的不良率 单个产品在某几工序的不良率 多个产品在某同一工序的不良率 多个产品在某同几工序的不良率 单个客户某一产品的不良率 单个客户部分产品的不良率. 单个客户全部产品的不良率 多个客户同一产品的不良率 关键原料各供货商所供消费产品的不 良率 关键原料部分供货商所供消费产品的 不良率 同一产品在不同部门或消费线的不良 率 同一部门或消费线消费不同产品的不 良率. 不同班次所消费

3、产品不良率 某同班次所消费产品不良率 不同检验人员所检验的不良率 某些检验人员所检验的不良率 不同时期的不良率 不同机台的消费的不良率 等等。.为了使对于不同母体产品不良率的分板可以从细部和较大部分板不良率，P-CHART应可以以每批为一点做控制图，也可以以每天为一做点做控制图，但普通不需求以每一周、月、季为一点来做控制图，由于对于制造业来说，以每一周、月、季为一点做控制图太长了，不能做预测分析。.P 控制图检验站别：一切检验站 产品编号：B4 0211-33 组 数：17 产品称号：陶瓷电容 分析期间 2001/11/12001/11/16组数123456789101112131415批量1

4、200015000100001100011002800018000180001120010010001200010002000010000检验数3153152003153154006006005001001000315801200200缺陷数14158111210158100471105不良率%4.444.7643.493.812.52.51.33200.42.221.250.832.5.二、图形制造 在P-CHART中，根据实践情况，在日常消费中，每一个检验批的检验数因批量数和抽样方案的不同，有能够不同，并且检验数能够有能够相差较大。根据控制图的原理，P-CHART分为以下几种情况：.P-C

5、HART各组检验数一样各组检验数不一样各组检验数相差不大各组检验数相差较大 注：各种情况的控制图作法也不一样 . 根据控制图制造的原理，对于P-CHART作图，按以下步骤来进展：1. 记录数据列表 例：某陶瓷电容厂，对2001年5月1日到5月13日这段时间，制一部二线白班消费345BO-D的5000皮法的电容，其检验数据为：.日期12345678910111213批量数120001500010000110001100080001800018000112001001000120001000检验数315315200315315400600600500100100031580不良数141581112

6、10158100472. 作出以每天为一点的不良率控制图。 Pi=di/ni100 式中：P表示不良率 表示第几组数据 表示检验数 表示不良数 数据列表为：.日期12345678910111213批量数120001500010000110001100080001800018000112001001000120001000检验数315315200315315400600600500100100031580不良数14158111210158100472.1. 计算平均不良率(控制中心线) Par=P=di/ni100 =(14+15+8+11+12+10+15+8+10+0+4+7+2)/(315

7、+315+200+315+315+400+600+ 600+500+100+1000+315+80)100=116/5055100=2.295(后面四舍五入).1. 计算控制上下限(1)各批量检验数一样 此种控制计算方式有两种，一种是按控制图原理制，是直接用不良率平均值加3倍不良率的规范差；另一种 是以前没有计算器，每次计算比较费事，所以就有人在做多之后得出一些阅历值，经过相对计算较为简单的公式来算计算之结果相差不大，所以相对计算较为简单的公式来算。但两种计算之结果相差不大，所以人们通常只选一种算法就够了，而通常大多数人都选用第二种算法(已成为公认)。 .如做一些电子原器件，任务批量较大，检验

8、数一样的机率比较多，此种计算方式较为适宜。(a) 第一种计算的公式： UCL=Pbar+3=Pbar+3 (Pi-Pbar)2/n(4.2) LCL=Pbar-3=Pbar3 (Pi-Pbar)2/n (4.3).注：当控制下限计算出来为负数时，必需把改成零(“0)，由于没有不良率是负 数的，所以在后面一切不良率较低时，控制下限都以为是0。阐明： Pi表示各组之不良率数据 Pbar表示前面所计算之全体不良率 表示全体数据之组数.(a) 第二种计算公式： UCL=Pbar+3 Pbar(1-Pbar)/ni(4.4) LCL=Pbar-3 Pbar(1-Pbar)/ni (4.5). 注：当控制

9、下限计算出来为负数时，必需把改成零(“0)，由于没有不良率是负数的，所以在后面一切不良率较低时，控制下限都以为是0。 阐明：Pbar表示前面所计算之全体不良率。 i表示恣意一组数据之检验数。 如做一些电子原器件，任务批量较大，检验数一样的机率比较多，此种计算方式 较为适宜。. (2)各检验数不同 各组检验数不同又分两种情况： 一是各组检验数相差较大，最大检验数与较小检验数之间超越20%； 另一种是各组检验数相差较少，最大检验数与较小检验数之间不超越20%。. 在实践任务中，大多数工厂的检验数因受订单变化，以及今后较多客供产品将会多的情况下，各批次数量变化较大，所以检验数相差会较大，所以前上述的

10、两种情况中，前者会居多。而经过下面的计算公式来看，计算起来更为复杂，所以再次证明SPC之运作必需运用电脑，这样会更具效率。.(a) 各组检验数相差较大(大于20%)： 中心线CL=PB=P =di/ni100 (4.6) UCLi=Pbar+3 Pbar(1-Pbar)/ni (4.7) LCLi=Pbar-3 Pbar(1-Pbar)/ni (4.8). 备注： 1.各点控制界限就不一定一样或相等。 2.当UCL小于0时，就直接等于0，由于不良率不能够为负数。 阐明：Pbar表示前面所计算之全体不良率 nBar表示对应组数据的抽样数 UCLi表示对应组数据的控制上限 LCLi表示对应组数据的

11、控制下限.(a) 各组检验数相差较小：中心线 CL= PB=P =di/ni (4.9) UCL=Pbar+3 Pbar(1-Pbar)/ni (4.10) LCLi=Pbar-3 Pbar(1-Pbar)/ni (4.11). 备注： 1.各点控制界限默许近似相等。 2.当UCL小于0是地，就直接等于0，由于不良率不能够为负数。 阐明：Pbar表示前面所计算之全体不良率 nl表示对第1组据的抽样数 UCL表示整个控制图的控制上限 LCL表示整个控制图的控制下限.4. 制造图形 根据计算出来的控制图中心线(此图称为Pbar)和各种控制上下线作出如下的几种控制图： 阐明：当检验数以为一样时.P控

12、制图检验站别：贴片产品编号：B40211-33组 数：10产品称号：陶瓷电容 分析期间：2001/6/12001/6/14组数12345678910批量15000100001050010000100001000010000100001000010000检验数315200200200200200200200200200不良良率%4.7642.51.52.322.52.52.阐明：当检验数以为不同时 P控制图检验站别：贴片产品编号：B40211-33组 数：9产品称号：陶瓷电容 分析期间：20015/12002/5/10组数123456789批量1500010000110

13、0010010001200010001000010000检验数315200315100100031580200200不良数847047155不良率%2.5422.2200.42.221.252.52.5. 三、图形分析 在分析本图之前，先与大家确认一个问题。往往会有很多人以为，在不良率控制图(P-chart)上应否加一条目的线，这其实是没必要的，由于这是一个控制图，主要用来适时控制制程，需求适时监控和分析，加目的线只是多余，控制图中本身就有一个控制上下限，曾经反映了现有制程的才干都在控制上下限之间，如有期望之目的值在这中间，只能证明 必需尽快改善制程。 . 在分析和看图之时，如假设发现整个不良

14、率曾经偏高，那么应结合柏拉图，找出最大缘由 ，逐项改善与监控，使不良率到达能接受的位置。如假设经过柏拉图和现有的方法不能根本处理柏拉图中最大项问题，那么应思索对该项纳入计量值去监控与改善，如假设还不行，那么可思索运用DOE或田口方法来根本处理。. 在详细的实践分析过程中，一定要留意因实践情况而定，要特别留意从行业别与产品特性及公司的战略来分析，千万不可照搬。 在分析图形能否有异常，可以参考以下阅历来处置：. 除了后面7种情况，如点已跑出控制界限，普通是指有特殊缘由导致不良出现较大的变化。由于本图为不良率控制图，所以当出控制界限后，应立刻找出缘由。如假设是在上面，那么线上主管立刻借助其它方法或工

15、具找出缺陷加以处理，并引起以后留意；如假设是在下面，那么线上主管和品管主管尽快找到缘由，并加以严密监控，如在后面发现都在往下偏，那么应纳入以后制程的规范化作业。 1. 在点已跑出控制界限.2. 延续几点在中心线上方或下方 这阐明制程有偏移发生，如往上偏移，那么阐明不良率升高，如往下偏移那么阐明不良率下降。 此断定条件设定方法为：可开场设定3点，之后经过大约10至25点甚至更多点来确定能否有周期性变化的特性，再进一步伐整。 发生此景象，如未超出控制界限和非周期性变化，普通为系统缘由。如是不良率上升，那么需品管部汇同制造部门和工程部门，甚至采购部门共同协商讨论处理。普通可采用柏拉图找出最大缘由，再

16、汇同相关部门共同处理。 .3. 延续几点上升或下降 这阐明制程有一种趋势发生，分向上和向下两种。向上那么是阐明不良率升高，向下那么阐明不良率下降。 产生此前部的缘由普通为：在制程的各个参数中，某一项参数发生变化，如模具磨损、快放假人心浮动、机台中某位置有松动、锡炉温度上升等。 此断定条件设定方法为：可开场设定3点，之后经过7至15点来确定能否有周期性变化的特性，可进一步伐整 . 注中： 如延续几点的变化幅度不大，且在可接受范围内，能够再等一下点出现时再做动作，以用来确认能否有周期性。如变化幅度较大，根据趋势，下一点就会超出可接受地时，应立刻找出缘由并采取措施 ，如未找到缘由，那么建议停顿消费，

17、以免产生更多的不良品而添加本钱。 .4、延续几点互着一升一降 也阐明是一种趋势，分为变化幅度变大、变小、不变。幅度变大，那么阐明制程越来越不稳定；幅度变小，那么阐明制程越来越稳定；不变那么阐明制程曾经是稳定的，但要留意能否较大、能否全体都在可接受范围内，如否，那么请采用系统问题的处置方式尽快处置 . 产生此情况的缘由普通为：幅度变化大为某项参数变化较大，应尽快找到并调整使之稳定；幅度变化小需调整某项或某几项参数，使制程趋于稳定。 此断定条件设定方法为：开场可设定5或7点，以后过20至30点来确定能否具有周期性变化的特性，再进一步伐整。 .5、延续几点在3倍规范差以外 出现此情况的缘由普通为：

18、(1)刚刚采取过措施； (2)制程某个参数发生突变； (3)发生特殊问题，而未采取措或没 有监控； (4)特料分批没处置好。 此断定条件普通为：开场设定2至3点，之后可以根据能否在接受范围之内及产品周期性变化等特性来适当调整。 .此情况分为三种方式： 1、延续3点在控制上方。阐明不良率忽然变高，一线主管要立刻调整或采取措施，通常能够是：(a)采取措施不当，应立刻终止并调整措施；(b)机台突变，应立刻找出并请人员修缮，如不良率不能接受时，建议停顿消费；(c)不机规格产品混淆，一线主管应立刻查清并分开。 . 2、 延续3点在控制界限下方。阐明不良率忽然下降，通有3种缘由会导致这种景象发生：(a)刚刚运用到更优质的原资料或新机台；(b)刚采用工序改良；(c)产品特性周期性变化。针对这些情