常见可靠性与环境试验之元器件筛选常见设计及参数

1、可靠性与环境试验之元器件筛选常见设计及参数电容器高温老炼检测系统CapacitorHighTemperatureBurn-InTestSystem型号：SPCP-T温度范围：环境温度+150C老炼区及试验通道：4个实验区、16个试验通道试验工位：640个老炼试验电源：4台，可扩展为16台，输出100V、300V、600V、1000V等规格电压：0V1000VSpecification:SPCP-TTemperatureRange:RT150CBurn-InAreaandTestChannels:4testareas,16testchannelsTestStation:640PowerSuppl

2、y:4,canbeexpandedto16,theoutputof100V,300V,600V,1000VandotherspecificationsVoltage:0V1000V集成电路高温动态老炼系统ICHighTemperatureDynamicBurn-InSystem型号:SPIC-T温度范围：环境温度+150C老炼区及试验通道:整机设置16个区域，每个区域对应一个老炼试验通道试验工位：提供16板X208位/板=3328个试验工位驱动控制板：16块、64路数字信号、4路模拟信号、4路程控二级试验电源Specification：SPIC-TTemperatureRange：RT150C

3、oneBurn-InAreaandTestChannels：16testareas,testareascorrespondstoonetestchannelTestStation:16(panels)X208(bitperpanel)=3328teststationsDriveControlPanels:16panels,64digitalsignal,4analogsignal,4secondarydistancecontroltestpowersupplies高温反偏老炼检测系统HighTemperatureAntiBurn-InTestSystem型号:SPFP-T温度范围:环境温度+1

4、50C老炼区及试验通道:12通道试验工位:整机同时可插12块试验板，总计74个/块X12块=888个检测试验工位（单电源），20个/块X12块=240个检测试验工位（单电源）老炼试验电源:3台，可扩展为10台检测控制板:12块，老炼电压检测范围0V1500V漏电流检测范围：100nA50mASpecification:SPFP-TTemperatureRange:RT+150CBurn-InAreaandTestChannels：12testchannelsTestStation:12panels,74(bitperpanel)X12(panel)=888teststations(single

5、powersupply),20(bitperpaneln)X12(panel)=240teststations(singlepowersupply)PowerSupply:3,canbeexpandedto10DriveControlPanels:12Voltage:01500VLeakageCurrent:100nA50mA拥有电容器高温老炼检测系统、集成电路高温动态老炼系统、高温反偏老炼检测系统、晶体管特性图示仪、大功率数字存储图示仪、数字电桥、正向压降测试仪、漏电流测试仪、直流低阻测试仪等试验设备和测试仪器，可开展电阻、电容、电感、半导体分立器件等元器件的老炼筛选和性能测试，能够满足GJ

6、B、AEC和MIL-STD等系列标准的要求，广电计量可靠性与环境试验拥有上述设备及能力。GERTChashightemperatureburn-insystemforcapacitor,hightemperaturedynamicburn-insystemandhightemperaturereversebiasburn-insystemforintegratedcircuit,transistorcharacteristicscurvetracer,highpowerdigitalstoragecurvetracer,digitalelectricbridge,forwardvoltagedroptester,leakingcurrenttester,DClowresistancetester,etc,withwhichwecancarryoutburn-inscreeningandperformancetestforresistor,capacitor,inductors,semico