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文档简介

1、 实验八 寄存器功能测试及应用 一、实验目的1、熟悉寄存器的电路结构和工作原理。2、掌握集成移位寄存器74HC194的逻辑功能和使用方法。二、实验设备及器件1、数字逻辑电路实验板2、74HC194四位双向通用移位寄存器1片。3、电源插座1个，导线若干。三、实验原理移位寄存器是一个具有移位功能的寄存器，是指寄存器中所存的代码能够在移位脉冲的作用下依次左移或右移。既能左移又能右移的称为双向移位寄存器，只需要改变左、右移的控制信号便可实现双向移位要求。根据移位寄存器存取信息的方式不同分为：串入串出、串入并出、并入串出、并入并出四种形式。本实验选用的4位双向通用移位寄存器，型号为CC40194或74H

2、C194，两者功能相同，可互换使用，其逻辑符号及引脚排列如图81所示。功能表如表8-1所示。74HC194图81 74HC194引脚排列 其中 D0、D1 、D2 、D3为并行输入端；Q0、Q1、Q2、Q3为并行输出端；SR 为右移串行输入端，SL 为左移串行输入端；S1、S0 为操作模式控制端；为直接无条件清零端；CP为时钟脉冲输入端。表8-1功能输 入输 出CPS1S0SRSLDOD1D2D3Q0Q1Q2Q3清除×0××××××××0000送数111××abcdabcd右移101D

3、SR×××××DSRQ0Q1Q2左移110×DSL××××Q1Q2Q3DSL保持100××××××保持1××××××××四、实验内容及步骤验证74HC194的功能，观察左移、右移功能。按图83接线，、S1、S0、SL、SR、D0、D1、D2、D3分别接至逻辑开关的输出插口；Q0、74HC194Q1、Q2、Q3接至逻辑电平显示输入插口。CP端接单次脉冲源。按表

4、81所规定的输入状态，逐项进行测试。 图83 74LS194逻辑功能测试实验前，端加低电平，使1、2两片寄存器的内容清0，此时S1S011，当第一个CP脉冲到来后，寄存器的输出状态Q0Q4为0000，然后端接1，与此同时S1S0变为01，电路变为执行右移工作方式，右移输入数据由SR端加入。随着CP脉冲的依次加入，输出状态的变化可列在表8-3中。表83CPQ0Q1Q2Q3说明00000清零10000送数21000右移操作四次3110041 11051111由表83可见，在右移过程中，从Q0到Q4LED逐个熄灭，右移操作四次之后，Q0Q4为1111，四个LED灯均熄灭。同理可知当S1S0变为10时为左移，左移输入的数据由SL端加入。随着CP脉冲的依次加入，Q4到Q0 LED逐个熄灭。五、实验注意事项1、注意集成块功能端有效的状态。2、使用移位寄存器的时候注意左移和右移的方向。六、实验收获及总结 通过这次实验我了解了寄存器的电路结构和工作原理并掌握了集成移位寄存器74HC194的逻辑功能和使用方法。同时明白了寄存器中所存的代码能够在移位脉冲的作用下依次左移或右移的原理。而且

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