静电放电下对多层式变阻器电性影响

1、靜電放電下對多層式變阻器電性影響余尉平劉建宏大綱 研究目的 測試項目 結果與討論 結論測試目的 由於變阻器天生的具有劣化的特性，因此，在產品的可靠度工程中確認變阻器的劣化趨勢是有其必要性。 變阻器各項電性的改變，在加載試驗中可得到驗證。 各項電性測試結果可作為，提昇產品精緻化參考方向。測試項目 選擇產品SFI0603-120E050MP SFI0603-120E100MP SFI0603-120E101MP作為測試的樣品 測試電壓分別為2K、4K、8K、10K、15K、20K contact model 放電次數分別為5、10、15、20、25、30結果與討論SFI0603-120E050MP

2、-VBD051015202530010203040 VBD (V)TEST NUMBER 2K 4K 8K 10K 15K 20KSFI0603-120E100MP-VBD05101520253004812162024283236 VBD (V)TEST NUMBER 2K 4K 8K 10K 15K 20K05101520253016182022 VBD (V)TEST NUMBER 2K 4K 8K 10K 15K 20KSFI0603-120E050MP- 0510152025308121620242832 TEST NUMBER2K 4K8K 10K15K 20KSFI0603-120

3、E100MP- 0510152025300481216202428 TEST NUMBER 2K 4K 8K 10K 15K 20KSFI0603-120E101MP- 05101520253018202224262830 TEST NUMBER 2K 4K 8K 10K 15K 20KSFI0603-120E050MP-Ir0510152025300.000.050.100.150.200.250.30 leakge current (A)TEST NUMBER 2K 4K 8K 10K 15K 20KSFI0603-120E100MP-Ir051015202530-101234567891

4、011 LEAKAGE (A)TEST NUMBER 2K 4K 8K 10K 15K 20KSFI0603-120E101MP-Ir051015202530350.000.020.040.060.080.100.120.140.160.180.200.220.240.26 leakage (A)TEST NUMBER 2K 4K 8K 10K 15K 20KSFI0603-120E050MP-C05101520253024681012 capacitance (pf)TEST NUMBER 2K 4K 8K 10K 15K 20KSFI0603-120E100MP-C051015202530

5、91011121314151617181920 CAPACITANCE(pF)TEST NUMBER 2K 4K 8K 10K 15K 20KSFI0603-120E101MP-C051015202530104106108110112114116118120 capacitance (pf)TEST NUMBER 2K 4K 8K 10K 15K 20KVBD variation0246810121416182022-0.45-0.40-0.35-0.30-0.25-0.20-0.15-0.10-0.050.00 variationtest voltage (kV) 050MP 100MP 1

6、01MP- variation0246810121416182022-0.8-0.7-0.6-0.5-0.4-0.3-0.2-0.10.0 variationtest Voltage (kV) 050MP 100MP 101MPC - variation0246810121416182022-0.10.00.10.20.30.40.50.60.70.8 variationtest Voltage (kV) 050MP 100MP 101MPLeakage variation02468101214161820220.0500.01.0k1.5k2.0k2.5k variationtest voltage (kV) 050MP 100MP 101MP0246810121416182022-1012345 variationtest voltage (kV) 050MP 101MP結論 VBD 越大則電壓跟的變化率也越大。 電容值越大則電容的變化越小結論 電性上的劣化變化最劇烈是在ESD測試的前幾次，當繼續擊打，則劣化的現象會趨於穩定。 劣化改變的幅度跟測試電壓