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文档简介
1、硅橡胶制品技术标准一.一般标准1 .工作温度:-15C-+80C2 .贮存温度:-30C-+85C3 .贮存时间:A.产品在无挤压情况下平放:可长期保贮B.产品在挤压情况下存放:1个月4 .工作相对湿度:45%95%5 .工作气压:86-106Kpa6 .接触率:5MA在12VDC/0.5秒/2*107次7 .接触反弹:12毫秒8 .绝缘电阻:1012欧姆/500VDC9 .击穿电压:25KV/mm二.外观1 .颜色(1) .标准:硫化装配后硅胶不外露,无较大差异(2) .检测方法:在明亮的自然光或40W日光灯下,将标准样品或色卡与待校样品放在一起,经视力1.0以上,无色盲的专业人员在肉眼与样
2、品间距为30cm的情况下目检5秒钟.2 .偏心(1)标准:H厚-H薄弹性壁厚度w0.1MM时,模具检测时X=20%;WX弹性壁厚度w0.2MM时,模具检测时X=15%弹性壁厚度w0.3MM时,模具检测时X=8%(2)检测方法:用厚度仪测试。3.溢料标准:从键面向下单色料高R露出外壳高度+1.0MM,装外壳后看不见为宜.(2)检测方法:用游标卡尺测量4 .毛边(1)标准:产品边缘:W0.5MM定位孔:W0.1MM5 .破裂(1) 标准:无影响装配与使用性能之处:W1.0MM(2) 检测方法:用游标卡尺测量6 .色点凹凸点(1)标准:客户装配后硅胶外露部分:无明显可见检测方法:在明亮的自然光或40
3、瓦日光灯照射下,将样品放于距肉眼30CM左右处经视力1.0以上人员目测5秒钟7 .以上字符偏移(1) 标准:中心值土0.15MM(2) 检测方法:用工具显微镜测量三.物理性能1尺寸L<10:L005MM10<L<20:L±0.08MM20<L<30:L±0.10MM30<L<50:L±0.15MM50<L<100:L±0.3%LMM100WL:L±0.5%LMM(2) 检测方法:用投影仪测量2 .弹力标准:A.峰值P1标准值:50±(5-10)g70中0-15)g90中5-20)g
4、100中5-20)g120(20-25)g150(20-25)g170(25-30)g200-300g35gb.最小回弹P3PK50G时:P3A20G50G<P1<120G时:P3>25G120G<P1W180G时:P3A30G180G<P1<250G时:P3>40G250G<P1时:P3A50Gc.感觉:20%-80%d.离散性P1中心值w150g时,同片产品之同种键型:W15%不同片产品之同种键型:W20%P1中心值R150g时,同片产品之同种键型:W20%不同片产品之同种键型:W25%(2)测试方法:用AIKOHMODEL1305弹力测量仪
5、测出弹力随冲程的变化曲线图读取其峰值P1,接触弹力P2,最小回弹P3.计算其:感觉=(P1-P2)/P1*100%离散性=(P1最大峰值)-P1(最小峰值)/P1(最大峰值)*100%3 .接触电阻标准:a.黑粒导电:w100欧姆b.移印导电:w250欧姆c.丝印导电:w500欧姆(2)测试方法:用压力为250g压力使产品键之导电基压在间隔为0.5MM的单缝半月形镀金板上.待万用表显示值基本稳定后,读取其显示值.5.寿命a.弹性壁寿命(1)标准:>50万次(2)测试方法:在AIKOH硅胶寿命测试仪白打击速率为2-5次/秒的情况下,设置打击平台的打击接触行程为产品冲程+0.1-0.2mm,
6、经10万次打击后,弹性壁不得开裂破损,可回弹且提失w30%,当客户无要求时均按50万次进行测试.b.印刷导电寿命(1)标:>2,000,00次(2)测试方法:在AIKOH硅胶寿命测试仪白打击速率为2-5次/秒的情况下,设置打击平台的打击接触行程为产品冲程+0.1-0.2mm,经20万次打击后,导电物质不得从导电基上脱落且其接触电阻在规格内c.印刷字体寿命(1)标准:A100圈(2)测试方法:将字符单键安装于PK-3-4字体寿命仪上,使键高出0.5-1.0MM,在加上500G的压力转动摩擦字体不断开,当客户无明确要求时可采用目视厚度方法进行寿命控制d.PU寿命标准:RCA50圈测试方法:将
7、测试KEY安装于RCA摩擦仪上露了高度0.5-1mm,压力为175g情况下字体出现损伤时寿命即为PU寿命.客户无要求时,PU寿命按此标准.四.化学T能(只限录音电话机的硅胶按键)1 .加热失重率(1) 标准:a.W0.2%(经200c/4HRS加热失重后)b.W1.0%(经200c/24HRS加热失重后)(2) 测试方法:将产品放于干燥箱内30分钟,然后取出,用分析天平称取测试前产品的片重,W1将产品放入温度为200+/-5C的烘箱内烘烤4小时或24小时然后将产品拿出放入干燥箱内放置30分钟后用分析天平称取其重量W2,计算(W1-W2)/W1*100%之值.2 .抽提失重率(1)标准:w3.5%(3)测试方法:选取一些有代表性的键,剪取约0.5g样品,再将其剪成0.005-0.01g的小粒,用分析天平称其准确总重为W1,将样品放抽提器内并加入异炳醇(IPA)进行提2小时,然后取出样品再放入温度为100c的烘箱内烘烤半小时,取出后放入干燥箱内冷却半小时称其准确总重W2,计算(W1-W2)/W1*100%之值.3.低分子含量(1)标准:D3-D10w300PpM
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