配变低压无功补偿综合配电箱出

1、 质质量管理体系文件量管理体系文件 WESD751-20配变低压无功补偿综合配电箱配变低压无功补偿综合配电箱出厂出厂检验规检验规范范编写部门：电气成套设备部编写部门：电气成套设备部批批 准准 人：人： 金维宇金维宇 版版 本本 号：号： A0A0 长沙威胜能源产业技术有限公司长沙威胜能源产业技术有限公司2010 年 3 月 1 日发布 2010 年 3 月 1 日实施WESD751-20 配变低压无功补偿综合配电箱出厂检验规范 表格分类编号：QR-751-04，1.01前前 言言本文件规定了测试人员针对生产配变低压无功补偿综合配电箱出厂检验规范出厂检验流程和方法,适用于配变低压无功补偿综合配电

2、箱出厂检验。本文件涉及主要部门为电气成套设备部、品保部。本文件由颜成雄编制，邓名高、夏丽佳审核, 金维宇批准。文件密级文件密级绝密绝密机密机密秘密秘密非密非密批准人：批准人：金维宇相关部门会签：相关部门会签：审核人：审核人：邓名高、夏丽佳拟制人：拟制人：颜成雄WESD751-20 配变低压无功补偿综合配电箱出厂检验规范 表格分类编号：QR-751-04，1.02文件修订记录版次状态修订内容实施日期编制审核批准A0新建2010.3.1颜成雄邓名高夏丽佳金维宇WESD751-20 配变低压无功补偿综合配电箱出厂检验规范 表格分类编号：QR-751-04，1.03目 录1一般检查一般检查.41.1检

3、查装置的结构 .41.2检查装置电气元件及辅件的选择和安装 .41.3检查装置的母线与绝缘导线 .51.4检查装置的电气间隙和爬电距离 .61.5检查标识和铭牌 .62通电操作试验通电操作试验.73机械操作试验机械操作试验.74工频过电压保护试验工频过电压保护试验.85介电强度试验介电强度试验.95.1绝缘电阻验证 .95.2工频耐压试验 .96保护电路有效性验证保护电路有效性验证.106.1装置的裸露导电部件和保护电路之间的有效连接验证 .106.2通过试验验证保护电路的短路强度 .117防护等级试验防护等级试验.118温升试验温升试验.129放电试验放电试验.1210涌流试验涌流试验.13

4、11动态响应时间检测动态响应时间检测.1312缺相保护试验缺相保护试验.1413基本环境试验（仅适用于户外型）基本环境试验（仅适用于户外型）.1513.1环境温度性能试验.15WESD751-20 配变低压无功补偿综合配电箱出厂检验规范 表格分类编号：QR-751-04，1.041一般检查一般检查1.1检查装置的结构检查装置的结构测试方法和测试技术要求测试方法和测试技术要求 测试依据测试依据GB/T15576-2008 低压成套无功功率补偿装置GB 7251.1-2005 低压成套开关设备和控制设备名称型号规格设备编号设备状况主要的检验主要的检验设备设备实验环境实验环境温度：2226 测试要求

5、测试要求1、 装置的门应能在不小于 90 度的角度内灵活启闭2、 装置的壳体外表面，一般应喷涂无炫目反光的覆盖面，表面不得起泡、裂纹或流痕等缺陷3、 装置内母线的相序排列从装置正面观看，应符合要求试验预期目试验预期目标标需符合测试要求测试结论测试结论测试结果记录测试结果记录1.2 检查装置电气元件及辅件的选择和安装检查装置电气元件及辅件的选择和安装测试方法和测试技术要求测试方法和测试技术要求测试依据测试依据GB/T15576-2008 低压成套无功功率补偿装置GB 7251.1-2005 低压成套开关设备和控制设备名称型号规格设备编号设备状况卷尺主要的检验主要的检验设备设备实验环境实验环境温度

6、：2226 WESD751-20 配变低压无功补偿综合配电箱出厂检验规范 表格分类编号：QR-751-04，1.05测试要求测试要求1、 检查电器元件和附件是否按制造厂说明书（使用条件、飞弧距离、拆卸灭弧栅需要的距离等）进行安装2、 可接近性检查1)外部接线端子应位于地面安装成套设备基础面上方至少 0.2 米2)操作人员观察的指示仪表，安装高度应不大于设备基础面 2m3)操作器件安装高度以操作器件中心线计算，应不高于装置安装基础面的 0.2 米4)紧急操作期间操作机构的安装高度，需安装在距离装置安装基准的0.8-1.6m 范围内试验预期目试验预期目标标需符合测试要求测试结论测试结论测试结果记录

7、测试结果记录1.3 检查装置的母线与绝缘导线检查装置的母线与绝缘导线测试方法和测试技术要求测试方法和测试技术要求测试依据测试依据GB/T15576-2008 低压成套无功功率补偿装置GB 7251.1-2005 低压成套开关设备和控制设备名称型号规格设备编号设备状况卡尺主要的检验主要的检验设备设备实验环境实验环境温度：2226 测试要求测试要求1、 检查装置中所使用的指示灯和按钮的颜色是否符合 GB/44025 规定2、 检查装置中所选用导线及母线颜色是否符合 GB7947 规定3、 检查不同导线的截面积是否符合要求4、 检查装置中的连接导线是否采用铜芯多股绝缘软线，是否配用冷压接端头。试验预

8、期目试验预期目标标需符合测试要求测试结论测试结论测试结果记录测试结果记录WESD751-20 配变低压无功补偿综合配电箱出厂检验规范 表格分类编号：QR-751-04，1.061.4 检查装置的电气间隙和爬电距离检查装置的电气间隙和爬电距离测试方法和测试技术要求测试方法和测试技术要求测试依据测试依据GB/T15576-2008 低压成套无功功率补偿装置GB 7251.1-2005 低压成套开关设备和控制设备名称型号规格设备编号设备状况卡尺主要的检验主要的检验设备设备实验环境实验环境温度：2226 测试要求测试要求1、 电器元件在正常使用条件下，其电气间隙和爬电距离应符合各自的要求2、 装置内不

9、同极性的裸露带电体之间，以及它们与外壳之间的电气间隙和爬电距离应不小于规定值电气间隙10mm不同极性的裸露带电体之间不同极性的裸露带电体与地之间爬电距离14mm不同极性的裸露带电体之间不同极性的裸露带电体与地之间试验预期目试验预期目标标需符合测试要求测试结论测试结论测试结果记录测试结果记录1.5 检查标识和铭牌检查标识和铭牌测试方法和测试技术要求测试方法和测试技术要求测试依据测试依据GB/T15576-2008 低压成套无功功率补偿装置GB 7251.1-2005 低压成套开关设备和控制设备名称型号规格设备编号设备状况主要的检验主要的检验设备设备实验环境实验环境温度：2226 测试要求测试要求

10、1、 电器元件的布置应整体、端正、便于安装、接线、维修和更换，应设有与电路图一致的符号或代号；所有的紧固件都应采取防护措施，暂不接线的螺钉也应拧紧2、外接保护导体的端子应有标注，如果外部保护导体与能明显识别的带有黄绿双色的内部保护导体连接时，则不要求特别标注试验预期目试验预期目标标需符合测试要求WESD751-20 配变低压无功补偿综合配电箱出厂检验规范 表格分类编号：QR-751-04，1.07测试结论测试结论测试结果记录测试结果记录2通电操作试验通电操作试验测试方法和测试技术要求测试方法和测试技术要求测试依据测试依据GB/T15576-2008 低压成套无功功率补偿装置GB 7251.1-

11、2005 低压成套开关设备和控制设备名称型号规格设备编号设备状况万用表VC97主要的检验主要的检验设备设备实验环境实验环境温度：2226 测试要求测试要求先检查装置的内部接线，当所有接线正确无误后，在通以额定电压的 85%和110%的条件下，各操作 5 次，所有电器元件的动作符合电路图的要求，各个电器元件动作灵活试验预期目试验预期目标标需符合测试要求测试结论测试结论测试结果记录测试结果记录3机械操作试验机械操作试验测试方法和测试技术要求测试方法和测试技术要求测试依据测试依据GB/T15576-2008 低压成套无功功率补偿装置GB 7251.1-2005 低压成套开关设备和控制设备名称型号规格

12、设备编号设备状况主要的检验主要的检验设备设备实验环境实验环境温度：2226 WESD751-20 配变低压无功补偿综合配电箱出厂检验规范 表格分类编号：QR-751-04，1.08测试要求测试要求装置手动操作的部件，型式试验的操作次数应不少于 50 次，同时检查与这次动作相关的机械连锁机构的操作，如果器件、连锁机构等的工作条件未受影响，而且所要求的操作力与以前一样，则此项试验通过。试验预期目试验预期目标标需符合测试要求测试结论测试结论测试结果记录测试结果记录4工频过电压保护试验工频过电压保护试验测试方法和测试技术要求测试方法和测试技术要求测试依据测试依据GB/T15576-2008 低压成套无

13、功功率补偿装置GB 7251.1-2005 低压成套开关设备和控制设备名称型号规格设备编号设备状况示波器TPS20142主要的检验主要的检验设备设备万用表VC974实验环境实验环境温度：2226 测试要求测试要求上电，将电容器投切开关闭合，调整电源电压至设定值，过电压保护器件应将电容器支路断开。考虑安全，可以先将电容器拆除，然后再给装置接上电源试验预期目试验预期目标标需符合测试要求测试结论测试结论测试结果记录测试结果记录WESD751-20 配变低压无功补偿综合配电箱出厂检验规范 表格分类编号：QR-751-04，1.095介电强度试验介电强度试验5.1 绝缘电阻验证绝缘电阻验证测试方法和测试

14、技术要求测试方法和测试技术要求测试依据测试依据GB/T15576-2008 低压成套无功功率补偿装置GB 7251.1-2005 低压成套开关设备和控制设备名称型号规格设备编号设备状况电阻测量仪9工作正常主要的检验主要的检验设备设备绝缘摇表7工作正常实验环境实验环境温度：2226 测试要求测试要求电压至少为 500V 的绝缘测量仪器进行绝缘测量。测量的部位：1)相间2)相导体与裸露导电体部件之间没条电路的绝缘电阻至少为 1000/V试验预期目试验预期目标标需符合测试要求测试结论测试结论测试结果记录测试结果记录5.2 工频耐压试验工频耐压试验测试方法和测试技术要求测试方法和测试技术要求测试依据测

15、试依据GB/T15576-2008 低压成套无功功率补偿装置GB 7251.1-2005 低压成套开关设备和控制设备名称型号规格设备编号设备状况耐压测试仪8工作正常主要的检验主要的检验设备设备工作正常实验环境实验环境温度：2226 WESD751-20 配变低压无功补偿综合配电箱出厂检验规范 表格分类编号：QR-751-04，1.010测试要求测试要求试验电压应施加于：1)装置的所有带电部件与裸露导电部件之间2)每个极与为此试验被连接到装置相互连接的裸露导电部件上的所有其他极之间3)带电部件与绝缘材料制造或覆盖的手柄之间4)包覆在绝缘外壳的外面覆盖所有开孔和接缝的金属箔和外壳内靠近开孔和接缝的

16、相互连接的带电部件以及裸露导电部件之间（1.5 倍实验电压）试验预期目试验预期目标标需符合测试要求测试结论测试结论测试结果记录测试结果记录6保护电路有效性验证保护电路有效性验证6.1 装置的裸露导电部件和保护电路之间的有效连接验证装置的裸露导电部件和保护电路之间的有效连接验证测试方法和测试技术要求测试方法和测试技术要求测试依据测试依据GB/T15576-2008 低压成套无功功率补偿装置GB 7251.1-2005 低压成套开关设备和控制设备名称型号规格设备编号设备状况电阻测量仪9主要的检验主要的检验设备设备实验环境实验环境温度：2226 测试要求测试要求1、 检查保护接地措施是否完整，各连接

17、处的连接情况是否良好2、 验证装置的不同裸露导电部件是否有效地连接在保护电路上，进线保护导体的和相关的裸露导电部件之间的电阻不应超过 0.1 欧试验预期目试验预期目标标需符合测试要求测试结论测试结论测试结果记录测试结果记录WESD751-20 配变低压无功补偿综合配电箱出厂检验规范 表格分类编号：QR-751-04，1.0116.2 通过试验通过试验验证保护电路的短路强度保护电路的短路强度测试方法和测试技术要求测试方法和测试技术要求测试依据测试依据GB/T15576-2008 低压成套无功功率补偿装置GB 7251.1-2005 低压成套开关设备和控制设备名称型号规格设备编号设备状况主要的检验

18、主要的检验设备设备实验环境实验环境温度：2226 测试要求测试要求用螺栓在有代表性的出线端子和相关的出线保护导体之间进行短路连接，所用预期短路电流值为装置三相短路耐受试验的预期短路电流的 60%。做完实验之后，如果保护器件未受影响，仍能正常工作，则此项试验通过试验预期目试验预期目标标需符合测试要求测试结论测试结论测试结果记录测试结果记录7防护等级试验防护等级试验测试方法和测试技术要求测试方法和测试技术要求测试依据测试依据GB/T15576-2008 低压成套无功功率补偿装置GB 7251.1-2005 低压成套开关设备和控制设备名称型号规格设备编号设备状况主要的检验主要的检验设备设备实验环境实

19、验环境温度：2226 测试要求测试要求防护等级为 IP44，应防止大于等于直径为 1mm 的金属线、防止溅水进入。试验预期目试验预期目标标需符合测试要求测试结论测试结论测试结果记录测试结果记录WESD751-20 配变低压无功补偿综合配电箱出厂检验规范 表格分类编号：QR-751-04，1.0128温升试验温升试验测试方法和测试技术要求测试方法和测试技术要求测试依据测试依据GB/T15576-2008 低压成套无功功率补偿装置GB 7251.1-2005 低压成套开关设备和控制设备名称型号规格设备编号设备状况温度测试仪DT83805工作正常主要的检验主要的检验设备设备实验环境实验环境温度：22

20、26 测试要求测试要求周围空气温度在+10 度40 度范围内，应对电容器单元施加工频交流电压，在整个试验过程中，电压值应使电容器支路的电流不小于其额定电流。实验是应有足够的时间使温度上升达稳定值，一般当温度变化不超过 1k/h 时，即认为温度稳定，然后测取各部分温升。1)用于连接外部绝缘导线的端子内装元件与母线连接处，不超过 70 温升/K2)母线固定连接处，裸铜与裸铜之间，不超过 60 温升/K试验预期目试验预期目标标需符合测试要求测试结论测试结论符合测试要求测试结果记录测试结果记录9放电试验放电试验测试方法和测试技术要求测试方法和测试技术要求测试依据测试依据GB/T15576-2008 低

21、压成套无功功率补偿装置GB 7251.1-2005 低压成套开关设备和控制设备名称型号规格设备编号设备状况示波器TPS20142工作正常主要的检验主要的检验设备设备万用表VC974工作正常实验环境实验环境温度：2226 WESD751-20 配变低压无功补偿综合配电箱出厂检验规范 表格分类编号：QR-751-04，1.013测试要求测试要求保证电容器断电后，从额定电压峰值放电至 50V 的时间不大于 3 分钟试验预期目试验预期目标标需符合测试要求测试结论测试结论符合测试要求测试结果记录测试结果记录10 涌流试验涌流试验测试方法和测试技术要求测试方法和测试技术要求测试依据测试依据GB/T1557

22、6-2008 低压成套无功功率补偿装置GB 7251.1-2005 低压成套开关设备和控制设备名称型号规格设备编号设备状况万用表VC974工作正常主要的检验主要的检验设备设备示波器TPS20142工作正常实验环境实验环境温度：2226 测试要求测试要求先将其余电容器全部通以额定电压，待他们工作稳定后再投入最后一组电容器的涌流值，随机投入试验应不少于 20 次，采用半导体电子开关及复合开关投切电容器的涌流应限制在该组电容器额定电流的 5 倍以下。试验预期目试验预期目标标需符合测试要求测试结论测试结论符合测试要求测试记录测试记录11 动态响应时间检测动态响应时间检测测试方法和测试技术要求测试方法和测试技术要求测试依据测试依据GB/T15576-2008 低压成套无功功率补偿装置GB 7251.1-2005 低压成套开关设备和控制设备WESD751-20 配变低压无功补偿综合配电箱出厂检验规范 表格分类编号：QR-751-04，1.014名称型号规格设备编号设备状况万用表VC974工作正常主要的检验主要的检验设备设备示波器TPS20142工作正常实验环境实验环境温度：2226 测试要求测试要求首先将装置放在自动工作状态，给装置施加额定电压，在主电路中投入大于设定值的感性负载，检查测感性复合电压的变化，并记录该时刻为 T1，同时检测电容器投入的