晶原生产工艺流程、设备与真空泵_第1页
晶原生产工艺流程、设备与真空泵_第2页
晶原生产工艺流程、设备与真空泵_第3页
已阅读5页,还剩9页未读 继续免费阅读

下载本文档

版权说明:本文档由用户提供并上传,收益归属内容提供方,若内容存在侵权,请进行举报或认领

文档简介

1、Ltgeniliia prUiliirriAH hr riirt|iSir? miller cnns-mtrnciii Site in pbn(itynf popuhticn >71 City of populaticin 疋 TMXii ue Fab1 IS*mm£9Naiitaug GM1C F>b L MW imio £h* CnpitjlHyuii-'i!minHTiTiii-STFnh <1inmHj his-STFib2 ZSO minHTj-niT-STFnh C.'2iniinCSMCFib 1150mmCSMCFa b Z

2、200mmCSWCFiibZJ5OuiinSM1C Fnb 4 30U 血3 SMK Fiib5MMirnrn 5MK FabO BkndSGNEC Fah 1 l?(lmrn C5MC -BtEC A5 1?C mmSAOC Fnb 7 SUU m.mProMOS Fl £ 200 mtn 应厂罕XK F抚 1 3D0 mm SilSMDC Fab 11 300 ura &Nmsba SinIOS Fb 1 150 mmCluefldiiStErhuii Hegiiix F;山 1 200 mui 也) F品b 2 J-OC 眾m Cliip 30 > in inKj

3、nliAn EC Spcrth uisi 200 m:m i二GVillLZlltFUZhuhai ACSMC fab 1 150 uim BGuiafikauACSMC Fab 2 2D0 min Siiuh#n Fanadlr) 50 mm 赴3U0 mm Fafar ab 1. 1O0 minsyncf Lib 2 100 nmsncTub 3 BjcktuilGSMCFflb 200 JrimGSMCFaL 2 JQO z计HIINtCFiib 1 20 0 an inHH>T<Fib J 200 jmuxSMCFab 2 USO minASMCTab 3 100 Lktm

4、ASMCFab 4 ZOO mmBCDFsh I )11 mmBCDI ah 2 ZOO nunTSATCFab 1( 200 minHeil linghuh 1 1 网I mm魁IKFab 3minSMICFabSClSSVIHRih Hi hfitnA300mm艺司名称工艺F.iL投资豔设计产能 (片/月)产地投严时间中芯国SMIC90umFabl1000C北京04.07浴力七-总滋 Hjiujt-STgOimiFab2IStXM无踢06'10中芯佃际C北京)SMIC : Bfijuif)QOmnFal>5KA北京拉述中芯1 lid. ;北耳 SMIC : E WingSCt

5、umFab6cK;A北京拟建中芯用前l武江 SM1C : Wuhan)9*0uitsFabl竝00也武汉裡锂屮芯国何 |-. SMIC : Shaqglui'Fab£10(X»匕海和舰科技Hjejian&0ihi;iFab3NAK/A拟建陈 Intel90iuhFaWSK.-A:连皿建20*0 Him必司喀称Fab投注额讹计产瞻 (片個)产地慢产时间'41 NEC HHNEC0.13 Fsbl1550D0W02华 1LXEC HHNEC0 18-0 JSjimFablC300t>0上海去桥 SEC RHNECFab230000.般:;江在建芯【

6、1f kft) SMIC ' Shanghai:0.11 0.35lliiiFabl45000上海眩H01/09:' l.;?7 ' SMIC Sliaughjli>O.35jimF曲450001角张江02.-071: K|k:(上海】SMIC /ha呼Lsi;SWnm 0 5gm tCu)FabJB10000海张订01.-W卩芯闲阳 f 1:海)SMIC ' ShangLuii衣阳龍品片FablONS上海张工06.-Q2列带)SMIC($iuoglHi>CISF朋15000.海號江05.-1匚国标(.天律 SMK (Tanjuj?OH,弗 paFM

7、300MM-01yll-p- ( hltf;) SMIC 'Chraj-du'0.18,-O.35LLnFabl120000成却07/03力半旨外GSMC0.15 0.25 lliiiFabl32000tn a®科技H创m0 l5-"035jlmF杓132000业侗0J/05B 拽 HqbmFab220000五州业同06; Q2上側圮述AiMC0.35|.1imF希330000上海漕河锂03/10台駅电 £ IJ TSMC 祐hfltighai、0.18*0.25pmFflbl350001:海松江(MIOHynix-ST9dnm -O llgmFa

8、bl500W;苏把调Od»tM计山取成电舟GMIC0.25 0.5 nmFabl30000IT苏南述06.11進科技PmMOS20000巫庆f炮讯技C$MC0 18-0 J5jlmFab2300t>0江苏无锡上拇丿J芯BipohrBiCMOSFab215000在建 IC Spectrum0.18 O-SSjiui4.535000江苏昆frit0.1S O.SSllih199200OT力阳半Mfsc0.180.25 lliiiRAN-A江苏拟建会司客称工艺Fah/投资额设计产睫(片/月)产地投产时何中跖积体电齬SnwMOSCMOS-BiCMOS0 35 0恥Fabl30000宁波

9、04/07游托lit至匚0.6 O.S|,LniFab250000上海消河译1557上浴浙辻BCD1.4 屮11 BipabrFall400001:海沽河汪2001疔削 NEC SGNEC0.35 "-1.5|lhlEd>115000北京1995杭州上兰SJan0.6 O.S|,LmFabl2400003/01州亍 Rj LionSchottky7 ChipFabl1500003/10拼:有的科ACSMC0.25pinFabl300002001上华科技CSMC025pmFbl60000江妳尢锄1997科希-硅技TSLSFBARTEDFab I17000-04/021 rim(.

10、lthO CSMC( Beijing i0.35mFab320000北京0.-06厅止锻电i Founds MicroO.Sdpim SiGeFabl20000縄圳06/10l*y 岳电 J*ELrctronijc0 35iim CMOS-BiCMOSFabl17000西立074)1八达血用徹电子BCUSIRC-RCDFabl20000哈加淇005天评中坏半导体tjmi0.35|LuiKAN.A住建乐山菲尼克朋LPSBipolar231K'A囚川乐山华霍电了 HJSMC03511110.930000黒比江大庆崔建IC 产业可分为设备业、设计业、加工业和支撑业(包括硅晶圆、各种化学试剂、

11、气体、引线框架等)。IC加工业本身按其顺序可分为光掩膜业、制造业(包括IDM#莫式和Foundry#模式)、封装业和测试业。IC制造流程见图一吃产业琏示壹曰凰2化孚品切片IG产品企IC用户LED晶片生產流程圖:磊晶制程化學氣相沉稽)晶圆的生产工艺流程:从大的方面来讲,晶圆生产包括晶棒制造和晶片制造两大步骤,它又可细分为以下几道主要工序(其中晶棒制造只包括下面的第一道工序,其余的全部属晶片制造,所以有时又统称它们为晶柱切片后处理工序):晶棒成长-晶棒裁切与检测-外径研磨-切片-圆边-表层研 磨- 蚀刻- 去疵- 抛光- 清洗- 检验- 包装1、晶棒成长工序:它又可细分为:1)、融化(Melt D

12、own :将块状的高纯度复晶硅置于石英坩锅内,加热到其熔 点1420OC以上,使其完全融化。2)、颈部成长(Neck Growth):待硅融浆的温度稳定之后,将方向 的晶种慢慢插入其中,接着将晶种慢慢往上提升,使其直径缩小到一定尺寸(一 般约6mm左右),维持此直径并拉长100-200mm以消除晶种内的晶粒排列取向 差异。3)、晶冠成长(Crown Growth):颈部成长完成后,慢慢降低提升速度和温度, 使颈部直径逐渐加大到所需尺寸(如 5、6、8 12吋等)。4)、晶体成长(Body Growth):不断调整提升速度和融炼温度,维持固定的晶 棒直径,只到晶棒长度达到预定值。5)、尾部成长(

13、Tail Growth):当晶棒长度达到预定值后再逐渐加快提升速度 并提高融炼温度,使晶棒直径逐渐变小,以避免因热应力造成排差和滑移等现象 产生,最终使晶棒与液面完全分离。到此即得到一根完整的晶棒。2、 晶棒裁切与检测(Cutting & Inspection):将长成的晶棒去掉直径偏 小的头、尾部分,并对尺寸进行检测,以决定下步加工的工艺参数。3、外径研磨(Surface Grin di ng & Shapi ng ):由于在晶棒成长过程中, 其外径尺寸和圆度均有一定偏差,其外园柱面也凹凸不平,所以必须对外径进行 修整、研磨,使其尺寸、形状误差均小于允许偏差。4、切片(Wir

14、e Saw Slicing ):由于硅的硬度非常大,所以在本工序里, 采用环状、其内径边缘镶嵌有钻石颗粒的薄片锯片将晶棒切割成一片片薄片。5、圆边(Edge Profiling ):由于刚切下来的晶片外边缘很锋利,硅单晶 又是脆性材料,为避免边角崩裂影响晶片强度、破坏晶片表面光洁和对后工序带 来污染颗粒,必须用专用的电脑控制设备自动修整晶片边缘形状和外径尺寸。6研磨(Lappi ng):研磨的目的在于去掉切割时在晶片表面产生的锯痕和 破损,使晶片表面达到所要求的光洁度。7、蚀刻(Etching ):以化学蚀刻的方法,去掉经上几道工序加工后在晶片 表面因加工应力而产生的一层损伤层。8、去疵(Ge

15、ttering ):用喷砂法将晶片上的瑕疵与缺陷感到下半层,以利于后序加工。9、抛光(Polishing ):对晶片的边缘和表面进行抛光处理,一来进一步去掉附着在晶片上的微粒,二来获得极佳的表面平整度,以利于后面 所要讲到的晶圆处理工序加工。10、清洗(Cleaning ):将加工完成的晶片进行最后的彻底清洗、风干。11、检验(Inspection ):进行最终全面的检验以保证产品最终达到规定的 尺寸、形状、表面光洁度、平整度等技术指标。12、包装(Packing):将成品用柔性材料,分隔、包裹、装箱,准备发往 以下的芯片制造车间或出厂发往订货客户。芯片生产工艺流程:芯片的制造过程可概分为晶圆

16、处理工序( WaferFabricatio n )、晶圆针测工序(Wafer Probe )、构装工序(Packag ing)、测 试工序(Initial Test and Final Test)等几个步骤。其中晶圆处理工序和晶圆针测工序为前段(Front End)工序,而构装工序、测试工序为后段(Back End) 工序。1 、晶圆处理工序:本工序的主要工作是在晶圆上制作电路及电子元件(如 晶体管、电容、逻辑开关等),其处理程序通常与产品种类和所使用的技术有关, 但一般基本步骤是先将晶圆适当清洗, 再在其表面进行氧化及化学气相沉积, 然 后进行涂膜、曝光、显影、蚀刻、离子植入、金属溅镀等反复

17、步骤,最终在晶圆上完成数层电路及元件加工与制作。2 、晶圆针测工序:经过上道工序后,晶圆上就形成了一个个的小格,即晶 粒,一般情况下,为便于测试,提高效率,同一片晶圆上制作同一品种、规格的 产品;但也可根据需要制作几种不同品种、规格的产品。在用针测( Probe)仪 对每个晶粒检测其电气特性,并将不合格的晶粒标上记号后,将晶圆切开,分割 成一颗颗单独的晶粒,再按其电气特性分类,装入不同的托盘中,不合格的晶粒 则舍弃。3 、构装工序:就是将单个的晶粒固定在塑胶或陶瓷制的芯片基座上,并把晶粒上蚀刻出的一些引接线端与基座底部伸出的插脚连接, 以作为与外界电路板 连接之用,最后盖上塑胶盖板,用胶水封死

18、。其目的是用以保护晶粒避免受到机 械刮伤或高温破坏。到此才算制成了一块集成电路芯片(即我们在电脑里可以看 到的那些黑色或褐色,两边或四边带有许多插脚或引线的矩形小块)。4 、测试工序:芯片制造的最后一道工序为测试,其又可分为一般测试和特殊测试,前 者是将封装后的芯片置于各种环境下测试其电气特性,如消耗功率、运行速度、耐压度等。经测试后的芯片,依其电气特性划分为不同等级。而特殊测试则是根据客户特殊需求的技术 参数,从相近参数规格、品种中拿出部分芯片,做有针对性的专门测试,看是否能满足客户 的特殊需求,以决定是否须为客户设计专用芯片。经一般测试合格的产品贴上规格、型号及出厂日期等标识的标签并加以包

19、装后即可出厂。而未通过测试的芯片则视其达到的参数情况定作降级品或废品。晶圆生产工艺流程介绍:表面清洗2、初次氧化3、 CVD(Chemical Vapor deposition)法沉积一层 Si3N4 (Hot CVD 或 LPCVD)。(1) 常压 CVD (Normal Pressure CVD)(2) 低压 CVD (Low Pressure CVD)(3) 热 CVD (Hot CVD)/(thermal CVD)(4 )电浆增强 CVD (Plasma En ha need CVD)(5) MOCVD (Metal Organic CVD) & 分子磊晶成长 (Molecul

20、ar Beam Epitaxy)(6) 外延生长法(LPE)4、涂敷光刻胶(1)光刻胶的涂敷(2)预烘(pre bake)(3) 曝光(4) 显影(5) 后烘(post bake)(6) 腐蚀(etchi ng)(7) 光刻胶的去除5、此处用干法氧化法将氮化硅去除6、 离子布植将硼离子(B+3) 透过Si02膜注入衬底,形成 P型阱7、去除光刻胶,放高温炉中进行退火处理8、用热磷酸去除氮化硅层,掺杂磷 (P+5) 离子,形成N型阱9、退火处理,然后用 HF去除SiO2层10、 干法氧化法生成一层SiO2层,然后LPCVD沉积一层氮化硅11、利用光刻技术和离子刻蚀技术,保留下栅隔离层上面的氮化硅

21、层12、 湿法氧化,生长未有氮化硅保护的SiO2层,形成PN之间的隔离区13、 热磷酸去除氮化硅,然后用HF溶液去除栅隔离层位置的SiO2 ,并重新生成品质更好的SiO2薄膜,作为栅极氧化层。14、LPCVD沉积多晶硅层,然后涂敷光阻进行光刻,以及等离子蚀刻技术,栅极结构,并 氧化生成SiO2保护层。15、 表面涂敷光阻,去除 P阱区的光阻,注入砷 (As) 离子,形成NMOS的源漏极。用 同样的方法,在 N阱区,注入B离子形成PMOS的源漏极。16、利用PECVD沉积一层无掺杂氧化层,保护元件,并进行退火处理。17、沉积掺杂硼磷的氧化层18、濺镀第一层金属(1) 薄膜的沉积方法根据其用途的不

22、同而不同,厚度通常小于1um。(2) 真空蒸发法( Evaporati on Depositi on )(3) 溅镀(Sputtering Deposition )19、 光刻技术定出 VIA孔洞,沉积第二层金属,并刻蚀出连线结构。然后,用PECVD法氧 化层和氮化硅保护层。20、 光刻和离子刻蚀,定出PAD位置21、 最后进行退火处理,以保证整个Chip的完整和连线的连接性1 )低压化学气相沉积中的多晶硅干式机械真空泵的应用是广泛的,主要有以下几个方面:制备工艺中;2)半导体刻蚀工艺。 在这些生产工艺中往往用到或生成腐蚀性气体和研磨微粒;3)除半导体工艺外的某些产生微粒的工艺,不希望微粒混入

23、泵油中,而希望微粒排出 泵外,则用一定型式的干式机械真空泵可以满足要求;4 )在化学工业、医药工业、食品工业中的蒸馏、干燥、脱泡、包装等,要防止有机溶剂造成污染,适合用干式真空泵;5)用做一般无油清洁真空系统的前级泵,以防止油污染。Edwards的iGX干式泵具有能耗低的特点,能够应用于大量中小功率的设备,包 括:真空进样室、传送装置、计量、平版印刷术、PVD工艺和预清洁、RTA带材/粉末、氧化物、硅材料和金属的蚀刻以及注入源等等供应英国BOC EDWARDS德华真空泵EDWARDS爱德华EM系列 E1M5, E1M8, E1M12, E1M18, E1M30, E1M40, E1M80, E1M175, E1M275, E2M0.7, E2M1,E2M1.5, E2M2, E2M5, E2M8, E2M12, E2M18 , E2M28, E2M30, E2M40, E2M80, E2M175,E2M275, E-Lab2EDWARD爱德华 RV 系列 RV3, RV5, RV8, RV12EDWARD爱德华 EH 系列 EH250, EH500, EH1200, EH2600, EH4200EDWARD爱德华 QMB系列 QMB-250, QMB500, QMB1200英国爱德华BOC EDWARD真空泵:型号:RV3 RV5 RV8

温馨提示

  • 1. 本站所有资源如无特殊说明,都需要本地电脑安装OFFICE2007和PDF阅读器。图纸软件为CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.压缩文件请下载最新的WinRAR软件解压。
  • 2. 本站的文档不包含任何第三方提供的附件图纸等,如果需要附件,请联系上传者。文件的所有权益归上传用户所有。
  • 3. 本站RAR压缩包中若带图纸,网页内容里面会有图纸预览,若没有图纸预览就没有图纸。
  • 4. 未经权益所有人同意不得将文件中的内容挪作商业或盈利用途。
  • 5. 人人文库网仅提供信息存储空间,仅对用户上传内容的表现方式做保护处理,对用户上传分享的文档内容本身不做任何修改或编辑,并不能对任何下载内容负责。
  • 6. 下载文件中如有侵权或不适当内容,请与我们联系,我们立即纠正。
  • 7. 本站不保证下载资源的准确性、安全性和完整性, 同时也不承担用户因使用这些下载资源对自己和他人造成任何形式的伤害或损失。

评论

0/150

提交评论