CPK培训教材(共35张)

1、CPK培訓教材培訓教材SPC(Statistical Process Control)統計制程管制統計制程管制 統計過程控制統計過程控制 是應用統計的方法對過程中的各個環節進行監控與診斷是應用統計的方法對過程中的各個環節進行監控與診斷, ,從而達到從而達到改進與保證產品品質的目的改進與保證產品品質的目的 . .SPC的發展進程 n a. 1924年由美國的休哈特年由美國的休哈特(W.A.Shewhart)提出提出.n b. 第二次世界大戰后期第二次世界大戰后期, 1940年美國開始將年美國開始將SPC導入武器製導入武器製造商的製程中造商的製程中,取得了良好的效果取得了良好的效果,但世界大戰結束

2、后由于美但世界大戰結束后由于美國內商業缺乏競爭國內商業缺乏競爭,SPC在在19501980有有逐漸從美國工業消有有逐漸從美國工業消失失.n c.戰敗的日本為了復興經濟戰敗的日本為了復興經濟1950年從美國邀請休哈特的同事年從美國邀請休哈特的同事戴明戴明(W.Edwards Deming)博士到日本輔導博士到日本輔導SPC的應用的應用,經過經過30年努力年努力,取得了輝煌的成就取得了輝煌的成就.從而日本濟入世界工業強國之從而日本濟入世界工業強國之列列.n d.在日本的強大競爭之下在日本的強大競爭之下, 80年代美國在年代美國在SPC作為一種高科作為一種高科技技術來推廣技技術來推廣, SPC在美國

3、得到全面的復興在美國得到全面的復興,經過經過15年的努力年的努力到到1995年左右美國與日本在產品質量方面的差距才基本保年左右美國與日本在產品質量方面的差距才基本保持平持平. 何謂統計？何謂統計？ n統計的基本原料是？統計的基本原料是？ 有數據就是統計嗎經過計算后得什麼統計基礎統計基礎何謂統計？何謂統計？n統計統計n -收集的數據經過計算從而得到有意義的情報的活動收集的數據經過計算從而得到有意義的情報的活動 何謂有意義的情報？何謂有意義的情報？ 至少應包括：至少應包括： 集中趨勢集中趨勢 + 離中趨勢離中趨勢 + 含蓋在特定範圍內的機率含蓋在特定範圍內的機率 集中趨勢 平均值 中位数平均值概念

4、概念: 表示数据集中位置，數據算術平均數， 常用符号 表示。 N:表示樣本數 例:有统计数据2,3,4,5,6五个数据，则其平均数据为： 2+3+4+5+6 X = =4_ x5_ X = xN中位數概念概念: 把收集到的統計資料按大小順序重新排列，排在正中間的那個數就叫作中位數，常用符号 表示。 例: 试找出3、5、6、7、11五个样本数据和3、5、6、8、 9、11六个样本数据的中 位数。 解：3、5、6、7、11的中位数为6； 3、5、6、8、9、11的中位数为 x 當n爲奇數時-正中間的數只有一個， 當n爲偶數時-正中位置有兩個數，此時，爲 正中間兩個數的算術平均值。6+82= 7離中

5、趨勢 全距&极差 R 標準差 全距（極差）概念概念: 將樣本資料按大小順序排列，數列中最大值Xmax與最小資料Xmin之差 稱爲樣本的極差。常用符號 R 表示，其計算公式爲：式中 Xmax 一組數據中的最大值， Xmin 一組數據中的最小值例如：有3，6，7，8，10五個資料組成一組，則極差R=10-3=7 R=Xmax Xmin(7)(1)(3)(5)A槍手b槍手什么是什么是標準差標準差?7531107531C槍手流程之聲飛標圖解A 槍手AB 槍手ABC 槍手ABCA 槍手uxLCLUCLB 槍手uxLCLUCLC 槍手uxLCLUCL91110Sigma (标准偏差) 由此可見 S

6、igma ()即是-變異,學術名詞叫标准偏差Sigma ()表示數據的离散程度 ( X - X )i-1n1 2n依照射擊擊中環次的頻率進行排列,可得以下的圖表:X母母 體體樣本樣本( X - X ) S= S=樣本標準差樣本標準差S =S =n-11 2ni-1 因為標準差是用數據整體計算，所以當數據量大太時，因為標準差是用數據整體計算，所以當數據量大太時，就不便以操作就不便以操作,而且不符合現場需要。所以一般情況下而且不符合現場需要。所以一般情況下, 會用樣本標準差會用樣本標準差S來代替來代替S 樣本標準差樣本標準差 S樣本樣本: :從總體中隨機抽取的若干個個體的總和稱爲樣本。從總體中隨機

7、抽取的若干個個體的總和稱爲樣本。 組組成樣本的每個個體稱爲樣品。成樣本的每個個體稱爲樣品。 數據分析數據分析Cp、 Ca、 CpkA: 每件産品的尺寸與別的都不同 數據的分布B:但它們形成一個模型，若穩定，可以描述爲一個分佈 C:數據會有不同的分布型態，正態分布為 鐘型鐘型CP Capability of Precision精確度精確度： 是衡量工序能力對産品規格要求滿足程度的數量值，是衡量工序能力對産品規格要求滿足程度的數量值，記爲記爲CpCp。通常以規格範圍。通常以規格範圍T T與工序能力與工序能力 6 6* * 的比的比值來值來表示。即：表示。即： 不精密不精密精密精密精密度表示什麼 1

8、. 製程精密度，其值越高表示製程實際值間的離散程度越小，亦即表示製程穩定而變異小（離中趨勢，與有關）。 2. 當公差範圍內能納入愈多的個數，則此製程表現愈好，其本身是一種製程固有的（已決定的）特性值，代表一種潛在的能力 Cp=T/6=規格公差規格公差/6*標準差標準差規格公差規格公差=UCL-LCL=規格上線規格上線-規格下線規格下線精密度評價CaCapability of Accuracy準確度準確度: : 代表製程平均值偏離規格中心值之程度。若其值越小，表示製程平均值越接近規格中心值，亦即品質越接近規格要求之水準（集中趨勢，與有關），值越大，表示製程平均值愈偏離規格中心值，所造成的不良率將

9、愈大） _ x準確度好準確度差SL SuSL SuSu= 規格上限規格上限 SL= 規格下限規格下限 = 規格中心規格中心CaCapability of Accuracy準確度Su= 規格上限規格上限 SL= 規格下限規格下限 T= 規格允差規格允差. ，T =Su - Sl 制程平均值制程平均值-規格中心值規格中心值規格允差之半規格允差之半=X - X - T/2Ca =* 100%* 100%Ca 等級評定后處理原則等級評定后處理原則:A: 作業員依作業標準.繼續維持.B: 有必要時.盡可能改為A級C: 作業員可能看錯規格或未照作業標準操作,應加強訓練, 檢討規格及作業標準.D: 應采取緊

10、急措施.全面檢討可能影響因素.必要時停產.（实绩）（实绩）（实绩）XXXA级B级C级D级规格中心值规格上限（下限）12.5%25%50%100%等级之解说讓我們回憶下讓我們回憶下 Cp與與 Ca 的關係的關係不精密 精密準確 不準確 CPKCPK製程能力指數製程能力指數 一種用以量度某一特性的變化一種用以量度某一特性的變化趨勢及概率的統計指標趨勢及概率的統計指標. . CPK=CP*(1- Ca ) =T/6 * *【1- 2(u-X)/T 】: : 標準差標準差 u : : 規格中心規格中心公式一 公式二 Cpk=min( ， )3)(XUSLCpu3)(LSLXCpL即取兩者最小值，但不管采用那種方式，結果都是一樣的。僅給出規格上限僅給出規格上限Su 各種規格型態下的各種規格型態下的Cpkf（x）SLx- SLf（x）SUx3)(XUSLCpuCPK僅給出規格下限僅給出規格下限SL 3)(LSLXCpLCpkSu -單邊公差時：由於沒有規格中心值，故Ca =N/A，故定義Cpk=Cp Cpk制程能力指数制程能