FAE疑难问题总结

1、疑难问题总结、传统互容 1( 06、16 系列)1、06系列项目，在下边缘画线，容易画出超出AA区的折线(尤其在分辨率特别大时) 此时需修改 flowwork.c 中 void FlowWork(void) 函数中参数：3220 行：#ifdef TOUCHKEY_ENstructFrameInfoVar.ucFrameRow += 1;if (structTouchKeyStatus.ucTouchKeyFlg = 1)for(i = 0; i < structTouchKeyStatus.ucTouchKeyNum;i +) structTouchStatusVar.structPo

2、intStatusArrayOriginalstructTouchStatusVar.ucCurrentPostructTouchKeyStatus.ucTouchKeyIndexi; structTouchStatusVar.structPointStatusArrayOriginalstructTouchStatusVar.ucCurrentP2100;(修改为按键Y坐标值)3359 行：#ifdef TOUCHKEY_EN/for(i = 0; i < structAppTouchStatusVar.ucCurrentPointNum;i +)for(i = 0; i < M

3、AX_POINT;i +)if (structAppTouchStatusVar.structPointStatusArrayi.usPosY = 2100)(修改为按键 Y 坐 标值) j = structAppTouchStatusVar.structPointStatusArrayi.usPosX;structTouchKeyStatus.aucTouchKeyOutputj0;structTouchKeyStatus.aucTouchKeyOutputj1;/break; #endif /TOUCHKEY_EN2、电源干扰调试步骤；(1) 、增大CAP值；一般调试到最大，即160/80

4、 ；(2) 、选择最佳频率；可通过频谱仪选择干扰最小的频率；(3) 、 ID 滤针算法；针对偶尔出现的干扰跳点问题，改善较明显；( 4 ) 、前级针滤波算法；可很大程度上改善严重跳点问题，但会影响整体体验；3、ESD跳点调试步骤；(1 )、打开ESD宏定义；(2)、滤针；参见以下代码；DateProcessPost.c 中 PointFilterProcess 函数：230 行：void PointFilterProcess(STRUCTAPPTOUCHSTATUS *pstructTouchStatus) if (pstructTouchStatus ->ucLastPointNum

5、> 0)return; if (pstructTouchStatus->ucCurrentPointNum > pstructTouchStatus ->ucLastPointNum)if (G_ucTouchedCnter < 2)(滤除的针数)G_ucTouchedCnter +;pstructTouchStatus ->ucCurrentPointNum = pstructTouchStatus ->ucLastPointNum; elseG_ucTouchedCnter = 0; if (pstructTouchStatus ->ucCu

6、rrentPointNum = 0)pstructTouchStatus - >bTouchStatus = 0; 4、按键几率性无功能调试；(1 )、TP整体rowdate值调试至相差不超过300且TP需校准并保存；( 2 )、打开按键宏定义，未使用的通道需挖空处理；(3)、关闭防水宏；5、手指分离算法；详见说明文档( PeakMergeProcess)；6、电源干扰(表现为快速点击时乱跳点)修改代码如下：void PointFilterProcess(STRUCTAPPTOUCHSTATUS *pstructTouchStatus)if (pstructTouchStatus -&g

7、t;ucLastPointNum > 0)return; if (pstructTouchStatus ->ucCurrentPointNum > pstructTouchStatus ->ucLastPointNum)/if (G_ucTouchedCnter <= pstructTouchStatus ->ucFilterPointCnt)if (G_ucTouchedCnter < 2)/pstructTouchStatus ->ucFilterPointCnt) /G_ucTouchedCnter +;G_ucTouchedCnter =

8、 G_ucTouchedCnter -1; pstructTouchStatus->ucCurrentPointNum = pstructTouchStatus ->ucLastPointNum;7、大尺寸整机( 5506、 5606)，在应用中出现边缘区域问题处理； 最新 FW“config.h ”中：#define TRACE_STABLE_OFFSET 210/180/a bit smaller than biggesttouch diff-data/differ 的一致性的差值不要超过的阈值、传统互容 2( 02 系列)、单层多点( i 系列)1 、 5436I 划线飞点处

9、理；修改AppTouchKeyProcess.c函数，可之间改善此问题，参考代码见附件；四、自容（ 6x06 系列）1、TP视窗与按键中间黑色丝印上报按键坐标问题调试;按键上方的黑色区域一般客户要求触摸无功能，但在实际调试时，因为手指触摸面 积较大，会让按键通道产生较大 differ 变化量从而上报按键坐标；如果将按键的触发阀 值调高可改善此问题，但会使按键悬空时无功能，所以一般解决此问题时，我们加入 AA 区的最后两个通道做判断，即当按键通道的 differ 的变化量超出阀值，但 AA 区的最 后两个通道 differ 大于一定数值时，我们认为触摸在黑色丝印区域，此时不上报坐标； 参考代码如

10、下： if(pstructTraceVar->sCapDiffTP_CHANNEL_NUM-1+pstructTraceVar->sCapDiffTP_CHA NNEL_NUM-2 <VIRTUAL_KEY_THRESHOLD_1)if(pstructTraceVar ->sCapDiffTP_CHANNEL_NUM> VIRTUAL_KEY_THRESHOLD)上报第一个按键坐标； if(pstructTraceVar ->sCapDiffTP_CHANNEL_NUM+1> VIRTUAL_KEY_THRESHOLD)上报第二个按键坐标； if(ps

11、tructTraceVar ->sCapDiffTP_CHANNEL_NUM+2> VIRTUAL_KEY_THRESHOLD)上报第三个按键坐标； 有的项目在调试时遇到 AA 区 Y 方向坐标无法调到最大时，即开了拉边函数依然与 最大像素差 10 个像素左右，则有可能是因为按键范围过大造成，同样可以采用此方法 限制按键范围，改善此问题；2、ESD跳点问题调试；(1) 、打开ESD宏定义；( 2)、调试大面积宏定义；3、同侧画线不同甩尾效果调试；此时需针对不同的甩尾效果，采用不同的甩尾修正参数；参考代码如下： Margin_process.c 中 BorderShiftManual

12、Handle 函数；以 4 列竖三角分辨率为 800 的项目为例ShiftVal = (cLeftManualCoeff(MARGIN_LX1 - Xnow) - 1)/ 定义修正甩尾的数组if (Ynew < =20) / 当 Y 坐标小于 20 时，不修正ShiftVal = 0else if ( (Ynew > 380)&&(Ynew <420) ) / 坐标在 380420 之间，按数组参数修正ShiftVal = ShiftVal; else / 其余情况，按数组的 4/5 来进行修正ShiftVal = ShiftVal * 4 /5; Ynew

13、+= ShiftVal;4、6x06 系列 3 个通道实现 3 个按键划线飞线问题处理办法；6x06系列的IC,在用3个通道实现3个按键的项目中，当从AA区往处划线时，当手指划到按键上会触发功能造成折线， 针对此问题需修改 flowwork.c 中 ResetGlobleVars 函数： static void ResetGlobleVars(void)if (0 = G_structTouchStatusVar.ucCurrentPointNum)#if (0 < TP_KEY_NUM)if(G_structTraceVar.sCapDiffTP_CHANNEL_NUM+G_struc

14、tTraceVar.sC apDiffTP_CHAN NEL_NUM + 1)< VIRTUAL_KEY_THRESHOLD)(在此处多添加一个通道即：G_structTraceVar.sCapDiffTP_CHANNEL_NUM + 2)#en difG_bVirln validClearO nee = 1;G_bVirKeyDisable = 0;5、增强抗LCD Noise处理办法；在sys_config.h中，修改如下：/* AFE Scan data mode* 0: Raw data (Only for testi ng, do NOT use for release cod

15、e)* 1: Filter 3 data* 2: Filter 5 data* 3: ACC data*/#defi ne AFE_DATA_MODE2#if (1 = AFE_DATA_MODE) | (2 = AFE_DATA_MODE)/* AFE filter (Filter 3 or Filter 5) scan mode threshold* Ra nge 01023* The smaller the value is, the more efficient for the filter function*/#defi ne AFE_FILTER_MODE_THRES 5五、驱动1

16、、AP硏级的注意事项；APK 能需根据"4_Focaltech An droid 平台 Driver 介绍 ” 增加驱动后， 打开FTS_CTL_IIC，SYSFS_DEBU这两个宏。驱动中打开 FTS_CTL_IIC宏后，在/dev 目录下创建一个ft_rw_iic_drv 的结点，通过adb shell chmod 777 /dev/ft_rw_iic_drv打开读写权限。如果是高通，三星的平台，可以不加此驱动，在编译系统时选中i2c in terface ，这样在/dev目录就会有i2c-*的读写结点。用 adb shell chmod 777 /dev/i2c-* 打 开读写

17、权限来使用工具。APK1通过ft_rw_iic_drv节点与芯片通信，如无节点或节点无读写权限都会导致AP硏级失败。APK不能升级的情况有：(1) 、驱动只添加t5x0x_ts.c 、ft5x0x_ts.h 两个文件，完成电容屏的基 本功能，无AP硏级功能，需添加其他四个文件。(2) 、未打开 FTS_CTL_IIC， SYSFS_DEBU这两个宏。(3) 、ft_rw_iic_drv节点未打开读写权限。(4) 、系统IIC驱动有问题导致升级失败，通过打印信息可以看到IIC读 写出错的信息，修改系统软件。注1:以上的APK是指敦泰提供的APK注2:有部分APK!客户自己开发的，使用的I升级模式

18、，不需通过节点ft_rw_iic_drv 与芯片通信，驱动可不加 FTS_CTL_IIC, SYSFS_DEBU宏。案例：华兴达40107，鼎智开 发了一个APK升级工具，该工具使用I升级模式，将I文件打包到APK中，运行APK就自动 升级，需升级程序时需将新的 I 文件交给鼎智的工程师从新生成 APK。6x06 系列同时需打开 sys.config 中的 FLASH_UPGRADE_WRITE_E宏；2、I 文件升级失败常见原因；I升级功能出错最多是因为无法进入升级模式，即第三步读ID的值为0。可对update函数进行如下修改尝试。for (i=0; i<50 i+) / 增加循环进入

19、升级模式/*Step 1:Reset CTPM */Reset();/ 软复位修改为硬件复位，需检测复位脚是否有动作。delay_qt_ms(10+i);时间为1060ms,复位到进入升级模式的延时。 /*Step 2:Enter upgrade mode */auc_i2c_write_buf0 = 0x55;auc_i2c_write_buf1 = 0xaa;doi +;i_ret = ft5x02_i2c_Write(client, auc_i2c_write_buf, 2); delay_qt_ms(5);while(i < 5 );/去掉i_ret<0的条件，该条件表示通

20、信失败，去掉是因为有IIC通信成-ID* *功后/没进入升级模式的情况。/*Step 3:check READ delay_qt_ms(1);ft5x02_upgrade_send_head(client);auc_i2c_write_buf0 = 0x90;auc_i2c_write_buf1 = auc_i2c_write_buf2 = auc_i2c_write_buf3 = 0x00;ft5x02_i2c_Read(client, auc_i2c_write_buf, 4, reg_val, 2);if (reg_val0 = 0x79&& reg_val1 = 0x0

21、6)pr_info("FTS Step 3: CTPM ID,ID1 = 0x%x,ID2 = 0x%xn",reg_val0,reg_val1);break; elsedev_err(&client ->dev,"FTSStep3:CTPMID,ID1=0x%x,ID2= %xn",reg_val0,reg_val1);3、TP 初始化后无法正常操作问题；(1) 、RK平台初始化reset后需delay 200ms才能进行IIC操作；(2) 、全智平台初始化 reset后需delay 100ms才能进行IIC操作；4、COB方案校准验证；

22、int fts_ctpm_auto_clb(struct i2c_client *client) unsigned char uc_temp = 0x00;unsigned char i = 0;unsigned char j = 0;/*start auto CLB */ msleep(200);ft5x0x_write_reg(client, 0, FTS_FACTORYMODE_VALUE); 添加读 0 寄存器是否 0x40 看是否进入工厂模式，/*make sure already enter factory mode */ msleep(100);/*write command t

23、o start calibration */ft5x0x_write_reg(client, 2, 0x4);msleep(300);for (i = 0; i < 100; i+) ft5x0x_read_reg(client, 0, &uc_temp);/*return to normal mode, calibration finish */if (0x0 = (uc_temp & 0x70) >> 4)j = 1;break;查看 j 是否为 1 ，看是否返回 normal mode ，为 0 时 msleep(300); 改长 /msleep(200

24、);/*calibration OK */msleep(300);ft5x0x_write_reg(client, 0, FTS_FACTORYMODE_VALUE); /*goto factory mode for store */msleep(100); /*make sure already enter factory mode */ft5x0x_write_reg(client, 2, 0x5); /*store CLB result */msleep(300);ft5x0x_write_reg(client, 0, FTS_WORKMODE_VALUE); /*return to n

25、ormal mode */ msleep(300);/*store CLB result OK */ return 0;六、硬件设计1 、 竖三角设计时避免回勾及甩尾问题需特别注意事项；( 1)、坚持宽窄边比例 >5:1；(2)、按键ITO走线设计；两个按键：加长左边(右边)连接按键部分ITO至右边(左边)按键处；三个按键：a、两条通道形成三个按键，将形成中间按键的两条通道尽量靠近 AA区走线；b、三个通道形成三个按键， 将形成中间按键的通道延长至左边（右边）按键处。四个按键：同三个按键处理方式处理。（3）、将按键和AA区中间的悬浮块多切割几次。2、自容量产时提高良率需注意事项；（1）、

26、外围GND线与按键通道走线的距离需至少大于 0.1mm,建议越大越好（尤 其激光工艺），如距离小于标准值时，当 bongding区的ACF因为压合原因产生溢胶 时，容易将这两条通断短路，造成按键不良；七、量产问题1、自容系列产线常见不良分析；因为自容的图形为三角形设计，确认坐标的方法即为计算一组相对三角形的电容比例，所以比较好判断不良现象；判断时我们一般延着垂直与三角形的方向画直线（即TP垂直放置，横三角画竖线，竖三角画横线，4列的图形需在上下半屏分别作判断），画线的位置取1/4或3/4处；如果画出的线往三角形的外侧弯，则表明TP存在通道开路或超阻（此时可降低扫描频率，如果现象改善，则为超阻，反之为开路，开路的通道为与画线弯折反方向 的通道）；如果画出的线往三角形的内侧弯，则表明TP存在短路；如果画线直接断开，则表明一对通道同时开路；2、传统互容TX、RX微短路测试方法；采用3.3以上版本量产工具，同时需增加以下几项，参数设置范围需采样：Ch c-nal Tab*: L>【祖価屮卜就i二|Bwa： 珂耳刁Jalu T»Ti：5hb0 山峠 Tmi,Tea1 : Tm*.S-Cibti l£f-ui Mi &. i,abcjLhabfi