三维表面形貌仪产品信息

1、JR25三维表面形貌仪产品简介：JR25型三维表面形貌仪是一款便携式表面形貌测量仪，米用国际领先的白光共聚焦技术，可实现对材料表面从纳米到毫米量级的粗糙度测试，具有测量精度高，速度快，重复性好的优点，该仪器的测量探头可以任意旋转，适合精密测量 不可移动样品表面形貌，同时适合进行野外测试。产品特性：1, 采用白光共聚焦色差技术，可获得纳米级的分辨率2, 测量具有非破坏性，测量速度快，精确度高3, 测量范围广，可测透明、金属材料，半透明、高漫反射，低反射率、抛光、粗糙材料(金属、玻璃、木头、合成材料、光学材料、塑料、涂层、涂料、漆、纸、皮肤、头发、牙齿)；4, 尤其适合测量高坡度 高曲折度的材料表

2、面5, 不受样品反射率的影响6, 不受环境光的影响7, 测量简单，样品无需特殊处理8, Z方向，测量范围大：为27mm主要技术参数：1，扫描范围：25 X 25 (mm )2, 扫描步长：0.1卩m3，扫描速度：20mm/s4, Z方向测量范围：27mm4, Z方向测量分辨率：3nm产品应用：MEMS、半导体材料、太阳能电池、医疗工程、制药、生物材料，光学元件、陶 瓷和先进材料的研发联系人：刘蕊010-5320340313933947304网站：www.mnt-PS50型三维表面形貌仪产品简介：PS50型三维表面形貌仪是一款科研版的三维表面形貌测量设备，采用国际领先的白光共聚焦技术，可实现对材

3、料表面从纳米到毫米量级的粗糙度测试，具有测量精度高，速度快，重复性好的优点，该仪器性价比高，可用于取代传统的探 针式表面形貌仪与干涉式表面形貌仪。产品特性：1, 采用白光共聚焦色差技术，可获得纳米级的分辨率2, 测量具有非破坏性，测量速度快，精确度高3, 测量范围广，可测透明、金属材料，半透明、高漫反射，低反射率、抛光、粗糙材料（金属、玻璃、木头、合成材料、光学材料、塑料、涂层、涂料、漆、纸、皮肤、头发、牙齿）；4, 尤其适合测量高坡度 高曲折度的材料表面5, 不受样品反射率的影响6, 不受环境光的影响7, 测量简单，样品无需特殊处理8, Z方向测量范围大：为27mm 主要技术参数：1，扫描范

4、围：50 X 50 (mm )2, 扫描步长：0.1卩m3，扫描速度：20mm/s4，Z方向测量范围：27mm4， Z方向测量分辨率：2nm产品应用：MEMS、半导体材料、太阳能电池、医疗工程、制药、生物材料，光学元件、陶 瓷和先进材料的研发联系人：刘蕊010-5320340313933947304网站：www.mnt-ST400型三维表面形貌仪产品简介：ST400型三维表面形貌仪是一款多功能的三维形貌仪，采用国际领先的白光共 聚焦技术，可实现对材料表面从纳米到毫米量级的粗糙度测试，具有测量精度高,速度快，重复性好的优点，该仪器可用于测量大尺寸样品，并具有多种选项，包 含360°旋转

5、工作台，原子力显微镜模块，光学显微镜，特征区域定位等多种功 能模块。产品特性：1, 采用白光共聚焦色差技术，可获得纳米级的分辨率2, 测量具有非破坏性，测量速度快，精确度高漆、3, 测量范围广，可测透明、金属材料，半透明、高漫反射，低反射率、抛光、 粗糙材料（金属、玻璃、木头、合成材料、光学材料、塑料、涂层、涂料、 纸、皮肤、头发、牙齿）；4, 尤其适合测量高坡度 高曲折度的材料表面5, 不受样品反射率的影响6, 不受环境光的影响7, 测量简单，样品无需特殊处理8, Z方向，测量范围大：为27mm主要技术参数：1，扫描范围：150mm x 150mm（最大可选 600mm*600mm）2,扫描

6、步长：0.1卩m3，扫描速度：20mm/s4, Z方向测量范围：27mm4, Z方向测量分辨率：2nm产品应用：MEMS、半导体材料、太阳能电池、医疗工程、制药、生物材料，光学元件、 瓷和先进材料的研发联系人：刘蕊010-5320340313933947304网站：www.mnt-HS1000型三维表面形貌仪产品简介：HS1000型三维表面形貌仪是一款高速的三维形貌仪，最高扫描速度可达1m/s,采用国际领先的白光共聚焦技术，可实现对材料表面从纳米到毫米量级的粗糙度 测试，具有测量精度高，速度快，重复性好的优点，该仪器可用于测量大尺寸样 品或质检现场使用。产品特性：1, 采用白光共聚焦色差技术，

7、可获得纳米级的分辨率2, 测量具有非破坏性，测量速度快，精确度高3, 测量范围广，可测透明、金属材料，半透明、高漫反射，低反射率、抛光、粗糙材料（金属、玻璃、木头、合成材料、光学材料、塑料、涂层、涂料、漆、 纸、皮肤、头发、牙齿）；4, 尤其适合测量高坡度 高曲折度的材料表面5, 不受样品反射率的影响6, 不受环境光的影响7, 测量简单，样品无需特殊处理8, Z方向，测量范围大：为27mm主要技术参数：1，扫描范围：400mm x 600mm（最大可选 600mm*600mm）2,扫描步长：5nm3，扫描速度：1m/s4, Z方向测量范围：27mm4, Z方向测量分辨率：2nm产品应用：MEM

8、S、半导体材料、太阳能电池、医疗工程、制药、生物材料，光学元件、陶 瓷和先进材料的研发联系人：刘蕊010-5320340313933947304网站：www.mnt-粗糙度测量仪P3产品简介:P3型全自动粗糙度测量仪是一款非接触式粗糙度测量仪，采用国际领先的白光共聚焦技术，可实现对材料表面从纳米到毫米量级的粗糙度测试，符合国际标准ISO25178,用于取代传统的接触式探针型粗糙度测量仪。测量范围广，可测透明、金属材料，半透明、高漫反射，低反射率、抛光、粗糙材料（金属、玻璃、 木头、合成材料、光学材料、塑料、涂层、涂料、漆、纸、皮肤、头发、牙齿等 任意样品，不收材料形状及颜色的限制 产品特性：1. 测量具有非破坏性：采用白光共聚焦技术，可获得纳米级分辨率2. 测量范围大：15mM 15mm无需进行图像拼接3. 可测样品的最大坡度：87°C4. 测量范围广：可测平面、曲面、球面、透明、半透明、高曲折度、抛光、粗 糙样品5. 不受环境光的影响6. 不受样品反射率与形状的影响7. 操作简单：样品无需特殊处理优于传统的探针技术与干涉技术形貌仪 主要技术参数:1，扫描范围：1 x 1，2X 2，3X 3，4X 4，5X 5，10X 10，15X 15 （mm2，扫描步长：1X 1，2X 2，5X 5（卩 m3，Z方向测量范围：300卩m4，