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文档简介
1、光电检测技术绪论第1节光电技术一、概述a) 主要研究光与电之间的转换b) 接收器件 /发射器件 /光电探测器件二、光电技术的发展a) 半导体集成电路b) 光纤传感器和光波导第2节光电技术的特点及应用一、光电系统a) 光电能量系统、光电信息系统b) 光电系统的主要类型(1)光 -电型(应用最广泛)(2)光 -电-光型(3)电 -光-电型(4)光电混合型(5)电光混合型c) 光电系统基本模型i. 光电系统通常分为主动式和被动式两类。ii. 光接收机可以分为两种基本类型, 即功率探测接收机和外差接收机。二、光电检测所谓光电检测,指的是对光信号的调制变换和接收解调两个主要方面。光电检测系统中信息必须经
2、过两个基本的变换环节,调制与解调。光电检测系统分类(1)测量检查型(2)控制跟踪型(3)图像分析型三、光电器件凡能探测某种电磁辐射(自射线到红外线)的各种电子器件,都应归入光电探测器件。主要是固体的光电效应, 就是固体中决定其电学性质的电子系统直接吸收入射光能,使固体的电学性质发生改变的现象。例如:光电子发射效应、光电导效应、光生伏特效应等。1、光电器件具有选择性的吸收2、光电器件器件通常具有灵敏度高,惰性小, 响应速度快四、光电技术的应用和发展(1)有广泛的适用范围(2)有较高的信号检测能力(3)有较强的信息运算能力第一章光电器件的物理基础1-1 光的概念与度量学中的参量一、电磁波谱与光子能
3、量公式二、辐射量与光度量三、辐射量与光度量的换算1、 光谱量与积分量2、 光谱光视效能 K( )与光谱光视效率V( )四、朗伯余弦定律1-2半导体基础知识一、半导体的能带理论1、原子能级与晶体能带2、本征半导体( I 型)3、杂质半导体二、热平衡状态下的载流子三、光辐射与半导体的相互作用1、本征吸收2、非本征吸收 (杂质吸收、自由载流子吸收、激子吸收和晶格吸收)四、非平衡状态下的载流子1、产生与复合2、复合与非平衡载流子寿命五、载流子的输运1-3 光电转换的物理基础光电效应一、光电效应辐射电子运动状态发生变化光电导效应、光生伏特效应、光电子发射二、光电效应分类a) 外光电效应b) 内光电效应
4、(光电导效应、光生伏特效应、丹倍效应和光磁电效应 ) 三、光电效应的物理现象(一)光电导效应a) 光电导率b) 本征半导体的光电导效应c) 杂质半导体的光电导效应d) 光电导体的灵敏度e) 光电导的弛豫f) 光电导的光谱分布(二)光生伏特效应 PN 结的光生伏特效应 异质结的光生伏特效应 肖特基结的光生伏特效应4、丹倍效应5、光磁电效应(三)光电发射效应1、光电发射原理2、光电发射的基本定律3、光电发射长波限上述探测器件所依据的物理效应的共同特性是(1)光电效应的有、无只与入射光的波长、频率有关,与入射光的强度无关;光电效应的产生,唯一的取决于入射光的波长、频率以及器件的能级结构(2)光电效应
5、的强弱既与入射光的强度有关,也与入射光的波长、频率有关。 入射光的强弱反映入射光子数的多少;入射光的波长、频率不同,器件对其的响应度不同。1-4 光电器件的分类第二章光电探测器件2-1 光电器件的性能参数一、光电器件的探测灵敏度(响应度)二、响应时间和频率响应(1)脉冲响应特性法(2)频率响应特性三、噪声等效功率( NEP) (最小可测功率 )四、探测度 D 与比探测度 D*五、量子效率2-2真空光电管和光电倍增管(PMT )一、真空光电管二、光电倍增管 (Photomultiplier Tube)(一)光电倍增管工作原理及组成a) 光电倍增管工作原理b) 光电倍增管工作过程c) 光电倍增管组
6、成(二)光电倍增管具体结构a) 光电阴极 (Photo cathode)b) 电子光学系统c) 倍增系统( Dynodes )d) 阳极(三)光电倍增管分类(四)光电倍增管的主要参量与特性1、灵敏度 (阴极灵敏度 /阳极灵敏度 )2、电流放大倍数(增益)3、光电特性4、伏安特性5、暗电流 ID6、噪声与噪声等效功率(五)微变等效电路(六)光电倍增管的应用电路1、供电电路2、光电倍增管的接地方式3、信号输出(1)负载电阻输出(2)运放输出4、光电倍增管使用注意要点23 典型光电导器件光敏电阻一、光敏电阻原理与结构1、原理2、结构3、典型光敏电阻二、光敏电阻的基本特性1 . 光电导灵敏度 Sg2、
7、光电特性3、伏安特性4、温度特性5、时间响应6、噪声特性7、光谱响应8、暗电阻和暗电流三、光敏电阻的特点四、光敏电阻的电路1、基本偏置电路2、恒流电路3、恒压电路五、光敏电阻的应用2-4光生伏特器件一、光电池(一)结构原理(二)光电池的分类(三)符号及电路(四)特性 (光电特性 /伏安特性 /输出功率 /转换效率 /光谱特性 /温度特性 /)(五)应用 (1、光电池用作太阳能电池 2、光电池用作检测元件 3 、光电池零伏偏置电路 )(六)硅光电池组合件二、光电二极管1、与普通二极管相比 :2、与光电池相比:(一)基本结构与原理(二)性能参数 (伏安特性 /光照特性 /光谱特性 /暗电流与噪声
8、/频率特性 /等效电路 )(三)其他类型的光电二极管(肖特基结光电二极管 /扩散层 PN 结光电二极管 /耗尽层型 PN 结光电二极管 /PIN 型( 2DUL 型)光电二极管 /雪崩型光电二极管 )(四)光电二极管的应用三、光电三极管1、伏安特性2、光电三极管的输出电路与微变等效电路四、特殊形式的结型光电器件(一)色敏光生伏特器件(二)线阵列光生伏特器件组合件(三)楔环探测器(四)光电位置敏感器件( PSD)( PSD 器件的工作原理、一维 PSD、二维PSD、PSD 的主要特性)第四章光电成像器件与应用第1节光电成像原理1、摄像机的基本原理2、图像的分割与扫描3、电视制式4、PAL 彩色电
9、视制式5、扫描方式第 2节摄像管1、氧化铅摄像管的结构2、摄像管的性能指标a) 光电转换特性b) 光谱响应特性c) 时间响应特性d) 输出信噪比e) 动态范围第3节电荷耦合器件( CCD)1、电荷存储2、电荷耦合3、CCD 电极的结构4、电荷的注入和检测(光注入和电注入)5、CCD 的特性参数6、线阵 CCD 摄像器件7、面阵 CCD 图像传感器8、应用实例9、应用技术(1)视频信号的二值化处理(2)视频信号的二值化数据采集与接口(3)视频信号的量化处理与A /D 数据采集(4)照明系统(5)远心光路第 4节CMOS 图像传感器1、CMOS 成像器件组成2、CMOS 成像器件的像敏单元结构3、
10、典型 CMOS 图像传感器( SXGA 型彩色面阵 CMOS 成像器件)a) 原理结构b) 特性第5节 其他成像器件像管包括变像器和图像增强器一、像增强器 /变像器a) 工作原理及典型结构b) 性能参数c) 像增强器的级联二、夜视技术与红外热像仪1、微光夜视仪, 2、微光电视, 3、热成像夜视仪第五章发光器件与光耦器件第一节半导体发光二极管( LED )1、发光二极管的发光机理(1)PN 结注入发光( 2)异质结注入发光2、基本结构(1)面发光二极管( 2)边发光二极管3、LED 的特性参数(1)发光光谱和发光效率(2)时间特性与温度特性(3)发光亮度与电流的关系(4)最大工作电流(5)伏安特
11、性(6)寿命(7)响应时间4、驱动电路5、发光二极管的应用(1)数字、文字及图像显示(2)指示、照明( 3)光源第二节半导体激光器( laser diode, LD)一、 LD 的发光原理1、受激辐射 2、粒子数反转 3、谐振腔二、半导体激光器的结构三、主要特性1、注入电流和输出功率的关系2、半导体激光的光谱线宽3、半导体激光的纵模4、半导体激光器的远场特性及偏振态5、半导体激光的调制特性6、温度对半导体激光器的影响第三节光电耦合器件一、光电耦合器件的结构与电路符号二、光电耦合器的特点(1)具有电隔离的功能( 2)信号传输方式( 3)具有抗干扰和噪声的能力(4)响应速度快( 5)实用性强( 6
12、)既具有耦合特性又具有隔离特性三、光电耦合器件的特性参数(1)电流传输比 (2)输入输出间的寄生电容( 3)最高工作频率 fm(4)脉冲上升时间 tr 和下降时间 tf( 5)输入与输出间隔离电压 BV CFO( 6)输入与输出间的绝缘电阻 RFC四、光电耦合器件的应用举例(1)电平转换( 2)逻辑门电路( 3)隔离( 4)可控硅控制电路中的应用第六章光电检测电路的设计第 1节 光电检测电路的静态设计一、光电检测器件的选择二、光电检测电路的设计任务1、恒流源型光电器件输入电路的静态计算(1)图解计算法( 2)解析计算法2、光伏型光电器件输入电路的静态计算3、可变电阻型光电器件输入电路的静态计算
13、三、检测器件和放大电路的连接1、电流放大型 2、电压放大型 3、阻抗变换型第2节 光电检测电路的动态设计一、输入电路动态工作状态的计算1、光电二极管交流检测电路2、光电池交流检测电路二、光电检测电路的频率特性第3节光电系统的噪声1、热噪声2、散粒噪声3、产生复合噪声4、1/f 噪声5、温度噪声第 7 章非相干光光电信号变换方法第1节时变光信号的直接测量一、光通量的幅度测量(一)单通道测量系统(二)双通道测量系统(差动法,补偿法,比较法和交替法)二、光通量的频率测量(一)波数测量:干涉条纹计数、莫尔条纹计数(二)频率测量:测量物体的速度、用于转数的测量三、光通量的相位和时间测量(一)相位测量:光
14、电光波的测距(二)时间测量:激光测距第 2节时变光信号的调制和解调一、调制的基本原理二、光学调制的分类三、典型的调制方法1、连续波调制: 1)光信号的振幅调制、2)光信号的频率调制2、脉冲调制:四、调制信号的解调1、直线律检波和调幅信号的解调2、相敏检波和调相信号的解调3、相敏检波原理第 3 节简单光学目标的空间定位一、几何中心检测法1、单通道像空间分析器(以静态光电显微镜为例)2、扫描调制式像分析器与静态光电显微镜3、差动式像分析器与动态光电显微镜4、极值检测:激光lamb 凹陷稳频二、亮度中心检测法第 4 节几何参量的光电检测一、激光扫描技术二、轴向位移信息的光电变换1、光焦点法 2、非点
15、像差法(像散法)3、像点轴外偏移的像偏移法第八章相干光光电信号变换方法第 1节 相干光信息及相干探测一、光学干涉和相干光信息分类1、光学干涉和干涉测量2、干涉测量中的调制和解调、迈克尔逊干涉仪(多普勒效应)3、相干光信息分类二、非相干探测和相干探测1、非相干探测的原理和特性2、外差探测的原理和特点( ( 1)外差探测原理,(2)突出的特点( 3)匹配条件( 4)外差信号的检测 )第 2节相干信号的相位调制与检测一、单频光的相位调制(光学干涉仪)二、干涉条纹的检测方法1、条纹光强检测法2、干涉条纹比较法3、干涉条纹跟踪法三、二次相位调制与干涉图分析1、条纹扫描干涉法2、正弦相位时间调制干涉法第3节相干光的频率调制和检测( 1)参量调频法( 2)固定频移法( 3)直接调频法一、运动参量的频率调制和零差检测1、光学多普勒效应和运动差频检测(1)光学多普勒频移分析(2)差动 Doppler 技术2、激光 Doppler 测速原理3、 Sagnac效应和转动差频二、固定频移的频率调制和外差检测1、
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