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文档简介
1、上上控控制界限制界限( (UCL)UCL)中心中心线线(CL)下控制界限下控制界限( (LCL)LCL)控制图控制图控制图分类-按用途1.1.分分析用控制析用控制图:图:根据样本数据计算出控制图的中心线和上、下控制界限,画出控制图,以便分析和判断过程是根据样本数据计算出控制图的中心线和上、下控制界限,画出控制图,以便分析和判断过程是否否处于于稳定状态。如果分析结果显示过程有异常波动时,首先找出原因,采取措施,然后重新处于于稳定状态。如果分析结果显示过程有异常波动时,首先找出原因,采取措施,然后重新抽抽取样本、测定数据、重新计算控制图界限进行分析。取样本、测定数据、重新计算控制图界限进行分析。2
2、.2.控制用控制控制用控制图:图:经过上述分析证实过程稳定并能满足质量要求,此时的控制图可以用于现场对日常的过程质量经过上述分析证实过程稳定并能满足质量要求,此时的控制图可以用于现场对日常的过程质量进进行控制。行控制。控制图分类-按数据类型 计量型控制图计量型控制图单单值与移值与移动极动极差控制差控制图(图(I-MRI-MR)。【)。【 样本量n=1】均值极均值极差控制差控制图(图(XBar-RXBar-R图);图); 【样本量2 n 9】均值均值与与标标准差控制准差控制图(图(XBar-SXBar-S图);图);【样本量n 10】中位中位数数与与极极差控制差控制图(图(X-RX-R图);图)
3、; 计数计数值控制值控制图图不良率控制不良率控制图(图(P P图);图);不良不良数数控制控制图(图(NPNP图);图);缺缺点数点数控制控制图(图(C C图);图);单单位缺位缺点数点数控制控制图(图(U U图)。图)。 控制图的选择控制图的选择控制图应用步骤1. 收集数据收集数据2. 建立控制限建立控制限3. 统计上受不统计上受不受控的解释受控的解释4. 为了持续控为了持续控制延长控制限制延长控制限1)1)建立一个抽样计划建立一个抽样计划2)2)控制图的设置控制图的设置3)3)记录原因数据记录原因数据4)4)计算每一个子组样本的控制统计量计算每一个子组样本的控制统计量5)5)将控制统计量画
4、在控制图上将控制统计量画在控制图上2. 建立控制限建立控制限1)1)确定控制图中心线确定控制图中心线2)2)确定控制图上控制限和下控制限确定控制图上控制限和下控制限3. 统计上受不统计上受不受控的解释受控的解释1)1)分析极差图上的点分析极差图上的点 ( (控制图判异控制图判异) )2)2)识别并标识特殊原因(识别并标识特殊原因(R R图)图)3)3)重新计算控制限(重新计算控制限(R R图)图)4)4)识别和处理特殊原因(均值图)识别和处理特殊原因(均值图)5)5)重新计算控制限(均值图)重新计算控制限(均值图)当过程受控时并经过过程能力评价满足要求时,当过程受控时并经过过程能力评价满足要求
5、时,应可以延长控制限,以满足未来过程控制的需应可以延长控制限,以满足未来过程控制的需要。如果过程中心线偏离目标值,可能需要针要。如果过程中心线偏离目标值,可能需要针对目标值进行调整。对目标值进行调整。1) 抽样计划1.抽样计划的原则:抽样计划的原则:合理的子组,即:组内出现特殊原因的机会最小,组间合理的子组,即:组内出现特殊原因的机会最小,组间出现特殊原因的机会最大。(子组内的变差代表的是零件间的变差,出现特殊原因的机会最大。(子组内的变差代表的是零件间的变差,而子组间的变差代表的是过程的变化)。而子组间的变差代表的是过程的变化)。 即:观测值的个数或样本量决定了控制图反映波动的能力。即:观测
6、值的个数或样本量决定了控制图反映波动的能力。2.子组数量:子组数量:为了建立控制限,通常取为了建立控制限,通常取25个子组,或更多个子组包含个子组,或更多个子组包含100或或更多个单值读数。更多个单值读数。3.子组容量:子组容量:较大的子组能很容易探测出较小的过程变化。一般较大的子组能很容易探测出较小的过程变化。一般2-5个样本。个样本。4.子组频率:子组频率:通常按时间顺序来取子组,目的是探测过程随时间发生的变化。通常按时间顺序来取子组,目的是探测过程随时间发生的变化。推荐的频率见推荐的频率见附表附表所示所示每小时产量每小时产量抽样间隔抽样间隔不稳定不稳定稳定稳定1010以下以下8 8小时小
7、时8 8小时小时10-1910-194 4小时小时8 8小时小时20-4920-492 2小时小时8 8小时小时50-9950-991 1小时小时4 4小时小时100100以上以上1 1小时小时2 2小时小时附表附表 推荐的子组频率推荐的子组频率2) 控制图设置 包括过程和抽样方法描述的表头信息;包括过程和抽样方法描述的表头信息; 记录记录/ /显示所收集数据的实际值的部分,这应该包含日显示所收集数据的实际值的部分,这应该包含日期和时间或其它的子组编号;期和时间或其它的子组编号; 用于中间的数据计算的部分;用于中间的数据计算的部分; 对用于分析的每一个控制统计量描点的部分;通常纵对用于分析的每
8、一个控制统计量描点的部分;通常纵坐标表示控制统计量的值,横坐标表示时间的顺序;坐标表示控制统计量的值,横坐标表示时间的顺序; 对观察记入日志的部分,这部分包括:过程调整、更对观察记入日志的部分,这部分包括:过程调整、更换工装、材料变更,或其它任何可能影响过程变化的换工装、材料变更,或其它任何可能影响过程变化的详细资料。(控制图格式见样表)详细资料。(控制图格式见样表)样表样表正面;正面;示例示例背面背面3) 记录原始数量记录每一个单值及每一个子组的编号;记录每一个单值及每一个子组的编号;记录任何有关的观察事项。记录任何有关的观察事项。4) 4) 计算每一个子组的样本统计量计算每一个子组的样本统
9、计量按照控制图的类型,计算合适的统计量,可能是:样本均值,按照控制图的类型,计算合适的统计量,可能是:样本均值,中位数,极差,标准差,等。中位数,极差,标准差,等。5 5) ) 将控制统计量画在控制图上将控制统计量画在控制图上将计算出来的控制统计量画在图上,确保所描的控制统计量的将计算出来的控制统计量画在图上,确保所描的控制统计量的点是一一对应的。将相邻两点用直线连接起来从而帮助显示模点是一一对应的。将相邻两点用直线连接起来从而帮助显示模式和趋势;式和趋势;注意:在描图过程中,如果发现有的点比别的点高很多或低很注意:在描图过程中,如果发现有的点比别的点高很多或低很多,应再次确认是否计算错误或描
10、图错误,并查询相关的观察多,应再次确认是否计算错误或描图错误,并查询相关的观察记录。记录。控制图应用步骤1. 收集数据收集数据2. 建立控制限建立控制限3. 统计上受不统计上受不受控的解释受控的解释4. 为了持续控为了持续控制延长控制限制延长控制限1)1)确定控制图中心线确定控制图中心线2)2)确定控制图上控制限和下控制限确定控制图上控制限和下控制限控制图的中心线和上控制图的中心线和上/ /下控制线下控制线计量型;计量型;计数型计数型控制图应用步骤1. 收集数据收集数据2. 建立控制限建立控制限3. 统计上受不统计上受不受控的解释受控的解释4. 为了持续控为了持续控制延长控制限制延长控制限1)
11、1)分析极差图上的点分析极差图上的点 ( (控制图判异控制图判异) )2)2)识别并标识特殊原因(识别并标识特殊原因(R R图)图)3)3)重新计算控制限(重新计算控制限(R R图)图)4)4)识别和处理特殊原因(均值图)识别和处理特殊原因(均值图)5)5)重新计算控制限(均值图)重新计算控制限(均值图)控制图应用步骤控制图应用步骤1. 收集数据收集数据2. 建立控制限建立控制限3. 统计上受不统计上受不受控的解释受控的解释4. 为了持续控为了持续控制延长控制限制延长控制限当过程受控时并经过过程能力评价满足要求时,当过程受控时并经过过程能力评价满足要求时,应可以延长控制限,以满足未来过程控制的
12、需应可以延长控制限,以满足未来过程控制的需要。如果过程中心线偏离目标值,可能需要针要。如果过程中心线偏离目标值,可能需要针对目标值进行调整。对目标值进行调整。1. 过程能力:过程能力:仅适用于稳定统计过程,是过程固有变差的仅适用于稳定统计过程,是过程固有变差的 范围,范围,式中式中 通常用通常用 和和 来估计。来估计。2.过程性能:过程性能:过程总变差的过程总变差的 范围,式中范围,式中 通过用标准差通过用标准差S来估计。来估计。3.如果过程处于统计受控状态,过程能力非常接近于过程性能。当过如果过程处于统计受控状态,过程能力非常接近于过程性能。当过程的能力和性能程的能力和性能 之间存在较大差别
13、时表示有特殊原因存在。之间存在较大差别时表示有特殊原因存在。2dR2CS 6 6 6计量型数据计量型数据过程能力和过程性能过程能力和过程性能过程能力和过程性能过程能力和过程性能双边公差的过程指数CP能力指数能力指数(过程位于中心):(过程位于中心):CPK能力指数能力指数(过程不位于中心):(过程不位于中心):),(CPUCPLMINCPK CPKCPPP性能指数性能指数(过程位于中心):(过程位于中心):PPK性能指数性能指数(过程不位于中心):(过程不位于中心):),(PPUPPLMINPPK PPKPP过程相对稳定系数评价 过程稳定系数过程稳定系数: 相对稳定系数相对稳定系数: 过程相对
14、稳定系数过程相对稳定系数评评 价价d drr10%10%接近稳定接近稳定10% d10% drr 20%20%不太稳定不太稳定20% d20% drr 50%50%不稳定不稳定d drr 50%50%很不稳定很不稳定6 6西格玛相关西格玛相关流程的西格玛水平:流程的西格玛水平:Z Z值值Z Z值可以描述流程的不合格率值可以描述流程的不合格率P P(d)(d)Z Z值与不合格率值与不合格率P P(d)(d)对应表对应表Z ZUSLUSL = USL-X Z = USL-X ZLSLLSL = X-LSL = X-LSL (一)连续型数据的流程能力(一)连续型数据的流程能力(二)可区分型数据流程能力(二)可区分型数据流程能力可区分型数据:通过可区分型数据:通过/ /不通过不通过一次通过率一次通过率First Time Yield FTY=First Time Yield FTY=合格数量合格数量/ /总数量总数量 p(d)=1-FTY = p(d)=1-F
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