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文档简介

1、光耦寿命评估报告评估目的：依据光耦寿命评估公式，对cm80a 逆变驱动板的光耦寿命进行评估cm80a 驱动板使用的光耦型号是opi1268 ，类型是门槛型， 以下是对其寿命评估方法：125度条件下 l0 的时间运算方法：在缺省状态下，给定厂家的曲线条件，如厂家给定 60，衰减 20% ，100000 小时，按缺省1000h 小时运算； lf=17583h ，校正系数就是100000/17583=5.687, 这样 125 度的系数就更换为1000*5.687 ；不同的光耦运算出的校正系数是不同的，此主要看厂家给定的衰减曲线；从评估的角度看，温度越高，评估的时间越准；实际上当评估低温时， 运算出

2、的时间可能由1 倍到 3 倍的误差， 此基本是正常的； 也就是采纳厂家最高温度得出的系数更接近实际的情形；光耦寿命评估公式如下： 光耦类型：1、ctr 型（线性）ea1-1afe8. 62 10-5 tx 273 thermal_co* ifx* ufx to 273 thermal_co* ifo* ufolxl 0 ctr0 * th ermal _co - ctrx10afctr 02、门槛型ea1-1e8.62 10-5aftx 273thermal_ co* ifx *ufx to 273 thermal_co* ifo* ufodutyll 0 i fxx- i th0 * the

3、rmal _co10afi fx光耦参数说明：t0厂家光耦 ctr 衰减测试温度，固定取为125 if0125下光耦测试发光二极管电流，固定取为25mavf0厂家光耦 ctr 衰减测试发光二极管导通压降，固定取为1.4v l0ctr 在 125下的校正系数，固定取为5687ctr0所使用光耦的额定最小ctr ；同一个型号的光耦有几种不同的ctr 档（ ctr 范畴， 有光耦型号后缀确定） ；ctr0 和对应光耦的实际型号温度影响系数温度对 ctr 衰减影响系数，取决于器件参数测试条件，假如器件额定参数在比较宽的范畴内测得，该系数取为0.8，否就取为 1ith0器件导通所需最大电流（查询器件规格

4、书）tx光耦在额定工况下的表面温度ea激活能，常数，固定取为0.37af加速系数，又前面参l0 数运算得到thereml-co将电压，电流的影响折算为温度影响的系数，固定取为1ifx实际流过光耦发光二极管的电流最小电流ctr衰减比 为（ ctr0-ctrx ） /ctr0 ，运算书自动求得ith 劣化比为（ ifx-ith0 ） /ifx ，运算书自动求得vfx发光二极管的额定导通电压，一般固定取为1.2v lx光耦在实际工况下的工作寿命opi1268 光耦参数：计 算参数toif0mavf0vl0ith0matx ifxmavfxvduty125201.4568755014.871.20.5通过以上光耦寿命评估公式，可以知道影响光耦寿命因素有以下关系：1、与 pwm 信号的占空比 duty （反比）2、光耦

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