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文档简介

1、XX通讯有限公司 手机可靠性测试标准批准审核编制黄用军2012-7-181. 目的为规范手机可靠性认证,确保整机及供货商所供产品符合国际标准,及我公司品质要求2. 范围适用于本公司手机可靠性认证。3.内容手机可靠性测试(PRT的目的是在特定的可接受的环境下不断的催化产品的寿命和疲劳度,可 以在早期预测和评估产品的质量和可靠性。可靠性测试包括六个部分:加速寿命测试,气候适应测试,结构耐久测试,表面装饰测试,特殊 条件测试,及其他条件测试。3.1.加速寿命测试 ALT (Accelerated Life Test )样机标准数量: PR1: 12台PR2 : 12台 PR3 : 12台 PIR :

2、 12台 试验周期:3天高温高湿测试60 C /95%RH/72hrs2 nd跌落测试6/8 faces / 1.2m滚筒0.5M跌 落,100round静电ESD测试4Kv contact/ 8Kv Air(agent室温下参数测试(2025 C)XX通讯有限公司 手机可靠性测试标准批准审核编制黄用军2012-7-183.1.1 室温下参数测试(Parametric Test )3.1.2 温度冲击测试(Thermal Shock )测试环境:低温箱:-20 C ;高温箱:+60 C , 4台手机试验方法:手机带电池,设置成关机状态先放置于高温箱内持续60分钟后,在15秒内迅速移入低温箱并持

3、续60分钟后,再15秒内迅速回到高温箱。此为一个循环, 共循环10次。实验结束后将样机从温度冲击箱(高温箱)中取出,恢复2小时 后进行外观、机械和电性能检查。对于翻盖手机,应将一半样品打开翻盖;对 于滑盖手机,应将一半样品滑开到上限位置。试验标准:手机表面喷涂无异变,结构无异常,功能正常,可正常拨打电话。3.1.3 跌落试验(Drop Test )测试条件:开发阶段:2.4寸及以上的屏跌1.2m,小于2.4寸屏跌1.5m,跌落表面:水 泥地面,共2轮,每轮对手机的六个面四个角依次进行自由跌落(底部一右侧 -左侧一顶部一反面一正面)。试验从手机的最小面开始跌落,每个循环中LCD 面为最后跌落面;

4、有翻盖(滑盖)的移动电话机应将盖合上;跌落后进行外观 检查,磨损是可以的,但不应有裂缝;允许电池脱落,但仍具备正常通话功能; 量产阶段:跌落高度在开发阶段的标准上降低 0.1m,每个面跌落2次。试验方法:将手机处于开机状态进行跌落。对于直握手机,进行6个面的自由跌落实验,每个面的跌落次数为1次,每个面跌落之后进行外观、结构和功能检查。对于 翻盖手机,进行8个面的自由跌落实验;其中一半样品合上翻盖按直握手机的 方法进行跌落,另一半样品在跌正面和背面时须打开翻盖。跌落结束后对外观、 结构和功能进行检查。试验标准:手机外观,结构和功能符合要求。3.1.4 振动试验(Vibration Test )测

5、试条件:30Hz;振幅:5.0mm 3600 s测试目的:测试样机抗振性能试验方法:将手机开机放入振动箱内固定夹紧。启动振动台垂直振动1个小时,对样机进行参数测试。试验标准:振动后手机内存和设置没有丢失现象,手机外观,结构和功能符合要求,参 数测试正常,晃动无异响。3.1.5 高温高湿(temperature and Humidity Test )测试环境:60 C,95%RH 4台手机测试目的:测试样机耐高温高湿性能试验方法:将手机处于关机状态,放入温湿度实验箱内的架子上,持续72个小时之后取出,常温恢复2小时,然后进行外观、结构和功能检查。对于翻盖手机,应将 一半样品合上翻盖,一半样品打开

6、翻盖;对于滑盖手机,应将一半样品滑开到 上限位置。试验标准:手机外观,结构和功能符合要求。XX通讯有限公司 手机可靠性测试标准批准审核编制黄用军2012-7-183.1.6 滚筒试验(platen Test )测试条件:0.50m长度,100转,4台手机(此项目仅供参考,不强制要求) 试验方法:将手机处于开机状态进行。试验标准:手机外观,结构和功能符合要求。3.1.7 静电测试(ESD测试条件:+/-4kV+/-8kV,开机并处于充电状态,+/-4kV接触和+/-8kV空气放电各10 次。,4台手机。具体测试方法详见公司测试标准细则。测试目的:测试样机抗静电干扰性能 试验标准:在+/-4Kv和

7、+/-8Kv时出现任何问题都要被计为故障。3.2. 气候适应性测试(Climatic Stress Test )样品标准数量:一般气候性测试4台;恶劣气候性测试3台。共7台。 测试周期:1天。一般气候性测试恶劣气候性测试A: 般气候性测试:3.2.1. 高温/低温参数测试(Parametric Test )测试环境:-20 C /+60 C;持续2小时;手机电池充满电,手机处于开机状态。4台手机测试目的:高温/低温应用性性能测试XX通讯有限公司批准审核手机可靠性测试标准编制黄用军2012-7-18试验方法:对于翻盖手机,应将一半样品合上翻盖,一半样品打开翻盖;对于滑盖手机, 应将一半样品滑开到

8、上限位置。试验标准:手机电性能参数指标满足要求,功能正常,外壳无变形。3.2.2. 高温高湿参数测试(Parametric Test )测试环境:60 C,95%RH4台手机测试目的:测试样机耐高温高湿性能试验方法:将手机处于关机状态,放入温湿度实验箱内的架子上,持续72个小时之后取出,常温恢复2小时,然后进行外观、结构和功能检查。对于翻盖手机,应将 一半样品合上翻盖,一半样品打开翻盖;对于滑盖手机,应将一半样品滑开到 上限位置。试验标准:手机外观,结构和功能符合要求。3.2.3. 高温/低温功能测试(Functional Test )测试环境:-20 C/+60 C, 24小时,4台手机。恢

9、复至常温,然后进行结构,功能和电性能检查。测试目的:高温/低温应用性功能测试试验标准:手机电性能指标满足要求,功能正常,外壳无变形。B:恶劣气候性测试3.2.4. 灰尘测试(Dust Test)测试环境:室温,灰尘大小300目,持续3个小时。3台手机,详细测试方法见公司测试 标准细则。测试目的:测试样机结构密闭性试验标准:手机各项功能正常,所有活动元器件运转自如,显示区域没有明显灰尘。3.2.5. 盐雾测试(Salt fog Test )测试环境:35C; 5%勺氯化钠溶液;3台手机,关机;合上翻盖;样机用绳子悬挂起来; 24小时。测试目的:测试样机抗盐雾腐蚀能力试验标准:常温干燥后,手机各项

10、功能正常,外壳表面及装饰件无明显腐蚀等异常现象。3.3. 结构耐久测试(Mecha ni cal En dura nee Test)样品标准数量:8台。 测试周期:7天。 测试目的:各结构件寿命测试。XX通讯有限公司 手机可靠性测试标准批准审核编制黄用军2012-7-18结构耐久性测试按键测试100,000 次侧键测试50,000次翻盖/滑盖100,000 次重复跌落6,000 次充电插拔3,000次电池/盖2,000 次耳机插拔3,000 次笔插拔20,000次SIM卡插拔500次线拉拽100次触摸屏点击测试250,000 次触摸屏划线测试100,000 次线弯曲3,000 次线摆动3,00

11、0 次3.3.1. 按键测试(Keypad Test)测试环境:室温(2025 C); 4台手机;手机设置成关机状态。 测试方法:导航键及其他任意键进行10万次按压按键测试。试验标准:手机按键弹性及功能正常。3.3.2. 侧键测试(Side Key Test )测试环境:室温(2025 C); 4台手机;手机设置成关机状态;5万次按压。 试验标准:手机按键弹性及功能正常。3.3.3. 翻盖测试(Flip Life Test )测试环境:室温(2025 C); 4台手机;手机设置成开机状态;10万次开合翻盖测试。 试验标准:6万次后,手机外观,结构,及功能正常。3.3.4. 滑盖测试(Slide

12、 Life Test测试环境:室温(2025 C); 4台手机;手机设置成开机状态;8万次滑盖测试。 试验标准:6万次后,手机外观,结构,及功能正常,滑盖不能有松动。3.3.5. 重复跌落测试(Micro-Drop Test )测试环境:室温(2025 C); 7cm高度,20mmPVC板; 4台手机;开机状态;6000次 测试标准:手机各项功能正常,外壳无变形、破裂、掉漆,显示屏无破碎,晃动无异响。3.3.6. 充电器插拔测试(Charger Test )XX通讯有限公司批准审核手机可靠性测试标准编制黄用军2012-7-18测试环境:室温(2025 C); 4台手机。试验方法:将充电器接上电

13、源,连接手机充电接口,等待手机至充电界面显示正常后, 拔除充电插头。在开机不插卡状态下插拔充电3000次。检验标准:I/O接口无损坏,焊盘无脱落,充电功能正常。无异常手感。3.3.8. 笔插拔测试(Stylus Test )测试环境:室温(2025 C) ; 4台手机;开机状态;2万次。检验标准:手机笔输入功能正常,插入拔出结构功能、外壳及笔均正常。3.3.8. 触摸屏点击试验(Point Activation Life Test)试验条件:触摸屏测试仪,直径为 0.8m m的塑料手写笔或随机附带的手写笔试验方法:2台手机;将手机设置为开机状态,点击同一位置250,000次,点击力度为250g

14、;点击速度:2次/秒;检验标准:不应出现电性能不良现象;表面不应有损伤3.3.9. 触摸屏划线试验 (Lineation Life Test)试验条件:触摸屏测试仪,直径为 0.8m m的塑料手写笔或随机附带的手写笔试验方法:2台手机;将手机设置为关机状态,在同一位置划线至少100,000次,力度为 250g,滑行速度:60mm秒检验标准:不应出现电性能不良现象;表面不应有损伤3.3.10. 电池 / 电池盖拆装测试(Battery/Battery Cover Test )测试环境:室温(2025 C); 4台手机;将电池/电池盖反复拆装1000次。检验标准:手机及电池卡扣功能正常无变形,电池

15、触片、电池连接器应无下陷、变形及 磨损的现象,外观无异常。3.3.11. SIM Card拆装测试(SIM Card Test)测试环境:室温(2025 C); 4台手机;SIM卡插上取下反复500次。检验标准:SIM卡触片、SIM卡推扭开关正常,手机读卡功能使用正常。3.3.12. 耳机插拔测试(Headset Test)测试环境:室温;4台手机;开机状态;耳机插入耳机插孔再拔出,3000次。检验标准:实验后检查耳机插座无焊接故障,耳机插头无损伤,使用耳机通话接收与送话无杂音(通话过程中转动耳机插头),耳机插入手机耳机插孔时不会松动 (可 以承受得住手机本身的重量)。3.3.13. 导线连接

16、强度试验(Cable Pulli ng En dura nee Test)测试环境:室温(2025 C);实验方法:选取靠近耳塞的一段导线,将其两端固定在实验机上,用20N 2N的力度持续拉伸6秒,循环100次。检验标准:导线功能正常,被覆外皮不破裂,变形。3.3.14. 导线折弯强度试验(Cable Ben di ng En dura nee Test)XX通讯有限公司 手机可靠性测试标准批准审核编制黄用军2012-7-18测试环境:室温(2025 C);实验方法:分别选取靠近耳塞和靠近插头的一段导线,将导线的两端固定在实验机上,做0mm25mjfi弯实验3000次。检验标准:导线功能正常,

17、被覆外皮不破裂,变形。3.3.15. 导线摆动疲劳试验(Cable Swi ng En dura nee Test)测试环境:室温(2025 C);实验方法:分别将耳机和插头固定在实验机上,用1N的力,以90。120。的角度反复摆 动耳机末端3000次。检验标准:导线功能正常,被覆外皮不破裂。3.4 表面装饰测试(Decorative Surface Test)样品标准数量:每种颜色6套外壳。 测试周期:3天。3.4.1. 磨擦测试(Abrasion Test - RCA )测试环境:室温(2025 C);试验方法:将最终喷涂的手机外壳固定在 RCA式验机上,用175g力队同一点进行摩擦试 验

18、。对于表面摩擦300cycles,侧面和侧棱摩擦180 Cycles。检验标准:耐磨点涂层不能脱落,不可露出底材质地。3.4.2. 附着力测试(Coati ng Adhesio n Test)测试环境:室温(2025 C);试验方法:选最终喷涂的手机外壳表面,使用百格刀刻出100个1平方毫米的方格,划格的深度以露出底材为止,再用 3M610号胶带纸用力粘贴在方格面,1分钟后 迅速以90度的角度撕脱3次,检查方格面油漆是否有脱落。XX通讯有限公司 手机可靠性测试标准批准审核编制黄用军2012-7-18检验标准:方格面油漆脱落应小于 3%并且没有满格脱落。343.汗液测试(Perspiration

19、 Test )测试环境:60 C, 90%RH试验方法:把滤纸放于酸性(PH=4.2)或碱性(PH=8.8)溶液充分浸透,用胶带将浸有酸 性或碱性溶液的滤纸粘在样品喷漆表面,确保试纸与样品喷漆表面充分接触, 然后放在测试环境中,在 24小时检查一次,48小时后,将样品从测试环境中 取出,并且放置2小时后,检查样品表面喷漆。检验标准:喷漆表面无变色、起皮、脱落、褪色等异常。3.4.4. 硬度测试(Hardness Test )测试环境:室温(2025 C);试验方法:用2H铅笔,在45度角下,以1Kg的力度在样品表面从不同的方向划出 35cm 长的线条35条。检验标准:用橡皮擦去铅笔痕迹后,在油

20、漆表面应不留下划痕。3.4. 5 .镜面刮擦测试(Lens Scratch Test )测试环境:室温(2025 C);试验方法:用Scratch Test将实验样品固定在实验机上,用载重(load )为500g的力 在样品表面往复划伤50次。检验标准:镜面表面划伤宽度应不大于100卩m (依靠目视分辨、参照缺陷限度样板)3.4.6 紫外线照射测试(UV illuminant Test )测试环境:50 C测试目的:喷涂抗紫外线照射测试试验方法:在温度为50 C,紫外线为340W/mm勺光线下直射油漆表面48小时。试验 结束后将手机外壳取出,在常温下冷却 2小时后检查喷漆表面。检验标准:油漆表

21、面应无褪色,变色,纹路,开裂,剥落等现象。3.5. 特殊条件测试(Special Stress Test )样品标准数量:4台 测试周期:1天。XX通讯有限公司 手机可靠性测试标准批准审核编制黄用军2012-7-183.5.1. 低温跌落试验(Low temperature Drop Test )测试环境:-20 C; 4台手机;开机状态。 试验方法:将手机进行电性能参数测试后处于开机状态放置在-20 C的低温试验箱内1小时后取出,进行1.2米的6个面跌落,2个循环,要求 3分钟内完成跌落, 方法同常温跌落。检验标准:手机外观,结构,功能和电性能参数符合要求。3.5.2. 扭曲测试(Twist

22、 Test )测试环境:室温;4台;开机状态;0.08倍手机厚度Nm力矩扭曲手机1000次。 检验标准:手机没有变形,外观无异常,各项功能正常。3.5.3. 软压测试(Squeeze Test )测试环境:室温(2025 C); 4台;开机状态;25Kg力反复挤压手机10000次 检验标准:手机没有变形,外观无异常,各项功能正常。3.5.4. 撞击测试(impact Test )测试环境:室温(2025 C) ;4台手机;0.2J的功率,打击镜片四角及中心各式各1次。 检验标准:手机镜盖无变形,无裂缝,无破损(允许有白点),LCD功能正常。3.6. 基本性能测试测试样品标准数量:4台; 测试周

23、期:1天。XX通讯有限公司 手机可靠性测试标准批准审核编制黄用军2012-7-18361听筒音量测试测试环境:室温(2025 C); 2台手机。 试验方法:用分贝仪距离手机听筒 10CM测试 检验标准:音量要大于65Dbm3.6.2喇叭音量测试测试环境:室温(2025 C); 2台手机。 试验方法:用分贝仪距离手机 喇叭10CM测试 检验标准:音量要大于95Dbm3.6.3射频测试试验方法:品质部送 MTK确认,2台手机。检验标准:符合国标(MTK出报告)3.6.4实际通话试验测试环境:室温(2025 C); 2台手机。试验方法:1台手机用CMC卡,和“标准机”建立通话;另两台待测手机用 CMC卡相互 通话。都是60 3min连续通话,每10分钟检查听筒和麦克风的功能是否正常。 检验标准:音量要大于? Db检验标准:听筒或麦克风必须正常;手机不能发烫3.6.5实际充电试验测试环境:室温(2025 C); 2台手机。试验方法:充电12个小时,然后用万用表测量电池电压。(试验前电压应无法使手机开 机)检验标准:试验后电压大于 4.144.24VVDC3.7. 重要寿命测试样品标准数量:4台;XX通讯有限公司 手机可靠性测试标准批准审核编制黄用军2012-7-183.7.1听筒寿命测试测试环境:室温(2025 C); 2台手机。试验方法:

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