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1、个人整理精品文档，仅供个人学习使用材料分析测试技术考试大纲适用专业名称 ：材料科学与工程科目代码及名称 考试大纲5 材料分析测试技术 一、 考试目的与要求测试考生对 X 射线衍射分析技术、扫描电子显微镜、电子探针、透射电镜等分析技术的掌握程度，使学生掌握材料研究的基本方法，学会进行材料微 观组织结构分析和物理性能分析的常用仪器设备的原理及使用方法，使学生具备分析研究材料的组织结构所必须的基础理论、基础知识与基本技能。 二、 试卷结构 （满分 100 分）内容比例：X 射线衍射分析约 35 分透射电镜分析约 20 分扫描电镜分析约 20 分电子探针分析约 25 分题型比例：客观题 约 30分1填

2、空题（选择或判断）约15分2名词解释约15分主观题 约 70分1。 简答题约20分2。 证明题约20分3 。 综合分析题约30分三、考试内容与要求（一） X 射线衍射分析个人整理精品文档，仅供个人学习使用考试内容X射线物理基础、 X射线衍射方向、 X射线衍射强度、多晶体分析方法、 X 射线物相分析及点阵参数精确测定考试要求1。 掌握 X射线的本质、 X 射线谱的分类及特征谱的产生机理；2。 掌握 X 射线与物质的相互作用；3。 掌握布拉格方程的推导及应用；4。理解结构因子的物理意义，掌握三种常见点阵消光规律，掌握X 射线衍射强度公式；5、理解各种衍射分析方法，掌握 X 射线衍射仪的参数设置；6

3、、掌握物相定性分析的原理、方法与步骤；7、掌握 PDF卡片的组成及索引方法；8、掌握物相定量分析的原理及方法；9、掌握立方晶系物质点阵常数的精确测定。（二）电子光学基础及透射电子分析考试内容电子波与电磁透镜、电磁透镜的像差与分辨本领、电磁透镜的景深和焦长，电子衍射原理、电子显微镜中的电子衍射、单晶体电子衍射花样标定 以及复杂电子衍射花样。透射电子显微镜的结构与成像原理、主要部件的结构与工作原理；透射电子显微镜分辨本领和放大倍数的测定，薄膜样品的制备； 衍衬成像原理；消光距离考试要求1。 掌握电子透镜及其景深与焦长、电磁透镜的像差与分辨本领；2。理解透射电镜的结构，了解透射电镜的应用样品的制备方

4、法并能制备电镜样品；3。掌握电子衍射原理和衍称成像原理；4。能够分析电子衍射花样。（三）扫描电子显微镜考试内容电子束与固体样品作用、扫描电子显微镜的构造和工作原理、扫描电子显微镜的主要性能、表面形貌衬度原理及其应用、原子序数衬度原理及其个人整理精品文档，仅供个人学习使用应用考试要求1。 理解扫描电子显微镜的构造和工作原理2。 了解电子束与固体样品作用时产生的信号3。 掌握扫描电子显微镜的主要性能、表面形貌衬度原理及其应用4。 应用 SEM图像分析物质 （四）电子探针显微分析 考试内容电子探针仪的结构与工作原理；电子探针仪的分析方法及其应用 考试要求1。 理解电子探针分析构造2。 了解电子探针分析应用3。 掌握电子探针分析方法及微区成分分析技术

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