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文档简介

1、IGBT工作原理及应用1 IGBT的工作原理IGBT的等效电路如图1所示。由图1可知, 若在IGBT的栅极和发射极之间加上驱动正电压,则MOSFET导通, 这样PNP晶体管的集电极与基极之间成低阻状态而使得晶体管导 通;若IGBT的栅极和发射极之间电压为0V,则MOSFET截止,切断 P7P晶体管基极电流的供给,使得晶体管截止由此可知,IGBT的安 全可靠与否主要由以下因素决定:IGBT栅极与发射极之间的电 压;IGBT集电极与发射极之间的电压;流过IGBT集电极一发射极的 电流;IGBT的结温。如果IGBT栅极与发射极之间的电压,即驱动电 压过低,则IGBT不能稳定正常地工作,如果过高超过栅

2、极一发射极 之间的耐压则IGBT可能永久性损坏;同样,如果加在IGBT集电极 与发射极允许的电压超过集电极一发射极之间的耐压,流过IGBT 集电极一发射极的电流超过集电极一发射极允许的最大电流,IGBT 的结温超过其结温的允许值,IGBT都可能会永久性损坏。2保护措 施在进行电路设计时,应针对影响IGBT可靠性的因素,有的放矢地 采取相应的保护措施。2、1 IGBT栅极的保护IGBT的栅极一发射极驱动电压VGE的 保证值为土20V,如果在它的栅极与发射极之间加上超出保证值的 电压,则可能会损坏IGBT,因此,在IGBT的驱动电路中应当设置栅 压限幅电路。另外,若IGBT的栅极与发射极间开路,而

3、在其集电极 与发射极之间加上电压,则随着集电极电位的变化,由于栅极与集 电极和发射极之间寄生电容的存在,使得栅极电位升高,集电极一 发射极有电流流过。这时若集电极和发射极间处于高压状态时,可 能会使IGBT发热甚至损坏。如果设备在运输或振动过程中使得栅 极回路断开,在不被察觉的情况下给主电路加上电压,则IGBT就可 能会损坏。为防止此类情况发生,应在IGBT的栅极与发射极间并 接一只几kQ的电阻,此电阻应尽量靠近栅极与发射极。如图2所 示。由于IGBT是功率MOSFET和PNP双极晶体管的复合体,特别是 其栅极为MOS结构,因此除了上述应有的保护之外,就像其他MOS 结构器件一样,IGBT对于

4、静电压也是分敏感的,故而对IGBT进行装 配焊接作业时也必须注意以下事项:在需要用手接触IGBT前,应 先将人体上的静电放电后再进行操作,并尽量不要接触模块的驱动 端子部分,必须接触时要保证此时人体上所带的静电已全部放掉; 在焊接作业时,为了防止静电可能损坏IGBT,焊机一定要可靠地接 地。IGBT在不间断电源的应用、2、2集电极与发射极间的过压保 护过电压的产生主要有两种情况,一种是施加到IGBT集电极一发 射极间的直流电压过高,另一种为集电极一发射极上的浪涌电压过 高。2、2、1直流过电压直流过压产生的原因是由于输入交流电 源或IGBT的前一级输入发生异常所致。解决的办法是在选取IGBT

5、时,进行降额设计;另外,可在检测出这一过压时分断IGBT的输入, 保证IGBT的安全。2、2、2浪涌电压的保护因为电路中分布电感的存在,加之 IGBT的开关速度较高,当IGBT关断时及与之并接的反向恢复二极 管逆向恢复时,就会产生很大的浪涌电压Ldi/dt,威胁IGBT的安 全。通常IGBT的浪涌电压波形如图3所示。图中:vCE为IGBT? 电极一发射极间的电压波形;ic为IGBT的集电极电流;Ud为输入 IGBT的直流电压;VCESP二Ud + Ldic/dt,为浪涌电压峰值。如果 VCESP超出IGBT的集电极一发射极间耐压值VCES,就可能损坏 IGBTo解决的办法主要有:在选取IGBT时考虑设计裕量;在电路 设计时调整IGBT驱动电路的Rg,使di/dt尽可能小;尽量将电解电 容靠近IGBT安装,以减小分布电感;根据情况加装缓冲保护电路, 旁路高频浪涌电压。由于缓冲保护电路对IGBT的安全工作起着很 重要的作用,在此将缓冲保护电路的类型和特点作一介绍。一放电 阻止型缓冲电路如图4(d)所示,与RCD缓冲电路相比其特点是,产 生的损耗小,适合于高频开关。在该缓冲电路中缓冲电阻上产生的

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