GB/T 44937.4-2024集成电路电磁发射测量第4部分：传导发射测量1 Ω/150 Ω直接耦合法

ICS31200

CCSL.56

中华人民共和国国家标准

GB/T449374—2024/IEC61967-42021

.:

集成电路电磁发射测量

第4部分传导发射测量

:

1Ω/150Ω直接耦合法

Integratedcircuits—Measurementofelectromagneticemissions—

Part4Measurementofconductedemissions—

:

1Ω/150Ωdirectcouplingmethod

IEC61967-42021IDT

(:,)

2024-12-31发布2024-12-31实施

国家市场监督管理总局发布

国家标准化管理委员会

GB/T449374—2024/IEC61967-42021

.:

目次

前言

…………………………Ⅲ

引言

…………………………Ⅳ

范围

1………………………1

规范性引用文件

2…………………………1

术语和定义

3………………1

概述

4………………………1

测量基本原理

4.1………………………1

电流测量

4.2RF…………………………2

引脚的电压测量

4.3ICRF……………2

测量技术的评估

4.4……………………3

试验条件

5…………………3

试验设备

6…………………3

测量仪

6.1RF……………3

电流探头规范

6.2RF……………………3

电流探头性能的测试

6.3RF……………4

匹配网络

6.4……………4

试验布置

7…………………5

通用试验配置

7.1………………………5

试验用印制电路板的设计

7.2…………5

试验程序

8…………………6

试验报告

9…………………6

附录资料性探头验证程序

A()…………7

附录资料性传导发射等级的分类

B()…………………10

介绍性说明

B.1…………………………10

概述

B.2…………………10

发射等级的定义

B.3……………………10

结果的表述

B.4…………………………11

附录资料性应用于汽车的参考等级的示例

C()………13

介绍性说明

C.1…………………………13

概述

C.2…………………13

参考等级

C.3……………13

附录资料性要求以及如何使用测量技术

D()EMCICEMC………15

介绍性说明

D.1…………………………15

测量程序的使用

D.2EMC……………15

对模块特性影响的评估

D.3ICEMC…………………15

Ⅰ

GB/T449374—2024/IEC61967-42021

.:

附录资料性由主试验板和试验板组成的试验装置的示例

E()EMCICEME……17

介绍性说明

E.1…………………………17

主试验板

E.2EMC……………………17

试验板

E.3ICEME……………………18

附录资料性差分数据传输的及类似电路的共模发射测量用直接耦合网络

F()IC150Ω………22

基本的直接耦合网络

F.1………………22

用于高速或类似系统的共模耦合网络替代示例

F.2CAN、LVDS、RS485………23

用于输出到电阻负载的差分的共模耦合网络替代方案示例例如安全气囊

F.3IC(

触发驱动器

)………………………23

用于容错系统的共模耦合网络的示例

F.4CAN……………………24

附录资料性扩展频率范围内的传导发射测量

G()……………………25

概述

G.1………………25

导则

G.2………………25

应用领域

G.3…………………………30

参考文献

……………………32

Ⅱ

GB/T449374—2024/IEC61967-42021

.:

前言

本文件按照标准化工作导则第部分标准化文件的结构和起草规则的规定

GB/T1.1—2020《1:》

起草

。

本文件是集成电路电磁发射测量的第部分已经发布了以下

GB/T44937《》4。GB/T44937

部分

:

第部分传导发射测量直接耦合法

———4:1Ω/150Ω。

本文件等同采用集成电路电磁发射测量第部分传导发射测量

IEC61967-4:2021《4:1Ω/150Ω

直接耦合法

》。

请注意本文件的某些内容可能涉及专利本文件的发布机构不承担识别专利的责任

。。

本文件由中华人民共和国工业和信息化部提出

。

本文件由全国集成电路标准化技术委员会归口

(SAC/TC599)。

本文件起草单位中国电子技术标准化研究院深圳市北测标准技术服务有限公司南京容测检测

:、、

技术有限公司北京智芯微电子科技有限公司工业和信息化部电子第五研究所天津先进技术研究院

、、、、

北京无线电计量测试研究所河南凯瑞车辆检测认证中心有限公司中国科学院微电子研究所安徽省

、、、

计量科学研究院苏州泰思特电子科技有限公司中国汽车工程研究院股份有限公司广州市诚臻电子

、、、

科技有限公司江苏省计量科学研究院扬芯科技深圳有限公司南京师范大学东南大学重庆仕益

、、()、、、

产品质量检测有限责任公司广州致远电子有限公司

、。

本文件主要起草人崔强付君乔彦彬方文啸吴建飞邢立文朱赛刘星汛李腾飞李彬鸿

:、、、、、、、、、、

王少启谢玉章胡小军黄雪梅邵鄂李楠周雷杨红波颜伟周香刘洋陈勇志张红丽

、、、、、、、、、、、、。

Ⅲ

GB/T449374—2024/IEC61967-42021

.:

引言

为规范集成电路电磁发射测量以及为集成电路制造商和检测机构提供不同的电磁发射测量方

,

法集成电路电磁发射测量规定了集成电路电磁发射测量的通用条件定义和不同测

,GB/T44937《》、

量方法的试验程序以及试验要求拟由个部分构成

,9。

第部分通用条件和定义目的在于规定集成电路电磁发射测量的通用条件和定义

———1:。。

第部分通用条件和定义近场扫描数据交换格式目的在于规定近场扫描数据交换

———1-1:。

格式

。

第部分辐射发射测量小室和宽带小室法目的在于规定小室和宽带

———2:TEMTEM。TEM

小室法的试验程序和试验要求

TEM。

第部分辐射发射测量表面扫描法目的在于规定表面扫描法的试验程序和试验要求

———3:。。

第部分传导发射测量直接耦合法目的在于规定直接耦合法的

———4:1Ω/150Ω。1Ω/150Ω

试验程序和试验要求

。

第部分传导发射测量直接耦合法应用指南目的在于给出直

———4-1:1Ω/150Ω。1Ω/150Ω

接耦合法应用指导

。

第部分传导发射测量工作台法拉第笼法目的在于规定工作台法拉第笼法的试验程序

———5:。

和试验要求

。

第部分传导发射测量磁场探头法目的在于规定磁场探头法的试验程序和试验要求

———6:。。

第部分辐射发射测量带状线法目的在于规定带状线法的试验程序和试验要求

———8:IC。IC。

Ⅳ

GB/T449374—2024/IEC61967-42021

.:

集成电路电磁发射测量

第4部分传导发射测量

:

1Ω/150Ω直接耦合法

1范围

本文件规定了直接用阻性探头测量射频电流和耦合网络测量电压以测量集成

1Ω(RF)150ΩRF

电路传导电磁发射的方法这些方法可确保测量具有高度的可重复性和相关性

(IC)(EME)。EME。

2规范性引用文件

下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款其中注日期的引用文

。,

件仅该日期对应的版本适用于本文件不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改单适用于

,;,()

本文件

。

电磁兼容第部分试验和测量技术射频场感应的传导骚扰抗扰度

IEC61000-4-6(EMC)4-6:

[Electromagneticcompatibility(EMC)—Part4-6:Testingandmeasurementtechniques—Immunity

toconducteddisturbances,inducedbyradio-frequencyfields]

注电磁兼容试验和测量技术射频场感应的传导骚扰抗扰度

:GB/T17626.6—2017(IEC61000-4-6:2013,

IDT)

集成电路电磁发射测量第部分通用条件和定义

IEC61967-11:(Integratedcircuits-Meas-

urementofelectromagneticemissions—Part1:Generalconditionsanddefinitions)

3术语和定义

界定的术语和定义适用于本文件

IEC61967-1。

4概述

41测量基本原理

.

产生的可接受的最大发射电平取决于包含该的电子系统所允许的最大发射电平以及该电

ICIC