平面光波导集成光路器件 第3部分：非均匀分路器

1YD/T2000.3-20XX平面光波导集成光路器件第3部分：非均匀分路器本文件界定了基于平面光波导(PLC)技术的非均匀分光光功率分路器(以下简称“非均匀分路器”)的术语和定义，规定了非均匀分路器的光学性能、传输性能、封装结构、阻燃性能、外观结构等技术要求，描述了相应的测试方法，规定了检验规则以及标志、包装、运输和贮存等。本文件适用于单模光纤耦合的非均匀分路器器件和组件的设计、开发、生产和检验2规范性引用文件下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中，注日期的引用文件。仅该日期对应的版本适用于本文件：不注日期的引用文件，其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。GB/T2828.1-2012计数抽样试验程序第1部分：按接收质量限(AQL)检索的逐批检验抽样计划试验方法和导则GB/T18311.2-2001纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序第3-2部分：检验和测量模纤维光学器件偏振依赖性GB/T18380.12电缆和光缆在火焰条件下的燃烧试验第12部分：单根绝缘电线电缆火焰垂直蔓延试验1kW预混合型火焰试验方法GB/T20440-2006密集波分复用/解复用器技术条件GB/T26572电子电气产品中限用物质的限量要求GB/T28511.1平面光波导集成光路器件第1部分：基于平面光波导(PLC)的光功率分路器GB/T39560(所有部分)电子电气产品中某些物质的测定YD/T1272.1-2018光纤活动连接器第1部分：LC型YD/T1272.3-2015光纤活动连接器第3部分：SC型YD/T1272.4-2018光纤活动连接器第4部分：FC型SJ/T11364-2014电子电气产品有害物质限制使用标识要求3术语和定义GB/T28511.1界定的以及下列术语和定义适用于本文件光功率分路器opticalpowersplitter用于实现光信号的功率耦合及分配功能的光无源器件。平面光波导光功率分路器opticalpowerspliterbasedonplanarlightwavecircuit2具有N(N≥2)个输出端口，输出端口间非均匀分光。N-1路分光均匀的非均匀分路器，其输出端口数为N(N≥3),第1路输出端口与其余N-1路输出端口的分光比例不一样，第2路输出端口至第N路输出N-1路分光非均匀的非均匀分路器，其输出端口数为N(N≥3),输出端口的分光比例至少有三种工作带宽operatingbandwidth满足非均匀分路器光学性能指标要求的光波长范围，单位为纳米(nm)。尾纤不安装光纤活动连接器的非均匀分路器。尾纤安装光纤活动连接器的非均匀分路器通道插入损耗(插入损耗)channelinsertionloss乘以-10,如公式(1)所示：…第4路输出端口的插入损耗，单位为分贝(dB);3……(Pam)—第/个输出端口的最小输出光功率，=1、2……,单位为毫瓦(mW):4如公式(5)所示：PH氢离子浓度指数(Potentialof 5.2.22路非均匀分路器(输出端口2个)5YD/T2000.3-20XX5.2.4N-1路分光非均匀的非均匀分路器(输出端口N≥3)5.3按光接口类型分类按光接口类型可分为：——非均匀分路器器件(尾纤型非均匀分路器):——插头型非均匀分路器组件(带连接器插头的非均匀分路器):——适配器型非均匀分路器组件(带适配器的非均匀分路器)。按应用场景可分为：——室内应用型：室内应用的非均匀分路器；——非可控环境应用型：非可控环境应用的非均匀分路器。6.1光学性能要求2路非均匀分路器和N-1路分光非均匀的非均匀分路器(输出端口N≥3)的光学特性应符合表1的要求，N-1路分光均匀的非均匀分路器(输出端口N≥3)光学特性应符合表2的要求。4路分光均匀的1×5非均匀分路器光学指标应符合表A.1的要求。8路分光均匀的1×9非均匀分路器光学指标应符合表A.2的要求。16路分光均匀的1×17非均匀分路器光学指标应符合表A.3的要求。表12路非均匀分路器和N-1路分光非均匀的非均匀分路器(输出端口N≥3件%≥55(APC)℃40~+70(室内应用型):-40~+85(非可控环境应用型)℃40~+85(非可控环境应用型)表中的插入损耗指标为固定工作波长1310mm、1490mm和1550mm的插入损耗指标，在1260mm~12570nm~1650nm波长区问的插入摄耗指标应在此指标基础上增加0.3dB;P%是以百分比标识的第j路输出端口光功率的单位m%+0.6℃40~+70(室内应用型):℃40—+70(室内应用型):40~+85(非可控环境应用型)表中的插入损耗指标为固定工作波长1310mm、1490mm和1550mm的插入损耗指标，在1260mm~121570nm~1650nm波长区间的插入损耗指标应在此指标基础上增加0.3dB;Pi%是以百分比标识的第1路输出端口光功率的百分数，如1×5、70:30的适配器型非均匀分路器组路输出端口的分光比例为70%,则其对应的IL≤-11×lg(P%)+1.1,即2.8dB;输出端口2~5对应的II≤11×1gP₁%)+3.3×log(N-1)+1.2,即ILS13.6dB(公式计算得出的L值小数点后第二位数四舍五入，最终保留一位小数):只适用于均匀分光输出端口，如1×5的非均匀分路器N-5,均匀分光输出端口数为N-1-4:8YD/T2000.3-20XX6.2高功率传输性能要求在1550nm波长，以100mW的光功率注入非均匀光分路器1h,监测插入损耗变化情况，试验前、试验后的最大插入损耗应在表1或表2规定的范围内，试验前后的插入损耗变化量应不大于0.5dB。非均匀分路器封装宜采用面板型和微型结构，典型非均匀分路器封装结构见附录B.非均匀分路器的组成材料按照GB/T26572的规定进行分类，限用物质含量按照GB/T39560(所有部分)规定的方法进行试验。检测单元尽可能拆分成均质材料，各均质材料中限用物质的含量应符合表3中的限值要求。铅20.1%汞镉20.1%S0.1%00.1%20.1%S0.1%90.1%室内应用型的非均匀分路器封装外壳、适配器和连接头的塑料件燃烧试验按GB/T5169.5-2020进行，其中封装外壳的施加火焰时间为20s,适配器和连接头的施加火焰时间为10s,封装外壳、适配器和连接头的燃烧试验结果应符合GB/T5169.5-2020中第11章的要求：非均匀分路器中的光缆(直径为2mm以下的不作要求)应能阻燃，应能通过GB/T18380.12规定的单根垂直燃烧试验。非均匀分路器外观应平滑、洁净、无油渍、无伤痕及裂纹，整个产品牢固，尾纤无松动非均匀分路器的连接器应插拔平顺(非均匀分路器器件除外)。 NLL少于30cm;NLBPe先将样品在室温下进行预处理，测量其插入损耗并记录：然后，将样品固定在振动台上，在X、Y、Z3个垂直方向的每个轴向上承受振动，轴向之一与器件的公共轴线平行，每个轴向上完成规定的时间。试验后观察并记录其插入损耗数据。冲击试验条件见表4。13522先将样品在室温下进行预处理，测量其插入损耗并记录将样品放在冲击台上(应使被测样品刚性固定，使冲击可以传到器件内部而不被引出线吸收或缓冲),根据样品重量选择、设置冲击试验参数，6个方向(3个轴向),每个方向完成规定次数的冲击：试验后测量并记录其插入损耗数据。7.12光缆抗拉试验(直拉)7.12.1试验目的本试验旨在保证光缆与连接器插头、光缆与封装模块夹持和粘结力在正常使用时能承受施加的拉伸负荷，只适用于用户可触及的光缆。光缆抗拉试验包括封装侧的光缆抗拉试验和连接器插头侧的光缆抗拉试验。适配器型非均匀分路器组件免除封装侧的光缆抗拉试验和连接器插头侧的光缆抗拉试验的测试。插头型非均匀分路器组件(直径0.9mm光纤(单层护套)、涂覆光纤)免除连接器插头侧的光缆抗拉试验的测试7.12.2封装侧的光缆抗拉试验封装侧的光缆抗拉试验的条件如下：——负荷重量：松套光纤(多层护套含加强件，如2.0mm光缆)10N,直径0.9mm光纤(单层护套)5N、涂覆光纤2N:——负荷时间：10N的持续2min、5N和2N的持续Imin;——施加负荷速率：10N的速率5N/s、5N和2N的速率0.5N/s;——施加负荷点A离封装侧距离L范围为22cm~28cm,或负荷点A从光纤尾端起10cm(取离光学尾——负载重量松套光纤(多层护套含加强件，如2.0mm光缆)4.4N、直径0.9mm光纤(单层护套)和涂覆光纤2.3N:——负载角度：与光纤和封装外壳的交界面保持90度：——施加负荷点A离封装侧距离L范围为22cm~28cm,或负荷点A从光纤尾端起10cm(取离光学尾端最短的方式):——保持时间：至少5s将样品在室温下测量插入损耗并记录，将封装模块固定在固定夹具上，按图14所示，尾缆自然下垂，悬挂规定的负载重量，旋转摆臂、使光缆与封装界面保持90°至少5s,然后反向旋转90度回到原位，取下样品进行插入损耗测试，并计算出变化量。在结构设计允许的情况下，上述步骤施加在两个相互垂直的方向。如产品结构上某一放在设置有挡板，其可防止或阻碍光缆弯曲的可免除该方向的测试。7.14.3连接器插头侧的光缆侧拉试验完成封装侧的光缆侧拉后的插入损耗测试后，然后进行连接器插头侧的光缆侧拉试验。LC、SC和FC型连接器光缆侧拉按照YD/T1272.1-2018中6.7.9条、YD/T1272.3-2015中6.79条、YD/T1272.4-2018中6.7.9条的90°侧拉测试方法进行。其它类型的活动连接器按照相应标准的侧拉试验的测试方法去执侧拉试验结束后，取下样品，放置在室温停留2h后，测试并记录样品的插入损耗，并计算出变化量，即与封装侧的光缆侧拉试验前的插入损耗差异。低温试验条件如下：——温度条件：40℃:——温度变化速率：不超过5min时间内的平均值不大于I℃/min:——低温持续时间：可靠性试验1000h。s件c验0插入损耗满足6.1条纹。内部元器件无发00000000注：每项试验不需要进行在线监控，只需进行试验前后插入损耗的测试，井计光缆抗拉试验(直拉)、光缆扭转试验、光缆侧拉试验包括封装试验项目12)各项试验前、后的插入损耗满足本文件6.1温度循环试验项目试验前、中、后的插入指耗23光缆抗拉试验(直拉)4567高温试验(干燥)89注：温度循环试验需要在线监控，其他项试验不需要进光缆抗拉试验(直拉》、光缆扭转试险、光缆例拉试验包括封装低温试验中低温、高温试验(干燥)中高温、高湿温度循环试验中循环次数为21次。并且需要对样品进行试验前、试验中(每10uin测试一次)——产品长期停产12个月后，恢复生产时：——出厂检验结果与产品定型时的型式检验有较大差别时——正常生产24个月后： 国家质量监督机构提出进行型式检验要求时。在进行型式检验前，应按照本文件第7章的测试方法完成外观检查、固定工作波长的插入损耗、偏振相关损耗、固定工作波长的通道均匀性、回波损耗、工作带宽、方向性、全工作带宽插入损耗和全工作带宽通道均匀性的测试。外观应符合6.6条的要求，光学特性应符合表1和表2的要求。9.3.3检验项目及抽样方案型式检验的检验项目及抽样方案应符合表5的要求。9.3.4产品不合格的判定各项试验完成后，不合格的判定按表5规定执行，若其中任何一项试验不符合要求时，则判该批不9.3.5不合格批的重新提交对不合格分组的产品，可进行返工，以纠正缺陷或筛除去失效产品，然后重新检验。重新检验应采用加严抽样方案(样本量为原来的2倍，允许失效数为0),如通过检验，判为合格。但重新检验不得超过2次，并应清楚标明为重新检验批。9.3.6样品的处理凡经受了型式检验的样品，一律不能作为合格品交付使用。在不影响检验和试验结果的条件下，一组样品可用于其他分组的检验和试验9.3.8检验批的构成提交检验的批，可由一个生产批构成，或由符合下述条件的几个生产批构成：这些生产批是在相同材料、工艺、设备等条件下制造出来的： 若干个生产批构成一个检验批的时间不超过1个月。10标志、包装、运输和贮存10.1.1标志内容每个产品应标明清楚各个输出端口分光比例、产品型号、规格、编号、批的识别代码及安全等标志(如果产品体积小，应按优先顺序打印标志)。10.1.2标志要求进行全部试验后，标志应保持清晰。标志破损了的产品必须重新打印标志，以保证发货之前标志的清晰。10.1.3污染控制标志产品的污染控制标志应按SJ/T11364-2014第5章规定，在包装盒或产品上打印上电子电气产品污染控制标志。产品应有良好的包装措施，避免在运输过程中受到损坏。包装盒上应标有产品名称、型号和规格、生产厂家、产品执行标准号等。包装盒内应有产品说明书。说明书内容包括非均匀光分路器名称、型号，简要工作原理和主要技术指标，工作条件，安装尺寸，使用注意事项等。包装好的产品使用常用的交通工具运输，运输中避免雨、雪的直接淋袭，烈日曝晒和猛烈撞击产品应贮存在环境温度为-10℃~+45℃,相对湿度不大于80%且无腐蚀性气体、液体的仓库里贮存期超过12个月的产品，出库前应按本文件第7章的测试方法完成外观检查、固定工作波长的插入损耗、偏振相关损耗、固定工作波长的通道均匀性、回波损耗、工作带宽、方向性、全工作带宽插入损耗和全工作带宽通道均匀性的测试，测试结果应符合表1和表2的要求方可出库。表A.14路分光均匀的1×5非均匀分路