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文档简介

1QC/TXXXX—202X道路车辆带宽至10GHz屏蔽平衡电缆本文件规定了道路车辆用信号模拟带宽最高至10GHz一对屏蔽平衡电缆的要求、试验方法、检验规则、包装和标记。本文件适用于传输标称阻抗100Ω差分信号的额定电压为交流30V或直流60V及以下的道路车辆电路系统用一对屏蔽平衡电缆,。其应用于以太网通信信道速率最高至25Gbit/s(参见附录A)。其也可应用于道路车辆的其它网络通信系统,如ECU系统间的PCIe,显示系统间的GMSL和FPD-link等,但这些应用不在本文件描述范围之内,具体信息由供需双方协商确定。2规范性引用文件下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅所注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。GB/T11327.1聚氯乙烯绝缘聚氯乙烯护套低频通信电缆电线第1部分:一般试验和测量方法GB/T25085.1-202X道路车辆汽车电缆第1部分:术语和设计指南(ISO19642-1:2019,IDT)GB/T25085.2-202X道路车辆汽车电缆第2部分:试验方法(ISO19642-2:2019,IDT)GB/T25085.3-2020道路车辆汽车电缆第3部分:交流30V或直流60V单芯铜导体电缆的尺寸和要求(ISO19642-3:2019,IDT)GB/T31723.404金属通信电缆试验方法第4-4部分:电磁兼容3GHz及以上屏蔽衰减as试验方法三同轴法(IEC62153-4-4:2015,IDT)QC/T414—2016汽车用电线(电缆)的颜色规定和型号编制方法IECTS61156-1-2用于数字通信的多芯和对称线对/星组电缆第1-2部分:对称线对/星组电缆电气传输特性和测试方法(Multicoreandsymmetricalpair/quadcablesfordigitalcommunicationsPart1-2:Electricaltransmissioncharacteristicsandtestmethodsofsymmetricalpair/quadcables)IEC62153-4-9金属通信电缆试验方法第4-9部分:电磁兼容屏蔽平衡电缆的耦合衰减,三同轴法(Metalliccommunicationcabletestmethods—Part4-9:Electromagneticcompatibility(EMC)—Couplingattenuationofscreenedbalancedcables,triaxialmethod3术语和规定GB/T25085.1—XXXX1)界定的以及下列术语和规定适用于本文件。3.1不平衡衰减unbalanceattenuations不平衡衰减是平衡电缆差模和共模信号之间相互转换的剩余电平值,单位为分贝(dB)。2QC/TXXXXX—202X——横向转换损耗,TCL(transverseconversionloss近端(1)输入,或表示为S:共模(c)远端——横向转换转移损耗,TCTL(transverseconversiontran输出、差模(d)近端(1)输入,或表示为S:共模(c)近端(1)输出、差模(d)远端(2)输入;——纵向转换转移损耗,LCTL(longitudinalconversiontra输出、共模(c)近端(1)输入,或表示为S:差模(d)近端(3.2差模differentialmodeDM幅值相同、相位相反的一对信号,在整个系统中与地间之间对称传播。3.3插入损耗(衰减)insertionloss(attenuation)传输线的信号功率损失,单位为分贝每米(dB/m)。对于平衡系统,IL可根据S参数Sdd21或Sdd12计算。3.4传播速度velocityofpropagationvp电磁波沿传输线的速度,通常表示为与光速的百分比(%)。3.5传播延迟propagationdelaytpd信号从发送方传输到接收方所需的时间,单位为纳秒(ns)。3.6共模commonmodeCM信号基于与地的电位差形成电磁波传播。3.7工作电容mutualcapacitanceC平衡线对中两根绝缘导线之间的电容,单位为皮法每米(pF/m)。3.8回波损耗returnlossRL3QC/TXXXX—202X以分贝(dB)表示的输入信号功率与反射或返回信号功率的比值。对于平衡系统用Sdd11或Sdd22表示。3.9选通gating从时域(3.14)电缆测量数据中消除连接器和连接硬件特性影响的数学方法。3.10平衡电缆balancedcables数据传输电缆的一种,由沿其长度方向具有均匀差模阻抗的两个芯线组成。3.11频域frequencydomain信号相对于频率变化的表示。3.12去嵌de-embedding从频域(3.12)电缆测量数据中消除连接器和连接硬件特性影响的数学方法。3.13时域timedomain信号相对于时间变化的表示。3.14特性阻抗characteristicimpedance单个波的电场强度(V/m)和磁场强度(A/m)之比,物理单位为欧姆(Ω)。——频域(3.12)差模(3.2)特性4型号规格电缆型号规格按QC/T414进行标记,参见附录B。5要求5.1额定电压额定电压为30VAC或60VDC及以下。额定电压应在产品数据表中明确。5.2额定温度电缆温度的额定值应等于绝缘芯线和护套的最低额定值。电缆按3000h的持续工作时间选择工作温度。对于温度等级的详细信息见GB/T25085.1。额定温度应在产品数据表中规定。4QC/TXXXXX—202X5.3模拟带宽电缆测试的频率应最高至10GHz,可向下兼容等效模拟信号带宽分别为最高至9GHz,4GHz,2GHz,1GHz和0.6GHz的应用。5.4电缆结构和尺寸5.4.1总则电缆的结构和尺寸应在产品数据表中规定,并经供需双方协商确定。产品结构示意图和产品数据表参考示例见附录B。5.4.2绝缘芯线5.4.2.1导体5.4.2.1.1导体材料宜采用GB/T25085.3规定的导体材料。经供需双方协商确定,允许使用其它导体材料,并在产品数据表中规定。5.4.2.1.2导体结构线芯的导体结构见GB/T25085.3。5.4.2.1.3导体直径宜采用GB/T25085.3中规定的导体直径值。必要时允许在产品数据表中另行规定。5.4.2.1.4横截面积(CSA)宜采用GB/T25085.3中规定的横截面积,必要时允许在产品数据表中另行规定。5.4.2.2绝缘电介质5.4.2.2.1电介质材料使用的电介质材料应在产品数据表中规定。对于标准损耗电缆,宜采用实心材料,以获得更佳的机械特性和环境特性;对于低损耗电缆可采用发泡或发泡/实心皮材料。材料耐热性应满足额定等级温度的要求。5.4.2.2.2电介质厚度绝缘芯线的电介质最小厚度应在产品数据表中规定。电介质厚度单个值应不小于要求的最小厚度。5.4.2.2.3绝缘芯线的电介质外径绝缘芯线的电介质外径应符合GB/T25085.3的规定,如有不同,应由供需双方协商确定,且在产品数据表中规定。5.4.2.2.4在制绝缘芯线电介质外径监控5QC/TXXXX—202X在制绝缘芯线的电介质挤出过程必须进行外径连续监测,任意值不得超出规定的公差。5.4.2.2.5绝缘芯线颜色绝缘芯线的电介质表面需要着色,颜色应符合QC/T414。同一根绝缘芯线的电介质上不宜采用双色进行着色。以保证电介质的高频介电性能稳定。注:组成一对平衡对的2个绝缘芯线颜色组合优先采用白和绿。采用其它颜色5.4.3平衡对5.4.3.1结构由2根结构和性能保持一致的电介质绝缘芯线形成平衡对。平衡对可以是:——小节距双绞线;——大节距双绞线;——无节距平行线。平衡对结构应在产品数据表中规定,并由供需双方协商确定。5.4.3.2节距如果平衡对有节距,应在产品数据表中规定节距。5.4.3.3平衡对外径对于屏蔽电缆,平衡对外径相当于屏蔽内径,应不大于2倍单个绝缘芯线最大外径。5.4.4屏蔽5.4.4.1屏蔽结构屏蔽应由多根金属丝的编织物组成。此外,电介质与编织层之间允许使用金属箔或金属—聚合物复合箔或金属—聚合物—金属复合箔,金属面与编织物应保持接触且电导通。5.4.4.2编织密度编织密度应不小于80%。编织密度应在产品数据表中规定,并由供需双方协商确定。5.4.4.3屏蔽外径屏蔽外径等于护套内径,并在产品数据表中规定。5.4.5护套5.4.5.1护套材料护套材料应满足电缆抗延燃要求。使用的材料应在产品数据表中规定。5.4.5.2护套厚度按GB/T25085.1—XXXX的附录A确定护套的厚度。护套厚度应在产品数据表中规定,并由供需双方协商确定。护套厚度的单个值应不小于要求的最小厚度。6QC/TXXXXX—202X5.4.5.3在制护套电缆外径在制电缆护套挤出过程外径必须监测,单个值不得超出公差。要求的公差在产品数据表中规定。5.4.6表面和标记电缆表面不应有明显裂纹、气泡、杂质和超过公差的凹凸。电缆护套的颜色和标记按QC/T414,优先采用黑色。5.4.7成品电缆5.4.7.1电缆直径电缆外径和护套内径应在产品数据表中规定,并由供需双方协商确定。电缆外径和护套内径任意值应不大于规定的最大值。5.4.7.2电缆护套椭圆度电缆护套轮廓应尽可能接近圆形,以便于和连接器完好匹配。电缆护套椭圆度应不大于10%。5.5电气特性5.5.1导体电阻最大导体电阻的确定见GB/T25085.1—XXXX的附录A.5,设计指南。导体电阻应包括扭绞损耗。单根芯线的导体电阻不应超出公差。5.5.2电介质耐电压施加1kVAC的测试电压后,30min内不应发生击穿。5.5.3电介质缺陷在电介质的挤出过程中,所有绝缘芯线都应进行1kV交流在线绝缘缺陷测试,不应发生击穿。5.5.4绝缘体积电阻率绝缘芯线电介质的绝缘体积电阻率值应不小于1×1011Ω.mm。5.5.5电气连续性所有导体和屏蔽应保持电气连续性。5.5.6成品的耐电压在护套的末端施加1kV交流或直流的测试电压至少3s,绝缘芯线之间和绝缘芯线对屏蔽之间不应发生击穿。5.5.7护套缺陷在护套的挤出过程中,所有电缆都应进行3kV交流在线护套缺陷测试,交付状态的产品不应有击穿5.5.8工作电容7QC/TXXXX—202X线对的工作电容值应在产品数据表中规定。5.6机械特性5.6.1绝缘剥离力绝缘芯线的绝缘应能够从导体中移除。剥离力范围可由供需双方协商确定。5.6.2护套剥离力电缆的护套应能够从内部芯中移除。剥离力范围可由供需双方协商确定。5.6.3护套耐磨对于经常受到强烈摩擦的电缆经供需双方协商确定可进行护套耐磨测试。耐磨值由供需双方协商确其它电缆不需要进行本测试。5.7环境特性5.7.1电介质热收缩电介质受热时两端的最大收缩值应不超过2mm。5.7.2抗应力开裂FEP和ETFE等容易出现环境应力开裂问题的材料应进行抗应力开了测试。经抗应力开裂试验后,不应露导体,最终检查的耐电压试验期间不应发生击穿。5.7.3长期热老化在温度等级额定值下3000h的老化后,老化后样品室温卷绕试样应无裂纹,最终检查的耐电压试验期间不应发生击穿。5.7.4短期热老化在温度等级额定值加25℃下240h的短期热老化后,老化后样品-25℃卷绕试样应无裂纹,最终检查试验的耐电压试验期间不应发生击穿。5.7.5热过载在温度等级额定值加50℃下6h的热过载后,老化后样品室温卷绕试样应无裂纹,最终检查试验的耐电压试验期间不应发生击穿。5.7.6高温压力电缆护套要经受高温压力试验,压痕区域内的最小厚度应不小于正常护套厚度平均值的40%。5.7.7护套热收缩电缆护套经热收缩试验后,两端最大收缩值应不超过5mm。5.7.8低温卷绕电缆经低温卷绕试验后试样应无裂纹,最终检查的耐电压期间不应发生击穿。8QC/TXXXXX—202X5.7.9冷冲击电缆应经受冷冲击试验,冲击重锤的质量为100g,试样应无裂纹,最终检查的耐电压期间不应发生击穿。5.7.10温度和湿度循环试验后试样应无裂纹。5.7.11耐液体化学品对于接触液体化学品的电缆经供需双方协商确定可进行相关耐液体化学品测试,其它电缆不需要进行本测试。经受耐液体化学品试验后试样应无裂纹。其它要求可由供需双方协商确定。5.7.12护套标记的耐久性由供需双方协商确定可进行护套标记的耐久性测试。经护套标记耐久性试验后,试样上标识应可辨认。5.7.13耐臭氧对于长期暴露在内燃机尾气环境的电缆经供需双方协商确定可进行耐臭氧测试,其它电缆不需要进行本测试。经受耐臭氧试验后护套目视检查应无裂纹。5.7.14人工大气老化对于长期暴露在车外太阳直射的环境的电缆经供需双方协商确定可进行人工大气老化测试,其它电缆不需要进行本测试。经受人工大气老化试验后护套目视检查应无裂纹。5.7.15抗延燃电缆护套材料上的任何燃烧火焰应在点火结束后的70s内熄灭,并且试样顶部至少50mm的护套应保持未燃烧状态。五个试样均应通过试验。5.8传输特性5.8.1传播速度5.8.1.1传播速度(vp)在0.2GHz到10GHz频率范围内频率范围内的vp:——对于标准电缆应不小于光速的56%;——对于低损耗电缆应不小于光速的67%。5.8.1.2传播延迟(tpd)在时域500ps上升时间下测量的tpd:——对于标准电缆应不大于6.0ns/m;9QC/TXXXX—202X——对于低延迟电缆应不大于5.0ns/m。5.8.2特性阻抗(CI)5.8.2.1总则除非特别说明,可以测试频域差模特性阻抗(CIDMF也可以测试时域差模特性阻抗(CIDMT)。5.8.2.2频域差模特性阻抗(CIDMF)交付状态的电缆频域差模特性阻抗(CIDMT应尽可能靠近标称值100Ω,偏差不得超出±3Ω。5.8.2.3时域差模特性阻抗(CIDMT)交付状态的电缆和环境特性测试作用后的电缆时域差模特性阻抗(CIDMT)应尽可能靠近标称值100Ω。评估窗口中的测试值应不得超出±3Ω。5.8.3插入损耗(IL)通过最大单个值对应的频率,可以确定电缆模拟频率的上限。在0.01GHz到10GHz频率范围内,交付状态的标准电缆和低损耗电缆室温下IL在应不大于表1规定的限值。IL限值的图示见图1。f0.192f+1.14f+0.0707(f/7.5)-0.03f1249QC/TXXXXX—202X5.8.4回波损耗(RL)在0.01GHz到10GHz频率范围内,交付状态的电缆在室温下RL应不小于表2规定的限值。RL限值的图示见图2。表2RL限值要求f22+8.6log(10f)26-10log(f/0.604)QC/TXXXX—202X图2RL限值的图示5.8.5不平衡衰减在0.01GHz到10GHz频率范围内,交付状态的电缆室温下不平衡衰减(LCTL或TCTL)的限值应不小于20dB。LCTL或TCTL限值的图示见图3。QC/TXXXXX—202X图3LCTL或TCTL限值的图示5.8.6屏蔽衰减(as)在0.03GHz到10GHz频率范围内,交付状态的电缆在室温下as值应不小于50dB的限值。as限值的图示见图4。图4as限值的图示5.8.7耦合衰减(ac)在0.03GHz到10GHz频率范围内,交付状态的电缆在室温下ac值应不小于表3的规定。表3ac的限值要求f(f/7.5)ac限值的图示见图5。QC/TXXXX—202X图5ac限值的图示5.8.8额定温度等级最低和最高温度下的传输特性在额定温度等级最低和最高温度下传输特性的偏差要求由供需双方协商确定。5.8.9长期热老化后的传输特性老化前后试样附加传输特性的偏差要求由供需双方协商确定。5.8.10动态作用后的传输特性电缆动态作用后的传输特性要求应由供需双方协商确定。5.8.11最小弯曲半径6试验方法6.1总则除非另有规定,除在线检测和出厂检验外的所有试验样品应在温度(23±5)℃,相对湿度(45~75)%RH环境下存放至少16h。6.2尺寸测试6.2.1总则QC/TXXXXX—202X除非另有规定,绝缘芯线均按GB/T25085.2—XXXX2)的5.1进行相关测试;成品电缆均按GB/T25085.2—XXXX的6.1进行相关测试。6.2.2绝缘芯线电介质外径按GB/T25085.2—XXXX的5.1.2进行。6.2.3电介质厚度按GB/T25085.2—XXXX的5.1.3进行。6.2.4导体直径按GB/T25085.2—XXXX的5.1.4进行。6.2.5横截面积按GB/T25085.2—XXXX的5.1.5进行。6.2.6在制电介质绝缘芯线外径6.2.7电缆直径按GB/T25085.2—XXXX的6.1.1进行。6.2.8电缆护套椭圆度按GB/T25085.2—XXXX的6.1.2进行。6.2.9护套厚度按GB/T25085.2—XXXX的6.1.3进行。6.2.10在制护套电缆外径按GB/T25085.2—XXXX的6.1.4进行。6.2.11节距6.2.11.1试样从成品电缆上至少取3个不小于1200mm的试样。6.2.11.2试样制备从试样中心移除至少5倍要评估元件节距长度的护套和任何其它电缆元件。对试样施加较小的纵向拉力拉直被测试样。6.2.11.3测试测量端到端的长度lEE和节数NLL,然后计算节距。QC/TXXXX—202XlEENLL式中:h电缆元件的节距,单位为毫米(mmlEE所有计算节距的端到端距离,单位为毫米(mmNLL样本的节数。6.2.11.4报告在测试报告中记录节距最小值、最大值和平均值。6.2.12编织密度按GB/T25085.1-XXXX的3.3.5进行。6.3电气特性测试6.3.1总则除非另有规定,绝缘芯线均按GB/T25085.2-XXXX的5.2进行相关测试,成品电缆均按GB/T25085.2-XXXX的6.2进行相关测试。6.3.2导体电阻按GB/T25085.2—XXXX的5.2.1进行。6.3.3电介质耐电压按GB/T25085.2—XXXX的5.2.3进行。6.3.4电介质缺陷按GB/T25085.2—XXXX的5.2.5进行。6.3.5绝缘体积电阻率按GB/T25085.2—XXXX的5.2.6进行。按GB/T25085.2—XXXX的6.2.1进行。6.3.7成品的耐电压按GB/T25085.2—XXXX的6.2.2进行。6.3.8护套缺陷按GB/T25085.2—XXXX的6.2.4进行。6.3.9工作电容6.3.9.1试样至少对3个样品进行测试。QC/TXXXXX—202X样品的长度应不小于10m,并记录在测试报告中。6.3.9.2测试按GB/T11327.1在室温下进行工作电容测试。6.3.9.3报告以皮法每米(pF/m)为单位计算电容值,并在测试报告中记录最小值、最大值和平均值。6.4机械特性测试6.4.1总则除非另有规定,绝缘芯线均按GB/T25085.2—XXXX的5.3进行相关测试,成品电缆均按GB/T25085.2—XXXX的6.3进行相关测试。试验在温度(23±5)℃,相对湿度(45~75)%RH的环境进行。6.4.2绝缘芯线剥离力按GB/T25085.2—XXXX的5.3.1进行。6.4.3护套剥离力按GB/T25085.2—XXXX的6.3.1进行。6.4.4护套耐磨6.4.4.1试样准备1个1m长的试样。从电缆的一端去除100mm护套,然后将每根裸露的绝缘芯线从端头去除25mm绝缘,最后将剥离绝缘端导体和屏蔽扭在一起。6.4.4.2基本测试程序将绞导体和屏蔽连接到测试设备的导体检测端子。当测试系统检测到砂纸或刮针与屏蔽连接时,测试终止,并记录砂带长度或挂针往复次数。6.4.4.3砂带拖磨试验按GB/T25085.2—XXXX的5.3.2.4进行试验,施加4kg的附加重物。6.4.4.4刮磨试验按GB/T25085.2—XXXX的5.3.2.5进行试验,施加7.00±0.05N的总垂直力。6.5环境特性测试6.5.1总则除非另有规定,绝缘芯线均按GB/T25085.2—XXXX的5.4进行相关测试,成品电缆均按GB/T25085.2—XXXX的6.4进行相关测试。6.5.2电介质热收缩按GB/T25085.2—XXXX的5.4.6进行。QC/TXXXX—202X6.5.3耐应力开裂性按GB/T25085.2—XXXX的5.4.13进行。6.5.4长期热老化按GB/T25085.2—XXXX的6.4.2进行。6.5.5短期热老化按GB/T25085.2—XXXX的6.4.3进行。6.5.6额定温度等级加50℃下6h热过载按GB/T25085.2—XXXX的6.4.4进行。6.5.7高温压力试验按GB/T25085.2—XXXX的6.4.5进行。6.5.8护套热收缩按GB/T25085.2—XXXX的6.4.6进行。6.5.9低温卷绕按GB/T25085.2—XXXX的6.4.7进行。6.5.10冷冲击按GB/T25085.2—XXXX的6.4.8进行。6.5.11温度和湿度循环按GB/T25085.2—XXXX的6.4.9进行。6.5.12耐液体化学品按GB/T25085.2—XXXX的6.4.10进行。6.5.13护套标记的耐久性按GB/T25085.2—XXXX的6.4.11进行。6.5.14耐臭氧按GB/T25085.2—XXXX的6.4.12进行。6.5.15人工大气老化按GB/T25085.2—XXXX的6.4.13进行。6.5.16抗延燃按GB/T25085.2—XXXX的6.4.14进行。6.6传输特性测试QC/TXXXXX—202X6.6.1.1基本测试设备对于频域中的测量,应使用适当的VNA(矢量网络分析仪)。对于时域中的测量,应使用适当的TDR(时域反射计)或带有TDR选项的VNA。传输特性测试仪器的具体操作参见附录C。测试夹具的要求参见附录D。6.6.1.2基本测试程序用交付状态的新电缆进行测试。在施加机械和环境作用后再次测试电缆。测量应在室温下进行。至少应测量3个样品。测试中可以按附录E采用选通方法和按附录F采用去嵌方法,以消除装置和夹具造成的误差,并在测试报告中说明。应保持DUT和同轴测试电缆的最小弯曲半径。若无另外说明,直接测量的DUT长度应为10m。去嵌测量的DUT长度应为10.2m。(不需要进一步修正,去嵌后的DUT的长度等于标称10m。)并且必须记录在测试报告中。6.6.2传播速度6.6.2.1传播速度vp(f)使用对称激励进行测试。按IECTS61156-1-2在室温下执行传播相速度VP和相位系数β测试。以表格和图表的形式记录测试设置和结果VPf。6.6.2.2传播延迟6.6.2.2.1试样准备10m长的试样。6.6.2.2.2测试使用具有时域分析功能的测量装置(具有时域传输(TDT)功能的时域反射仪TDR或具有时域分析函数的矢量网络分析仪VNA)。或使用测量装置的TDT功能测量传播延迟(近端的激励输入,远端的测将10m长的试样放置在试验装置上。使用规定的测试夹具将测量设备连接到测试装置。对测试设置输入进行校准,包括确定连接硬件的传播延迟。插入被测试样,并按图6确定通过试样的信号振幅上升至所施加矩形波全振幅50%的时间。QC/TXXXX—202X图6延迟时间读取通过减去校准期间获得的连接硬件的传播延迟值来修正测量的传输时间。由测量和修正的传输时间除以10m计算得出的纳秒每米(ns/m)值为每1m的传播延迟。6.6.3特性阻抗6.6.3.1总则使用对称激励执行差模传输特性测试。差模中的特性阻抗可以测量为——频域差分特性阻抗(CIDMF按6.6.3.2。——时域差分特性阻抗(CIDMT按6.6.3.3,在返回时间(1~2)ns的评估窗口内测量。如果未另行规定,则使用脉冲上升时间设置为最大值500ps的TDR。6.6.3.2频域特性阻抗6.6.3.2.1试样至少对3个样品进行测试。样品的长度应不小于10m,并且必须记录在测试报告中。6.6.3.2.2测试按6.3.9在1kHz下测量一对中的两根芯线之间的工作电容。按6.6.2使用对称激励测量差模传输的相位传播速度。6.6.3.2.3计算按以下公式计算每个频率点的特性阻抗:ZC(f)=10−12vp(f)×C'QC/TXXXXX—202X式中:ZC(f)——特性阻抗,单位为欧姆(Ω);f——频率,单位为吉赫兹(GHzvp(f)——相速度,单位为米每秒(m/sC'——工作电容,单位为皮法每米(pF/m)。用曲线图记录结果ZCf。6.6.3.3时域特性阻抗6.6.3.3.1测试阻抗测量可以按一端口设置在两端依次执行,远端测量夹具端接到终端负载或测量仪器的差分端口。如果确保结果明确且不会被DUT开路端的反射影响,则DUT的远端也可以保持开路以便于处理。可以应用规定的上升时间通过软件过滤TDR范围内的反射信号。特性阻抗应在从1ns到2ns往返时间的测试区域内进行测量。基准时间0ns应在未连接DUT的情况下针对开路的测量夹具进行测量,其中所规定上升时间的脉冲响应达到其最大值。abXX——时间(往复单位为纳秒(nsY1——阻抗,单位为欧姆(Ω);图7TDR测量评估窗口的示例6.6.3.3.2动态作用点的特性阻抗测试为了测定电缆中位置相关的阻抗,应使用TDR。它在所用测试设备的最大可用频率范围内测量电缆中某个位置的阻抗。但它没有提供有关其它频率点的阻抗行为的信息。示例:在进行弯曲测试时,使用该方法进行的测量会提供有关弯曲点阻抗QC/TXXXX—202XTDR脉冲的上升沿时间是35ps,取值范围是10%-90%。被测电缆的近端以合适的形式连接到TDR。使用的连接电缆应具有低衰减并具有与TDR相同的阻抗。被测电缆的远端保持开路状。使用常数因子k(典型的和1/εr成正比)可以把时间轴转换为长度轴(被测电缆的长度刻度)。因此,可以获得与电缆中的位置相关的阻抗。通过迭代不同的电缆长度,该因子k可以根据需要确定。注:与测试设备和/或测量头的距离越大,电缆的衰减值越高,获得的阻抗值越大。当使用较短的低衰减连接电缆和常用的被测电缆(最大2.0m)时,这种增加相对较小。然而,阻抗不应被视为绝对值,而作用前后阻抗的以下信息应记录在测试报告中:——从输入点到关注点的行程时间/位置长度,用纳秒(ns)/毫米(mm)表示;——关注点的阻抗;——处于新状态时的阻抗;——作用前后以百分比计算的阻抗变化率。6.6.4插入损耗(IL)使用对称激励执行差模传输特性测试。按IECTS61156-1-2使用4端口VNA在室温和规定温度下进行IL测试。在选定频率下的记录ILf,并作以连续频率的图示。6.6.5回波损耗(RL)使用平衡激励执行差模传输特性测试。按IECTS61156-1-2在室温和规定温度下进行RL测试。在选定频率下记录RLf,并以连续频率作出图示。6.6.6不平衡衰减按IECTS61156-1-2在室温和规定温度下进行不平衡衰减(LCTL/TCTL)测试。在选定频率下记录记录LCTLf或TCTLf,并以连续频率作出图示。6.6.7屏蔽衰减(as)按GB/T31723.404中的规定制备试样,采用三同轴法在室温测试as。6.6.8耦合衰减(ac)按IEC62153-4-9中的规定制备试样,采用三同轴法在室温测试ac6.6.9额定温度等级最低和最高温度下的传输特性对于在-40℃或额定温度等级温度最大值下的传输特性测量,需要将10m测试样品放入烘箱或气候室。然后将电缆末端通过烘箱或气候室的通孔馈送到外部并连接到测量装置。从烘箱或气候室伸出的电缆末端的长度不得超过500mm。将样品在要求的测试温度下至少存放4h。然后执行传输特性测量。测试项目包括:——特性阻抗(CIDM按6.6.3进行;——插入损耗(IL按6.6.4进行;——回波损耗(RL按6.6.5进行;——不平衡衰减(LCTL/TCTL按6.6.6进行。QC/TXXXXX—202X6.6.10长期热老化后的传输特性准备3个10m长的试样。按照6.5.4,将所有试样在额定温度等级最高温度的烘箱中放置3000h。——热老化前,在室温进行初始的传输特性测量;——在3000h热老化后降至室温并调节至少4h,然后再进行传输特性测试。测试项目包括:——特性阻抗(CIDM按6.6.3进行;——插入损耗(IL按6.6.4进行;——回波损耗(RL按6.6.5进行;——不平衡衰减(LCTL/TCTL按6.6.6进行。6.6.11动态作用后的传输特性6.6.11.1总则这些测试通常仅在OEM的特殊要求下进行。它们仅用于评估特殊安装位置(例如开合门与车身连接接区域)。须针对实际应用调整测试参数。影响因素是弯曲半径、重力作用、温度和循环次数。试验后按6.6.3.3进行时域差模特性阻抗(CIDMT)测试,测试信号上升沿时间为50ps。测试后应记录:——从输入点到关注点的行程时间/位置长度,以纳秒(ns)/毫米(mm)为单位;——关注点的阻抗:•处于作用前的新状态,•动态作用后,•作用前后以百分比计算的变化率。按6.6.7进行屏蔽衰减测试时,弯曲点应在接头长度范围内。6.6.11.2测试A:循环弯曲测试6.6.11.2.1试样准备两个长度不小于为10m的试样。6.6.11.2.2测试重物的质量为0.5kg/mm2乘以导体的总横截面积,总横截面积也包括电缆附带的编织屏蔽。重物由两半组成,中间有一个双V形孔。这将允许在具有不同总外径的电缆上使用相同的重物。对于重物,不要使用导电或磁性材料。用胶带将两半重物连接起来。芯轴的圆形轮廓半径按图8,固定为(25±0.5)mm,与被测电缆无关。QC/TXXXX—202X3——电缆导向器,孔应比最大电缆总直径大0.2mm;10——≥5——卷起多余的电缆;6——半径≥0.5mm;7——半径±0.5mm;图8循环弯曲测试QC/TXXXXX—202X将电缆末端卷起成环状,直径d≥200mm,必要时用胶带固定。确保重物下边缘与卷起的电缆之间的电缆长度大于250mm。循环弯曲次数见表4,一个弯曲循环包括:第1步:从0°位置开始;第2步:将芯轴逆时针旋转至180°位置;第3步:将芯轴顺时针转回0°位置。弯曲速率:每分钟(6±1)次。使用如图8的装置将各个导体和屏蔽(如果有)串联,以检测电气连续性的中断。表4循环次数℃5355356356.6.11.2.3循环弯曲后的传输特性测试在试样完好的完成全部循环后,在室温下进行以下传输特性测试:——时域差模特性阻抗(CIDMT按6.6.3.3进行;——插入损耗(IL按6.6.4进行;——回波损耗(RL按6.6.5进行;——不平衡衰减(LCTL/TCTL按6.6.6进行;——屏蔽衰减(as按6.6.7进行。6.6.11.3测试B:动态扭转测试6.6.11.3.1试样制备需要测试3个样品。每次测试都必须使用新样品。弯曲点位于距离传输特性测量设备的连接处(2±0.5)m。6.6.11.3.2测试说明夹持电缆两端。电缆在夹子之间的自由空间中形成四分之一圆。下部夹具固定,另一端沿着电缆轴旋转±90°,从而扭转电缆。参见图9。其中,四分之一圆的半径为75mm,夹持点之间的电缆长度为118mm。循环弯曲次数见表4。QC/TXXXX—202X图9扭转试验台6.6.11.3.3动态弯曲试验后的传输特性测试在完好的完成全部循环后,室温下进行以下传输特性测试:——时域差模特性阻抗(CIDMT按6.6.3.3进行;——插入损耗(IL按6.6.4进行;——回波损耗(RL按6.6.5进行;——不平衡衰减(LCTL/TCTL按6.6.6进行;——屏蔽衰减(as按6.6.7进行。6.6.11.4测试C:扭转和弯曲组合测试6.6.11.4.1测试装置测试装置见图10,电缆同时受到扭转和弯曲的应力。受力部分规定为夹具之间的部分(内边缘到内边缘)。它从距电缆末端1700±10mm开始,并延伸到300±3mm的电缆长度。在位置1安装电缆,使电缆轴的方向遵循圆盘边缘的切线。两侧最多1m可以在试验箱外面。QC/TXXXXX—202X图10扭转和弯曲组合试验台6.6.11.4.2测试说明使用新样品。样品的长度为4.0m。测试装置应符合以下参数:——圆盘直径200mm;——垂直距离200mm;——转角135°;——位置1:上卡箍的电缆中点位于下卡箍受力区起点的上方;——位置2:转盘相对于位置1在顶视图中转动135°。6.6.11.4.3一个循环的规定一个循环包括从位置1旋转到位置2的时间T1,中断时间P1,从位置2旋转回到位置1的时间T2和第二个中断时间P2:Tc=T1+P1+T2+P2旋转的时间T1和T2相同,大约为1s到2s。中断时间P1和P2是相同的,应选择时间为(15±1)s。6.6.11.4.4循环测试循环测试的试验安排按表5和图11进行。QC/TXXXX—202X表5扭转和弯曲组合试验执行的循环00循环开始和结束时可选传输特性测试冷却,温度变化≥2K/min,循环进定循环开始和结束时可选进行传输特加热,温度变化≥2K/min,循环进循环开始和结束时可选进行传输特冷却,温度变化≥2K/min,循环进行可选冷却,温度变化≥2K/min,循X——循环;QC/TXXXXX—202XY1——温度,单位为摄氏度(℃);图11温度、湿度和传输特性测试点示意图6.6.11.4.5过程中传输特性测量在测量期间,循环停止。测量应在两个位置进行并记录。为了测量衰减,被测电缆的第二端在从气候室中取出之前,必须首先保持其在转轴附近。按6.6.3.3时域特性阻抗的TDR方法测量与电缆中位置相关的阻抗。6.6.11.4.6扭转和弯曲组合测后的传输特性测试在完好的完成完整的测试循环后,进行以下传输特性测试:——时域差模特性阻抗(CIDMT按6.6.3.3进行;——插入损耗(IL按6.6.4进行;——回波损耗(RL按6.6.5进行;——不平衡衰减(LCTL/TCTL按6.6.6进行;——屏蔽衰减(as按6.6.7进行。6.6.12最小弯曲半径将样品围绕芯轴以均匀的圈数紧密卷绕一次。施加足够的张力以确保样品接触芯轴。测试包括一次卷绕和展开。测试在室温下进行。测试参数见表6。表6最小弯曲半径评定参数5试验后从芯轴上解开电缆进行如下传输特性测试:——差模特性阻抗(CIDM按6.6.3进行;——插入损耗(IL按6.6.4进行;——回波损耗(RL按6.6.5进行;——不平衡衰减(LCTL/TCTL按6.6.6进行。7检验规则7.1总则产品按表7进行试验。定型试验和周期试验的样品必须从经过出厂检验合格的产品中抽样进行。QC/TXXXX—202X表7产品试验项目清单1●●●2●●●3●●●4●●●5 ●6●●●7●●●8●●●9———●●●●●●●●●● ——●●——●●●●●●——●●●●●●●●●●护套耐磨●——●●●●●●●——●●—●——●——●●●●●-●--●--●——● ●——●——●● ●●—●● QC/TXXXXX—202X表7(续)●●●●●●●●●●●●●●—●● 额定温度等级最低和最高● ● ●——●——除非明确说明,可以采用频域或时域测量的其中一种。7.2定型试验应检验产品的全部性能。定型试验只进行一次,除非产品的结构、材料或生产工艺发生重大改变,不需重复进行。7.3周期试验应定期进行。试验周期由供需双方协商确定,如无特殊要求,可三年进行一次。7.4出厂试验应按逐批抽样在室温下进行。抽样数量应不小于10%,或不小于3件。在线或全检项目应在生产线上或交付前100%检测。8包装和包装标记8.1包装8.1.1成品电缆应采用成轴、成圈妥善包装,以满足运输和完好交付。包装数量为200m或其整数倍。8.1.2允许不少于100m的短段交付,短段的长度应被单独标记,每个包装单元电缆的段数不允许超过3段。接头和缺陷应有清晰的标记,允许去掉30mm至100mm的绝缘作为接头标记。8.1.3允长度计量误差不大于1%。8.2包装标记每个包装单位应附有标签,标签应至少标记以下内容:——型号规格;——颜色;QC/TXXXX—202X——长度;——生产日期;——本文件标准号;——制造商名称;标记内容允许使用条码表示。QC/TXXXXX—202X模拟带宽、以太网标准及其最高传输速率表A.1模拟带宽、以太网标准及其最高传输速率m1125497QC/TXXXX—202X产品结构和数据表示例B.1产品结构示意图产品结构示例之一参见图B.1。图B.1产品结构示意图B.2产品数据表产品数据表示例之一参见表B.1QC/TXXXXX—202X表B.1产品数据表QGD100-B-FPP/PVC2×0.13X25GBB7QC/TXXXX—202X传输特性测量的基本要求C.1所需的测量仪器所用测量仪器(VNA、TDR测试系统)应满足表C.1的技术要求。表C.1所需的测量仪器统所有值10%到90%的上升时间需要调整到所需的值(50ps和500ps)可以使用其它窗口功能。在这种情况下,应C.2VNA的设置为实现测试结果的可比性,推荐使用表C.2中给出的VNA设置。表C.2中每个参数的使用值应记录在测量报告中。如果使用与较高速度等级相关的设置执行测量,则还包括较低速度等级。无需针对每个速度等级使用特定设置进行单独测量。QC/TXXXXX—202X表C.2频域测量的推荐VNA设置扫描开始f扫描结束f如果仪器可以提供具有50ps/500ps上升时间(如表C.1中指定)的等效脉冲,VNA也可用于执行阻抗测量。在这种情况下,对测量夹具的25ps内部和50ps的要求不不适用。应使用表C.3中给出的推荐VNA设置进行测量。应按特定设备类型证明使用VNA测量的时域结果与使用TDR捕获的结果的可比性。表C.3时域阻抗测量的推荐VNA设置可以使用其它窗口功能。在这种情况下,应相应调整频率为了实现测量结果的可比性,建议使用表C.4中给出的VNA设置进行屏蔽和耦合衰减测量。每个参数的使用值应记录在测量报告中。QC/TXXXX—202X表C.4耦合和屏蔽衰减测量的推荐VNA设置C.3操作说明为确保测量的高度可靠性,需要采取以下预防措施:a)测量夹具应满足附录D的要求。校准的基准面应与测量基准面重合。如有差异,应确定误差的大小;b)在全测试过程中,每对电阻都应使用准确和一致的电阻负载;c)电缆的放置应满足特定测试的要求,并且需要在全测试过程中固定;d)在测试之前、期间和之后,应避免由于物理弯曲、急剧弯曲和约束而对电缆和适配器造成的应力。在包括连接和断开DUT的处理操作在内的完整测试过程期间,应选择具有高相位稳定性的测试电缆和适配器以满足表C.2中的要求;e)应使用相位稳定的VNA测试电缆。测量仪器和测量夹具之间的同轴电缆的选择应满足表5中的校准要求。应避免测量仪器的过载情况;f)VNA应在全测试过程期间提供足够的稳定性和低的电漂移以满足精度要求。C.6测量结果测试结果应以下列方式记录:——记录测试条件(例如湿度、温度、电缆长度——电缆类型、电缆长度和生产编号的文档(也用于连接器的S参数和屏蔽/耦合衰减测量——使用过的校准套件和直通配置中的校准精度的文档;——测试设置和测量夹具的图片;——测量夹具特性和可选校准方法的文档,例如夹具去嵌、相位校准、重新归一化、选通位置等;——S参数的结果:•结果为分贝(dB),以及相关限值,•具有对数或线性频率坐标轴的曲线图,频率直至f=10GHz;——TDR测量结果:QC/TXXXXX—202X•测量结果以下列格式用曲线图显示:——测量时X轴的时间线性刻度(反射信号来回的传播时间——等效的附加X轴的长度线性刻度(使用2/3的c0或DUT的实际相速度和测量的反射信号传播时间除以2计算)。S参数可以作为数据格式文件根据要求提供以便进一步使用。QC/TXXXX—202X测量夹具的要求D.1总则除非另有规定,测量夹具的要求应适用于不使用去嵌的直接测量。电缆的测量夹具应允许将屏蔽电缆的导体和屏蔽层直接连接到夹具上,而无需连接器。测量夹具应包含一个电缆安装装置,可以压接或焊接电缆导体和屏蔽层。D.2直接测量夹具D.2.1特性要求直接测量的特性应满足:——测量夹具的RL限值应不小于表2规定的被测电缆相应频率RL限值+3dB。——测量夹具的LCL或TCL限值应不小于25dB。——测量夹具的LCTL或TCTL限值应不小于25dB。D.2.2验证方法D.2.2.1测量夹具的RL和LCL/TCL应通过时域选通进行测量,应设置开始和停止选通位置,以容纳完整的夹具,包括VNA测试电缆的同轴连接和一小段测试电缆。选通位置由开路的夹具反射系数(脉冲响应)测量确定,如图D.1所示。夹具连接到VNA的同轴测试电缆上。用于连接电缆导体和电缆屏蔽的夹具保持开路状态。最大位置被规定为Sdd11或Sdd22参数的时域脉冲响应(反射系数)分别达到其最大值的时间位置。通过计算从最大值的时间减去300ps来确定开始位置,并且通过将最大值的时间加300ps来确定停止位置。YYX图B.1测量夹具RL和LCL/TCL测量的选通位置规定以及开路测试夹具反射系数(脉冲响应)示例QC/TXXXXX—202X注:如果夹具的长度超过选通开始和最大值之间300ps的等效信号反射时间D.2.2.2测量夹具的LCTL或TCTL应直接进行测量。LCTL或TCTL测量使用(200~400)mm的一小段电缆在两个夹具之间建立直通连接,该电缆应与实际测量的电缆类型相同。D.3去嵌的测量夹具要求对于使用去嵌进行的测量,应适用IEEEStd370中给出的夹具电气要求(FER)。FER等级规定与IEEEStd370中的描述相对应,其中A级具有最严格的设计需求,而C级最不严格。对具体FER等级的需求取决于所使用的去嵌技术。不太复杂的技术可能需要更严格的夹具类别。表D.1列出了夹具的最低要求,验证方法见D.2.2。如果特定的去嵌技术在这些最低要求下足够准确,可以于用更严格的FER等级。表D.1去嵌的夹具最低电气要求(FER)A、B、C级:20l0g10sdc21sdd21QC/TXXXX—202X(资料性)选通程序E.1总则为减少连接器对RF测量测试结果的影响,尤其是RL,推荐使用选通技术。当供需双方就选通的使用达成一致时。在测试报告中应记录选通的使用,以及所使用的选通时间。E.2选通程序说明使用快速逆傅里叶变换(

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