JJF(浙) 1133-2017 冲击试样缺口投影仪校准规范

.CalibrationSpecificationforProjec冲击试样缺口投影仪校准规范I 11冲击试样缺口投影仪校准规范凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本规范；凡是不注日期的冲击试样缺口投影仪主要由标准样板投影屏、23冲击试样缺口投影仪工作台标尺示值误差的最大允1万能工具显微镜，示值MPEV1+L/100）μm23万能工具显微镜，示值MPEV1+L/100）μm4万能工具显微镜，示值MPEV1+L/100）μm550mm标准玻璃线纹尺：U=（0.20+1.5L650mm标准玻璃线纹尺：U=（0.20+1.5L校准前对冲击试样缺口投影仪的外观、各部分相互作用及光学系统进行检将标准样板图玻璃片放置于万能工具显微镜的工作台上，调整仪器光学系行数据采集，数据采集点应均匀分布在圆周上，采集的数据由测量软件拟合成行数据采集，数据采集点应均匀分布在圆周上，采集的数据由测量软件拟合成4定的十字刻线一边与夹角的另外一边对齐读出角度值α2，α1与α2的差值即为V从目镜视场中观察到清晰的缺口轮廓，用万能工具显微镜十字刻线与缺口开口部的水平线对齐，将读数清零，然后沿缺口高度方向移动十字刻线，使其与缺口根部对齐，从读数装置中读出示值，标准样板图上的0.01mm刻线如图3所示。从目镜视场中观察到清晰的各个校准点处的测量值Ai，各校准点处的示值误差δi按公式（1）计算：A用标准玻璃线纹尺和工作用玻璃线纹尺对投影仪物镜放大倍数误差进行校准，将标准玻璃线纹尺放置于投影仪工作台中间，调整投影仪的光学系统使标准玻璃线纹尺刻线影像清晰，用工作用玻璃线纹尺进行比较，借助放大镜观察标准玻璃线纹尺上刻线间距为3mm的两刻线影像间距离是否与工作用玻璃线数误差β按公式（2）计算：×100%（2）5式中：β——投影仪物镜放大倍数误差；ΔL——投影屏上两玻璃尺刻线的差值，mm；L——标准玻璃线纹尺所用两刻线在投影屏上的放大值，m将标准玻璃线纹尺放置于投影仪工作台上，使工作台标尺处于零位附近，调整玻璃线纹尺与工作台移动方向平行。微调整工作台使缺口开口部的水平线校准点处的玻璃线纹尺刻线与水平线对齐，并在标尺上读得ai，各校准点处的经校准的冲击试样缺口投影仪填发校准证书。校准证书内容及校准记录参诸因素所决定的，可根据实际使用情况自主决定复校时间间隔。一般复校时间6A.1.2环境条件：温度（20±5）℃,湿度不超过80%RH。A.1.5测量方法：将冲击试样缺口投影仪的标准样板图玻璃片放置于万能工具式中：R——V型缺口圆弧半径（mmu(xi)ciu(xi)(μm）1u1u2A.5.1Ri示值误差引入的标准不确定度分7测量重复性引入的标准不确定度分量u1(Ri)评定，可以通过对连续测量得u1A.5.3万能工具显微镜误差引入的标准不确定度分量u2(Ri)8使选定的十字刻线一边与夹角的另外一边对齐读出角度值α2，α1与α2的差值α=α1-α2式中：α——V型缺口夹角；α1、α2——万能工具显微镜的读数值。u(xi)ciu(xi)（μm）u(α)α1读数误差1(α)(α)α2读数误差B.5.1α1读数误差引入的标准不确定度分量u(α1)9B.5.2α2读数误差引入的标准不确定度分量u(α2)α2读数误差的误差来源与α1读数误差一致，C.1.2环境条件：温度（20±5）℃,湿度不超过80%RH。C.1.4测量标准：标准玻璃线纹尺、工C.1.5测量方法：用标准玻璃线纹尺和工作用玻璃线纹尺对物镜放大倍数进行校准，将标准玻璃线纹尺放置于投影仪工作台中间，调整仪器光学系统使标准玻璃尺刻线影像清晰，用工作用玻璃线纹尺进行比较，借助放大镜观察标准玻璃线纹尺上刻线间距为3mm的两刻线影像间距是否与工作用玻璃线纹尺的相式中：β——投影仪物镜放大倍数误差；ΔL——投影屏上两玻璃尺刻线的不重合值；mmL——标准玻璃线纹尺所用两刻线在投影屏上的放大值；urel(xi)ciurel(xi)urelΔL读数误差1urel)urel(ΔLurel(L)0C.5.1ΔL读数误差引入的标准不确定度分量urel(ΔL)ΔL读数误差主要由工作用玻璃线纹尺误差和工作台标尺分辨C.5.1.2工作台标尺分辨力引入的标C.5.2标准玻璃线纹尺误差引入的标准不确定度分量urel(L)）；g)进行校准的日期,如果与校准结果的有效性和应用有关时，应说明被校