2024年知识竞赛-射线材料(三级)知识竞赛考试近5年真题附答案

（图片大小可自由调整）2024年知识竞赛-射线材料(三级)知识竞赛考试近5年真题荟萃附答案第I卷一.参考题库(共100题)1.高能射线是能量在（）兆电子伏特以上的X射线，采用直线加速器产生的高能X射线与一般X射线相比，它具有（）、（）、（）等特点。2.工件内部如有一面积型缺陷，当该缺陷面与射线投照方向成90°夹角时，在底片上的影像最清晰。3.一般用于荧光屏观察法的观察窗口是用光学玻璃制成的。4.为了获得高衬度和高清晰度的射线图像，在选择X射线机时，焦点的有效面积应尽可能大。5.192Ir中有（）个质子，（）个中子，其半衰期为75天，则其衰变常数为（）。6.在同一张底片上，做两个不同位置的X射线照相，可以确定缺陷的深度，根据缺陷阴影的移动，相对于试样固定标志的图像可以计算出缺陷的深度，这种方法称之为深度定位视差法。7.射线穿透物质时产生的吸收程度，取决于材料的（）、（）、（）以及射线本身的（）。8.单色、窄束、强度为I0的X射线通过厚度d的材料后的衰减公式为（），而对于强度为I0的单色、宽束X射线通过厚度d的材料后的衰减公式为（）。9.单色窄束射线的半价层厚度约为1/10价层厚度的（）倍；若已知线衰减系数μ，则1/10价层厚度为（）。10.当设计低压X射线管时，为了考虑到滤波、效率、散热等因素，X射线管的窗口一般采用铜合金制成。11.最小可见对比度△Dmin随线状图像的宽度增大而增大，当线状图像的宽度达到一定数值时，△Dmin成为常数。12.中子探伤设备包括哪几部分？13.当单色窄束X射线通过厚度为d的物质后，表示射线强度衰减规律的公式为：（）。14.当其他操作条件保持不变，管电流的变化会引起X射线管发生的射线强度的变化，但是其强度的变化只是大致与管电流的变化成比例，而不能完全按比例变化，这是因为波长的变化不完全成比例。15.X或γ射线在标准状态下，对一立方厘米的空气照射时，空气中离子产生一个静电单位电荷的照射剂量为一居里。16.在国际单位制中，吸收剂量用符号D表示，它的单位是戈瑞（Gy）。17.X射线机采用高频电路的优点能将几乎所有的电源瞬变和干扰消除，KV，mA读数精度较高。18.X射线能量取决于X射线管的灯丝电流。19.伽玛射线透过物质的两个半值层后，其强度仅为透过前的四分之一。20.在显影过程中，KBr中的Br离子被吸附在AgBr表面形成负电层，因而能排斥显影剂负离子对未曝光的AgBr的还原作用，防止灰雾生成。21.射线的线质越硬，其光子能量越（），波长越（），穿透力越（），衰减系数越（），半价层厚度越（）。22.细颗粒胶片感光速度（），清晰度（），大颗粒胶片感光速度（），清晰度（）。23.安装阳极靶时，通常要倾斜一定角度，使该实际焦点小，而有效焦点大。24.一般用于荧光屏观察法的观察窗口是用硼硅酸玻璃制成的。25.对于厚度差比较大的工件进行一次曝光透照时，可以采用（）、（）、（）等方法，使底片黑度都处于有效黑度范围内26.在试样周围放置铅板的目的是产生较短波长的X射线辐射。27.采用换算的方法，可将某种材料制作的像质计用于不同吸收系数的材料透照时的像质评价。28.在分别含有气孔，钨粒和夹渣的钢焊缝X射线底片上，比它们周围其他地方看起来较黑的是（）。29.对大晶粒金属零件进行射线照相时，为了减轻衍射斑点的影响，可以降低管电压并使用荧光增感屏。30.叙述射线穿过物质发生的三个效应与入射线能量之间的关系。31.如果放射源的尺寸较大，为了获得质量较高的底片，可以考虑采用感光速度快的胶片。32.60Co和192Ir射线源是稳定的同位素在核反应堆中俘获中子而得到的，当射线源经过几个半衰期后，将其放在核反应堆中激活，可重复使用。33.在制作胶片特性曲线时，如果增加显影时间，会使胶片特性曲线变得更陡，并且向左移动。34.当射线中心束方向与裂纹开裂面成45°角时，最容易发现该裂纹。35.对显影液添加补充液时，一般在添加的补充液量达到原来显影液量的4倍时，该显影液应该报废，而不应无限制地添加补充液。36.在评片前首先要检查底片是否合格，其合格要求有哪几项？37.新购置或搁置较长时间不用的X光机使用前要进行开机“训练”，这是为了排除机头绝缘油中的气泡。38.防止底片产生水斑的方法是延长水洗时间。39.在胶片特性曲线上连接给定两点密度的直线的斜率称为曝光范围。40.以玻壳X射线管为例说明其结构各部分名称及主要作用。41.X射线管中为什么选用钨靶？42.一放射性同位素放出的γ射线穿透力等同于多少千伏或兆伏Χ射线机的穿透力，这种关系称作该同位素的当量能。43.未焊透和未熔合的主要区别是产生原因不同，因此缺陷的形状和产生部位也不同。44.散射线对照相底片的影响主要是降低射线照相的（）和（）。45.通过增大焦距，可以起到降低底片衬度的作用。46.当其他操作条件保持不变，管电流的变化会引起X射线管发生的射线强度的变化，但是其强度的变化只是大致与管电流的变化成比例，而不能完全按比例变化，这是因为电流在线性比率上才能改变。47.底片上产生树枝状影像的原因是装拆胶片时摩擦产生静电火花放电。48.当采用高KV值X射线照相法时，几乎所有的曝光均需要使用铅箔增感屏。49.荧光增感屏因为经常受到强光照射或紫外线照射导致颜色改变和丧失一些光泽时，可以用弱射线照射使其恢复原有的状态。50.评价一个同位素源时，要看（）、（）、（）和（）四个方面。51.观察底片时要注意辨别胶片暗盒背面图像重叠在试样的图像上，因为它很可能是因为X射线强度太高的原因造成的。52.对于实用的X射线，为了要用半值层公式，应以什么波长为计算半值层厚度的基准？53.绝缘油绝缘强度低劣时有何现象？54.高能X射线一般指的是其能量在千电子伏特（KeV）级以上的X射线。55.拍摄具有厚薄差异的试件时，为了同时得到不同厚薄处具有相同黑度的底片，一般可采用在暗盒内同时装两张相同的胶片重叠曝光。56.通常把胶片本身引起的不清晰度称为胶片不清晰度或固有不清晰度。57.当选用100KV-200KV的管电压进行透照时，对铅增感屏的增感系数是不变的。58.影响X射线管容量的因素有哪些？59.在进行焊缝射线照相时，线型透度计一般是放置在钢板上面。60.胶片特性曲线上，某一区域的黑度差没D与（）的比值称为该区域的反差系数r。61.荧光增感屏经常受到强光照射或紫外线照射后，会导致颜色改变和丧失一些光泽。62.选择透照方式时必须确定的事项、几何参数和必须考虑的相关因素是什么？63.被照体离焦点越近，Ug值越小。64.底片上焊缝中心部位出现的长度和宽度不等的连续或间断的长条形黑色影像很可能是裂纹。65.X射线机要求什么样的绝缘油，有哪些具体要求？66.在进行焊缝射线照相时，线型透度计一般是放置在焊缝上面67.手工冲洗胶片时，如果没有停影液可供使用，则可以将胶片先在活水中至少冲洗2分钟，然后放入定影液。68.观察底片时，要注意辨别胶片暗盒背面图像重叠在试样的图像上，因为它很可能是因为背散射的原因造成的。69.钴60γ射线源发出的两种γ射线能量分别为1.17和1.33MeV，因此它们的波长分别为（）和（）。70.在半波自整流电路里加装逆电压降低器的目的是（），在倍压整流电路里起倍压作用的元件是（）。71.放射性同位素的原子核数目减少到原来一半所需要的时间称作半衰期。72.像质计是用来鉴定照相技术和胶片处理质量的器件。73.由于X射线在粗晶材料中可能发生衍射效应，因此散射的特殊表现形式是底片上出现斑点。74.使用衬度较低的射线胶片，必要时采用单面乳剂胶片，可增大透照厚度宽容度。75.射线照相检验法的优点是效率高，成本低。76.铸件射线底片上出现清晰的黑线或长度与宽度不等，轮廓光滑分明的带状显示，则大多数是（）缺陷。77.连续、宽束射线透过厚度为d的物体后，射线强度的衰减规律可用下式表示：I=Ie-μd。78.工业射线检测使用的胶片与一般胶片之间最大的差别是单面涂乳剂。79.选购X光机时，应考虑哪些条件？80.底片上焊缝中心部位出现的长度和宽度不等的连续或间断的长条形黑色影像很可能是疏松。81.防止底片产生水斑的方法是先将湿底片在润湿液中浸一、两分钟。82.拍摄具有厚薄差异的试件时，为了同时得到不同厚薄处具有相同黑度的底片，一般可采用在暗盒内同时装两张具有不同感光速度的胶片重叠曝光。83.当采用荧光屏观察法时，几乎所有的曝光均需要使用铅箔增感屏。84.射线透过工件后的两个不同厚度区域的强度比值称为工件对比度。85.散射线影响底片的对比度和清晰度，从而降低灵敏度。86.在X射线实时成像中，射线照射工件传到荧光屏上所产生的显示与射线强度有关，而与曝光时间无关。87.75Se（硒75）的半衰期是118天。88.体积状缺陷的可检出性主要取决于射线照相（）细小缺陷的可检出性还取决于胶片的（）。89.X射线在大晶粒材料中衍射而引起的一种特殊形式的散射线会使底片上出现（）状影像。90.透照同一工件，铅箔增感比荧光增感获得的底片清晰度高而对比度低。91.常用的γ源Kr常数，对于60Co为Kr=（）；对于192Ir为Kr=（）。92.什么是伪缺陷？简述底片上伪缺陷的来源。93.防止底片产生水斑的方法是将湿底片快速干燥。94.胶片经曝光后产生的潜影能够被肉眼观察到。95.在射线底片上呈现较大面积的树枝形影像是（）。96.亚硫酸钠在显影液中起（）作用；在定影液中起（）作用。97.在同一张底片上，做两个不同位置的X射线照相，可以确定缺陷的深度，根据缺陷阴影的移动，相对于试样固定标志的图像可以计算出缺陷的深度，这种方法称之为立体射线照相法。98.入射光强与透过光强之比为10，则底片黑度为（），若透射光强与入射光强之比为1：1000，则底片黑度为（）。99.未经射线曝光的胶片经暗室处理后，发现底片上存在模糊的淡黑色，这称之为胶片的本底化学灰雾度。100.温度对显影的影响表现为：温度越高时，显影速度越（），反差越（），灰雾越（），颗粒越（），温度越低，反差越（），一般将显影温度控制在（）左右。第I卷参考答案一.参考题库1.参考答案：1；穿透能力强；焦点小；转换效率高2.参考答案：错误3.参考答案：错误4.参考答案：错误5.参考答案：77；115；0.00924/d6.参考答案：正确7.参考答案：原子系数；密度；厚度；波长8.参考答案：I=I0e-μd；I=（1+n）I0e-μd9.参考答案：0.3；2.3/μ10.参考答案：错误11.参考答案：错误12.参考答案：中子探伤设备包括中子源、慢化剂、准直器和像探测器。13.参考答案：I=I0e-μd14.参考答案：正确15.参考答案：错误16.参考答案：正确17.参考答案：正确18.参考答案：错误19.参考答案：正确20.参考答案：正确21.参考答案：大；短；强；小；大22.参考答案：慢；高；快；差23.参考答案：错误24.参考答案：错误25.参考答案：双胶片；分散曝光；补偿26.参考答案：错误27.参考答案：正确28.参考答案：气孔和夹渣29.参考答案：错误30.参考答案：低能射线以光电效应为主；中等能量射线以康普顿效应为优势，以光电效应结束；能量大于1.022MeV者，以电子对生成效应为主。31.参考答案：错误32.参考答案：错误33.参考答案：正确34.参考答案：错误35.参考答案：错误36.参考答案：底片黑度合格、像质指数或像质计灵敏度合格、影像识别要求合格，即定位及识别标记齐全；没有妨碍底片评定的伪像，包括底片的损伤、污迹等。37.参考答案：错误38.参考答案：错误39.参考答案：错误40.参考答案： 玻壳X射线管的内部构造主要包括七个部分，即： 铅玻璃罩-保持X射线管内的真空度，吸收软射线； 阳极罩-吸收二次电子和软射线； 阳极体-支撑阳极靶和散热； 阴极头-聚焦电子； 灯丝-产生热电子； 阳极靶-发射X射线； 铍窗-吸收软射线。41.参考答案：高速运动的电子撞击阳极靶时，约有1-2%的动能转换为X射线，绝大部分均转化为热能，使靶面温度升高，同时X射线的强度与阳极靶的原子序数有关，所以一般工业用X射线管的阳极靶选用原子序数大、耐高温的钨来制造。42.参考答案：正确43.参考答案：正确44.参考答案：清晰度；对比度45.参考答案：错误46.参考答案：错误47.参考答案：正确48.参考答案：正确49.参考答案：错误50.参考答案：穿透力；半衰期；活性；源的尺寸51.参考答案：错误52.参考答案：在管电压一定时，X射线强度最大所对应的波长为计算基准。53.参考答案：绝缘油绝缘强度低时，送高压后，电流值不规则的波动，一般不至达到跳闸程度。54.参考答案：正确55.参考答案：错误56.参考答案：正确57.参考答案：错误58.参考答案：X射线管的负荷容量直接决定于X射线管实际焦点处的工作温度，影响焦点处温度的因素有：实际焦点大小；使用管电压的高低；管电流的大小；X射线管的连续使用时间；在实际焦点上电子束截面的电子密度分布情况；阳极的构造及冷却方式。59.参考答案：错误60.参考答案：相对曝光量对数的差值61.参考答案：正确62.参考答案： 选择透照方式时必须确定的事项是：射线源和胶片的位置、射线束照射的方向、透度计和标记的放置、散射线的屏蔽和监测等； 必须确定的几何参数是：焦距、一次透照长度、环焊缝100%透照时最少曝光数； 必须考虑的相关因素是：几何模糊度、透照厚度比、横裂检出角、纵裂检出角、有效评定长度以及100%透照时相邻两片的搭接长度。63.参考答案：错误64.参考答案：错误65.参考答案：X射线机多用45#变压器油、绝缘强度要在50kv以上，还要求有燃点高、凝固点低、挥发性低、粘度适中等。66.参考答案：正确67.参考答案：正确68.参考答案：正确69.参考答案：0.0106；0.0093270.参考答案：降低X射线管的逆电压；电容器71.参考答案：正确72.参考答案：正确73.参考答案：正确74.参考答案：正确75.参考答案：错误76.参考答案：冷隔77.参考答案：错误78.参考答案：错误79.参考答案： 应考虑以下条件： ①首