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文档简介

电子显微镜

2电子显微镜电子显微术是目前用来观察电畴的主要方法,其优点是分辨率高,而且可观测电场作用下电畴的。扫描电子显微镜(SEM)透射电子显微镜(TEM)扫描探针显微镜(SPM)

3扫描电子显微镜(SEM)可直接观察样品表面(通常是在真空中解理后直接观测)。利用透射电子显微镜(TEM)观察电畴则需要在样品制备方面需要付出较大的努力。TEM用的样品通常是薄箔。制备薄箔时,通常用HF腐蚀,但薄箔厚度不易控制。近来离子束减薄等新技术也被用来制备薄箔样品。

4也可以用表面复型(修饰法)通过TEM来研究电畴结构。除了AgCl等无机材料以外,近年来聚合物修饰法以其高分辨率而引人注目。例如在TGS晶体的(010)解理面上蒸镀聚二氟乙烯(PVDF)和聚乙烯(PE),即可得到一定向生长的薄膜,其择优取向随电畴的正负而不同。将TGS溶化后,用TEM观测薄膜,即可得到电畴结构的图案。

5近年来出现的扫描力显微镜(SPM)时研究电畴的一种有力手段,其优点是适合与各种材料,不需要真空而且可观测到纳米量级的精细结构。

6几种重要的畴结构人工周期片状畴陶瓷中的电畴薄膜中的电畴

7人工周期片状畴人工调制的畴结构,周期为a+b;从一个畴过渡到另一个畴时,自发极化反向,等价于绕X方向旋转了180°,因而任何表现为奇阶张量的物理性质,如二阶非线性光学系数和压电常数将改变符号。如果畴结构周期与光波或超声波波长可相比拟,则称这类周期性调制结构的材料为光学超晶格或微米超晶格。

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9应用:激光倍频,超高频压电谐振器;制备方法:扩散法,脉冲电场处理法,质子交换法,电子束扫描法以及特殊提拉法等;提拉法(Czochralski丘克拉斯基方法):从熔体中生长晶体最广泛的方法。在晶体生长过程中产生明显的条纹,即沿生长方向产生周期性的溶质浓度起伏。在熔体中掺入浓度约为0.1-0.5%的镱、铜或铬。

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11形成条纹的方法可以控制晶体生长时的旋转轴,或在晶体生长时在固液界面上通过调治电流。这样长成的晶体在温度下降到居里温度时,通过生长条纹的诱导,周期性片状畴将会自动生成,而且自发极化强度的取向决定于生长条纹内溶质梯度的正负。溶质浓度梯度为负时,电畴取正向;溶质浓度梯度为正时,电畴取负向。主要材料:Li

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