知道网课智慧树《集成电路测试技术基础（北方工业大学）》章节测试答案

绪论第一章单元测试第二章单元测试第三章单元测试第四章单元测试第五章单元测试第六章单元测试第七章单元测试第八章单元测试第九章单元测试第十章单元测试绪论1.【多选题】(10分)正确答案：ABCDE本课程内容主要包含哪些知识（）。A.集成电路测试理论基础B.集成电路测试的基本概念和基本原理C.集成电路ATE设备和测试基本方法D.混合信号集成电路的测试E.可测试性设计方法第一章单元测试1【单选题】(10分)通过仿真、形式验证等，检查设计的正确性，确定电路是否符合所有的设计规范，属于（）。A.工艺监控测试B.可靠性测试C.生产测试D.设计验证2【单选题】(10分)对于器件中可能存在的桥接、短路、栅氧短路等物理缺陷，可采用何种测试方法（）。A.固定故障测试B.延迟测试C.IDDQ测试D.耦合故障测试3【单选题】(10分)芯片测试、板级测试及系统级测试，其测试成本遵循（）。A.十倍法则B.双倍法则C.百倍法则D.千倍法则4.【多选题】(10分)正确答案：BC量产前需要进行的测试包括（）。A.生产测试B.特性测试C.设计验证D.工艺监控测试5.【多选题】(10分)正确答案：BCD晶圆测试又被称为（）。A.PackageTestB.DiesortC.WaferprobeD.Circuitprobe6.【多选题】(10分)正确答案：ABCD对芯片进行测试，选择测试设备时需考虑（）。A.输入/输出引脚的数目B.最高时钟频率C.测试向量深度D.定时精度7.【多选题】(10分)正确答案：BCD主要的测试硬件接口包括（）。A.HandlerB.LoadBoardC.ProbeCardD.Socket8.【多选题】(10分)正确答案：BCD典型的结构化的可测性设计方法包括（）。A.AdHoc方法B.扫描设计C.内建自测试D.边界扫描9【判断题】(10分Shmoo图是同时改变两个相互关联的参数，执行参数测试，得到表明测试结果是否通过的曲线图。（）A.错B.对10【判断题】(10分可控制性是指从输入端将芯片内部逻辑电路至于指定状态的能力。（）A.错B.对第二章单元测试1【单选题】(10分)测量器件静态时漏极到地消耗的漏电流IDD采用的方法是（）。A.加压测流B.加流测压2【单选题】(10分)测量器件的输出高电平VOH时，应给器件提供（）电流。A.负B.正3【单选题】(10分)测试激励的信号格式中延迟不返回零电平，数据转变不在T0，此格式为（）A.SBCB.DNRZC.ROD.RZ4【单选题】(10分)自动测试设备ATE的部件精密参数测量单元，简称为（）A.PMUB.RVSC.DPSD.PE5【单选题】(10分)测试时为保护测试操作人员及测试硬件设备的安全，需要进行钳制设置，当驱动电压测量电流时，需进行（）A.电压钳制B.电流钳制6.【多选题】(10分)正确答案：ABCD进行功能测试时输入给被测器件管脚的信号包括哪些要素（）。A.测试向量B.信号格式C.信号电平D.信号时序7.【多选题】(10分)正确答案：ACD成品测试需要用到的设备和硬件资源是（）。A.自动测试设备ATEB.探针卡C.负载板D.机械手8.【多选题】(10分)正确答案：ACD管脚电路PE板卡中可与DUT输出管脚连接的是（）A.与PMU的连接电路B.驱动电路C.电压比较电路D.可编程电流负载9【判断题】(10分建立时间是指数据输入信号比触发信号提前施加于器件输入端的最小时间。（）A.错B.对10【判断题】(10分利用ATE进行测试时，对于非被测输入管脚可以悬空。（）A.对B.错第三章单元测试1【单选题】(10分)CMOS或非门由两个PMOS管和两个NMOS管构成，其中两个PMOS管连接方式为（）。A.串联B.并联2【单选题】(10分)PMOS管导通需要栅极电压为（）。A.高电平B.低电平3【单选题】(10分)固定故障、桥接故障属于（）故障模型。A.晶体管级B.行为级C.寄存器传输级别（RTL）或逻辑级别4【单选题】(10分)与非门中输入端的sa0故障与输出的（）故障等价。A.sa1B.sa05【单选题】(10分)或非门中输出端的（）故障支配输入端的sa0故障。A.sa1B.sa06【单选题】(10分)MOS晶体管固定开路故障的检测需要（）。A.两组测试向量，使输出状态发生变化B.测量静态电流IDDQ7【单选题】(10分)输入端为AB的或非门中，如果B端控制的NMOS管有固定开路故障，则需要的测试向量是（）。A.AB分别为1110B.AB分别为0010C.AB分别为0001D.AB分别为11018.【多选题】(10分)正确答案：ABCDVLSI芯片中的典型缺陷包括（）。A.封装缺陷B.材料缺陷C.工艺缺陷D.寿命缺陷9.【多选题】(10分)正确答案：AD测试一个6输入单输出的基本逻辑门，若输入向量101010，输出为1，则可以判断该逻辑门为（）。A.非NOR门B.NAND门C.OR门D.非AND门10.【多选题】(10分)正确答案：ABCD典型的故障模型包括（）。A.延迟故障B.晶体管开短路故障C.可编程逻辑阵列PLA故障D.单固定故障第四章单元测试1【单选题】(10分)SCOAP度量算法是采用（）方法对电路的可测试性进行度量。A.概率测量B.统计C.精确概率测量2【单选题】(10分)逻辑门原始输入的可控制性定义为（）。A.0B.1C.无穷3【单选题】(10分)SCOAP算法中组合测量基本与可以操作控制或观测的（）有关。A.时间周期B.时间帧C.信号数量4【单选题】(10分)对于时序电路中时序节点的可控制性首先设置为（）。A.1B.0C.D.-15.【多选题】(10分)正确答案：ACSCOAP算法中组合测量基本与可以操作控制或观测的（）有关。A.电路连线数B.时间帧C.信号数量D.时间周期6.【多选题】(10分)正确答案：ACSCOAP算法中时序测量基本与可以操作控制或观测的（）有关。A.时间周期B.电路连线数C.时间帧D.信号数量7.【多选题】(10分)正确答案：CD可测试性度量主要包括哪些方面（）。A.可设计性B.可制造性C.可观测性D.可控制性8.【多选题】(10分)正确答案：AC如果只设置一个输入的控制值就可以生成逻辑门的输出，符合此规则的为（）。A.NOR门0可控制性B.OR门0可控制性C.NAND门1可控制性D.AND门1可控制性9.【多选题】(10分)正确答案：AC对于一个可复位的上升沿触发的D触发器，若须控制输出Q为0，则可以（）。A.置输入D端为0，且时钟C产生一个上升沿B.置输入D端为0，且时钟C产生一个下降沿C.控制RESET复位端为1D.控制RESET复位端为010【判断题】(10分时序度量与组合度量不同，计算可控制性时须反复迭代，原因为存在触发器的反馈回路。（）A.错B.对第五章单元测试1【单选题】(10分)若组合电路中存在不可检测的故障，则说明该电路为（）。A.冗余电路B.非冗余电路2【单选题】(10分)在自动测试向量生成ATPG算法中，五值逻辑的D表示正常无故障情况下，输出为（）。A.1B.03【单选题】(10分)与非门的奇异立方为（）。4【单选题】(10分)与非门ｂ端sa0故障的初始D立方为（）。A.abz=11D’B.abz=00DC.abz=01D’D.abz=11D5【单选题】(10分)PODEM算法中若需使一个或门的输出为1，则优先确定（）的输入端的值。A.最难控制B.最容易控制6【单选题】(10分)利用FAN算法，若需使一个或非门的输出为１，则进行反向蕴涵时（）。A.逐一设置输入为０，然后再进行正向和反向蕴涵B.逐一设置输入为１，然后再进行正向和反向蕴涵C.同时设置所有输入为０，然后再进行正向和反向蕴涵D.同时设置所有输入为１，然后再进行正向和反向蕴涵7.【多选题】(10分)正确答案：ABD功能测试与结构测试的区别为（）。A.功能测试的测试向量多，测试时间长B.结构测试可以利用算法生成测试向量C.功能测试需要考虑故障模型D.结构测试需要考虑故障模型8.【多选题】(10分)正确答案：AD非确定性的测试向量生成技术包括（）。A.穷举或伪穷举测试向量生成B.代数法C.各种测试向量生成算法D.随机测试向量生成9.【多选题】(10分)正确答案：ABCDPODEM算法与D算法的区别包括（）。A.寻找故障信号到PO端路径最近的通路做驱赶B.搜索空间只限制为原始输入C.定义了X-PATH来判断是否还存在D边界D.不需要线确认的过程10.【多选题】(10分)正确答案：ABCDFAN算法中提出了哪些新的概念（）。A.主导线B.惟一敏化C.多重回溯D.立即蕴涵第六章单元测试1【单选题】(10分)九值逻辑中若G1表示（）。A.正常情况为0，故障情况为XB.正常情况为1，故障情况为XC.正常情况为1，故障情况为0D.正常情况为0，故障情况为12【单选题】(10分)对于下图时序电路中的故障SA1，测试向量a为（）。A.11B.01C.10D.003【单选题】(10分)时序电路测试的BACK算法是基于（）来选择检测故障的原始输出PO。A.可控制性分析B.可测试性分析C.可观测性分析D.可驱动性分析4.【多选题】(10分)正确答案：ABCD时序电路与组合电路的区别包括（）。A.时序电路的输出不仅取决于当前输入，还与电路前一时刻的状态有关B.针对时序电路的故障测试需要一序列的测试向量C.时序电路中触发器的状态不可控不可测D.时序电路含有反馈通道5.【多选题】(10分)正确答案：AC时序电路的故障测试相比于组合电路更复杂，主要因为（）。A.时序电路内部存储器状态未知B.时序电路有更多的输出状态C.时序电路存储器最后状态不可直接观测，只能从原始输出间接推断D.时序电路的故障更多6.【多选题】(10分)正确答案：ABD时序电路的测试向量需包含哪几部分（）。A.使内部存储器初始化的向量B.将故障效应传递到组合逻辑边界的组合测试码C.将故障效应传递到存储器输出端的组合测试码D.激活故障的测试向量7.【多选题】(10分)正确答案：ABCD单时钟同步电路的特点（）。A.信号经过组合逻辑的传播时间不超过时钟周期B.触发器为理想的存储元件C.只有一个时钟，所有触发器的状态变化都与所加的时钟信号同步D.每个时钟周期施加一个向量并产生一个输出8.【多选题】(10分)正确答案：ABD对时序电路进行测试，可采用的方法包括（）。A.基于模拟的方法B.时间帧展开方法C.组合电路测试向量生成的方法D.扫描设计的DFT方法9.【多选题】(10分)正确答案：ABCD组合电路与时序电路之间测试向量的差别（）。A.时序电路测试向量生成算法用九值逻辑B.组合电路对一个目标故障只需一个测试向量C.时序电路对一个目标故障需要一个序列的测试向量D.组合电路测试向量生成算法用五值逻辑10【判断题】(10分时序电路测试的BACK算法中传递故障时，优先选择具有“最难”可驱动性的输出。（）A.错B.对第七章单元测试1【单选题】(10分)若使或非门的输出为0，可插入控制点使其为（）。A.0B.12【单选题】(10分)对扫描设计电路进行测试，典型的测试步骤为（）。①选择移位模式，依次移位为触发器赋值②选择捕捉模式，更新触发器状态③选择正常模式，驱动PI的值，观察PO④选择移位模式，将触发器的状态依次读出A.①③②④B.③②④①C.②③①④D.①②③④3【单选题】(10分)对扫描设计电路中的固定故障进行测试，需要的时钟周期为（）。A.(nsff+1)ncomb+nsffB.(nsff+1)ncombC.nsff+4D.(nsff+1)ncomb+nsff+44.【多选题】(10分)正确答案：ACD结构化的DFT方法包括（）。A.ScandesignB.AdHocDFTC.BISTD.Boundaryscan5.【多选题】(10分)正确答案：ABCDAdHocDFT需要有好的设计规则，包括（）。A.避免异步(unclocked)反馈B.对难于控制的信号提供测试控制C.避免冗余门,避免大的扇入门D.提供clear/reset信号，使触发器可初始化6.【多选题】(10分)正确答案：ABCD扫描设计的主要思想是获得对触发器的可控制和可观测，主要方法为（）。A.增加测试控制(SE)原始输入B.在测试模式下将SFF连接形成一个或多个移位寄存器C.使每个扫描移位寄存器的输入/输出从PI/PO为可控制的/可观测的D.由扫描触发器(SFF)代替触发器7.【多选题】(10分)正确答案：AB哪种工作模式下，选择扫描单元数据输入端的数据（）。A.捕捉模式B.正常模式C.偏移模式D.控制模式8.【多选题】(10分)正确答案：AD为测试扫描寄存器的故障及其移位是否正常，给寄存器下列测试序列，其中正确的是（）。A.11001100......B.10101010......C.111000111......D.00110011......9.【多选题】(10分)正确答案：ABCD进行了扫描设计的电路，在哪些方面存在不足（）。A.扫描设计中的布线增加了芯片面积B.增加扫描硬件，从而增加了芯片面积C.扫描单元有多路选择器，产生了延迟D.性能方面，降低了信号速度10.【多选题】(10分)正确答案：ABCD自动扫描设计的具体步骤（）。A.扫描单元重新排序B.扫描配置C.扫描链接D.扫描替换第八章单元测试1【单选题】(10分)基于特征多项式1+x<sup6</sup+x<sup7</sup设计一个LFSR电路，需要几个触发器和异或门（）。A.8个触发器，2个异或门B.7个触发器，2个异或门C.7个触发器，1个异或门D.8个触发器，1个异或门2【单选题】(10分)利用奇偶校验检查对输出响应1101011进行压缩，压缩值为（）。A.0B.13【单选题】(10分)采用LFSR作为压缩、特征分析电路，可看作多项式的除法，其中除数是（）。A.压缩后的值，即签名B.LFSR对应的特征多项式C.LFSR输出值D.待压缩的输出响应4【单选题】(10分)内建逻辑块观察器BILBO有四种工作模式，当控制线为01时，其功能为（）。A.响应压缩器MISRB.扫描链C.D触发器D.线性反馈移位寄存器（LFSR）矢量生成器5【单选题】(10分)采用MISR和并行移位寄存器序列生成器的自测试结构为STUMPS，该结构可减少硬件开销，若有20个全扫描链，每个100bit，则2000bit芯片输出，需要（）位的MISR。A.25B.30C.10D.206.【多选题】(10分)正确答案：ABC内建自测试BIST技术在芯片设计中增加了三部分硬件以实现自测试，分别是（）。A.响应压缩器ORAB.BIST控制器ControllerC.测试向量生成器TPGD.响应比较器7.【多选题】(10分)正确答案：CD内建自测试BIST不能测试的部分包括（）。A.芯片的逻辑功能B.输入MUX到被测电路的连线C.从电路输出到原始输出的连线D.从PI管脚到输入MUX的连线8.【多选题】(10分)正确答案：CD标准线性反馈移位寄存器LFSR的特点有（）。A.触发器序号由小到大的顺序为从左至右（对应特征多项式）B.XOR门在触发器的内部C.XOR门在触发器的外部D.触发器序号由小到大的顺序为从右至左（对应特征多项式）9.【多选题】(10分)正确答案：BD按时钟测试BIST系统有何特点（）。A.较长的测试长度,较少的BIST硬件B.每个时钟周期实施一个测试C.需要扫描链移位完成测试和读出测试结果D.较短的测试长度,较多的BIST硬件10【判断题】(10分线性反馈移位寄存器LFSR生成的测试向量长度小于确定性ATPG生成的测试向量长度。（）A.错B.对第九章单元测试1【单选题】(10分)基于边界扫描设计的元器件的所有与外部交换的信息（指令、测试数据和测试结果）都采用（）通信方式。A.并行B.串行2【单选题】(10分)获得正常元件输入和输出信号的瞬态值并将它们保存在边界扫描环中两个主从触发器的第一个里面，以便监测和分析被测器件的工作状态，该指令为（）。A.外测试B.采样C.预载D.内测试3【单选题】(10分)内测试指令是当芯片装配到PCB/MCM上时，通过使用边界扫描寄存器把外部施加的测试矢量移位到芯片内，从而实施片上系统逻辑的测试，执行内测试指令典型的步骤为（）。①扫描模式，从SI端加载测试向量②扫描模式，将测试结果移位至SO输出③更新模式，将测试向量输入至芯片④捕捉模式，捕捉芯片的输出值A.③②①④B.③②④①C.①③④②D.①④②③4.【多选题】(10分)正确答案：ABCD边界扫描测试的基本原理是在靠近器件的每个输入/输出引脚处增加一个边界扫描单元BSC，其具有哪几种工作模式（）。A.扫描移位模式B.捕捉模式C.正常工作模式D.更新模式5.【多选题】(10分)正确答案：BCD边界扫描标准主要应用的范围包括（）。A.规范集成电路内建自测试的方法B.规范元器件在正常工作条件下对其观察或控制的方法C.规范集成电路本身的测试方法D.规范板级或其他系统中集成电路之间连接的测试方法6.【多选题】(10分)正确答案：ABCD边界扫描测试结构主要包括（）。A.指令译码器InstructionDecoderB.TAP控制器C.边界扫描寄存器组RegistersD.测试访问端口TAPE.可选的测试系统复位信号TRST*7.【多选题】(10分)正确答案：ABCD关于TAP控制器，表达正确的是（）。A.可以选择使用指令寄存器扫描或数据寄存器扫描，能够控制边界扫描测试的各个状态B.TAP控制器共有16个状态C.是能够识别边界扫描通信协议和通过内部信号控制边界扫描硬件的简单有限状态机D.只允许TCK、TMS和TRST*信号影响，是边界扫描测试核心控制器8.【多选题】(10分)正确答案：ABD下列哪些是边界扫描寄存器组必要的寄存器（）。A.指令寄存器B.旁路寄存器C.器件特性寄存器D.边界扫描寄存器E.器件ID寄存器9.【多选题】(10分)正确答案：CDE下列哪些是边界扫描指令中的强制指令（）。A.内建自测试指令B.内测试指令C.外测试指令D.旁路指令E.采样/预载指令10.【多选题】(10分)正确答案：ABD利用BICT（BoundaryScanInCircuitTest）测试器件管脚的开短路情况，输入输出如下图所示，则可知（）。A.7管脚存在开路故障B.0管脚存在开路故障C.0管脚存在短路故障D.6管脚存在短路故障第十章单元测试1【单选题】(10分)模数转换器依次由哪几个模块组成（）。①编码②抗混叠滤波器③采样④量化⑤保持A.③④①②⑤B.