• 现行
  • 正在执行有效
  • 2015-07-23 颁布
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【正版授权】 ISO 14999-4:2015 EN Optics and photonics - Interferometric measurement of optical elements and optical systems - Part 4: Interpretation and evaluation of tolerances specifie_第1页
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基本信息:

  • 标准号:ISO 14999-4:2015 EN
  • 标准名称:光学和光子学 光学元件和光学系统的干涉测量 第4部分:ISO 10110 中规定的公差的解释和评估
  • 英文名称:Optics and photonics — Interferometric measurement of optical elements and optical systems — Part 4: Interpretation and evaluation of tolerances specified in ISO 10110
  • 标准状态:现行
  • 发布日期:2015-07-23

文档简介

ISO14999-4:2015EN是关于光学和光子学——光学元件和光学系统的干涉测量标准。其第4部分关于公差的理解和评估是该标准的关键部分。这部分为操作人员提供了许多详细的步骤,这些步骤是处理不同类型的光学元件和系统的关键,尤其是涉及到干涉技术的情况。这些步骤涵盖了选择正确的设备和软件,如何准备测量环境,以及如何执行和记录测量结果。

对于ISO14999-4:2015EN中的公差规定,我们需要理解这些规定是如何影响测量结果的。公差通常指的是允许的测量误差范围。在评估这些公差时,我们需要考虑许多因素,包括光源的特性,干涉仪器的精度,以及环境条件(如温度和湿度)的影响。此外,我们还需要考虑如何将这些公差转换为实际应用中的限制,例如对光学元件或系统的性能的影响。

在执行干涉测量时,我们需要遵循一系列步骤以确保结果的准确性和可靠性。这些步骤包括但不限于选择适当的参考平面,设置正确的参考条件,以及使用适当的软件来分析和解释结果。此外,我们还需要考虑到可能影响测量的误差源,例如光源的不均匀性,环境波动,以及干涉仪器的微小偏差。

ISO14999-4:2015EN提供了详细的指南和步骤,以帮助操作人员理解和评估光学元件和系统中的公差规定。这些步骤对于确保干涉测量的准确性和可靠性至关重要,并且对于许多实际应用具有重要意义。在进行干

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