• 现行
  • 正在执行有效
  • 2010-03-24 颁布
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【正版授权-英/法语版】 IEC 60512-24-1:2010 EN-FR Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 24-1: Magnetic interference tests - Test 24a: Residual magnetism_第1页
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基本信息：

  • 标准号：IEC 60512-24-1:2010 EN-FR
  • 标准名称：电子设备连接器—测试和测量—第24-1部分：电磁干扰测试—试验24a：剩余磁通密度
  • 英文名称：Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 24-1: Magnetic interference tests - Test 24a: Residual magnetism
  • 标准状态：现行
  • 发布日期：2010-03-24

文档简介

电子设备连接器-测试和测量-第24部分：磁场干扰测试-测试24a：残余磁性

IEC60512-24-1:2010EN-FR标准中关于连接器残余磁性的测试，即测试24a，详细如下：

测试24a的主要目的是评估连接器在经过特定磁场干扰后，其内部磁性物质的残留强度。这项测试通常使用一个已知强度的磁场，施加给连接器一段时间，然后测量连接器内部的磁通密度。如果磁通密度超过一定的阈值，那么就认为连接器对磁场的抗干扰能力不足。

这个测试的具体步骤可能会因产品和应用的不同而有所不同，但是大体上都会包括以下几个步骤：

1.准备连接器样品：需要将样品清洁干净，并且固定在适当的测试夹具上。

2.设置磁场：根据标准规定的强度和时间要求，设置并控制磁场。

3.测量磁通密度：在磁场作用完成后，使用适当的测量设备（如高斯计）测量连接器的磁通密度。

4.结果评估：根据测量的磁通密度与标准阈值进行比较，评估连接器的抗干扰能力。

如果连接器的残余磁性过高，可能会影响到其电气性能，甚至可能影响到产品的整体性能。因此，这个测试对于评估连接器的电磁兼容性能是非常重要的。

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