环境空气 颗粒物中无机元素的测定 波长色散-X射线荧光光谱法（征求意见稿）

中华人民共和国国家环境保护标准

HJ□□□-2016

环境空气颗粒物中无机元素的测定

波长色散-X射线荧光光谱法

Ambientair-Determinationofinorganicelementsinambientparticlematter-

WavelengthdispersiveX-rayfluorescencespectroscopy(WD-XRF)

（征求意见稿）

前言

为贯彻《中华人民共和国环境保护法》和《中华人民共和国大气污染防治法》，保护环

境，保障人体健康，规范环境空气和无组织排放废气颗粒物中无机元素的测定方法，制定本

标准。

本标准规定了测定环境空气和无组织排放废气颗粒物中无机元素的波长色散X射线荧

光谱分析方法。

本标准为首次发布。

本标准附录A为规范性附录，附录B、附录C、附录D和附录E均为资料性附录。

本标准由环境保护部科技标准司组织制订。

本标准起草单位：中日友好环境保护中心（国家环境分析测试中心）。

参加本标准验证的单位有：湖南省环境监测中心、北京市环境保护监测中心、环保部标

准样品研究所、中科院地球环境研究所、上海市环境科学研究院、天津市环境监测中心、江

苏天瑞仪器股份有限公司、布鲁克（北京）科技有限公司、岛津企业管理（中国）有限公司

和上海思百洁仪器系统有限公司。

本标准环境保护部20□□年□□月□□日批准。

本标准自20□□年□□月□□日起实施。

本标准由环境保护部解释。

ii

环境空气颗粒物中无机元素的测定

波长色散-X射线荧光光谱法

1适用范围

本标准规定了测定环境空气和无组织排放废气颗粒物中无机元素的波长色散X射线荧

光光谱法。

本标准适用于利用滤膜采集的环境空气PM2.5、PM10、TSP，无组织排放废气TSP颗粒物

中钠（Na）、镁（Mg）、铝（Al）、硅（Si）、磷（P）、硫（S）、氯（Cl）、钾（K）、

钙（Ca）、钪（Sc）、钛（Ti）、钒（V）、铬（Cr）、锰（Mn）、铁（Fe）、钴（Co）、

镍（Ni）、铜（Cu）、锌（Zn）、砷（As）、硒（Se）、锶（Sr）、镉（Cd）、钡（Ba）、

铅（Pb）、锡（Sn）、锑（Sb）等元素的测定。

本标准推荐的各元素特征谱线，方法检出限及测定下限见附录A。

2规范性引用文件

本标准内容引用了下列文件或其中的条款。凡是不注明日期的引用文件，其有效版本适

用于本标准。

HJ/T55大气污染物无组织排放监测技术导则

HJ93PM10采样器技术要求及检测方法

HJ/T194环境空气质量手工监测技术规范

HJ/T374总悬浮颗粒物采样器技术要求及检测方法

HJ664环境空气质量监测点位布设技术规范（试行）

JJG810波长色散X射线荧光光谱仪

3方法原理

X射线管产生的初级X-射线照射到平整、均匀的颗粒物样品表面上时，产生的特征X-

射线经晶体分光后，探测器在选择的特征波长相对应的2θ角处测量X-射线荧光强度。根据

X-射线荧光强度测量值和校准曲线，计算出颗粒物样品中无机元素的含量。

4干扰和消除

铅Lα线对砷Kα线有明显干扰。可采用干扰元素的校正系数予以消除。校正系数由实验

确定，计算示例见附录B。

5试剂和材料

5.1氩甲烷（Ar/CH4）混合气体,混合比为9:1。用于流气正比计数器。

5.2市售负载在Mylar聚酯膜或其他有机材质膜上的单元素及化合物标准样品，（2~50）

μg/cm2,以单元素含量计，用于校准曲线制作。

1

5.3市售负载在聚酯膜上的混合元素标准样品，用作质控样品。

5.4石英滤膜，特氟龙、聚丙烯等有机滤膜，市售合格产品。

注：特氟龙滤膜比石英滤膜更适合于采集大气颗粒物样品用于XRF测量无机元素。

6仪器和设备

6.1波长色散X射线荧光光谱仪。配备必要合适的样品杯。

6.2颗粒物采样器。其性能和技术指标应符合HJ/T374和HJ93的规定。

6.3颗粒物滤膜裁剪圆刀，直径47mm。或陶瓷剪刀，用于大流量、中流量采样器石英滤膜

或其他有机滤膜样品的切割。

6.4镊子。

6.5带盖样品盒，聚氯乙烯材质，直径47mm，或包装用锡纸。用于颗粒物样品保存。

6.6麦拉膜或聚丙烯膜（PROLENEfilm4.0μm），用于覆盖滤膜样品表面，以保护仪器内铍

窗。

7样品

7.1样品采集

7.1.1环境空气样品

环境空气采样点的设置应符合HJ/T664相关要求。采样过程按照HJ/T194中颗粒物采样

的要求执行。当金属浓度较低或采集PM10（PM2.5）样品时，可适当增加采样体积。采样时

应详细记录采样环境条件。

注：采集在特氟龙滤膜上的环境空气中颗粒物负载量原则上不宜超过100μg/cm2，负载的颗粒物要均匀

分布直径至少在30mm的范围。负载量过多的颗粒物会使样品背景值增大，由此带来的样品基体效应也会

影响定量分析结果的准确性。可以通过控制采样时间调控颗粒物负载量。

7.1.2无组织排放废气样品

无组织排放大气颗粒物样品采集按照HJ/T55中相关要求设置监测点位，其它同环境空

气样品采集要求。

7.2样品保存

采样结束后，将滤膜取出，编号后放入干燥洁净的样品盒中，或用包装用锡纸包好，并

按采样要求做好记录。样品在干燥、洁净、室温环境下保存。

小流量采样器采集的颗粒物样品可直接放入仪器样品台上用于测量。大、中流量采样器

采集的石英滤膜颗粒物样品需用直径为47mm圆刀裁剪成直径为47mm的滤膜圆片，待测。

上述操作应避免X射线测量面被沾污。

8分析步骤

8.1测量条件的确定

各种型号仪器的测定条件不尽相同，建议根据仪器说明书选择合适测量条件，建立分析

方法。各元素需要优化的主要测量参数有：对应于特征峰值和背景值的色散角2θ；PHA低

2

限、高限及特征峰、峰背景值测量时间。若仪器配置的分析晶体不同时，可选用相应晶体和

2θ角度。若分析组分含量过高，计数强度超过仪器计数率线性范围时，应使用衰减器。分

析谱线和背景测量时间可根据实际需要调整。代表性仪器测量参数示例见附录C。

8.2漂移校正

由于仪器状态的变化会导致测量结果的偏离。为了对仪器的漂移因素进行校正，在分析

测量前，可使用漂移校正样品对仪器进行漂移校正。可使用一点法进行校正，校正的间隔时

间可根据仪器的稳定性确定。漂移校正样品的测量要求在一次开机时间内完成。

为了保证漂移校正样品的稳定性，可根据待测元素的数目选择1~3个混合标准薄膜标准

样品或实际采集的石英滤膜或聚丙烯滤膜颗粒物质控样品作为漂移校正样品，要求各元素强

度测量值具有一定的计数率(cps)，如cps大于100。

8.3校准样品测量

根据所用仪器操作手册，在仪器软件相关界面上建立标准样品数据表,浓度单位选

µg/cm2。输入空白薄膜、2~3个不同含量薄膜标准样品（5.2）中各元素的标准值（含量分别

为0，2~5、10~20、30~50µg/cm2）。按照优化后的测量条件（8.1）测量标准样品（5.2）。

8.4校准曲线

根据所用仪器提供的线性回归校正模型和回归程序对薄膜系列标样含量和强度进行回

归分析，建立校准曲线,求出回归系数斜率并存储于计算机中。

每次更换氩甲烷气体后应重新核查测量条件，与流气正比计数器相关元素的标准样品应

重新测量其强度进行核查，必要时应更新校准曲线。也可以用漂移校正样品进行校准。

8.5空白滤膜与颗粒物样品的测量

按照与标准样品相同的测量条件（8.1）测量空白滤膜和实际颗粒物滤膜样品。根据校

准曲线直线斜率计算样品和空白滤膜中元素含量（µg/cm2）。

9结果计算与表示

9.1结果计算

滤膜颗粒物样品中元素含量按下式计算：

)(π××−rcc2

ρ=0

V

r—滤膜上负载有颗粒物的圆半径（cm）；

c—颗粒物样品中元素含量（µg/cm2）；

2

c0—空白滤膜样品中元素含量（µg/cm）；

V—采样体积（m3）;

ρ—颗粒物样品中元素浓度（μg/m3）。

元素砷的计算结果应按附录B的方法扣除元素铅的干扰。

9.2结果表示

3

测试结果保留3位有效数字，各元素测量结果小数点后的数字保留位数与方法检出限保

持一致。颗粒物样品检测结果也可以直接用µg/cm2表示，样品测试委托方可自行将结果乘以

滤膜总面积，除以采样体积，得到以μg/m3表示的结果。

10精密度和准确度

10家实验室对统一提供的大气颗粒物标样、滤膜质控样品、具有不同颗粒物负载量的3

个TSP样品（石英滤膜）、2个无组织排放TSP样品（石英滤膜），和3个PM2.5样品（聚丙烯

滤膜）用X-射线荧光光谱法测量。大气颗粒物标样和滤膜质控样测量1~6次，实际采集的颗

粒物滤膜样品重复测定6~7次。对测定结果进行数理统计，得到的方法精密度（各元素测定

值的实验室内相对标准偏差范围、实验室间相对标准偏差、重复性限和再现性限）和方法准

确度（各元素测定值的相对误差范围和相对误差最终值），详见附录D。

11质量保证和质量控制

11.1滤膜空白

每批样品应至少分析2个空白滤膜试样。滤膜空白试样中目标元素的测定值经换算后应

小于等于目标重金属排放标准限值的十分之一。如不能满足要求，可考虑适当增加采样量，

使颗粒物中目标元素测定值明显高于滤膜空白值。

11.2校准曲线

每批样品测定前应核对校准曲线。以接近校准曲线中间含量的实验室质控样进行分析确

认时，其相对偏差应控制在10%以内。每测定10~20个样品应测定相同质控样品，测定值

与标称值相对误差应≤10%。否则，应重新建立校准曲线。

11.3精密度

如果颗粒物滤膜样品可重复测定（如石英滤膜样品），每批样品应抽取10％的样品进

行重复测定。样品数量少于10个时，应至少测定1个样品。当测定结果在测定下限到10

倍检出限以内（包括10倍检出限）时，重复测定结果的相对偏差应≤20%；当测定结果大于

10倍检出限，测定结果的相对偏差应≤10%。

11.4准确度

使用本方法标准时应通过分析大气颗粒物质控样品进行验证。如果测量值超过参考值的

±10%，则停止分析样品，查找原因。整个分析程序应再次进行验证。有条件时，也可采用

市售有证大气颗粒物标准样品进行验证。验证结果满足要求以后，才能继续进行分析。以后

分析测定每批实际样品时可同时分析质量控制样品（或不同来源滤膜标样），其测定值与标

准值的误差应在质控规定要求内。

对市售混合元素质控样（含Fe、Pb、Cu、Zn、Ni、Mn、Cr等元素）的测定可在样品

测量前或全部样品完成测量后进行。其测定值与标准示值的相对标准误差应小于10%。每次

测定结果记入仪器技术档案，备查。此值可用于绘制质控图并计算期间精密度。期间精密度

数值乘以2可用于评估测量结果扩展不确定度。

如果实验室条件所限，可以考虑采用仪器厂家提供的校正仪器的标准样品进行验证。

12注意事项

4

12.1实验条件

各元素对应于最大计数的色散角是需要优化的测试参数之一。应定期通过对标样的定性

扫描，检查此参数有无变化。日常分析中，应经常测量质控样的X-射线强度值，如有明显

变化，则需检查元素的色散角。

每次更换氩甲烷气体瓶后，建议复查Al、Si等与流气正比计数器有关的元素测量条件

PHA高低限，复查校准曲线。如有明显变化，应重新测量标准样品，并重新制作校准曲线。

12.2实验操作

WD-XRF测定过程中，对于下照式仪器，为了保证特氟龙样品膜的完整，通常需要在

其滤膜样品表面覆盖一层麦拉膜或聚丙烯膜（PROLENEfilm4.0μm）。这样，即使特氟龙

膜破裂也不会掉入样品室，影响下面的铍窗。如果在测定样品时有上述考虑，建立校准曲线

测定标准样品强度时需要上述同样操作，两者保持一致。

市售薄膜标样根据支撑环的位置有2种模式可以选择。建议选择与实际样品测量面保持

一致的模式。如果不一致，应在实际滤膜样品表面上放一个与薄膜标样支撑环厚度一致的圆

环（如果是下照式，在样品杯上放入圆环后再放入滤膜样品，测量面向下；上照式，则在样

品杯上先放入滤膜样品，测量面朝上，再放入圆环后固定），使实际样品与薄膜标样受X

射线照射的距离保持一致。

5

附录A

（规范性附录）

方法检出限和测定下限

A.1各元素谱线及方法检出限和测定下限

石英滤膜聚丙烯滤膜

元素谱线检出限测定下限检出限测定下限

μg/cm2μg/m3μg/cm2μg/m3μg/cm2μg/m3μg/cm2μg/m3

NaKα0.0390.0280.160.110.0100.0070.0400.029

MgKα0.0050.0040.0200.0140.0050.0040.0200.014

AlKα0.0060.0040.0220.0160.0110.0080.0420.030

SiKα0.0250.0180.0980.071

PKα0.0040.0030.0170.0120.0060.0040.0220.016

SKα0.0160.0120.0620.0450.0370.0260.150.11

ClKα0.0140.0100.0560.0400.0240.0170.0960.069

KKα0.0070.0050.0280.0200.0260.0180.100.074

CaKα0.0100.0070.0400.0290.0270.0190.110.077

ScKα0.0140.0100.0570.0410.0260.0180.100.074

TiKα0.0260.0190.100.0740.0200.0140.0800.058

VKα0.0270.0200.110.0790.0170.0120.0680.049

CrKα0.0180.0130.0710.0510.0220.0160.0880.064

MnKα0.0170.0120.0680.0490.0180.0130.0700.051

FeKα0.0250.0180.100.0720.0460.0330.180.13

CoKα0.0110.0080.0450.0330.0100.0070.0400.029

NiKα0.0100.0070.0420.0300.0100.0070.0400.029

CuKα0.0130.0090.0510.0370.0150.0110.0600.043

ZnKα0.0180.0130.0710.0510.0130.0090.0520.038

AsKα0.0160.0120.0640.0460.0140.0100.0560.040

SeKα0.0200.0140.0790.0570.0140.0100.0540.039

BrKα0.0320.0230.130.0910.0240.0170.0960.069

SrKα0.0380.0270.150.110.0260.0190.100.075

CdLα0.0420.0300.170.120.0350.0250.140.10

BaLβ10.0680.0490.270.200.0510.0370.200.15

PbLβ10.0710.0510.280.200.0520.0370.210.15

SnLα0.0240.0170.100.0690.0290.0210.120.084

SbLα0.0430.0310.170.120.0420.0300.170.12

*以μg/m3表示的数据按滤膜上颗粒物覆盖圆直径47mm、采样体积24m3计算。

6

附录B

（资料性附录）

干扰元素校正系数计算示例

干扰元素的校正系数由实验确定，如Pb对As的干扰校正实验方案、校正系数及样品

测试结果计算公式如下：

用铅标样分别测量砷Kα线强度，铅Lβ线强度。假设其测量值分别为17.930kcps、18.323

kcps，则Pb对As的干扰校正系数b计算公式及数值如下：

I930.17

bα−AsK===9786.0

Iβ−PbL323.18

设As标准曲线斜率为1.543，实际颗粒物样品中As的Kα线强度测量值为I1，Pb的Lβ线强

度测量值为I2，，则As元素含量计算公式如下：

−×IbII−9786.0×I

（μρcm2)/g=1=122

Asa543.1

如果实验室有不同含量的Pb标样，可按上述方式分别测定其干扰校正系数，取平均值

参与上述公式进行计算。

7

附录C

（资料性附录）

WD-XRF测量条件示例

表C.1颗粒物样品中无机元素WD-XRF测量条件示例1

2θ/（°）计数时间/s

元素文件名滤光片分析线分析晶体探测器PHA衰减

峰值背景1背景2峰值背景2

NaNa10OUTKαTAP55.27040PC50,2501/1

MgMg10OUTKαTAP45.28540PC50,2501/1

AlAl10OUTKαPET144.80040PC100,3001/1

SiSi10OUTKαPET109.100111.68040PC100,3001/1

SS10OUTKαGE110.62540PC180,3801/1

ClCl10OUTKαGE92.76591.7193.914010PC200，4001/1

KK10OUTKαGE69.90068.5071.103020PC230,4501/1

CaCa10OUTKαGE61.87560.7063.003020PC300,5001/1

ScSc10OUTKαGE55.27054.0003020PC300,5001/1

TiTi10OUTKαLIF186.12085.54086.86040PC300,5001/1

VV10OUTKαLIF176.93076.43077.503020SC88,3801/1

CrCr10F-TiKαLIF169.36068.67070.05030SC84,3731/1

MnMn10OUTKαLIF162.96563.6552020SC85,4001/1

FeFe10OUTKαLIF157.52056.80058.20020SC85,3681/1

CoCo10OUTKαLIF152.79053.3003010SC72,3481/1

NiNi10OUTKαLIF148.66048.18049.2002020SC80,3501/1

CuCu10OUTKαLIF145.02544.08046.1802010SC80,3501/1

ZnZn10OUTKαLIF141.80041.08042.5802010SC80,3501/1

AsAs10OUTKαLIF134.00033.35034.5402010SC80,3501/1

SeSe10OUTKαLIF131.88531.30032.5002010SC100,3201/1

BrBr10OUTKαLIF129.97029.52030.5202010SC100,3101/1

8

2θ/（°）计数时间/s

元素文件名滤光片分析线分析晶体探测器PHA衰减

峰值背景1背景2峰值背景2

SrSr10OUTKαLIF125.16024.50026.0002010SC100,3101/1

CdCd02F-AlLαGE74.53073.03576.0354010SC100,3001/1

BaBa05OUTLαLIF187.14586.77087.7002020PC250,5001/1

PbPb10OUTLβ1LIF128.26027.62528.7254010SC100,4001/1

SnSn20OUTLαGE66.88567.8502020SC103,3011/1

SbSb20OUTLαGE63.62565.00020SC100,3001/1

*X光管电压为50kV，电流为50mA，粗狭缝，视野光阑直径为30mm，采用Rh靶;OUT为无滤光片；F-Al为铝滤光片；F-Ti为钛滤光片；PC为正比计数管；SC为闪烁

计数管

表C.2颗粒物样品中无机元素WD-XRF测量条件示例2

2θ/（º）功率测量时间（秒）

元素滤光片分析线分析晶体检测器

峰值背景1背景2kV/mA峰值背景1背景2

AlNoneKα1PET144.554147.882FPC27/111自动优化自动优化

As500μmAlKα1LiF20033.99131.239.8SC60/50201010

Ba12.5μmAlLα1LiF20087.18582.5FPC50/60168

CaNoneKα1LiF200113.098108.001FPC50/60126

Cd12.5μmAlLα1PET53.78054.920FPC27/1112016

Co200μmAlKα1LiF20052.78454.5SC60/502010

Cr100μmAlKα1LiF20069.33666.5SC60/502010

Cu200μmAlKα1LiF20045.01446.95SC60/502010

Fe200μmAlKα1LiF20057.51154.559.75SC60/501266

KNoneKα1LiF200136.635141.2FPC50/60126

MgNoneKα1OVO-5520.80823.39FPC27/1112010

Mn100μmAlKα1LiF20062.97466.5SC60/50168

NaNoneKα1OVO-5525.20423.162FPC27/1112010

Ni200μmAlKα1LiF20048.63346.9554.5SC60/50201010

9

2θ/（º）功率测量时间（秒）

元素滤光片分析线分析晶体检测器

峰值背景1背景2kV/mA峰值背景1背景2

PNoneKα1PET89.4192.539FPC27/111126

Pb500μmAlLβ1LiF20028.22826.130.9SC60/50201010

SNoneKα1PET75.72879.598FPC27/111126

ScNoneKα1LiF20097.71394.493FPC50/602010

Se500μmAlKα1LiF20031.88331.232.75SC60/50201010

SiNoneKα1PET108.984111.951FPC27/111126

SnNoneLα1LiF200126.738125.014FPC50/602010

Ti12.5μmAlKα1LiF20086.14282.5FPC50/60168

V12.5μmAlKα1LiF20076.93874.5FPC50/602010

Zn200μmAlKα1LiF20041.7839.846.95SC60/501688

表C.3颗粒物样品中无机元素WD-XRF测量条件示例3

Z元素及谱线校准程序名称谱线keV校准KVmA滤光片准直器晶体峰位(2θ)背景(2θ)探测器D.T.LLDULD

11NaKα1-HR-MinTSP_20151.041C301000.23XS-5525.123*23.391Gas30050150

12MgKα1-HR-MinTSP_20151.253C301000.23XS-5520.835*23.39Gas30040160

13AlKα1-HS-MinTSP_20151.487C301000.46PET144.602*147.882Gas30050150

14SiKα1-HS-MinTSP_20151.74C301000.46PET108.998*111.951Gas30050150

15PKα1-HS-MinTSP_20152.014C301000.46PET89.431*92.539Gas30050150

16SKα1-HS-MinTSP_20152.308C301000.46PET75.735*79.598Gas30050150

17ClKα1-HR-MinTSP_20152.622C301000.23PET65.429*66.62Gas30050150

19KKα1-HS-MinTSP_20153.314C50600.46LiF200136.647*141.2Gas30050150

20CaKα1-HS-MinTSP_20153.692C50600.46LiF200113.138*108.001Gas30050150

21ScKα1-HR-MinTSP_20154.091C50600.23LiF20097.713*94.49Gas30050150

22TiKα1-HR-MinTSP_20154.511C50600.23LiF20086.152*82.5Gas30050150

23VKα1-HR-MinTSP_20154.952C50600.23LiF20076.938*74.5Gas30050150

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Z元素及谱线校准程序名称谱线keV校准KVmA滤光片准直器晶体峰位(2θ)背景(2θ)探测器D.T.LLDULD

24CrKα1-HR-MinTSP_2015_FeMnCr5.4156050Al100um0.23LiF20069.343*66.5Sci.52050150

25MnKα1-HR-MinTSP_2015_FeMnCr5.8996050Al100um0.23LiF20062.972*66.5Sci.52050150

25MnKα1-HR-MinTSP_20155.899C60500.23LiF20062.973*66.5Sci.52050150

26FeKα1-HR-MinTSP_2015_FeMnCr6.4046050Al200um0.23LiF20057.525*54.5Sci.52050150

27CoKα1-HR-MinTSP_20156.9316050Al200um0.23LiF20052.791*54.5Sci.52050150

28NiKα1-HR-MinTSP_20157.4786050Al200um0.23LiF20048.670*50.145Sci.52050150

29CuKα1-HS-MinTSP_20158.0486050Al200um0.46LiF20045.048*46.95Sci.52050150

30ZnKα1-HS-MinTSP_20158.6396050Al200um0.46LiF20041.817*39.800;46.950Sci.52050150

33AsKα1-HR-MinTSP_201510.546050Al500um0.23LiF20034.003*31.100;39.800Sci.52050150

34SeKα1-HR-MinTSP_201511.226050Al500um0.23LiF20031.889*31.2Sci.52050150

35BrKα1-HR-MinTSP_201511.926050Al500um0.23LiF20029.969*31Sci.52050150

38SrKα1-HR-MinTSP_201514.176050Al500um0.23LiF20025.149*26Sci.52050150

47AgLα1-HR-MinTSP_20152.9845060Al12um0.23PET56.719*54.92Gas30050150

48CdLα1-HR-MinTSP_20153.1335060Al12um0.23PET53.779*54.92Gas30050150

50SnLα1-HR-MinTSP_20153.444C50600.23LiF200126.758*124.67Gas30050150

51SbLα1-HR-MinTSP_20153.604C50600.23LiF200117.327*124.67Gas30050150

56BaLα1-HR-MinTSP_20154.464C50600.23LiF20087.162*82.5Gas30050150

82PbLβ1-HR-MinTSP_201512.61C6050Al500um0.23LiF20028.250*26.100;30.900Sci.52050150

表C.4颗粒物样品中无机元素WD-XRF测量条件示例4

光管光管

Z谱线名字谱线（keV）参考谱线校准滤光片准直器晶体峰位(2θ)背景(2θ)探测器D.T.LLDULD

KVmA

13AlKA1-HS-Min1.487AlKA1-HS-Min/TSPD-30Max.0.46PET144.602*147.882Gas30040250

33AsKA1-HR-Min10.54PbLB1-HR-Min/TSPD-60Max.Al500um0.23LiF20034.003*31.100;39.800Sci.52050150

56BaLA1-HR-Min4.464TiKA1-HR-Min/TSPC,D50Max.0.23LiF20087.162*82.5Gas30050150

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