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2024年射线材料(三级)知识竞赛笔试历年真题荟萃含答案(图片大小可自由调整)答案解析附后卷I一.参考题库(共25题)1.指出小口径管对接焊缝射线照相缺陷检出的不利因素,并提出改进措施。2.实验证明,焊缝余高和母材区的散射比是不一致的,一般来说,余高中心部位的散射比大于母材区的散射比。3.散乱射线是怎样产生的?它对底片有何影响?透照时如何遮挡?4.为使像质计灵敏度达到最佳值,透照余高磨平的焊缝宜选择黑度约为()的摄片条件;透照有余高的焊缝时,宜选择母材黑度约(),焊缝黑度约()的摄片条件。5.采用换算的方法,可将某种材料制作的像质计用于不同吸收系数的材料透照时的像质评价。6.什么是伪缺陷?简述底片上伪缺陷的来源。7.不同剂量的照射对人体的损伤:D≤()的一次照射时,无明显病理变化;D≈()时,出现一时性血象变化;D≥()时,会引起急性放射病。8.在进行焊缝射线照相时,线型透度计一般是放置在钢板上面。9.产生给定胶片密度所需要的伦琴数随射线能量的增加而();射线能量高到一定数值,上述伦琴数(),这就是所谓射线胶片的光谱灵敏度。10.放射性同位素衰变过程中的辐射有哪几种形式?11.X、γ射线具有哪些主要特征?12.固有不清晰度大小与哪些因素有关?13.铅箔增感屏前屏起()、()作用,后屏主要起()作用。14.在射线底片上呈现较大面积的树枝形影像是()。15.对于相同物体,易于透过的X射线其线质软,硬X射线比软X射线的波长长,衰减系数大,半值层薄。16.153Gd(钆153)的半衰期是242天。17.个人剂量笔给出的是()值。18.中子探伤设备包括哪几部分?19.最新的第二代75Seγ射线源有些什么特点?20.通常把胶片本身引起的不清晰度称为胶片不清晰度或固有不清晰度。21.以玻壳X射线管为例说明其结构各部分名称及主要作用。22.60Co和192Ir的射线输出分别为()R/m·h·ci和()R/m·h·ci;60Co和192Irγ射线的能谱线分别为()根和至少()根。23.试述底片影象颗粒度及影响因素。24.底片上焊缝中心部位出现的长度和宽度不等的连续或间断的长条形黑色影像很可能是未焊透(熔入不足)。25.对于实用的X射线,为了要用半值层公式,应以什么波长为计算半值层厚度的基准?卷II一.参考题库(共25题)1.焦距对射线检验的灵敏度有何影响?2.用于狭窄部位摄片的X射线管阳极是什么样的?3.射线照相灵敏度是射线照相()和()两大因素的综合结果。4.工业CT的全称是什么?5.X射线荧光屏法的优缺点是什么?6.对不同种类的放射性同位素,高活度的同位素总是比低活度的同位素具有更高的辐射水平。7.荧光增感屏经常受到强光照射或紫外线照射后,会导致颜色改变和丧失一些光泽。8.定影液使用一段时间后,由于定影液成分被挥发,导致定影效果下降。9.同位素源辐射出的伽玛射线能量用()来度量,X射线机辐射出X射线的能量用()来度量。10.一放射性同位素放出的γ射线穿透力等同于多少千伏或兆伏Χ射线机的穿透力,这种关系称作该同位素的当量能。11.进行γ射线探伤作业时,必须考虑γ射线探伤机和被检物体的距离、照射方向、时间和屏蔽条件,以保证作业人员的受照剂量低于年剂量限值,并应达到可以合理做到的尽可能低的水平。12.直接电离辐射通常是指阴极射线,()射线,()射线和()射线,间接电离辐射是指()射线,()射线和()射线13.定影液使用一段时间后,由于定影液中可溶解的银盐浓度增加,导致定影效果下降。14.胶片的增感因子在40-400KV之间的变化情况是随着电压增大,增感因子变小。15.直线加速器的优点是()和(),回旋加速器的优点是()。16.像质计是用来鉴定照相技术和胶片处理质量的器件。17.管电压越高,X光管中飞向靶金属的电子速度就越大,射线的辐射能量就越高。18.可用于2~10mm薄壁管透照的一种γ射线新源是(),其半衰期为()天,射线输出为()mR/h·ci。19.在射线检测中应用的X射线、伽玛射线、中子射线,从本质上来说都属于电磁波。20.底片上焊缝中心部位出现的长度和宽度不等的连续或间断的长条形黑色影像很可能是裂纹。21.单色窄束射线的半价层厚度约为1/10价层厚度的()倍;若已知线衰减系数μ,则1/10价层厚度为()。22.用于射线照相法检验的X和γ射线,它们之间的差别仅在于X射线是高速电子韧致的辐射产物,γ射线是放射性物质原子核裂变的辐射产物。23.观察底片时,要注意辨别胶片暗盒背面图像重叠在试样的图像上,因为它很可能是因为背散射的原因造成的。24.60Co放出的γ射线平均能为(),相当于()X射线穿透力,192Ir放出的γ射线平均能为(),相当于()X射线穿透力25.X射线机要求什么样的绝缘油,有哪些具体要求?卷III一.参考题库(共25题)1.用强光观察高黑度的底片时,由于界限识别对比度△Dmin增大,从而扩大了可识别的黑度范围。2.对电子加速器产生的Χ射线束,不宜用()或重过滤材料,因在()MeV时,其质量衰减系数有一最低值。3.当单色窄束X射线通过厚度为d的物质后,表示射线强度衰减规律的公式为:()。4.表达式:(毫安x时间)/距离平方,称之为照相的对比度。5.X射线检测法不适用于混凝土结构件。6.新购置或长期停用的X光机使用前要进行“训练”,这是为了排除冷却油中的气泡,提高冷却油的绝缘性能。7.底片对比度与()和()有关。8.X射线管的种类中,有一种旋转式阳极,它是怎样的?9.用相同条件透照同一容器的环焊缝,采用外照法()比内照法()对横向裂纹的检出率要(),而对单面焊根部裂纹和未焊透()的检出率要()。10.活度为1居里的铱192,距离它1米处在无遮挡、无吸收的条件下,其一次射线的照射量率为()伦琴/小时。11.装在暗盒内而未经曝光的胶片边缘呈有淡黑色的原因是受到散射线照射。12.高能X射线比低能X射线更易于使胶片感光。13.射线胶片产生一定黑度所需要的照射量(即伦琴数)与射线线质无关。14.闪烁计数器型的辐射仪,是由铊活化的碘化钠单晶、光电倍增管和电子电路构成。15.照射量只反映X或γ射线对空气中的电离本领,而吸收剂量可反映不同性质的物质吸收辐射能量的程度。16.新的或长期停止使用的X光机,使用前要对X光管进行“训练”,其目的是为了提高X光管的真空度。17.含氢元素的物质对中子射线有较强的衰减作用。18.按照信息论,空间频率f即每毫米黑白线对是指(),而影像噪声是指()。19.当X射线通过三个半价层后,其强度仅剩初始的1/8。20.在某一密度D时的胶片衬度用下式表示:G0=();在两特定密度之间,胶片的平均衬度可表示为G=()。21.射线照相的几何不清晰度Ug与焦点的大小成反比,与射线源到工件表面的距离成正比。22.射线照像质量等级是根据射线源(能量),胶片和增感屏的不同组合来划分的。23.一铸件厚度为1.25英寸,射线底片上显示出ASTM20#像质计的2T孔,则该底片的当量灵敏度为()。24.确定胶片密度和胶片速度的方法是利用特性曲线进行比较。25.辐射剂量仪可分为()和()两部分。卷I参考答案一.参考题库1.参考答案: 小口径管焊缝射线照相采用双壁双影法透照,对缺陷检出的不利因素和改进措施有以下几点: (1)双壁双影法透照时,由于射源侧焊缝比胶片侧焊缝离开胶片的距离相差一个管子直径,故射线源尺寸的几何影响较大,使几何模糊度增加,小缺陷对比度降低,为减小射源尺寸对几何模糊度和对比度的影响,可选择焦点尺寸小的射线源,适当增大焦距。 (2)透照小口径管时射线的穿透厚度自中心向两端变化很大,易导致底片上中心部位黑度过大,边缘部位黑度过小,为减少被检区域不同部位的黑度差,宜适当提高射线能量,采用“高电压,短时间”的透照工艺。 (3)由于管子直径较小,散射线引起“边蚀”效应比较严重。相应的措施是在射线机窗口处加滤板,或采用铅罩屏蔽焊缝以外部分,以减少“边蚀”。 (4)双壁双影透照时,焊缝被倾斜投影到胶片上,缺陷影像会发生畸变。为减少畸变,应控制透照角度和椭圆开口间距,间距一般为3~10mm,最大不超过15mm。2.参考答案:正确3.参考答案:散乱射线是由射线与物质作用而产生的,如果来自工件内部,处于胶片前方,称为前方散射线,射线透过工件和胶片后打到地板、墙壁上等,均会产生散乱射线,由于它来自胶片背面,故称背面散乱射线(包括侧壁散乱射线);散乱射线使底片产生附加黑度,严重时全部变黑,影响底片的对比度和清晰度,降低底片的灵敏度;遮挡的方法有:采用限光器(准直器)或采用铅板在射线源侧遮挡胶片附近不需透照的部位,从而减少散乱射线对底片的影响;采用金属增感屏,前屏吸收一部分前方散乱射线,后屏减少背面散乱射线的影响;透照较厚工件时,暗盒后面用薄铅板(铅垫板)遮挡背面散乱射线;被透照工件周围尽可能保障有一定的空间,避免存放与透照无关的杂物以避免侧壁散乱射线影响。4.参考答案:2.5;3.0~3.5;1.5~2.05.参考答案:正确6.参考答案: 由于胶片本身质量、胶片保管、剪切、装取、暗室操作处理不当,以及操作者其他操作不慎等原因,在底片上留下可辨别的影像,但并非是被检验工件缺陷在底片上留下的影像,称之为伪缺陷。 伪缺陷的来源包括机械损伤或表面附着物形成(如指纹、折痕、划伤、水印等),或者是由化学作用形成(如漏光、感光、药物玷污等),大致上可以分为来源于胶片本身的制造质量与储运、保管,来源于增感屏制造质量及损伤导致的增感不均匀或受过可见光线照射过的荧光增感屏的受激荧光影响等,来源于胶片裁切、包装、照相及冲洗过程中的漏光、手印、静电、划伤或局部折伤等;来源于暗室处理中的玷污、处理不均匀、水迹、指纹、气泡、药水老化失效、操作程序不当等等。7.参考答案:0.25Gy;0.5Gy;1Gy8.参考答案:错误9.参考答案:增加;基本不变10.参考答案: 放射性同位素的衰变幅射主要有以下几种形式: (1)仅幅射α粒子 (2)仅幅射β粒子, (3)既幅射α粒子又幅射γ射线 (4)既幅射β粒子又幅射γ射线11.参考答案:直线传播的电磁波,速度为光速;不受电磁场的影响;能使胶片感光;能使物质电离;能透过可见光不能透过的物质;具有反射、折射、衍射、干涉等波的性质;有生物效应。12.参考答案: 固有不清晰度大小受以下因素影响: (1)射线的质。透照射线的光子能量越高,激发的电子在乳剂层中的行程就越长,固有不清晰度也就越大。 (2)增感屏。据文献报道:在中低能量射线照相中,使用铅增感屏的底片的固有不清晰度大于不使用铅增感屏的底片;增感屏厚度增加也会引起固有不清晰度增大;在γ射线和高能量Χ射线照相中,使用铜屏、钽屏、钨屏、钢屏的固有不清晰度均小于铅屏。 (3)屏与胶片贴紧程度。透照时,如暗盒内增感屏和胶片贴合不紧,会使固有不清晰度增大。为改善屏与胶片贴合情况,提出使用一种真空暗盒。 固有不清晰度与胶片的类型和粒度无关,与暗室处理条件无关。13.参考答案:增感;吸收软射线;吸收散射线14.参考答案:静电感光15.参考答案:错误16.参考答案:正确17.参考答案:射线剂量累计照射率18.参考答案:中子探伤设备包括中子源、慢化剂、准直器和像探测器。19.参考答案:是在反应堆中激活的具有热稳定性的金属硒化物,焦点呈准球形,和其他射源相比,在相同活度下其焦点尺寸更小,更适用于小焦距曝光、管道爬行器和接触式射线照相,影像几何不清晰度小,是γ射线透照中等厚度(5-40mm钢),获取较高影像质量的一种新型同位素射源,较铱192和钇169源的半衰期长(118天),与铱192相比,其发射能谱较软,γ射线照射率常数较小,设定辐射防护禁区较小,对操作者安全等。20.参考答案:正确21.参考答案: 玻壳X射线管的内部构造主要包括七个部分,即: 铅玻璃罩-保持X射线管内的真空度,吸收软射线; 阳极罩-吸收二次电子和软射线; 阳极体-支撑阳极靶和散热; 阴极头-聚焦电子; 灯丝-产生热电子; 阳极靶-发射X射线; 铍窗-吸收软射线。22.参考答案:1.3;0.5;2;2423.参考答案: 底片影像是由许多形状大小不一的颗粒组成的,人们观察影像时在感觉上产生的不均一或不均匀的印象称为颗粒性,用仪器测定由于影像不均匀引起的透射光强变化,其测定结果称为颗粒度。由于颗粒大小的分布是随机的,所以颗粒度一般是采用均方根离差σ来度量。目前较通用的方法是用直径24μm的扫描孔测定颗粒度。肉眼所观察到的颗粒团实际上是许多颗粒交互重迭生成的影像。影像颗粒与胶片卤化银颗粒是不同的概念,影像颗粒大小取决于以下因素: ①胶片卤化银粒度; ②曝光光子能量; ③显影条件。24.参考答案:正确25.参考答案:在管电压一定时,X射线强度最大所对应的波长为计算基准。卷II参考答案一.参考题库1.参考答案: 主要表现在四个方面: ①焦距的大小会引起缺陷投影的畸变,焦距越小,缺陷投影畸变越大,因此从减小缺陷畸变考虑,选用较大焦距为好; ②焦距的大小会引起零件沿射线方向厚度的变化,这是由于射线束成圆锥形扩散,引起零件边缘沿射线方向厚度增加,导致零件在底片上的黑度不均匀,用K表示边缘部位与中间部位沿射线方向的厚度比,即K值越大,零件中间部位与边缘部位沿射线方向的厚度差值越大,使底片黑度越不均匀,对射线检验灵敏度影响越大,选用较大的焦距可有效地减小K值(一般要求K值越小越好,最好不超过1.1),对灵敏度有利; ③焦距大小队几何模糊度的影响,几何模糊度Ug的存在使缺陷边缘轮廓模糊,降低了底片的清晰度和缺陷对比度,因此焦距越大则Ug越小,检验灵敏度越高; ④焦距大小对散射线的影响,焦距增大必然导致曝光量要增加,在管电流一定的情况下只能增加曝光时间,除了降低工作效率外,也会使得散射线作用时间增长而影响底片清晰度,降低了检验灵敏度。因此,从前三项而言,增大焦距对提高检验灵敏度有利,但从散射线影响的因素来说,提高焦距对灵敏度是不利的,故在确定焦距参数时应予以全面综合考虑,选择适宜的焦距。2.参考答案:用于狭窄部位摄片的X射线管阳极是棒状阳极。3.参考答案:清晰度;对比度4.参考答案:工业CT的全称是工业用计算机控制层析X射线照相装置。5.参考答案: 优点是:检验速度快,检验结果可即时性观察;操作简单,检测成本低;无胶片处理过程;可改变照射角度来全面观察工件内部质量。 缺点是:检验结果较难做全面的永久性记录;工作人员容易疲劳;检验灵敏度较低;受穿透力限制,一般只适用于较薄的工件。6.参考答案:正确7.参考答案:正确8.参考答案:错误9.参考答案:所有辐射能量的平均值;电压峰值10.参考答案:正确11.参考答案:正确12.参考答案:β;α;质子;Χ;γ;中子13.参考答案:正确14.参考答案:错误15.参考答案:体积小;输出射线强度大;焦点尺寸小16.参考答案:正确17.参考答案:正确18.参考答案:169Yb;31;1

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